一种可复用测试用例框架、构建方法及电子设备技术

本发明专利技术公开了一种可复用测试用例框架、构建方法及电子设备，可复用测试用例框架集成有测试函数库、模板函数接口层、芯片选型表、测试列表以及解析复用主程序；本发明专利技术实施例提供的方案，使用测试函数库和模板函数接口层可以使芯片测试用例和实际芯片差异分隔开，利于在不同芯片中，对不同算子测试时抛开算子特性，统一到一个抽象测试接口，只需要更新测试函数库，就能通过模板函数接口来匹配各种不同的测试函数，达到可复用的测试目的；使用测试列表能有效的控制多个测试函数，使芯片算子多个测试函数批量进行，节省了测试人员的测试工作量；使用芯片选型表，能够使芯片测试用例集和各个不同的芯片类型分隔开，让测试用例复用到不同芯片上。不同芯片上。不同芯片上。

【技术实现步骤摘要】
一种可复用测试用例框架、构建方法及电子设备


[0001]本专利技术涉及可重构芯片
，特别涉及一种可复用测试用例框架、构建方法及电子设备。

技术介绍

[0002]在通用计算加速和可重构芯片领域，每款芯片设计中都有各自的基本算子或指令（如，ADD，SUB，MUL等指令），以及由基本算子或指令组成更复杂的功能函数，如MFCC、FFT等；对芯片来说，需要复杂功能函数作为测试用例来测试基本算子，所以芯片开发过程中，使用测试用例对基本算子/指令进行验证是非常重要的环节。
[0003]目前，由于芯片种类繁多、指令各异，每款芯片都有其独立的测试环境，用以各自的芯片测试，测试软件平台无法统一，导致芯片开发需要进行过多重复的测试用例开发工作；同时算子/指令的输入输出各异，也导致测试用例差异较大，难以统一到一个集成测试环境中进行批量测试。

技术实现思路

[0004]为了解决现有技术中存在的问题，本专利技术实施例提供了一种可复用测试用例框架、构建方法及电子设备。所述技术方案如下：第一方面，提供了一种可复用测试用例框架，集成有测试函数库、模板函数接口层、芯片选型表、测试列表以及解析复用主程序；其中，测试函数库内包含用于构成测试用例的测试函数，测试用例为用于测试芯片的基本算子以及根据基本算子扩展出的功能函数的用例；模板函数接口层内包含用于调用测试函数库中测试函数的测试函数接口；芯片选型表用于接收待测试芯片的芯片型号；测试列表用于接收在待测试芯片上运行的测试用例的特征标识；解析复用主程序用于解析芯片选型表中的芯片型号确定待测试芯片，解析测试列表中的特征标识确定用于在待测试芯片上运行的测试用例，并通过模板函数接口层从测试函数库内调用用于构成在待测试芯片上运行的测试用例的测试函数，基于调用的测试函数构成测试用例实现复用。
[0005]可选的，测试函数库内的测试函数按照预定分类原则进行分类存储，预定分类原则为将具有相同特征标识的测试函数划分为一类的原则；模板函数接口层内的一个测试函数接口与测试函数库内一类测试函数相对应。
[0006]可选的，特征标识包括：测试函数名、参数个数、是否具有返回值、是否具有输入数据、是否具有输出数据、是否指定输入数据长度以及是否指定输出数据长度。
[0007]第二方面，提供了一种可复用测试用例框架的构建方法，包括：统计芯片的基本算子以及根据基本算子扩展出的功能函数，并根据统计结果制定测试函数，测试函数为用于构成测试用例的函数，测试用例为用于测试基本算子和功能函
数的用例；对测试函数进行函数定义，将具有相同特征标识的测试函数划分为一类，并按类统一抽象确定每一类测试函数对应的测试函数接口，基于测试函数接口创建模板函数接口层；对同一类测试函数进行打包，并编译至预先建立的测试函数库中进行分类存储；创建芯片选型表、测试列表以及解析复用主程序，芯片选型表用于接收待测试芯片的芯片型号；测试列表用于接收在待测试芯片上运行的测试用例的特征标识；解析复用主程序用于解析芯片选型表中的芯片型号确定待测试芯片，解析测试列表中的特征标识确定用于在待测试芯片上运行的测试用例，并通过模板函数接口层从测试函数库内调用用于构成在待测试芯片上运行的测试用例的测试函数，基于调用的测试函数构成测试用例实现复用；对测试函数库、模板函数接口层、芯片选型表、测试列表以及解析复用主程序进行编译构建成可复用测试用例框架。
[0008]可选的，特征标识包括：测试函数名、参数个数、是否具有返回值、是否具有输入数据、是否具有输出数据、是否指定输入数据长度以及是否指定输出数据长度。
[0009]第三方面，提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现上述第二方面所述的构建方法。
[0010]本专利技术实施例提供的方案，使用测试函数库和模板函数接口层可以使芯片测试用例和实际芯片差异分隔开，利于在不同芯片中，对不同算子测试时抛开算子特性，统一到一个抽象测试接口，只需要更新测试函数库，就能通过测试函数接口来匹配各种不同的测试函数，达到可复用的测试目的；使用测试列表能有效的控制多个测试函数，使芯片算子多个测试函数批量进行，节省了测试人员的测试工作量；使用芯片选型表，能够使芯片测试用例集和各个不同的芯片类型分隔开，让测试用例复用到不同芯片上。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是本专利技术实施例提供的一种可复用测试用例框架的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种可复用测试用例框架构建方法的流程示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0013]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。
[0014]参见图1，本专利技术实施例提供的一种可复用测试用例框架，集成有测试函数库100、
模板函数接口层110、芯片选型表120、测试列表130以及解析复用主程序140；其中，测试函数库100内包含用于构成测试用例的测试函数，测试用例为用于测试芯片的基本算子以及根据基本算子扩展出的功能函数的用例；模板函数接口层110内包含用于调用测试函数库100中测试函数的测试函数接口；芯片选型表120用于接收待测试芯片的芯片型号；测试列表130用于接收在待测试芯片上运行的测试用例的特征标识；解析复用主程序140用于解析芯片选型表120中的芯片型号确定待测试芯片，解析测试列表130中的特征标识确定用于在待测试芯片上运行的测试用例，并通过模板函数接口层110从测试函数库100内调用用于构成在待测试芯片上运行的测试用例的测试函数，基于调用的测试函数构成测试用例实现复用。
[0015]在实施中，可以利用通用计算芯片的算子手册来统计芯片的基本算子以及根据基本算子扩展出的功能函数，基于统计结果来制定测试函数，制定之后对测试函数进行函数定义，具体包括对其输入数据，输出数据，返回值，参数个数等等信息进行函数定义，定义完成之后进行函数功能实现包括对芯片的某些寄存器控制，调用芯片内的算子功能，启动执行，数据传输等操作功能的实现。
[0016]测试函数库100内的测试函数按照预定分类原则进行分类存储，预定分类原则为将具有相同特征标识的测试函数划分为一类的原则；模板函数接口层110内的一个测试函数接口与测试函数库100内一类测试函数相对应。
[0017]可以在测试函数进行函数定义完成后，对所有函数定义信息进行分析，找出具有相同特征标识的函数划分为一类，具体的可以按照测试函数名、参数个数、是否具有返回值、是否具有输入数据、是否具有输出数据、是否指定输入数据长度、是否指定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可复用测试用例框架，其特征在于，集成有测试函数库、模板函数接口层、芯片选型表、测试列表以及解析复用主程序；其中，测试函数库内包含用于构成测试用例的测试函数，测试用例为用于测试芯片的基本算子以及根据基本算子扩展出的功能函数的用例；模板函数接口层内包含用于调用测试函数库中测试函数的测试函数接口；芯片选型表用于接收待测试芯片的芯片型号；测试列表用于接收在待测试芯片上运行的测试用例的特征标识；解析复用主程序用于解析芯片选型表中的芯片型号确定待测试芯片，解析测试列表中的特征标识确定用于在待测试芯片上运行的测试用例，并通过模板函数接口层从测试函数库内调用用于构成在待测试芯片上运行的测试用例的测试函数，基于调用的测试函数构成测试用例实现复用。2.如权利要求1所述的可复用测试用例框架，其特征在于，测试函数库内的测试函数按照预定分类原则进行分类存储，预定分类原则为将具有相同特征标识的测试函数划分为一类的原则；模板函数接口层内的一个测试函数接口与测试函数库内一类测试函数相对应。3.如权利要求2所述的可复用测试用例框架，其特征在于，特征标识包括：测试函数名、参数个数、是否具有返回值、是否具有输入数据、是否具有输出数据、是否指定输入数据长度以及是否指定输出数据长度。4.一种可复用测试用例框架的构建方法，其特征在于，所述构建方法包括：统计芯片的基本算子以及根据基本算子扩展出的功能函数，并根据统计结果制定测试函数，测试函数为用于构成测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘彦坤，张振，欧阳鹏，
申请(专利权)人：江苏清微智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：