原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法及系统技术方案

技术编号:33203823 阅读:10 留言:0更新日期:2022-04-24 00:45
本发明专利技术公开了原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法及系统,属于特征峰搜索技术领域,包括以下步骤:S1:寻找能量;S2:特征谱线确认。本发明专利技术在光栅电机在特定波长范围内搜索特征峰的过程中,能够规避噪声信号的影响,以及确认信号是否满足特征峰的要求,解决了现有原子吸收分光光度计中光栅特征峰的判断方式受噪声的影响导致错误的判断,影响检测准确率的问题,并解决了能量的点过多,内存空间占用难以预测的问题,值得被推广使用。值得被推广使用。值得被推广使用。

【技术实现步骤摘要】
原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法及系统


[0001]本专利技术涉及特征峰搜索确认
,具体涉及原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法及系统。

技术介绍

[0002]原子吸收光谱仪又称原子吸收分光光度计,根据物质基态原子蒸汽对特征辐射吸收的作用来进行金属元素分析。它能够灵敏可靠地测定微量或痕量元素。
[0003]现有原子吸收分光光度计中光栅特征峰的判断方式受噪声的影响,进而易导致错误的判断,影响检测准确率,上述问题亟待解决,为此,提出原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法及系统。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于:如何解决现有原子吸收分光光度计中光栅特征峰的判断方式受噪声的影响,进而易导致错误的判断,影响检测准确率的问题,提供了原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题的,本专利技术包括以下步骤:
[0006]S1:寻找能量
[0007]判断在光栅电机在扫描过程中采集的信号是否存在连续设定个点均超过最小能量阈值,在判断存在连续设定个点均超过最小能量阈值后,记录下信号最大值点对应的光栅电机位置,再将光栅电机运行至信号最大值点对应的光栅电机位置,即能量最大值位置;
[0008]S2:特征谱线确认
[0009]寻找到满足特征峰的能量后,采用左半峰和右半峰分别确认方式对该处能量进行判断,判断该处能量是否满足特征峰的曲线确认条件,左半峰和右半峰均满足特征峰的曲线确认条件后,则确认得到特征谱线。
[0010]更进一步地,在所述步骤S1中,最小能量阈值为预设的满足特征谱线的最小能量阈值。
[0011]更进一步地,在所述步骤S2中,特征谱线左半峰的确认过程包括以下步骤:
[0012]S201:申请内存空间E1[interval+1],光栅电机在能量最大值位置posX上,记录下此时的能量E1[0],向曲线上波长小的方向运行,光栅电机每走一步获取一次信号,能量分别为E1[0]、E1[1]…
E1[interval],此时光栅电机向左行走了interval步,同时内存空间E1[interval]被能量值填满;
[0013]S202:继续往波长小的方向运行,光栅电机行走一步获取该点能量energy,用此能量energy和E1(0)作差,得到能量差值err=energy

E1(0),如果能量差值err小于最小差值errMin,则结束判断,左半峰不成立;否则执行S203;
[0014]S203:将内存空间E1[interval+1]进行向左移位,E1[0]=E1[1],E1[1]=E1[2],

E1[interval

1]=E1[interval],E1[interval]=energy;将原来E1[0]的值由E1[1]覆盖,将
能量energy加入了内存空间结尾E1[interval],且其它空间的能量值在内存空间中的位置都向左移动一格;
[0015]S204:继续执行S202、S203步骤,直到重复设定次能量差值err均大于等于最小差值errMin,则左半峰成立。
[0016]更进一步地,在所述步骤S2中,特征谱线右半峰的确认过程包括以下步骤:
[0017]S211:申请内存空间E2[interval+1],光栅电机在能量最大值位置posX上,记录下此时的能量E2[0],向曲线上波长大的方向运行,光栅电机每走一步获取一次信号,能量分别为E2[0]、E2[1]…
E2[interval],此时光栅电机向右行走了interval步,同时内存空间E2[interval]被能量值填满;
[0018]S212:继续往波长大的方向运行,运行一步获取该点能量energy,用此energy和E2(0)作差,err=energy

E2(0),如果err小于最小差值errMin,则结束判断,右半峰不成立;否则执行S213;
[0019]S213:将内存空间E2[interval+1]进行向右移位,E2[0]=E2[1],E2[1]=E2[2],

E2[interval

1]=E2[interval],E2[interval]=energy;将原来E2[0]的值由E2[1]覆盖,将energy加入了内存空间结尾E2[interval],且其它空间的能量值在存储空间中的位置都向右移动一格;
[0020]S214:继续执行S212、S213步骤,直到重复cntMin次err均大于等于errMin,则右半峰成立。
[0021]更进一步地,在所述步骤S201与步骤S211中,E1[0]的值与E2[0]的值相等。
[0022]更进一步地,所述步骤S204中设定次和所述步骤S214中设定次相等。
[0023]本专利技术还提供了原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认系统,采用上述的光栅特征峰搜索确认方法对光栅特征峰进行搜索确认,包括:
[0024]能量寻找模块,用于判断在光栅电机在扫描过程中采集的信号是否存在连续设定个点均超过最小能量阈值,在判断存在连续设定个点均超过最小能量阈值后,记录下信号最大值点对应的光栅电机位置,再将光栅电机运行至信号最大值点对应的光栅电机位置;
[0025]谱线确认模块,用于在寻找到满足特征峰的能量后,采用左半峰和右半峰分别确认方式对该处能量进行判断,判断该处能量是否满足特征峰的曲线确认条件,进而确认是否得到特征谱线。
[0026]本专利技术相比现有技术具有以下优点:该原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法,在光栅电机在特定波长范围内搜索特征峰的过程中,能够规避噪声信号的影响,以及确认信号是否满足特征峰的要求,解决了现有原子吸收分光光度计中光栅特征峰的判断方式受噪声的影响导致错误的判断,影响检测准确率的问题,并解决了能量的点过多,内存空间占用难以预测的问题,值得被推广使用。
附图说明
[0027]图1是本专利技术实施例中信号能量搜索示意图;(图中纵坐标表示能量值E,横坐标表示波长对应光栅电机的位置,每个点对应一个波长且波长在横轴递增,光栅电机的位置与波长的增长成正比例关系);
[0028]图2是本专利技术实施例中信号能量搜索流程示意图;
[0029]图3是本专利技术实施例中特征谱线左半峰确认示意图(图中纵坐标表示能量值E,横坐标表示波长对应光栅电机的位置,每个点对应一个波长且波长在横轴递增,光栅电机的位置与波长的增长成正比例关系);
[0030]图4是本专利技术实施例中特征谱线半峰确认流程示意图。
具体实施方式
[0031]下面对本专利技术的实施例作详细说明,本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本专利技术的保护范围不限于下述的实施例。
[0032]本实施例提供一种技术方案:本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:寻找能量判断在光栅电机在扫描过程中采集的信号是否存在连续设定个点均超过最小能量阈值,在判断存在连续设定个点均超过最小能量阈值后,记录下信号最大值点对应的光栅电机位置,再将光栅电机运行至信号最大值点对应的光栅电机位置,即能量最大值位置;S2:特征谱线确认寻找到满足特征峰的能量后,采用左半峰和右半峰分别确认方式对该处能量进行判断,判断该处能量是否满足特征峰的曲线确认条件,左半峰和右半峰均满足特征峰的曲线确认条件后,则确认得到特征谱线。2.根据权利要求1所述的原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法,其特征在于:在所述步骤S1中,最小能量阈值为预设的满足特征谱线的最小能量阈值。3.根据权利要求2所述的原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法,其特征在于:在所述步骤S2中,特征谱线左半峰的确认过程包括以下步骤:S201:申请内存空间E1[interval+1],光栅电机在能量最大值位置上,记录下此时的能量E1[0],向曲线上波长小的方向运行,光栅电机每走一步获取一次信号,能量分别为E1[0]、E1[1]

E1[interval],此时光栅电机向左行走了interval步,同时内存空间E1[interval]被能量值填满;S202:继续往波长小的方向运行,光栅电机行走一步获取该点能量energy,用此能量energy和E1(0)作差,得到能量差值err=energy

E1(0),如果能量差值err小于最小差值errMin,则结束判断,左半峰不成立;否则执行S203;S203:将内存空间E1[interval+1]进行向左移位,E1[0]=E1[1],E1[1]=E1[2],

E1[interval

1]=E1[interval],E1[interval]=energy;将原来E1[0]的值由E1[1]覆盖,将能量energy加入了内存空间结尾E1[interval],其它空间的能量值在内存空间中的位置都向左移动一格;S204:继续执行S202、S203步骤,直到重复设定次能量差值err均大于等于最小差值errMin,则左半峰成立。4.根据权利要求3所述的原子吸收分光光度计中光栅特征峰搜索确认方法,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:张二锁杨鑫盛
申请(专利权)人:安徽皖仪科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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