一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置，属于探针测试领域。一种电子元器件的检测探针测试装置，包括：安装台、测试板、底座与上料台；所述底座上设有驱动机构，所述测试板与所述安装台均布置在所述底座的上方；所述安装台的靠近所述测试板的侧壁上开设有第一通孔，所述安装台的宽度方向的侧壁上开设有；所述安装台的宽度方向的两侧开设有第二通孔，所述第一通孔与第二通孔相平行且垂直于所述测试板；所述测试板上开设有测试孔，所述测试孔与所述第一通孔对齐；所述测试板上垂直固定安装有导杆，所述导杆穿过所述第二通孔，所述导杆与所述第二通孔滑动连接；所述导杆上固定安装有齿条，所述安装台的侧壁上转动连接有第一轴。连接有第一轴。连接有第一轴。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置


[0001]本专利技术涉及探针测试领域，具体涉及一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置。

技术介绍

[0002]探针一种生产的时候常用的检测器件，具体地，主要用于测试产品的一种测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万～10万次的高性能弹簧。
[0003]现有的探针的结构如图5所示，其中弹簧用于接触触点的时候产生缓冲的作用。由于弹簧是封闭设置在内腔中，探针的测试过程中，难以直接测得弹簧的耐久情况，导致探针的耐久度与强度的测试很不方便。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提出了一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置。
[0005]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0006]一种电子元器件的检测探针测试装置，包括：
[0007]安装台、测试板、底座与上料台；
[0008]所述底座上设有驱动机构，所述测试板与所述安装台均布置在所述底座的上方；所述安装台的靠近所述测试板的侧壁上开设有第一通孔，所述安装台的宽度方向的侧壁上开设有；
[0009]所述安装台的宽度方向的两侧开设有第二通孔，所述第一通孔与第二通孔相平行且垂直于所述测试板；所述测试板上开设有测试孔，所述测试孔与所述第一通孔对齐；所述测试板上垂直固定安装有导杆，所述导杆穿过所述第二通孔，所述导杆与所述第二通孔滑动连接；所述导杆上固定安装有齿条，所述安装台的侧壁上转动连接有第一轴，所述第一轴上固定安装有齿轮，所述第一轴与所述第一通孔垂直，所述安装台的侧壁上开设有第三通孔，所述第三轴上开设有螺纹孔，所述螺纹孔与所述第三通孔对齐，所述第三通孔贯穿至所述第一通孔中，所述第三通孔中布置有压杆，所述压杆的一端与所述螺纹孔螺纹连接，所述压杆的另一端延伸至所述第一通孔中，所述底座上安装有驱动机构，用于驱动所述安装台沿水平方向移动。
[0010]进一步地，所述底座的上端面上固定安装有载物台，所述载物台的上端面上开设有V形的凹槽，所述凹槽布置在所述测试板的下方；所述凹槽的底部设有托板，所述托板的横截面呈半圆形；所述托板上开设有弧形槽，所述弧形槽中滑动连接有弧形板，所述安装台的下端固定安装有第一杆，所述第一杆与所述托板固定连接；所述载物台的一侧固定安装有加工台，所述加工台的靠近所述载物台的侧壁上开设有第四通孔，所述第四通孔与所述凹槽对齐；所述第四通孔的远离所述凹槽的一端转动连接有转动座，所述托板的靠近所述第四通孔的一端开设有水平的第一滑槽，所述托板的底面开设有竖直布置的沉孔，所述沉
孔贯通至所述第一滑槽中；所述第一滑槽中滑动连接有第二杆，所述第二杆的一端的上端面固定安装有凸起，所述沉孔中滑动连接有第三杆，所述第三杆的上端固定安装有刀片，所述第三杆的下端抵靠在所述第二杆的上端面上，所述转动座上固定安装有气囊，所述托板远离所述第四通孔的一端固定安装有挡板；所述安装台上安装有气泵，所述气泵通过第一波纹管与所述气囊连接；所述第一滑槽中设有第一弹簧，所述第一弹簧的一端与所述第二杆固定连接，所述第一弹簧的另一端与所述第一滑槽的底部固定连接；所述第四通孔的侧壁设有摩擦测试片。
[0011]进一步地，所述上料台上设有上料通道，所述上料通道竖直布置，所述探针水平布置在所述上料通道中，所述上料通道的侧壁的底面开设有出料口，所述出料口与所述第一通孔对齐；所述出料口的一侧设有推杆，所述上料通道的侧壁上开设有凹腔，所述推杆的一端能够探入所述第一通孔中，所述推杆的另一端与固定安装有活塞，所述活塞与所述凹腔保持气密性地滑动连接，所述气泵通过第二波纹管与所述凹腔连通。
[0012]进一步地，所述沉孔的侧壁上开设有延伸通道，所述延伸通道连通到所述弧形槽中，所述第三杆的侧壁上固定安装有第四杆，所述第四杆设置在所述延伸通道中，所述第四杆托举在所述弧形板的下端。
[0013]进一步地，所述沉孔、第二杆与刀片设有两组，所述托板的底面上开设有槽孔，两组所述刀片之间的间距小于等于槽孔的长度；所述加工台上设有活动槽，所述活动槽的下侧与所述第四通孔连通，所述活动槽中设有第五杆与第六杆，所述活动槽的上端贯穿至所述加工台的上端面上，所述第五杆的上端与所述安装台的底面铰接，所述第五杆的下端与所述第六杆的上端铰接，所述第六杆与所述活动槽的下端滑动连接，所述第六杆的下端固定安装有吸盘；所述第四通孔的下壁面上开设有下料槽，所述下料槽的一侧设有倾斜的下料坡道。
[0014]进一步地，所述底座上固定安装有照明灯。
[0015]本专利技术的有益效果：
[0016]先将探针放入所述第一通孔中，然后转动第一轴，推动压杆沿着第三通孔探入所述第一通孔中，使得推杆压紧在探针的侧壁上，从而固定探针。然后通过驱动机构，带动安装台移动，使得探针的端头反复进出测试孔，与测试点接触，模拟探针的使用，进而完成探针的强度耐久度测试。更具体地说，驱动机构设置为恒力输出，由于探针中的内置弹簧作用，当弹簧没有失效的时候，恒力输出下弹簧的压缩量是维持不变的，使得导杆上的齿条并不得驱动齿轮。当弹簧出现弹性失效，过压缩的时候，齿条的就会与齿轮啮合，且齿轮的转动角度越来越大，使得第一轴带动压杆逐渐远离所述探针，探针失去押金固定后，脱出第一通孔下落到所述的载物台上。也就是说，通过观察探针是否从所述第一通孔中脱出，进能够判断所述弹簧是否失效，不需要额外的形变测量装置，也不需要拆开探针进行检视。同时下落到载物台上后，使用者在载物台上能够观察到磨损情况。
附图说明
[0017]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0018]图1为本申请的立体结构示意图；
[0019]图2为本申请的安装台剖视图；
[0020]图3为本申请的剖视图；
[0021]图4为图3中A处放大示意图；
[0022]图5为本申请的托板的剖视图；
[0023]图6为现有的探针结构示意图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0026]如图1～5所示，一种电子元器件的检测探针测试装置，包括：安装台1、测试板4、底座与上料台7。所述底座上设有驱动机构，所述测试板4与所述安装台1均布置在所述底座的上方。所述安装台1的靠近所述测试板4的侧壁上开设有第一通孔8，所述安装台1的宽度方向的侧壁上开设有。所述安装台1的宽度方向的两侧开设有第二通孔，所述第一通孔8与第二通孔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的检测探针测试装置，其特征在于，包括：安装台、测试板、底座与上料台；所述底座上设有驱动机构，所述测试板与所述安装台均布置在所述底座的上方；所述安装台的靠近所述测试板的侧壁上开设有第一通孔，所述安装台的宽度方向的侧壁上开设有；所述安装台的宽度方向的两侧开设有第二通孔，所述第一通孔与第二通孔相平行且垂直于所述测试板；所述测试板上开设有测试孔，所述测试孔与所述第一通孔对齐；所述测试板上垂直固定安装有导杆，所述导杆穿过所述第二通孔，所述导杆与所述第二通孔滑动连接；所述导杆上固定安装有齿条，所述安装台的侧壁上转动连接有第一轴，所述第一轴上固定安装有齿轮，所述第一轴与所述第一通孔垂直，所述安装台的侧壁上开设有第三通孔，所述第三轴上开设有螺纹孔，所述螺纹孔与所述第三通孔对齐，所述第三通孔贯穿至所述第一通孔中，所述第三通孔中布置有压杆，所述压杆的一端与所述螺纹孔螺纹连接，所述压杆的另一端延伸至所述第一通孔中，所述底座上安装有驱动机构，用于驱动所述安装台沿水平方向移动。2.根据权利要求1所述的电子元器件的检测探针测试装置，其特征在于，所述底座的上端面上固定安装有载物台，所述载物台的上端面上开设有V形的凹槽，所述凹槽布置在所述测试板的下方；所述凹槽的底部设有托板，所述托板的横截面呈半圆形；所述托板上开设有弧形槽，所述弧形槽中滑动连接有弧形板，所述安装台的下端固定安装有第一杆，所述第一杆与所述托板固定连接；所述载物台的一侧固定安装有加工台，所述加工台的靠近所述载物台的侧壁上开设有第四通孔，所述第四通孔与所述凹槽对齐；所述第四通孔的远离所述凹槽的一端转动连接有转动座，所述托板的靠近所述第四通孔的一端开设有水平的第一滑槽，所述托板的底面开设有竖直布置的沉孔，所述沉孔贯通至所述第一滑槽中；所述第一滑槽中滑动连接有第二杆，所述第二杆的一端的上端面固定安装有凸起，所述沉孔中滑动连接有第三杆，所述第三杆的上端固定安装有刀片，...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟兴彬，巫彩秀，
申请(专利权)人：深圳市新富城电子有限公司，
类型：发明
国别省市：