一种闪存测试板及测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种闪存测试板及测试装置，闪存测试板包括：测试板本体；第一接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接外部主机，以使所述外部主机向所述测试板本体发送数据；第二接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接所述外部主机，以使所述外部主机与所述测试板本体之间进行通信指令传输；多个测试接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于与多个待测试闪存一一对应连接，以使所述测试板本体将接收的数据写入所述多个待测试闪存，并进行读取，以及测试板本体根据写入的数据和读取的数据向所述外部主机发送测试结果。本申请可以提高闪存测试的效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种闪存测试板及测试装置


[0001]本申请涉及闪存测试
，具体涉及一种闪存测试板及测试装置。

技术介绍

[0002]闪存的开发过程中，需要对闪存进行电流电压测试、老化测试、通断电测试等，以验证闪存的耐用性以及存储数据的持久性等。
[0003]相关技术中，对闪存的测试中，外部主机是通过一个接口与测试板进行连接，通过该接口，外部主机与测试板进行通信，以及数据的双向传输，对闪存进行数据的写入和读取的存储性能测试，外部主机根据写入和读取的数据判断闪存存储性能的好坏。整个测试过程，连接外部主机的接口需要进行通信指令和数据的双向传输，由于接口带宽的限制，导致能够同时测试的闪存数量较少，测试效率不高。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种闪存测试板及测试装置，可以提高闪存测试的效率。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种闪存测试板，包括：
[0006]测试板本体；
[0007]第一接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接外部主机，以使所述外部主机向所述测试板本体发送数据；
[0008]第二接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接所述外部主机，以使所述外部主机与所述测试板本体之间进行通信指令传输；
[0009]多个测试接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于与多个待测试闪存一一对应连接，以使所述测试板本体将接收的数据写入所述多个待测试闪存，并进行读取，以及所述测试板本体根据写入的数据和读取的数据向所述外部主机发送测试结果。
[0010]可选的，所述测试板本体包括：
[0011]Hub芯片，与所述第一接口连接，用于接收所述外部主机发送的第一数据；
[0012]多个控制芯片，与所述Hub芯片连接以及分别与所述多个测试接口一一对应连接，用于接收所述Hub芯片发送的所述第一数据，并将所述第一数据一一写入所述多个待测试闪存。
[0013]可选的，所述第一接口还用于所述外部主机向所述Hub芯片供电，以及用于所述外部主机通过所述Hub芯片向所述多个控制芯片供电。
[0014]可选的，所述测试板本体还包括：
[0015]存储模块，用于存储所述第一数据；
[0016]处理芯片，分别与所述存储模块、所述第二接口以及与所述多个控制芯片连接，用于从所述存储模块获取所述第一数据，以及通过所述多个控制芯片从所述多个待测试闪存读取多个第二数据，并根据所述第一数据和所述第二数据向所述外部主机发送测试结果。
[0017]可选的，所述第二接口还用于所述外部主机向所述处理芯片供电，以及用于所述外部主机通过所述处理芯片向所述存储模块供电。
[0018]可选的，所述控制芯片还用于在向对应的待测试闪存写入所述第一数据后，向所述处理芯片发送第一读取指令；
[0019]所述处理芯片用于根据所述第一读取指令，通过相应的控制芯片从所述对应的待测试闪存读取所述第二数据。
[0020]可选的，所述处理芯片用于接收所述外部主机发送的第二读取指令，并根据所述第二读取指令通过所述多个控制芯片从所述多个待测试闪存读取多个所述第二数据。
[0021]可选的，所述控制芯片还用于当向对应的待测试闪存写入所述第一数据未完成，并且接收到所述处理芯片发送的第二读取指令时，向所述处理芯片发送延迟读取指令或者拒绝读取指令。
[0022]可选的，所述第一接口为USB type
‑
C接口，和/或所述第二接口为USB type
‑
A接口。
[0023]第二方面，本申请实施例提供一种测试装置，包括如上实施例所述的闪存测试板。
[0024]本申请实施例中，闪存测试板包括测试板本体、设置于测试板本体上并与测试板本体电连接的第一接口、第二接口和多个测试接口，外部主机通过第一接口向测试板本体发送数据，以及通过第二接口与测试板本体之间进行通信指令传输，每个测试接口均可以连接一个待测试闪存，测试板本体可以通过测试接口将接收的数据写入对应的待测试闪存，并从对应的待测试闪存中读取数据，以及根据写入的数据以及读取的数据向外部主机发送测试结果。整个测试过程中，外部主机与测试板本体之间，数据和通信指令是通过不同的接口进行传输的，并且外部主机通过第一接口只是单向向测试板本体发送数据，测试板从每一个待测试闪存中读取数据，并对读取的数据和写入的数据进行比较，将测试结果通过第二接口发送给外部主机，不用再将读取的数据通过第一接口发送回外部主机，大大减小了第一接口的数据传输量，从而外部主机通过本实施例的闪存测试板可以同时测试更多的待测试闪存，因此本申请实施例可以提高闪存测试的效率。
附图说明
[0025]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其有益效果显而易见。
[0026]图1是本申请实施例提供的一种闪存测试板的结构示意图。
[0027]图2是本申请实施例提供的一种闪存测试板的应用场景示意图。
[0028]图3为本申请实施例提供的一种闪存测试板的工作原理图。
[0029]图4为本申请实施例提供的另一种闪存测试板的工作原理图。
具体实施方式
[0030]请参照图示，其中相同的组件符号代表相同的组件，本申请的原理是以实施在一适当的运算环境中来举例说明。以下的说明是基于所例示的本申请具体实施例，其不应被视为限制本申请未在此详述的其它具体实施例。
[0031]请参阅图1，图1是本申请实施例提供的一种闪存测试板的结构示意图，闪存测试
板10包括测试板本体11、第一接口12、第二接口13和多个测试接口14。其中，第一接口12设置在测试板本体11上，并与测试板本体11电连接，第二接口13设置在测试板本体11上，并与测试板本体11电连接，多个测试接口14设置在测试板本体11上，并与测试板本体11电连接。测试板本体11可以是PCB电路板。相关技术中，对闪存的测试中，外部主机是通过一个接口与测试板进行连接，通过该接口，外部主机与测试板进行通信，以及数据的双向传输，对闪存进行数据的写入和读取的存储性能测试，外部主机根据写入和读取的数据判断闪存存储性能的好坏。整个测试过程，连接主机的接口需要进行通信指令和数据的双向传输，由于接口带宽的限制，导致能够同时测试的闪存数量较少，测试效率不高。
[0032]本实施例中，请参阅图2，图2是本申请实施例提供的一种闪存测试板的应用场景示意图，第一接口12和第二接口13用于连接外部主机20，外部主机20通过第一接口12向测试板本体11发送数据，外部主机20还可以通过第二接口13与测试板本体11之间进行通信指令传输。测试接口14可以设置两个或者两个以上，每个测试接口14均可以连接一个待测试闪存30，测试板本体11可以通过测试接口14将接收的数据写入对应的待测试闪存30，测试板本体11还可以通过测试接口14从对应的待测试闪存30中读取数据；测试板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存测试板，其特征在于，包括：测试板本体；第一接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接外部主机，以使所述外部主机向所述测试板本体发送数据；第二接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接所述外部主机，以使所述外部主机与所述测试板本体之间进行通信指令传输；多个测试接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于与多个待测试闪存一一对应连接，以使所述测试板本体将接收的数据写入所述多个待测试闪存，并进行读取，以及所述测试板本体根据写入的数据和读取的数据向所述外部主机发送测试结果。2.根据权利要求1所述的闪存测试板，其特征在于，所述测试板本体包括：Hub芯片，与所述第一接口连接，用于接收所述外部主机发送的第一数据；多个控制芯片，与所述Hub芯片连接以及分别与所述多个测试接口一一对应连接，用于接收所述Hub芯片发送的所述第一数据，并将所述第一数据一一写入所述多个待测试闪存。3.根据权利要求2所述的闪存测试板，其特征在于，所述第一接口还用于所述外部主机向所述Hub芯片供电，以及用于所述外部主机通过所述Hub芯片向所述多个控制芯片供电。4.根据权利要求2所述的闪存测试板，其特征在于，所述测试板本体还包括：存储模块，用于存储所述第一数据；处理芯片，分别与所述存储模块、所述第二接口以及与所述多个控制芯片连接，用于从所述存储模块获取所述第一数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖振楠，王青秀，陈灶斌，
申请(专利权)人：深圳宏芯宇电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：