本申请涉及一种射频集成电路测试装置及测试平台，属于集成电路测试技术领域。一种射频集成电路测试装置，矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将第一基带信号传输给射频发射调理模块；射频发射调理模块用于根据矢量调制解调模块发送的第一基带信号生成第一矢量信号，通过开关矩阵模块将第一矢量信号传输给待测器件；射频接收调理模块用于通过开关矩阵模块接收待测器件基于第一矢量信号返回的第二矢量信号，将第二矢量信号解调得到第二基带信号，将第二基带信号传输给矢量调制解调模块；矢量调制解调模块还用于根据第一基带信号和第二基带信号得到待测器件的测试结果，可一次测试多种射频参数，不需要频繁更换测试仪器，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种射频集成电路测试装置及测试平台
[0001]本申请涉及集成电路测试
，尤其涉及一种射频集成电路测试装置及测试平台。
技术介绍
[0002]随着射频集成电路的不断发展，测试需求越来越高，而射频集成电路的测试需求复杂程度高，涉及到多种射频参数，包括频率、功率、噪声系数、驻波比、谐波抑制、杂散抑制、插入损耗、增益、三阶交调、中频带宽等。完成以上参数测试需要频谱分析仪、矢量信号分析仪、矢量信号源、噪声系数分析仪、矢量网络分析仪等多种射频仪器相配合。针对多种相同类型射频集成电路，为了提高测试效率，还需要测量仪器具备多通道信号输入输出和自动测试功能，而传统仪器不具备此功能。
技术实现思路
[0003]为了解决测试多种射频参数的测试效率问题，本申请提供了一种射频集成电路测试装置及测试平台。
[0004]第一方面，本申请提供了一种射频集成电路测试装置，包括：矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块；
[0005]所述矢量调制解调模块连接所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块；
[0006]所述射频发射调理模块通过所述开关矩阵模块，连接待测器件的测试信号输入端；
[0007]所述射频接收调理模块通过所述开关矩阵模块，连接所述待测器件的测试信号输出端；
[0008]所述矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将所述第一基带信号传输给所述射频发射调理模块；
[0009]所述射频发射调理模块用于根据所述矢量调制解调模块发送的所述第一基带信号生成第一矢量信号，通过所述开关矩阵模块将所述第一矢量信号传输给所述待测器件；
[0010]所述射频接收调理模块用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述第一矢量信号返回的第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将所述第二基带信号传输给所述矢量调制解调模块；
[0011]所述矢量调制解调模块还用于根据所述第一基带信号和所述第二基带信号得到所述待测器件的测试结果；
[0012]进一步，所述射频发射调理模块包括：射频发射通道调理本振单元和上变频单元；
[0013]所述射频发射通道调理本振单元用于基于所述第一基带信号生成第一频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端；
[0014]所述上变频单元用于对所述射频发射通道调理本振模块进行频率扩展，基于所述
第一基带信号生成第二频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端；
[0015]进一步，所述射频接收调理模块包括：射频接收通道调理本振单元和下变频单元；
[0016]所述射频接收通道调理本振单元用于通过所述开关矩阵模块接收第一频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块；
[0017]所述下变频单元用于对所述射频接收通道调理本振单元进行频率扩展，通过所述开关矩阵模块接收第二频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块；
[0018]进一步，所述装置还包括：定向耦合器、信号采集调理单元和噪声系数测量单元；
[0019]所述定向耦合器连接所述开关矩阵模块和所述信号采集调理单元；
[0020]所述信号采集调理单元连接所述开关矩阵模块、所述射频发射调理模块、所述射频接收调理模块和所述噪声系数测量单元；
[0021]所述定向耦合器用于将通过所述开关矩阵模块发送的所述第一矢量信号进行定向耦合，并传输至所述射频接收调理模块接收；以及，用于将通过所述开关矩阵模块接收的所述第二矢量信号进行定向耦合，并传输至所述射频接收调理模块；
[0022]所述信号采集调理单元用于对所述第一矢量信号进行信号调理后，通过所述开关矩阵模块输出至所述待测器件的测试信号输出端；以及，对所述第二矢量信号进行信号调理后输出至所述射频接收调理模块；
[0023]所述噪声系数测量单元用于产生噪声源信号，并通过所述开关矩阵模块将所述噪声源信号传输至所述待测器件的测试信号输入端；
[0024]所述射频接收调理模块还用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述噪声源信号返回的微波信号，将所述微波信号传输给所述矢量调制解调模块；所述矢量调制解调模块还用于根据所述噪声源信号和所述微波信号得到所述待测器件的噪声系数参数；
[0025]进一步，所述噪声系数测量单元包括：噪声源子模块和开关衰减链路子模块；
[0026]所述噪声源子模块用于产生测试用的所述噪声源信号，将所述噪声源信号传输给所述开关衰减链路子模块；
[0027]所述开关衰减链路子模块用于根据所述待测器件的测量要求，对所述噪声源信号进行调理控制，并经过所述开关矩阵模块输出至所述待测器件的测试信号输入端；
[0028]进一步，所述开关矩阵模块包括至少两路测试接口；至少一个所述测试接口用于连接所述待测器件的测试输入端；至少一个所述测试接口用于连接所述待测器件的测试输出端；所述开关矩阵模块在控制端作用下选择与所述射频发射调理模块或所述射频发射调理模块连通的所述测试接口；
[0029]进一步，所述开关矩阵模块包括4路输入测试接口和4路输出测试接口；
[0030]进一步，所述装置还包括时钟单元，所述时钟单元用于给所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块提供时钟信号；
[0031]进一步，所述开关矩阵模块、所述射频接收调理模块和所述射频发射调理模块的工作频率为大于或等于50MHz，且，小于或等于12GHz；
[0032]所述矢量调制解调模块的工作带宽为小于或等于1GHz。
[0033]第二方面，本申请提供了一种射频集成电路测试平台，所述测试平台包括两个第一方面任一所述的射频集成电路测试装置；两个所述射频集成电路测试装置通过所述开关矩阵模块连接。
[0034]本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0035]本申请实施例提供的该射频集成电路测试装置，包括：矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块；所述矢量调制解调模块连接所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块；所述射频发射调理模块通过所述开关矩阵模块，连接待测器件的测试信号输入端；所述射频接收调理模块通过所述开关矩阵模块，连接所述待测器件的测试信号输出端；所述矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将所述第一基带信号传输给所述射频发射调理模块；所述射频发射调理模块用于根据所述矢量调制解调模块发送的所述第一基带信号生成第一矢量信号，通过所述开关矩阵模块将所述第一矢量信号传输给所述待测器件；所述射频接收调理模块用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述第一矢量信号返回的第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到第二基本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频集成电路测试装置，其特征在于，包括：矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块；所述矢量调制解调模块连接所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块；所述射频发射调理模块通过所述开关矩阵模块，连接待测器件的测试信号输入端；所述射频接收调理模块通过所述开关矩阵模块，连接所述待测器件的测试信号输出端；所述矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将所述第一基带信号传输给所述射频发射调理模块；所述射频发射调理模块用于根据所述矢量调制解调模块发送的所述第一基带信号生成第一矢量信号，通过所述开关矩阵模块将所述第一矢量信号传输给所述待测器件；所述射频接收调理模块用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述第一矢量信号返回的第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将所述第二基带信号传输给所述矢量调制解调模块；所述矢量调制解调模块还用于根据所述第一基带信号和所述第二基带信号得到所述待测器件的测试结果。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频发射调理模块包括：射频发射通道调理本振单元和上变频单元；所述射频发射通道调理本振单元用于基于所述第一基带信号生成第一频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端；所述上变频单元用于对所述射频发射通道调理本振模块进行频率扩展，基于所述第一基带信号生成第二频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频接收调理模块包括：射频接收通道调理本振单元和下变频单元；所述射频接收通道调理本振单元用于通过所述开关矩阵模块接收第一频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块；所述下变频单元用于对所述射频接收通道调理本振单元进行频率扩展，通过所述开关矩阵模块接收第二频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：定向耦合器、信号采集调理单元和噪声系数测量单元；所述定向耦合器连接所述开关矩阵模块和所述信号采集调理单元；所述信号采集调理单元连接所述开关矩阵模块、所述射频发射调理模块、所述射频接收调理模...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯建呈，郑永丰，闵昆龙，杨旸，闫丽琴，李明军，刘延迪，刘治超，张少帅，张洋，白晓远，王奇之，孟旭，王梦琪，李广振，王占选，
申请(专利权)人：北京航天测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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