一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质。该确定方法包括：获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。本发明专利技术实施例的技术方案，以实现提高烤箱温度检测的精度和准确性。和准确性。和准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及烤箱
，尤其涉及一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质。

技术介绍

[0002]烤箱是一种密封的用来烤食物或烘干产品的电器，分为家用电器和工业烤箱。电烤箱是利用电热元件所发出的辐射热来烘烤食品的电热器具，根据烘烤食品的不同需要，电烤箱的温度一般可在50-250℃范围内调节。
[0003]电烤箱在工作过程中需要对烤箱腔体内几何中心点的温度进行控制，但由于烤箱结构的限制，温度传感器通常安装在烤箱内胆背板顶部，无法直接测量烤箱中心温度点。目前大多数烤箱在产品开发过程中，通过理论分析或者试验的方法建立传感器探测点和中心点温度的关系式来估算烤箱中心点温度。
[0004]现有技术对烤箱中心点温度的测量的缺点在于：探测点与中心点温度的关系式在烤箱生产前就已经确定，无法根据烤箱的具体参数的改变而改变。但是，烤箱的每个零部件的技术参数都有一定的公差范围，对烤箱中心点温度的测量使用同一个关系式无法适用于每个烤箱，将会导致在烤箱实际使用过程中烤箱中心点温度探测的精度不足。此外，烤箱的保温棉、加热管等主要零件的性能会随着使用年限的增加而降低，则通过使用同一个关系式来估算烤箱中心点温度，其估算的准确度将降低。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种烤箱温度的确定方法、装置、烤箱及存储介质，以实现提高烤箱温度检测的精度和准确性。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种烤箱温度的确定方法，该确定方法包括：
[0007]获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；
[0008]根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；
[0009]基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。
[0010]进一步的，根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数，包括：
[0011]根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点温升速率值；
[0012]基于所述探测点温升速率值确定所述烤箱的探测点保温参数。
[0013]进一步的，根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点温升速率值，包括：
[0014]根据相邻两个采样周期对应的探测点温度值的差值确定所述烤箱的探测点温升速率值。
[0015]进一步的，所述探测点保温参数包括第一探测点保温参数、第二探测点保温参数
和第三探测点保温参数；
[0016]相应的，基于所述探测点温升速率值确定所述烤箱的探测点保温参数，包括：
[0017]基于所述探测点温升速率值通过公式(1)计算得到所述第一探测点保温参数、所述第二探测点保温参数和所述第三探测点保温参数；
[0018][0019]其中，为探测点温升速率值，A2为第一探测点保温参数，B2为第二探测点保温参数，C2为第三探测点保温参数，t为烤箱的加热时间。
[0020]进一步的，所述中心点保温参数包括第一中心点保温参数、第二中心点保温参数和第三中心点保温参数；
[0021]相应的，基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，包括：
[0022]基于所述中心点保温参数建立公式(2)作为所述烤箱的中心点温度方程：
[0023][0024]其中，T中心点为烤箱的中心点温度值，T探测点为烤箱的探测点温度值，A1为第一中心点保温参数，B1为第二中心点保温参数，C1为第三中心点保温参数，t为烤箱的加热时间，D1和D2为烤箱初始温度常数。
[0025]进一步的，在基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程之前，还包括：
[0026]通过热力学公式建立所述烤箱的温场数学模型，并根据所述温场数学模型确定所述烤箱内部的温度探测点对应的探测点温升方程和温度中心点对应的中心点温升方程；
[0027]相应的，基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，包括：
[0028]基于所述中心点保温参数根据所述探测点温升方程和所述中心点温升方程得到所述烤箱的中心点温度方程。
[0029]进一步的，根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数，包括：
[0030]从预设的保温参数特性关系列表中确认与所述探测点保温参数对应的所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数。
[0031]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种烤箱温度的确定装置，该确定装置包括：
[0032]探测点保温参数确定模块，用于获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；
[0033]中心点保温参数确定模块，用于根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；
[0034]温度值确定模块，用于基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。
[0035]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种烤箱，该烤箱包括：
[0036]烤箱本体；
[0037]一个或多个处理器；
[0038]存储装置，用于存储多个程序，
[0039]所述处理器和所述存储装置设置于所述烤箱本体内部，当所述多个程序中的至少一个被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现本专利技术第一方面实施例所提供的烤箱温度的确定方法。
[0040]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本专利技术第一方面实施例所提供的烤箱温度的确定方法。
[0041]本专利技术实施例的技术方案，通过获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。解决了现有技术中烤箱中心点温度测量方式唯一导致估算精度低且准确度低的问题，以实现提高烤箱温度检测的精度和准确性。
附图说明
[0042]图1是烤箱产品数量与烤箱保温棉性能的正态分布曲线示意图；
[0043]图2是烤箱保温棉性能与烤箱使用时间的正态分布曲线示意图；
[0044]图3是本专利技术实施例一提供的一种烤箱温度的确定方法的流程图；
[0045]图4是本专利技术实施例二提供的一种烤箱温度的确定方法的流程图；
[0046]图5是本专利技术实施例提供的烤箱工作时的温升曲线的示意图；
[0047]图6是本专利技术实施例提供的烤箱模型的示意图；
[0048]图7是本专利技术实施例三提供的一种烤箱温度的确定装置的结构图；
[0049]图8是本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种烤箱温度的确定方法，其特征在于，包括：获取多个采样周期中烤箱内部的温度探测点对应的探测点温度值，并根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数；根据所述探测点保温参数确定所述烤箱内部的温度中心点对应的中心点保温参数；基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，并通过所述中心点温度方程确定所述烤箱的温度值。2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点保温参数，包括：根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点温升速率值；基于所述探测点温升速率值确定所述烤箱的探测点保温参数。3.根据权利要求2所述的确定方法，其特征在于，根据所述探测点温度值确定所述烤箱的探测点温升速率值，包括：根据相邻两个采样周期对应的探测点温度值的差值确定所述烤箱的探测点温升速率值。4.根据权利要求2所述的确定方法，其特征在于，所述探测点保温参数包括第一探测点保温参数、第二探测点保温参数和第三探测点保温参数；相应的，基于所述探测点温升速率值确定所述烤箱的探测点保温参数，包括：基于所述探测点温升速率值通过公式(1)计算得到所述第一探测点保温参数、所述第二探测点保温参数和所述第三探测点保温参数；其中，为探测点温升速率值，A2为第一探测点保温参数，B2为第二探测点保温参数，C2为第三探测点保温参数，t为烤箱的加热时间。5.根据权利要求4所述的确定方法，其特征在于，所述中心点保温参数包括第一中心点保温参数、第二中心点保温参数和第三中心点保温参数；相应的，基于所述中心点保温参数确定所述烤箱的中心点温度方程，包括：基于所述中心点保温参数建立公式(2)作为所述烤箱的中心点温度方程：其中，T
中心点
为烤箱的中心点温度值，T
探测点
为烤箱的探测点温度值，A1为第一中心点保温参数，B1为第二中心点...

【专利技术属性】
技术研发人员：王丕昱，于晨，刘文涛，
申请(专利权)人：海尔智家股份有限公司，
类型：发明
国别省市：