本实用新型专利技术提供一种左右崩边检测装置及硅片检测分选设备，其中，左右崩边检测装置包括：左检测机构、右检测机构以及滑轨；左检测机构与右检测机构设置于滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件；光源能够相对第一固定板进行调节；点激光和检测相机能够分别相对第二固定板进行调节；调节组件包括：固定座和调节件。本实用新型专利技术通过左检测机构、右检测机构对输送的硅片进行崩边检测，有利于分选出不符合要求的硅片，提高了硅片的出厂良率。同时，两个检测机构能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测机构中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。检测的效率。检测的效率。
【技术实现步骤摘要】
左右崩边检测装置及硅片检测分选设备
[0001]本技术涉及硅片检测分选
，尤其涉及一种左右崩边检测装置及硅片检测分选设备。
技术介绍
[0002]硅片作为重要的工业原材料，被广泛用于太阳能电池、电路板等产品的生产制造中。因此，在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控，以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。
[0003]目前，在硅片的检测分选过程中，需要对通过流线输送的硅片的左右边缘进行检视，以判断硅片的边缘是否存在破损的问题。因此，针对如何对硅片的边缘进行检视的问题，有必要提出进一步地解决方案。
技术实现思路
[0004]本技术旨在提供一种左右崩边检测装置及硅片检测分选设备，以克服现有技术中存在的不足。
[0005]为解决上述技术问题，本技术的技术方案是：
[0006]一种左右崩边检测装置，其包括：左检测机构、右检测机构以及滑轨；
[0007]所述左检测机构与右检测机构设置于所述滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件；
[0008]所述光源安装于所述第一固定板上，并面向检测工位设置，所述光源能够相对所述第一固定板进行调节；
[0009]所述点激光和检测相机安装于第二固定板上，并面向所述检测工位设置，所述点激光和检测相机能够分别相对所述第二固定板进行调节；
[0010]所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。
[0011]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述左检测机构与右检测机构相对错位设置。
[0012]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述第一固定板竖直设置，所述光源为两组，两组光源上下相对地安装于所述第一固定板上，两组光源之间形成所述检测工位。
[0013]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述光源朝向所述检测工位的光路上还设置有能够进行角度调节的棱镜。
[0014]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述光源枢转安装于所述第一固定板上，所述第一固定板上开设有适于所述光源角度调整的第一调节槽。
[0015]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述点激光所在的安装座枢转安装于所述第二固定板上，所述安装座上开设有适于所述点激光角度调节的第二调节槽，所述
第二固定板上设置有伸入所述第二调节槽中的凸起。
[0016]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述检测相机所在的安装座上开设有滑槽，所述第二固定板上开设有适于所述检测相机滑动调节的锁孔。
[0017]作为本技术的左右崩边检测装置的改进，所述固定座固定于所述滑轨所在的底座上，所述调节件为一螺杆，所述螺杆一端螺接于所述固定座上，另一端螺接于所在检测机构的底部凸块上。
[0018]为解决上述技术问题，本技术的技术方案是：
[0019]一种硅片检测分选设备，其包括如上所述的左右崩边检测装置。
[0020]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术通过左检测机构、右检测机构对输送的硅片进行崩边检测，有利于分选出不符合要求的硅片，提高了硅片的出厂良率。同时，两个检测机构能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测机构中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1为本技术左右崩边检测装置一实施例的立体示意图；
[0023]图2为图1中左右崩边检测装置的俯视图；
[0024]图3为图1中调节组件的立体放大示意图。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]如图1、2所示，本技术一实施例的左右崩边检测装置包括：左检测机构10、右检测机构20以及滑轨30。
[0027]左检测机构10、右检测机构20用于对输送的硅片进行崩边检测，进而分选出不符合要求的硅片，有利于提高硅片的出厂良率。
[0028]具体地，左检测机构10与右检测机构20设置于滑轨30上，且两个检测机构10、20相向设置。如此，当输送而来的硅片经过左检测机构10与右检测机构20时，两个检测机构10、20可实现对硅片边缘质量的检视。一个实施方式中，左检测机构10与右检测机构20相对错位设置，该设置方式可避免两个检测机构10、20相互干扰，影响检测结果的精度。滑轨30的两端安装于工字型的底座40上。
[0029]任一检测机构10、20包括：检测相机11、点激光12、光源13以及调节组件14。
[0030]其中，检测相机11、点激光12用于对硅片的边缘进行检视，光源13用于为检测相机11、点激光12的检视提供照明。检测相机11、点激光12、光源13能够进行独立调节。
[0031]具体地，光源13安装于第一固定板15上，并面向检测工位设置，且光源13能够相对第一固定板15进行调节。如此，可在实际的调试过程中，调整光源13的照射角度，以满足硅片的检视需求。
[0032]一个实施方式中，为了实现光源13的角度调节，光源13通过一转轴枢转安装于第一固定板15上，且第一固定板15上开设有适于光源13角度调整的第一调节槽151。如此，光源13可沿着上述第一调节槽151进行枢转运动，进而第一调节槽151为光源13的枢转提供导向。
[0033]进一步地，第一固定板15竖直设置。当光源13为两组时，两组光源13上下相对地安装于第一固定板15上，此时两组光源13之间形成检测工位。此外，光源13朝向检测工位的光路上还设置有能够进行角度调节的棱镜16，如此以便于搭建检测光路。
[0034]点激光12和检测相机11安装于第二固定板17上，并面向检测工位设置，且点激光12和检测相机11能够分别相对第二固定板17进行调节。如此，可在实际的调试过程中，调整点激光12和检测相机11的照射角度和位置，以满足硅片的检视需求。
[0035]一个实施方式中，为了实现点激光12的角度调节，点激光12所在的安装座121枢转安装于第二固定板17上，安装座121上开设有适于点激光12角度调节的第二调节槽120，第二固定板17上设置有伸入第二调节槽120中的凸起。如此，安装座121进行枢转时，其上的第二调节本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种左右崩边检测装置，其特征在于，所述左右崩边检测装置包括：左检测机构、右检测机构以及滑轨；所述左检测机构与右检测机构设置于所述滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件；所述光源安装于第一固定板上，并面向检测工位设置，所述光源能够相对所述第一固定板进行调节；所述点激光和检测相机安装于第二固定板上，并面向所述检测工位设置，所述点激光和检测相机能够分别相对所述第二固定板进行调节；所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。2.根据权利要求1所述的左右崩边检测装置，其特征在于，所述左检测机构与右检测机构相对错位设置。3.根据权利要求1所述的左右崩边检测装置，其特征在于，所述第一固定板竖直设置，所述光源为两组，两组光源上下相对地安装于所述第一固定板上，两组光源之间形成所述检测工位。4.根据权利要求1或3所述的左右崩边检测装置，其特征在于，所述光源...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙靖，曹葵康，顾烨，孙俊，苏傲，钱春辉，胡辉来，程璧，张体瑞，温延培，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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