图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取投影校正图像对应的检测图像；其中，投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；根据检测图像，确定投影校正图像对应的若干目标检测点；根据若干目标检测点，确定投影校正图像对应的畸变参数；根据畸变参数，得到图像校正检验结果。本公开通过投影校正图像对应的检测图像确定若干目标检测点，并根据若干目标检测点确定的畸变参数得到图像校正检验结果，可以自动检测出投影校正图像的畸变参数,并根据畸变参数得到图像校正检验结果，检测省时省力，且检测出的畸变参数精度可控，得到的检验结果精确度高。结果精确度高。结果精确度高。

【技术实现步骤摘要】
图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及投影
，尤其涉及的是图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]为了满足人们对大尺寸屏幕的观看需求，投影设备被广泛应用于家庭、办公室、学校和娱乐场所中。投影设备可以向成像媒介进行投影并对投影图像进行畸变校正，以在成像媒介上显示对应的投影校正图像。为了保证投影设备的使用体验，需要对投影设备的图像校正功能进行检验，现有投影设备的图像校正功能多为手动方式进行检验，检验效率低且得到的检验结果误差大。
[0003]因此，现有技术还有待改进和发展。

技术实现思路

[0004]本公开要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质，旨在解决现有的图像校正检验方法检验效率低，得到的检验结果误差大的问题。
[0005]本公开解决问题所采用的技术方案如下：
[0006]第一方面，本公开实施例提供一种图像校正校验方法，其中，所述方法包括：
[0007]获取投影校正图像对应的检测图像；其中，所述投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；
[0008]根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点；
[0009]根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数；
[0010]根据所述畸变参数，得到图像校正检验结果。
[0011]可选地，所述检测图像为根据所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的原始光信号值确定，所述获取投影校正图像对应的检测图像的步骤包括：
[0012]对所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的原始光信号值进行标准化处理，得到所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的标准光信号值；
[0013]根据所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的标准光信号值，确定所述投影校正图像对应的检测图像。
[0014]可选地，所述若干目标检测点包括若干轮廓点和若干第一边界顶点，所述根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点的步骤包括：
[0015]对所述检测图像进行预处理，并对预处理后的检测图像进行最大轮廓检测，得到所述投影校正图像对应的若干轮廓点；
[0016]对所述若干轮廓点进行多边形拟合，得到所述投影校正图像对应的若干第一边界顶点。
[0017]可选地，所述畸变参数包括线性畸变参数、倾斜畸变参数以及非线性畸变参数，所
述根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数的步骤包括：
[0018]根据所述若干第一边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数，以及根据所述若干轮廓点和所述若干第一边界顶点，确定所述非线性畸变参数。
[0019]可选地，所述检测图像为根据图像采集装置拍摄所述投影校正图像所得到的图像确定，所述根据所述若干第一边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数的步骤包括：
[0020]根据所述若干第一边界顶点和预先确定的单应矩阵，确定若干第二边界顶点；
[0021]根据所述若干第二边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数。
[0022]可选地，所述根据所述若干轮廓点和所述若干第一边界顶点，确定所述非线性畸变参数的步骤包括：
[0023]根据所述若干轮廓点确定第一面积值，以及根据所述若干第一边界顶点确定第二面积值；
[0024]根据所述第一面积值和所述第二面积值，确定所述非线性畸变参数。
[0025]可选地，所述单应矩阵的确定方法包括：
[0026]通过所述图像采集装置对预先设置的标定板进行拍摄，得到标定图像；
[0027]对所述标定图像进行分析，从所述标定图像中确定若干标定点；
[0028]获取所述若干标定点在世界坐标系中的坐标值，根据所述若干标定点在世界坐标系中的坐标值以及所述若干标定点在所述标定图像中的坐标值，确定单应矩阵。
[0029]第二方面，本公开实施例还提供一种图像校正检验装置，其中，所述装置包括：
[0030]图像获取模块，用于获取投影校正图像对应的检测图像；其中，所述投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；
[0031]检测点确定模块，用于根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点；
[0032]参数确定模块，用于根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数；
[0033]校正检验模块，用于根据所述畸变参数，得到图像校正检验结果。
[0034]第三方面，本公开实施例提供一种电子设备，包括：处理器、与处理器通信连接的存储介质，所述存储介质适于存储多条指令；所述处理器适于调用所述存储介质中的指令，以执行实现所述的图像校正检验方法中的步骤。
[0035]第四方面，本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行，以执行实现所述的图像校正检验方法中的步骤。
[0036]本公开的有益效果：本公开首先获取投影校正图像对应的检测图像；其中，投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成，然后根据检测图像，确定投影校正图像对应的若干目标检测点，接着根据若干目标检测点，确定投影校正图像对应的畸变参数，最后根据畸变参数，得到图像校正检验结果，因此，通过投影校正图像对应的检测图像确定若干目标检测点，并根据若干目标检测点确定的畸变参数得到图像校正检验结果，可以自动检测出投影校正图像的畸变参数,并根据畸变参数得到图像校正检验结果，检验省时省力，且检测出的畸变参数精度可控，得到的检验结果精确度高。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1是本公开实施例提供的图像校正检验方法的流程示意图；
[0039]图2是本公开实施例提供的检测图像获取方法的流程示意图；
[0040]图3是本公开实施例提供的目标检测点确定方法的流程示意图；
[0041]图4是本公开实施例提供的线性畸变参数和倾斜畸变参数的确定方法的流程示意图；
[0042]图5是本公开实施例提供的非线性畸变参数的确定方法的流程示意图；
[0043]图6是本公开实施例提供的图像校正检验装置的原理框图；
[0044]图7是本公开实施例提供的电子设备的内部结构原理框图。
具体实施方式
[0045]为使本公开的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本公开进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本公开，并不用于限定本公开。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像校正检验方法，其特征在于，所述方法包括：获取投影校正图像对应的检测图像；其中，所述投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点；根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数；根据所述畸变参数，得到图像校正检验结果。2.根据权利要求1所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述检测图像为根据所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的原始光信号值确定，所述获取投影校正图像对应的检测图像的步骤包括：对所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的原始光信号值进行标准化处理，得到所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的标准光信号值；根据所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的标准光信号值，确定所述投影校正图像对应的检测图像。3.根据权利要求1所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述若干目标检测点包括若干轮廓点和若干第一边界顶点，所述根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点的步骤包括：对所述检测图像进行预处理，并对预处理后的检测图像进行最大轮廓检测，得到所述投影校正图像对应的若干轮廓点；对所述若干轮廓点进行多边形拟合，得到所述投影校正图像对应的若干第一边界顶点。4.根据权利要求3所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述畸变参数包括线性畸变参数、倾斜畸变参数以及非线性畸变参数，所述根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数的步骤包括：根据所述若干第一边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数，以及根据所述若干轮廓点和所述若干第一边界顶点，确定所述非线性畸变参数。5.根据权利要求4所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述检测图像为根据图像采集装置拍摄所述投影校正图像所得到的图像确定，所述根据所述若干第一边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙世攀，张聪，胡震宇，
申请(专利权)人：深圳市火乐科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：