一种存储芯片测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，所述测试座盖板安装在所述测试座底板之上，所述测试电路板安装在所述测试座底板与所述测试座盖板之间，所述测试座盖板包含测试座盖板本体与设置在所述测试座盖板本体上的压盖；所述测试座盖板本体之上至少开设有一个存储芯片测试槽，每个所述芯片测试槽包含至少一个存储芯片测试位，本实用新型专利技术的测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里的待测存储芯片被压盖封盖并压紧，测试时无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可更换待测存储芯片，非常方便快捷，本技术方案应用到自动化的测试设备中能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。核心竞争力。核心竞争力。

【技术实现步骤摘要】
一种存储芯片测试座


[0001]本技术涉及一种芯片测试
，特别是涉及一种存储芯片测试座。

技术介绍

[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。
[0003]现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高。存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向，只有采用自动化的测试，存储芯片才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。
[0004]而存储芯片测试的一个关键部件就是存储芯片测试座，存储芯片测试座是为了实现存储芯片的自动化测试而开发的一种容置待测存储芯片的部件，存储芯片测试座可以有效的减少手动测试存储芯片的电路板接口的插拔动作，容易实现存储芯片测试的自动化。

技术实现思路

[0005]针对以上现有技术的不足，本技术公开了一种全新的存储芯片测试座，本技术方案包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，工作时测试座底板、测试电路板与测试座盖板安装在一起，测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里面的待测存储芯片可以被压盖封盖，在测试活动中，无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可以更换待测存储芯片非常的方便快捷，本技术方案可应用于自动化的测试设备中。本技术方案具体如下：
[0006]一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，所述的测试座盖板安装在所述的测试座底板之上，所述的测试电路板安装在所述的测试座底板与所述的测试座盖板之间。
[0007]进一步地，所述的测试座盖板包含测试座盖板本体与设置在所述的测试座盖板本体上的压盖。
[0008]在更优的技术方案中，所述的测试座盖板本体之上至少开设有一个存储芯片测试槽，每个所述的芯片测试槽包含至少一个存储芯片测试位，所述的存储芯片测试位用于放置待测存储芯片。
[0009]在本技术方案中，所述的压盖用于封盖所述的存储芯片测试槽，所述的压盖数量与所述存储芯片测试槽的数量一致。
[0010]进一步地，所述的存储芯片测试位与所述的测试电路板上连接待测存储芯片的位置对应设置。
[0011]放置在所述存储芯片测试位中的待测存储芯片与所述的测试电路板之间通过导
电胶进行电性连接。
[0012]进一步地，所述的测试座底板包含连接板与定位板，所述的连接板用于固定连接所述的测试座盖板本体。
[0013]所述的定位板与所述的连接板为一体设置，所述的定位板的板面低于所述连接板的板面设置，所述的测试电路板定位安装在所述的定位板上。
[0014]所述定位板的两端各设置有一个第一定位柱，所述的第一定位柱用于定位安装所述的测试电路板。
[0015]所述的连接板的两端各设置有一个第二定位柱，所述的第二定位柱用于定位安装所述的测试座盖板本体。
[0016]进一步地，所述的连接板上设置有至少两个第一固定孔；所述的定位板上设置有至少一个所述的第一固定孔。
[0017]所述的测试座盖板本体上设置有与所述的第一固定孔的数量与位置相对应的第二固定孔。
[0018]在本技术方案中，所述的测试座底板与所述的测试座盖板本体通过设置在所述的第一固定孔与第二固定孔中的螺钉或螺栓固定在一起。
[0019]进一步地，所述的压盖通过第一轴件与所述的测试座盖板本体进行铰接，在更优的技术方案中，所述的第一轴件上设置有弹簧组件，所述的压盖能自动弹开。
[0020]进一步地，所述的压盖包含凸起的压块，所述的压块设置在所述压盖向下的压面上。
[0021]当所述的压盖封盖所述的存储芯片测试槽时，所述的压块直接压在所述的存储芯片测试位中的待测存储芯片上。
[0022]进一步地，所述的压块的数量与位置与所述的存储芯片测试位相对应。
[0023]在更优的技术方案中，所述的压块与所述的压盖之间还可以设置有弹性部件，所述的压块以弹性的方式向下压紧待测存储芯片。
[0024]本技术方案中，所述的压盖包含卡扣件。
[0025]进一步地，所述的测试座盖板本体的一侧设置有第一卡口，所述的第一卡口内设置有与所述的卡扣件卡接的第二轴件，在所述的第二轴件的卡接部位套设有活动的金属套筒，当所述的卡扣件扣下时刚好扣在所述的金属套筒上。
[0026]进一步地，所述的测试座底板上包含第二卡口，所述的第二卡口对应所述的第一卡口设置，用于容置所述的卡扣件卡扣在所述的第一卡口时的凸出部分。
[0027]本技术一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板三部分，工作时上述三部分需要固定安装在一起。而测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里面的待测存储芯片(如内存芯片)可以被压盖封盖住并压紧，在测试活动中，无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可以更换待测存储芯片，非常的方便快捷，本技术方案应用到自动化的测试设备中能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。
附图说明
[0028]图1本技术一种存储芯片测试座的一种实施例的整体组成结构示意图。
[0029]图2本技术一种存储芯片测试座中测试座盖板的一种实施例的结构示意图。
[0030]图3本技术一种存储芯片测试座中测试座底板的一种实施例的结构立体图。
[0031]图4本技术一种存储芯片测试座中测试座底板的一种实施例结构的俯视图。
[0032]图5本技术一种存储芯片测试座中测试座底板的一种实施例结构的仰视图。
[0033]图6本技术一种存储芯片测试座中测试座盖板的一种实施例结构的俯视图。
[0034]图7本技术一种存储芯片测试座中测试座底板、测试电路板与测试座盖板组装在一起的立体示意图。
[0035]图8本技术一种存储芯片测试座中测试座底板、测试电路板与测试座盖板组装在一起的主视图。
具体实施方式
[0036]下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。
[0037]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。
[0038]现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的自动存储芯片测试设备或方法，是本领域技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，所述的测试座盖板安装在所述的测试座底板之上，所述的测试电路板安装在所述的测试座底板与所述的测试座盖板之间，其特征在于：所述的测试座盖板包含测试座盖板本体与设置在所述的测试座盖板本体上的压盖；所述的测试座盖板本体之上至少开设有一个存储芯片测试槽，每个所述的芯片测试槽包含至少一个存储芯片测试位，所述的存储芯片测试位用于放置待测存储芯片；所述的压盖用于封盖所述的存储芯片测试槽，所述的压盖数量与所述存储芯片测试槽的数量一致。2.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的存储芯片测试位与所述测试电路板上连接待测存储芯片的位置对应设置；放置在所述存储芯片测试位中的待测存储芯片与所述的测试电路板之间通过导电胶进行电性连接。3.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的测试座底板包含：连接板，用于固定连接所述的测试座盖板本体；定位板，所述的定位板与所述的连接板为一体设置，所述的定位板的板面低于所述连接板的板面设置，所述的测试电路板安装在所述的定位板上。4.如权利要求3所述的存储芯片测试座，其特征在于：所述的定位板的两端各设置有一个第一定位柱，所述的第一定位柱用于定位安装所述的测试电路板；所述的连接板的两端各设置有一个第二定位柱，所述的第二定位柱用于定位安装所述的测试座盖板本体。5.如权利要求3所述的存储芯片测试座，其特征在于：所述的连接板上设置有至少两个第一固定孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，李斌，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：