一种线激光非标性能检测平台及线激光特性参数检测方法技术

本发明专利技术涉及一种线激光非标性能检测平台及线激光特性参数检测方法，检测平台包括：滑轨、伺服电机、上位机、激光器固定工装和线阵相机；上电后，上位机通过伺服电机控制激光器固定工装在滑轨上移动，进而带动待检测线激光器在所述滑轨上移动，线阵相机采集待检测线激光器移动过程中的线激光获得多张图像，并将多张图像发送至上位机，以使上位机根据多张图像分析计算非标准特性参数，以实现利用非标准特性参数对以大尺度三维空间定位仪为代表的激光扫描交会测量系统的信号基准源质量进行评估。扫描交会测量系统的信号基准源质量进行评估。扫描交会测量系统的信号基准源质量进行评估。

【技术实现步骤摘要】
一种线激光非标性能检测平台及线激光特性参数检测方法


[0001]本专利技术涉及精密定位测量
，特别是涉及一种线激光非标性能检测平台及线激光特性参数检测方法。

技术介绍

[0002]以大尺度三维空间整体测量定位仪为代表的激光扫描交会原理测量系统主要应用于飞机制造、卫星制造等航空航天领域，汽车、造船以及工业测量等领域，它的主要功能体现在实时监控、移动导航、在线检测、大部件的空间尺寸三维测量以及逆向工程等等。其中，激光发射基站为该类测量系统核心部件，基站顶端为可绕固定旋转轴匀速转动的旋转平台，在工作过程中，旋转平台承载线激光器绕轴转动，在旋转过程中通过线激光器所发射的激光扇面扫描待测量目标物，以激发安装在待测量目标物上的测量系统信号接收模块，产生响应脉冲信号传输至测量系统上位机，为待测量目标物的精密空间定位提供解算基础。
[0003]以激光为扫描基础，进行目标物空间状态测量的系统，由于其工作原理，普遍在激光器质量检验阶段聚焦于激光发散角、能量强度等通用标准技术特性参数，而根据激光扫描交会原理测量系统的空间角度交会原理，在交会过程中影响激光扇面质量的最关键技术特性为激光线性度和能量均匀性，测量系统工作过程中所发射的激光扇面线性度和能量均匀性质量直接影响最终交会测量结果。目前，针对激光扫描交会原理测量系统专用线激光质量检验
空白，如何实现快速、有效检测激光扫描交会原理测量系统专用线激光的线性度和能量均匀性，为线激光在激光扫描交会原理类测量系统中适用度的评判提供标准，有效评估线激光质量具有非常重要的实用价值。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种线激光非标性能检测平台及线激光特性参数检测方法，以实现对信号基准源质量进行评估。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种线激光非标性能检测平台，所述检测平台包括：
[0006]滑轨、伺服电机、上位机、激光器固定工装和线阵相机；所述激光器固定工装滑动设置在所述滑轨上，所述上位机与所述伺服电机连接，所述激光器固定工装用于安装待检测线激光器，所述线阵相机与所述待检测线激光器对应设置，所述线阵相机与所述上位机连接；
[0007]上电后，所述上位机通过所述伺服电机控制所述激光器固定工装在所述滑轨上移动，进而带动所述待检测线激光器在所述滑轨上移动，所述线阵相机采集所述待检测线激光器移动过程中的线激光获得多张图像，并将多张图像发送至所述上位机，以使所述上位机根据多张图像分析计算非标准特性参数。
[0008]可选地，所述检测平台还包括：
[0009]光学平台；所述滑轨和所述伺服电机均设置在所述光学平台上，所述光学平台用
于提供光滑水平面。
[0010]可选地，所述检测平台还包括：
[0011]支架，设置在所述光学平台上，用于支撑并调整所述线阵相机的高度，以使所述线阵相机与所述待检测线激光器对应设置。
[0012]可选地，所述检测平台还包括：
[0013]遮光幕布，用于围罩在所述光学平台的四周和顶面，以使将所述滑轨、所述伺服电机、所述激光器固定工装、所述线阵相机和所述支架笼罩在内部，提供遮光环境。
[0014]可选地，所述激光器固定工装带有凸出部分，所述凸出部分用于插入所述待检测线激光器的凹坑内部，以使所述待检测线激光器固定在所述激光器固定工装上。
[0015]可选地，滑轨性能参数是根据所述待检测线激光器的张角大小、线性度要求、功率以及线阵相机成像曝光时间确定的；所述滑轨性能参数包括：速率范围、导轨分辨率和行程。
[0016]可选地，所述上位机获取待检测线激光器移动过程中的多张图像；对多张图像进行拼接，获得拼接图像；采用灰度阈值分割法对所述拼接图像进行分析计算非标准特性参数。
[0017]本专利技术还提供一种线激光特性参数检测方法，所述检测方法包括：
[0018]步骤S1：根据所述待检测线激光器的张角大小、线性度要求、功率以及线阵相机成像曝光时间确定滑轨性能参数；
[0019]步骤S2：根据所述滑轨性能参数选取滑轨；
[0020]步骤S3：将所述滑轨、伺服电机、上位机、激光器固定工装和线阵相机进行组装，获得上述线激光非标性能检测平台；
[0021]步骤S4：上电后，所述上位机通过所述伺服电机控制所述激光器固定工装在所述滑轨上移动，进而带动所述待检测线激光器在所述滑轨上移动，所述线阵相机采集所述待检测线激光器移动过程中的线激光获得多张图像，并将多张图像发送至所述上位机，以使所述上位机根据多张图像分析计算非标准特性参数。
[0022]可选地，步骤S3具体包括：
[0023]在所述滑轨的台面上安装所述激光器固定工装，并将待检测线激光器固定安装在所述激光器固定工装上，将所述上位机通过所述伺服电机与所述滑轨的台面进行电连接，将所述线阵相机与所述待检测线激光器对应设置。
[0024]可选地，所述上位机获取待检测线激光器移动过程中的多张图像；对多张图像进行拼接，获得拼接图像；采用灰度阈值分割法对所述拼接图像进行分析计算非标准特性参数。
[0025]根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：
[0026]本专利技术公开一种线激光非标性能检测平台及线激光特性参数检测方法，检测平台包括：滑轨、伺服电机、上位机、激光器固定工装和线阵相机；上电后，上位机通过伺服电机控制激光器固定工装在滑轨上移动，进而带动待检测线激光器在所述滑轨上移动，线阵相机采集待检测线激光器移动过程中的线激光获得多张图像，并将多张图像发送至上位机，以使上位机根据多张图像分析计算非标准特性参数，以实现利用非标准特性参数对以大尺度三维空间定位仪为代表的激光扫描交会测量系统的信号基准源质量进行评估，整体检测
方法高效快捷，具有极高的实操性，有效保障测量系统测量精度。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为本专利技术线激光非标性能检测平台示意图；
[0029]图2为本专利技术支架高度未调整以及已调整时的示意图；
[0030]图3为本专利技术待检测线激光器移动过程示意图；
[0031]图4为本专利技术线激光特性参数检测方法流程图。
[0032]符号说明：
[0033]1‑
滑轨，2
‑
伺服电机，3
‑
激光器固定工装，4
‑
待检测线激光器，5
‑
线阵相机，6
‑
支架，7
‑
光学平台，8
‑
遮光幕布，9
‑
激光扇面，10
‑
上位机，11
‑
电缆线，12
‑
台面。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种线激光非标性能检测平台，其特征在于，所述检测平台包括：滑轨、伺服电机、上位机、激光器固定工装和线阵相机；所述激光器固定工装滑动设置在所述滑轨上，所述上位机与所述伺服电机连接，所述激光器固定工装用于安装待检测线激光器，所述线阵相机与所述待检测线激光器对应设置，所述线阵相机与所述上位机连接；上电后，所述上位机通过所述伺服电机控制所述激光器固定工装在所述滑轨上移动，进而带动所述待检测线激光器在所述滑轨上移动，所述线阵相机采集所述待检测线激光器移动过程中的线激光获得多张图像，并将多张图像发送至所述上位机，以使所述上位机根据多张图像分析计算非标准特性参数。2.根据权利要求1所述的线激光非标性能检测平台，其特征在于，所述检测平台还包括：光学平台；所述滑轨和所述伺服电机均设置在所述光学平台上，所述光学平台用于提供光滑水平面。3.根据权利要求2所述的线激光非标性能检测平台，其特征在于，所述检测平台还包括：支架，设置在所述光学平台上，用于支撑并调整所述线阵相机的高度，以使所述线阵相机与所述待检测线激光器对应设置。4.根据权利要求3所述的线激光非标性能检测平台，其特征在于，所述检测平台还包括：遮光幕布，用于围罩在所述光学平台的四周和顶面，以使将所述滑轨、所述伺服电机、所述激光器固定工装、所述线阵相机和所述支架笼罩在内部，提供遮光环境。5.根据权利要求3所述的线激光非标性能检测平台，其特征在于，所述激光器固定工装带有凸出部分，所述凸出部分用于插入所述待检测线激光器的凹坑内部，以使所述待检测线激光器固定在所述激光器固定工装上。6.根据权利要求1所述的线激光非标性能检测平台，其特征在于，滑轨性能参数是根据所述待检测线激光器的张角大小...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄勇，刘强，高艳杰，甘志超，王红，
申请(专利权)人：北京长城航空测控技术研究所有限公司北京瑞赛长城航空测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：