本申请实施例提供了一种应用于芯片测试设备的平台移动装置，平台移动装置包括底座、设置在底座上方的滑动平台，在滑动平台下方设置滑动连接的第一导轨和第二导轨，滑动平台一侧设有凸轮随动器，凸轮的一端与凸轮随动器抵接，其中，凸轮与凸轮随动器抵接端的表面包括平面区域和非平面区域，凸轮的另一端穿过设置在电机一侧的电机座与电机连接，电机驱动凸轮转动，当凸轮转动到非平面区域时，推进第一导轨与第二导轨相对滑动，以使得滑动平台相对底座移动，当凸轮转动到所述平面区域时，滑动平台相对底座静止。本申请通过凸轮进行驱动，以实现滑动平台的微小行程移动，在保证移动的精度的同时，节省了生产成本。节省了生产成本。节省了生产成本。
【技术实现步骤摘要】
一种应用于芯片测试设备的平台移动装置
[0001]本申请涉及芯片测试
，具体涉及一种应用于芯片测试设备的平台移动装置。
技术介绍
[0002]在芯片的测试、生产过程中经常需要用到运动平台，常用到标准的直线运动平台模块中行程较大的运动平台，常见的驱动形式有丝杆螺母、同步带、直线电机等形式。微小行程的运动平台，常见的驱动形式有音圈电机、超声马达（压电陶瓷）等形式。
[0003]但是在运动平台的实际应用过程中发现，丝杆螺母、同步带、直线电机等驱动形式驱动精度高，但体积较大，在不降低精度的情况下，很难做到非常小巧，所以微小行程的运动平台，较少采用这类驱动形式。通过音圈电机、超声马达（压电陶瓷）等驱动形式的运动平台，虽然驱动精度超高、体积小巧、质量轻便，但造价昂贵。因此，适用于芯片测试的微小运动平台装置生产成本高。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种应用于芯片测试设备的平台移动装置，用以在保证平台移动精度的同时，节省了生产成本。
[0005]本申请实施例提供一种应用于芯片测试设备的平台移动装置，包括：底座，在所述底座上方设置第一导轨和用于固定复位弹簧的第一弹簧销；滑动平台，滑动平台设于底座上方，在滑动平台下方设置第二导轨，第一导轨与第二导轨滑动连接，滑动平台一侧设有凸轮随动器，滑动平台上设置有第二弹簧销，底座与滑动平台通过固定在第一弹簧销和第二弹簧销上的复位弹簧相连；凸轮，凸轮一端与电机连接，另一端与凸轮随动器抵接，凸轮与凸轮随动器抵接端的表面包括平面区域和非平面区域；电机，凸轮穿过设置在电机一侧的电机座与电机连接，并驱动凸轮转动，当凸轮转动到非平面区域时，推进第一导轨与第二导轨相对滑动，以使得滑动平台相对底座移动，复位弹簧在滑动平台相对底座移动时收缩或复位，当凸轮转动到平面区域时，滑动平台相对底座静止。
[0006]在本申请一种可能的实现方式中，非平面区域包括多个斜面区域。
[0007]在本申请一种可能的实现方式中，多个斜面包括上斜面区域和下斜面区域；当凸轮转动到上斜面区域，且凸轮与凸轮随动器的接触面由上斜面区域向平面区域移动时，推进第一导轨与第二导轨相对滑动，以使得滑动平台相对底座移动，复位弹簧在滑动平台相对底座移动时收缩，当凸轮转动到下斜面区域，且凸轮与凸轮随动器的接触面由平面区域向下斜面区域移动时，推进第一导轨与第二导轨相对滑动，以使得滑动平台相对底座移动，复位弹簧在滑动平台相对底座移动时复位。
[0008]在本申请一种可能的实现方式中，上斜面区域的倾斜角度对应预设的第一运动曲
线，下斜面区域的倾斜角度对应预设的第二运动曲线，第一运动曲线和第二运动曲线不同，第一运动曲线和第二运动曲线与滑动平台上放置的物品相关联。
[0009]在本申请一种可能的实现方式中，平面区域包括第一平面区域和第二平面区域，第一平面区域两侧分别和上斜面区域和下斜面区域相邻，第二平面区域两侧也分别和上斜面区域和下斜面区域相邻，上斜面区域沿平行滑动平台移动方向的顶点与第一平面区域在同一竖直平面，下斜面区域沿平行滑动平台移动方向的最低点与第二平面区域在同一竖直平面；第一平面区域和上斜面区域面积之和，等于第二平面区域与下斜面区域面积之和。
[0010]在本申请一种可能的实现方式中，上斜面区域沿平行滑动平台移动方向的顶点和最低点的距离差为1
‑
3mm；下斜面区域沿平行滑动平台移动方向的顶点和最低点的距离差为1
‑
3mm。
[0011]在本申请一种可能的实现方式中，凸轮为空心圆柱。
[0012]在本申请一种可能的实现方式中，第一导轨和第二导轨为交叉滚子导轨。
[0013]在本申请一种可能的实现方式中，凸轮随动器为圆柱形，凸轮随动器的高度与凸轮的厚度相同。
[0014]在本申请一种可能的实现方式中，滑动平台背离底座的一侧设置有用于固定物品的若干凹槽。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本申请实施例提供的应用于芯片测试设备的平台移动装置的主视图。
[0017]图2为本申请实施例提供的应用于芯片测试设备的平台移动装置的爆炸图。
[0018]图3为本申请实施例提供的凸轮表面结构示意图。
[0019]图4为本申请实施例提供的凸轮表面中非平面结构示意图。
[0020]图5为本申请实施例提供的滑动平台的运动曲线。
[0021]图6a为本申请实施例提供的凸轮的主视图。
[0022]图6b为本申请实施例提供的图6a中凸轮对应的右视图。
[0023]图6c为本申请实施例提供的凸轮随动器与凸轮的下斜面相接触的主视图。
[0024]图7为本申请实施例提供的凸轮随动器与凸轮的结构示意图。
[0025]图8为本申请实施例提供的滑动平台的结构示意图。
具体实施方式
[0026]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施
例，都属于本申请保护的范围。
[0027]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0028]在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0029]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用于芯片测试设备的平台移动装置，其特征在于，包括：底座，在所述底座上方设置第一导轨和用于固定复位弹簧的第一弹簧销；滑动平台，所述滑动平台设于所述底座上方，在所述滑动平台下方设置第二导轨，所述第一导轨与所述第二导轨滑动连接，所述滑动平台一侧设有凸轮随动器，所述滑动平台上设置有第二弹簧销，所述底座与所述滑动平台通过固定在第一弹簧销和所述第二弹簧销上的复位弹簧相连；凸轮，所述凸轮一端与电机连接，另一端与所述凸轮随动器抵接，所述凸轮与所述凸轮随动器抵接端的表面包括平面区域和非平面区域；电机，所述凸轮穿过设置在所述电机一侧的电机座与所述电机连接，并驱动所述凸轮转动，当所述凸轮转动到所述非平面区域时，推进所述第一导轨与所述第二导轨相对滑动，以使得所述滑动平台相对所述底座移动，所述复位弹簧在所述滑动平台相对所述底座移动时收缩或复位，当所述凸轮转动到所述平面区域时，所述滑动平台相对所述底座静止。2.如权利要求1所述的应用于芯片测试设备的平台移动装置，其特征在于，所述非平面区域包括多个斜面区域。3.如权利要求2所述的应用于芯片测试设备的平台移动装置，其特征在于，所述多个斜面包括上斜面区域和下斜面区域；当所述凸轮转动到所述上斜面区域，且所述凸轮与所述凸轮随动器的接触面由所述上斜面区域向所述平面区域移动时，推进所述第一导轨与所述第二导轨相对滑动，以使得所述滑动平台相对所述底座移动，所述复位弹簧在所述滑动平台相对所述底座移动时收缩，当所述凸轮转动到所述下斜面区域，且所述凸轮与所述凸轮随动器的接触面由所述平面区域向所述下斜面区域移动时，推进所述第一导轨与所述第二导轨相对滑动，以使得所述滑动平台相对所述底座移动，所述复位弹簧在所述滑动平台相对所述底座移动时复位。4.如权利要求3所述的应...
【专利技术属性】
技术研发人员：马超，江坤，黄秋元，周鹏，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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