一种透过率测试方法及透过率测试系统技术方案

本发明专利技术涉及光学镜片检测技术领域，公开了一种透过率测试方法及透过率测试系统，以解决相关技术中利用测试仪器测试光学镜片透过率时存在测试误差的技术问题。所述透过率测试方法包括：获取测试仪器未放入待测样品时的光强信息，记为参照光强；将所述待测样品放入所述测试仪器的测试光路中，调整所述待测样品的摆放角度以使其光轴的角度与测试光源的偏振角度相等；获取所述测试仪器放入所述待测样品后的光强信息，记为测试光强；根据所述参照光强和所述测试光强，计算所述待测样品的透过率。本发明专利技术可用于光学镜片的透过率测试。本发明专利技术可用于光学镜片的透过率测试。本发明专利技术可用于光学镜片的透过率测试。

【技术实现步骤摘要】
一种透过率测试方法及透过率测试系统


[0001]本专利技术涉及光学镜片检测
，尤其涉及一种透过率测试方法及透过率测试系统。

技术介绍

[0002]现有的光学测试仪器在进行透过率测试时，通常是将待测样品放置于测试仪器的测试光路中，获得光强信息后，与未放置待测样品时的光强进行对比，从而得出待测样品的透过率。
[0003]然而，申请人发现，采用上述方法进行测试时，由于测试光源发出的测试光经多次反射到达待测样品时，变成具有一定偏振角度的偏振光，这样，在利用上述偏振光照射具有偏振极性的待测样品时，例如塑料薄膜或塑料薄片时，随着反射角以及待测样品在测试仪器内放置的角度不同，其测试结果也会不同，导致产生较大的测试误差，不利于生产和监控。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种透过率测试方法及透过率测试系统，旨在解决相关技术在利用测试仪器检测具有偏振极性的产品的透过率时存在测试误差的技术问题。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种透过率测试方法，包括：
[0006]获取测试仪器未放入待测样品时的光强信息，记为参照光强；
[0007]将所述待测样品放入所述测试仪器的测试光路中，调整所述待测样品的摆放角度以使其吸光轴的角度与测试光源的偏振角度相等；
[0008]获取所述测试仪器放入待测样品后的光强信息，记为测试光强；
[0009]根据所述参照光强和所述测试光强，计算所述待测样品的透过率。
[0010]进一步地，将所述待测样品放入所述测试仪器的测试光路中之前，所述测试方法还包括：
[0011]确定所述待测样品的基准轴，所述基准轴的方向与所述待测样品的吸光轴的方向相同或垂直。
[0012]进一步地，确定所述待测样品的基准轴包括：
[0013]提供两片吸光轴已知的第一偏光片；
[0014]调整两片所述第一偏光片的角度，以使两片所述第一偏光片的吸光轴正交；
[0015]将所述待测样品放置于两片所述第一偏光片之间，旋转所述待测样品至透光强度最低时停止；
[0016]沿与其中一个所述第一偏光片的吸光轴平行的方向在所述待测样品上画标记线，所述标记线方向即为所述待测样品的基准轴的方向。
[0017]进一步地，调整所述待测样品的摆放角度以使其吸光轴的角度与测试光源的偏振角度相等，包括：
[0018]调整所述待测样品的摆放角度，使所述基准轴的角度与测试光源的偏振角度相等，记为第一测试角度：
[0019]继续调整所述待测样品的摆放角度，使所述基准轴的角度与所述测试光源的偏振角度正交，记为第二测试角度；
[0020]判断所述待测样品在所述第一测试角度和所述第二测试角度时的透光强度大小，记透光强度大的位置为测试位置；
[0021]调整所述待测样品，使其位于所述测试位置。
[0022]进一步地，调整两片所述偏光片的角度后，所述方法还包括：
[0023]固定两片所述第一偏光片，使两片所述第一偏光片无法发生相对转动。
[0024]进一步地，将所述待测样品放入所述测试仪器的测试光路中之前，所述测试方法还包括：
[0025]确定所述测试仪器中测试光源的偏振角度。
[0026]进一步地，确定所述测试仪器中测试光源的偏振角度包括：
[0027]提供一吸光轴已知的第二偏光片；
[0028]将所述第二偏光片放置于所述测试仪器的测试光路中；
[0029]旋转所述第二偏光片至透光强度最大时停止，此时所述第二偏光片的吸光轴的角度即为所述测试光源的偏振角度。
[0030]进一步地，在调整所述待测样品的摆放角度以使其吸光轴的角度与所述测试光源的偏振角度相等之后，所述测试方法还包括：
[0031]旋转所述待测样品至透光强度最大时停止。
[0032]第二方面，本专利技术实施例提供了一种透过率测试系统，包括：
[0033]测试光源，用于发出测试光；
[0034]夹持装置，设置于所述测试光源形成的测试光路中，用于固定待测样品，其中，所述待测样品安装到所述夹持装置上时，所述待测样品的吸光轴的角度与所述测试光源的偏振角度相等；
[0035]光电检测器，用于获取光强信息。
[0036]本专利技术实施例提供的透过率测试方法及透过率测试系统，将待测样品放入测试仪器内后，通过调整待测样品的吸光轴的角度使其与测试光源的偏振角度相等，消除了测试光源偏振的影响，使得测试结果与在自然光下获得的测试结果相近，从而有效消除了测试误差，提高了测试仪器检测的准确性。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1为本专利技术实施例提供的测试系统的原理图；
[0039]图2为本专利技术实施例提供的透过率测试方法的流程图之一；
[0040]图3为本专利技术实施例提供的确定待测样品基准轴的流程图；
[0041]图4为本专利技术实施例提供的透过率测试方法的流程图之二；
[0042]图5为本专利技术实施例提供的确定测试光源偏振角度的流程图。
[0043]图中标记的含义为：
[0044]10、透过率测试系统；1、测试光源；2、夹持装置；3、待测样品；4、光电检测器；5、反射镜。
具体实施方式
[0045]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图即实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0046]需说明的是，当部件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件，它可以是直接或者间接在该另一个部件上。当一个部件被称为是“连接于”另一个部件，它可以是直接或者间接连接至该另一个部件上。术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对专利的限制。术语“第一”、“第二”仅用于便于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明技术特征的数量。“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0047]如图1所示，本专利技术实施例提供了一种透过率测试系统10，包括测试光源1、夹持装置2和光电检测器4。上述透过率测试系统10设于一测试仪器中，用于测试样品的透过率。
[0048]测试光源1用于发出测试光。
[0049]需要说明的是，测试光源1发出的测试光照射到位于测试仪器内的反射镜5上后，经过多次反射后，会形成如图1中实线箭头所示的测试光路。
[0050]夹持装置2设置于测试光源1形成的测试光路中，用于固定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种透过率测试方法，其特征在于，包括：获取测试仪器未放入待测样品时的光强信息，记为参照光强；将所述待测样品放入所述测试仪器的测试光路中，调整所述待测样品的摆放角度以使其吸光轴的角度与测试光源的偏振角度相等；获取所述测试仪器放入所述待测样品后的光强信息，记为测试光强；根据所述参照光强和所述测试光强，计算所述待测样品的透过率。2.根据权利要求1所述的透过率测试方法，其特征在于，将所述待测样品放入所述测试仪器的测试光路中之前，所述测试方法还包括：确定所述待测样品的基准轴，所述基准轴的方向与所述待测样品的吸光轴的方向相同或垂直。3.根据权利要求2所述的透过率测试方法，其特征在于，确定所述待测样品的基准轴包括：提供两片吸光轴已知的第一偏光片；调整两片所述第一偏光片的角度，以使两片所述第一偏光片的吸光轴正交；将两片所述偏光片放置于一光源的发光侧，并使所述第一偏光片的延伸方向与所述光源的光路方向垂直；将所述待测样品放置于两片所述第一偏光片之间，旋转所述待测样品至透光强度最低时停止；沿与其中一个所述第一偏光片的吸光轴平行的方向在所述待测样品上画标记线，所述标记线方向即为所述待测样品的基准轴的方向。4.根据权利要求3所述的透过率测试方法，其特征在于，调整所述待测样品的摆放角度以使其吸光轴的角度与测试光源的偏振角度相等，包括：调整所述待测样品的摆放角度，使所述基准轴的角度与所述测试光源的偏振角度相等，记为第一测试角度；继续调整所述待测样品的摆放角度，使所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘太兴，曾胜祥，李海峰，李连伟，王士敏，朱泽力，
申请(专利权)人：深圳莱宝高科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：