存储器件测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种存储器件测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质。其中，所述方法包括：确定第一测试场景中与待测存储器件测试相关的一个或多个第一数据；监测所述一个或多个第一数据；基于所述一个或多个第一数据确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常；基于所述测试异常在异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常的一个或多个异常处理操作；基于所述一个或多个异常处理操作对所述测试异常进行处理。对所述测试异常进行处理。对所述测试异常进行处理。

【技术实现步骤摘要】
存储器件测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及存储器
，尤其涉及一种存储器件测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]Jenkins是一个开源软件项目，是基于Java开发的一种持续集成工具，用于监控持续重复的工作。目前很多存储器件相关的测试也都是基于Jenkins的框架搭建的自动化测试平台进行开发的，比如，存储器件中的固件新功能的开发、固件版本的定期发布、产品的回归测试、性能测试等等。当自动化测试平台对存储器件进行测试时，测试节点(Test Node)上会出现一些异常，这些异常大多会干扰下一个测试用例(Test Case)的测试，因此需要在下一个测试用例测试前将异常处理。然而目前，自动化测试平台采用的是一种静态的异常恢复策略，其无法依据测试中发生的各种情况作出正确的异常恢复。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种存储器件测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质，对待测存储器件测试过程中的异常进行处理，以正确地对测试中的异常进行处理，提高待测存储器件的使用率，减少了测试时间，且显著降低了人工恢复处理的复杂度。
[0004]本专利技术实施例的技术方案是这样实现的：
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种存储器件测试异常处理方法，所述方法包括：
[0006]确定第一测试场景中与待测存储器件测试相关的一个或多个第一数据；
[0007]监测所述一个或多个第一数据；
[0008]基于所述一个或多个第一数据确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常；
[0009]基于所述测试异常在异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常的一个或多个异常处理操作；
[0010]基于所述一个或多个异常处理操作对所述测试异常进行处理。
[0011]第二方面，本专利技术实施例还提供一种存储器件测试异常处理装置，
[0012]所述异常处理装置包括第一确定单元、监测单元、第二确定单元、查找单元和处理单元，其中；
[0013]所述第一确定单元，用于确定第一测试场景中与待测存储器件测试相关的一个或多个第一数据；
[0014]所述监测单元，用于监测所述一个或多个第一数据；
[0015]所述第二确定单元，用于基于所述一个或多个第一数据确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常；
[0016]所述查找单元，用于基于所述测试异常在异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常的一个或多个异常处理操作；
[0017]所述处理单元，用于基于所述一个或多个异常处理操作对所述测试异常进行处理。
[0018]第三方面，本专利技术实施例还提供一种测试系统，所述测试系统基于Jenkins搭建，包括Jenkins服务器和一个或多个测试节点；其中，所述测试节点包括待测存储器件和耦合在所述待测存储器件的测试主机；
[0019]其中，所述Jenkins服务器或所述一个或多个测试节点中的每一个测试主机包括上述的存储器件测试异常处理装置。
[0020]第三方面，本专利技术实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，其中，所述存储器中存储有指令；
[0021]所述处理器用于运行所述存储器中的指令，所述指令被处理器运行时，实现上述任一项所述的方法。
[0022]第四方面，本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序处理器执行时，实现上述任一项所述的方法。
[0023]本专利技术实施例提供一种存储器件测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质。其中，所述方法包括：确定第一测试场景中与待测存储器件测试相关的一个或多个第一数据；监测所述一个或多个第一数据；基于所述一个或多个第一数据确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常；基于所述测试异常在异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常的一个或多个异常处理操作；基于所述一个或多个异常处理操作对所述测试异常进行处理。本专利技术实施例提供的异常处理方法及装置，通过在相应的测试场景(第一测试场景)中定义一组与测试相关的数据(一个或多个第一数据)，然后监测这组数据，基于这组数据确定在对待测存储器件测试器件是否出现异常，出现的是什么异常，再基于确定的异常在维持的异常恢复表中查找相应的一个或多个异常处理操作，基于这些异常处理操作予以自动处理确定的异常，不仅减少了测试时间，并且显著降低了人工恢复处理的复杂度。
附图说明
[0024]在不一定按比例绘制的附图中，相同的标号可以描述不同视图中的类似组件。具有不同字母后缀的相同数字可表示类似组件的不同实例。附图以实例而非限制的方式一般性地说明了本文档中讨论的各种实施例。
[0025]图1为本专利技术实施例提供的一种存储器件测试异常处理方法的流程示意图；
[0026]图2为本专利技术实施例的基于Jenkins搭建的自动化测试系统的结构示意图；
[0027]图3为本专利技术实施例提供的一种存储器件测试异常处理方法的实现原理示意图；
[0028]图4为本专利技术实施例提供的一种存储器件测试异常处理方法运行在Jenkins服务器侧的流程示意图；
[0029]图5为本专利技术实施例提供的一种存储器件测试异常处理方法运行在测试主机侧的流程示意图；
[0030]图6为本专利技术实施例提供的一种存储器件测试异常处理装置的结构示意图；
[0031]图7为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0032]以下参照附图更详细地描述本专利技术实施例的各个实施例。可以通过不同地配置或布置本专利技术实施例中的元件和特征以形成可作为任何所公开的实施例的变形的其它实施例。因此，本专利技术实施例不限于在本文中阐述的实施例。相反，提供所描述的实施例以使得本专利技术实施例是彻底和完整的，并且将本专利技术实施例的范围充分传达给本专利技术实施例所属
的技术人员。应当注意的是，对“实施例”、“另一实施例”等的引用不一定表示仅一个实施例，并且对任何这样的短语的不同引用不一定针对相同的实施例。应当理解的是，尽管在本文中可以使用术语“第一”、“第二”、“第三”等来标识各种元件，但是这些元件不受这些术语的限制。这些术语用于将一个元件与另一个具有相同或者相似名称的元件区分开。因此，在不脱离本专利技术实施例的精神和范围的情况下，在一个实施例中的第一元件在另一实施例中也可以称为第二或三元件。
[0033]附图不一定按照比例绘制，并且在某些情况下，可以放大比例以清楚地示出实施例的特征。当元件称为连接或联接至另一个元件时，应该理解的是，前者可以直接连接或联接后者，或者可以经由二者之间的一个或多个中间元件电连接或电联接至后者。此外，还应当理解的是，当元件被称为在两元件“之间”时，该元件可以是两个元件之间唯一元件，或者也可以存在一个或多个中间元件。
[0034]在本文中所使用术语仅出于描述特定实施例的目的，并且不旨在限制本专利技术实施例。如本文中所使用的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器件测试异常处理方法，其特征在于，所述方法包括：确定第一测试场景中与待测存储器件测试相关的一个或多个第一数据；监测所述一个或多个第一数据；基于所述一个或多个第一数据确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常；基于所述测试异常在异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常的一个或多个异常处理操作；基于所述一个或多个异常处理操作对所述测试异常进行处理。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于基于Jenkins搭建的自动化测试系统，所述测试系统包括Jenkins服务器和一个或多个测试节点；其中，所述测试节点包括待测存储器件和耦合在所述待测存储器件的测试主机。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法运行在所述Jenkins服务器侧或所述测试节点侧。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述一个或多个第一数据包括静态数据和/或动态数据，其中，所述静态数据包括与所述待测存储器件测试相关的软件信息和/或硬件信息；所述动态数据包括与所述待测存储器件测试相关的运行信息和/或日志信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述监测所述一个或多个第一数据，包括：按照相同和/或不同设定频率在本地监听和/或远程调用所述一个或多个第一数据。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述一个或多个第一数据确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常，包括：基于所述一个或多个所述第一数据与标准数据库进行比对；基于比对结果确定对所述待测存储器进行测试过程中出现的测试异常；其中，所述标准数据库包括与所述一个或多个所述第一数据中的每一个所述第一数据对应的标准数据；所述标准数据用于反映在对所述待测存储器进行相同测试过程中未出现异常情况下与所述测试相关的数据。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试异常在异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常执行的一或多个处理操作，包括：生成用于表明所述测试异常的一个或多个测试异常事件；基于所述一个或多个测试异常事件在所述异常恢复表中进行查找，确定对所述测试异常执行的一或多个处理操作；其中，所述异常...

【专利技术属性】
技术研发人员：王涛，唐知华，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：