多轴机床校正方法、装置、终端及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了多轴机床校正方法、装置、终端及计算机可读存储介质，包括如下步骤：获取机床的原始坐标系；利用空间三点校正法获取校正矩阵；将工件的目标点在原始坐标系中的原始坐标信息以及校正矩阵进行相乘，以获得校正后的目标点的实际坐标信息。通过本发明专利技术实现能快速有效地确定工件的实际坐标信息，加工前作业人员无需耗费大量的时间对工件进行摆正从而提高工作效率。同时也由于数控系统加工时所代入的是工件的实际坐标信息，从而也提高了加工精度。精度。精度。

【技术实现步骤摘要】
多轴机床校正方法、装置、终端及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及多轴机床
，特别涉及多轴机床校正方法、装置、终端及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着市场需求的多样化，激光切割/焊接技术也在不断创新发展，利用大型多轴复合加工装备可以直接实现工件的加工一体化，提高机床的利用效率，同时简化工件装夹流程，提高加工效率和加工精度。
[0003]在多轴机床加工工件时，作业人员需要先将工件夹装在机床工作台上，并将工件摆正在机床所属的原始坐标系上，然后再将数控系统中预输入的包含加工坐标信息的加工程序代入至该原始坐标系，最后启动机床对工件进行加工。但是如此每次夹装都要进行细心繁琐地对工件进行摆正，这样不仅效率极为低下并且易出错，而且大量占用了机床的调试时间，增作业人员的工作强度，同时若工件位置与原始坐标系出现偏差还会导致加工精度降低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提出多轴机床校正方法、装置、终端及计算机可读存储介质，旨在实现能快速有效地确定工件的实际坐标信息，以提高工作效率以及加工精度。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出一种多轴机床校正方法，其特征在于：包括如下步骤：
[0006]获取机床的原始坐标系；
[0007]利用空间三点校正法获取校正矩阵；
[0008]将工件的目标点在原始坐标系中的原始坐标信息以及校正矩阵进行相乘，以获得校正后的目标点的实际坐标信息。
[0009]可选地，在所述利用空间三点校正法获取校正矩阵的步骤中，包括如下步骤：
[0010]确定工件上的第一基准点、第二基准点以及第三基准点；
[0011]获取在加工程序中的第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息；
[0012]获取在原始坐标系中的第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的基准点坐标信息；
[0013]将第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息以及基准点坐标信息输入至校正运算系统，以得到校正矩阵。
[0014]可选地，在所述确定工件上的第一基准点、第二基准点以及第三基准点的步骤中，包括：
[0015]第一基准点、第二基准点以及第三基准点不在同一直线上。
[0016]可选地，在所述确定工件上的第一基准点、第二基准点以及第三基准点的步骤中，
包括：
[0017]第一基准点、第二基准点以及第三基准点分别对应工件的三个角点。
[0018]可选地，在所述获取在原始坐标系中的第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的基准点坐标信息的步骤中，包括如下步骤：
[0019]将机床的的机械零点与激光定位仪或CCD(charge coupled device，电荷耦合器件)定位系统预设的原点相对应，建立机床的原始坐标系；
[0020]通过激光定位仪或CCD定位系统获取第一基准点、第二基准点以及第三基准点在原始坐标系中所对应的基准点坐标信息。
[0021]可选地，在所述将第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息以及基准点坐标信息输入至运算系统以得到校正矩阵的步骤中，包括如下步骤：
[0022]将第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息以及基准点坐标信息代入校正公式，并利用奇异值分解法得到旋转矩阵以及平移矩阵；
[0023]将旋转矩阵以及平移矩阵进行组合获得校正矩阵。
[0024]可选地，在所述将第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息以及基准点坐标信息代入校正公式，并利用奇异值分解法得到旋转矩阵以及平移矩阵的步骤中，包括：
[0025]所述校正公式为：P
A
＝R*P
B
+T；
[0026]其中，P
A
为第一基准点/第二基准点/第三基准点的加工坐标信息；P
B
为第一基准点/第二基准点/第三基准点在原始坐标系中的基准点坐标信息；R为旋转矩阵；T为平移矩阵。
[0027]为实现上述目的，本专利技术还提出一种多轴机床校正装置，用于执行上述的多轴机床校正方法，包括：
[0028]原始坐标系模块，所述原始坐标系模块用于处理获取机床的原始坐标系；
[0029]校正矩阵模块，所述校正矩阵用于处理利用空间三点校正法获取校正矩阵；
[0030]校正模块，所述校正模块用于处理将工件的目标点在原始坐标系中的原始坐标信息以及校正矩阵进行相乘，以获得校正后的目标点的实际坐标信息。
[0031]为实现上述目的，本专利技术还提出一种终端，所述终端包括：处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的多轴机床校正程序，所述多轴机床校正程序被所述处理器执行时实现上述的多轴机床校正方法的步骤。
[0032]为实现上述目的，本专利技术还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有多轴机床校正程序，所述多轴机床校正程序被处理器执行时实现上述的多轴机床校正方法的步骤。
[0033]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
[0034]本专利技术通过获取机床的原始坐标系；利用空间三点校正法获取校正矩阵；将工件的目标点在原始坐标系中的原始坐标信息以及校正矩阵进行相乘，以获得校正后的目标点的实际坐标信息。从而实现能快速有效地确定工件的实际坐标信息，加工前作业人员无需耗费大量的时间对工件进行摆正从而提高工作效率。同时也由于数控系统加工时所代入的是工件的实际坐标信息，从而也提高了加工精度。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1为移动终端一实施例的硬件结构示意图；
[0037]图2为图1中移动终端的无线通信装置示意图；
[0038]图3为本专利技术多轴机床校正方法第一实施例的流程示意图；
[0039]图4为本专利技术多轴机床校正方法第二实施例的流程示意图；
[0040]图5为本专利技术多轴机床校正方法第二实施例中的辅助示意图其一；
[0041]图6为本专利技术多轴机床校正方法第二实施例中的辅助示意图其二；
[0042]图7为本专利技术多轴机床校正方法第二实施例中的辅助示意图其三；
[0043]图8为本专利技术多轴机床校正方法第二实施例中步骤S23的流程示意图；
[0044]图9为本专利技术多轴机床校正方法第二实施例中步骤S24的流程示意图。
具体实施方式
[0045]下面将结合本专利技术中的附图，对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多轴机床校正方法，其特征在于：包括如下步骤：获取机床的原始坐标系；利用空间三点校正法获取校正矩阵；将工件的目标点在原始坐标系中的原始坐标信息以及校正矩阵进行相乘，以获得校正后的目标点的实际坐标信息。2.根据权利要求1所述的多轴机床校正方法，其特征在于：在所述利用空间三点校正法获取校正矩阵的步骤中，包括如下步骤：确定工件上的第一基准点、第二基准点以及第三基准点；获取在加工程序中的第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息；获取在原始坐标系中的第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的基准点坐标信息；将第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息以及基准点坐标信息输入至校正运算系统，以得到校正矩阵。3.根据权利要求2所述的多轴机床校正方法，其特征在于：在所述确定工件上的第一基准点、第二基准点以及第三基准点的步骤中，包括：第一基准点、第二基准点以及第三基准点不在同一直线上。4.根据权利要求3所述的多轴机床校正方法，其特征在于：在所述确定工件上的第一基准点、第二基准点以及第三基准点的步骤中，包括：第一基准点、第二基准点以及第三基准点分别对应工件的三个角点。5.根据权利要求2所述的多轴机床校正方法，其特征在于：在所述获取在原始坐标系中的第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的基准点坐标信息的步骤中，包括如下步骤：将机床的的机械零点与激光定位仪或CCD定位系统预设的原点相对应，建立机床的原始坐标系；通过激光定位仪或CCD定位系统获取第一基准点、第二基准点以及第三基准点在原始坐标系中所对应的基准点坐标信息。6.根据权利要求2所述的多轴机床校正方法，其特征在于：在所述将第一基准点、第二基准点以及第三基准点所对应的加工坐标信息以及基准点坐标信息输入至运算系统以得到校正矩阵的...

【专利技术属性】
技术研发人员：谷睿宇，张智洪，李启程，杨先林，周红林，盛辉，周学慧，张凯，
申请(专利权)人：深圳泰德激光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：