一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路制造技术

技术编号:32911875 阅读:18 留言:0更新日期:2022-04-07 12:02
本实用新型专利技术提供一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,包括:整流模块、滤波电容模块和测试放电子电路,所述滤波电容模块和所述测试放电子电路分别并联于所述整流模块的正电压输出端和负电压输出端之间;所述测试放电子电路包括相互串联的第一电阻和容性负载电路,所述容性负载电路包括多个相互并联的容性负载和阻性负载,其中,至少一个所述容性负载和/或所述阻性负载与一开关串联,该开关用于控制所述容性负载和/或所述阻性负载是否接入所述容性负载电路;所述测试放电子电路上还串接有待测的试样继电器的一对开关触点。本实用新型专利技术可通过投切多个容性负载实现对直流冲击电流大小的控制,保证电流的冲击时间,具有可调整性和普适性。性和普适性。性和普适性。

【技术实现步骤摘要】
一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路


[0001]本技术涉及继电器的耐久性测试的
,特别是涉及一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路。

技术介绍

[0002]继电器开关在实际应用中,所带负载都为LED灯具,属于电容性负载范围,瞬间启动冲击电流会剧增,导致继电器开关耐冲击寿命不足。
[0003]现有的大功率负载测试要求主要依据国标GB 15092.1

2003器具开关第1部分所述的电容性负载测试方法,而这种传统的测试方法不能完全满足验证大功率负载测试要求。每当需要测试更大冲击电流值时,需要更换大功率电阻和电容,使得测试成本剧增,且制作这种测试和计算材料数值花费时间更多,计算后得出材料标称参数也难以在市场上购买。同时,传统测试方法的冲击电流时间过短,缺少稳定性,无法保证测试效果。

技术实现思路

[0004]基于此,本技术的目的在于,提出了一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,使得测试过程中,可以通过调整容性负载的大小从而控制直流冲击电流的大小,同时保证冲击电流的冲击时间。
[0005]本技术是通过如下技术方案实现的:
[0006]一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,包括:
[0007]整流模块、滤波电容模块和测试放电子电路,所述滤波电容模块和所述测试放电子电路分别并联于所述整流模块的正电压输出端和负电压输出端之间;
[0008]所述测试放电子电路包括相互串联的第一电阻和容性负载电路,所述容性负载电路包括多个相互并联的容性负载和阻性负载,其中,至少一个所述容性负载和/或至少一个所述阻性负载与一开关串联,该开关用于控制所述容性负载和/或所述阻性负载是否接入所述容性负载电路;
[0009]所述测试放电子电路上还串接有待测的试样继电器的一对开关触点。
[0010]进一步地,还包括调压器,所述整流模块还包括整流桥,所述调压器与所述整流桥的交流电压输入端连接。
[0011]进一步地,所述滤波电容模块包括第一电解电容,所述第一电解电容的正极与所述整流模块的正电压输出端连接,所述第一电解电容的负极与所述整流模块的负电压输出端连接。
[0012]进一步地,所述容性负载包括第二电解电容,所述第二电解电容的正极与所述整流模块的正电压输出端连接,所述第二电解电容的负极与所述整流模块的负电压输出端连接。
[0013]进一步地,所述阻性负载包括LED灯珠。
[0014]进一步地,还包括定时驱动模块,所述定时驱动模块与待测的试样继电器连接。
[0015]进一步地,还包括电流检测装置,该电流检测装置用于检测所述测试放电子电路通过的电流。
[0016]进一步地,所述电流检测装置包括示波器,所述示波器包括第一检测端和第二检测端,所述第一检测端和所述第二检测端连接于所述第一电阻的两端。
[0017]进一步地,所述第一电阻的电阻值为0.1Ω。
[0018]进一步地,所述第一电解电容为2个,为400V/150uF电解电容;
[0019]所述第二电解电容为400V/150uF电解电容;
[0020]所述阻性负载为95W的LED灯珠;
[0021]所述开关为空气开关;
[0022]所述调压器为60

240W的交流调压器。
[0023]本技术实施例的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路的有益效果如下:
[0024]1、本技术的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路通过设置多个容性负载电路,并且至少一个容性负载电路可选择是否接入,使得整个测试电路的容性负载和冲击电流具有可调整性。
[0025]2、本技术的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路通过设置定时驱动模块,使得整个测试过程可以通过设置参数自动进行,节约了人力,同时更具有准确性。
[0026]3、本技术的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路结构简单,通过增加容性负载的方式调整冲击电流的大小,使得电流冲击时间相对较长,保证了测试的效果。
[0027]为了更好地理解和实施,下面结合附图详细说明本技术。
附图说明
[0028]图1为本技术一个实施例中的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路的示意图;
[0029]图2为本技术一个实施例中的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路的示意图。
[0030]附图标记:10、整流模块;20、滤波电容模块;30、测试放电子电路;31、容性负载电路;40、定时驱动模块;50、电流检测装置;51、示波器;60、调压器。
具体实施方式
[0031]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部内容。
[0032]在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶部”、“底部”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0033]如图1所示,在一个实施例中,本技术的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路包括整流模块10、滤波电容模块20、测试放电子电路30和调压器60;该测试放电子电路30包括第一电阻R1、容性负载电路31、待测的试样继电器K1、定时驱动模块40和电流检测装
置50,其中该容性负载电路31与第一电阻R1、待测的试样继电器K1相互串联后,并联于整流模块10的正电压输出端和负电压输出端之间;滤波电容模块20也并联于整流模块10的正电压输出端和负电压输出端之间。
[0034]其中,如图1和图2所示,可选的,整流模块10包括整流桥,该整流模块10的交流电压输入端与调压器60的正极输出端相连接,该整流模块10的交流电压输出端与该交流调压器60的负极输出端相连接;该整流模块10用于向滤波电容模块20和测试放电子电路30输出直流电压。
[0035]滤波电容模块20用于增大直流冲击电流值和直流冲击电流时间的可控性,降低调整难度。可选的,滤波电容模块20包括第一电解电容,第一电解电容的正极与整流模块10的正电压输出端连接,第一电解电容的负极与整流模块10的负电压输出端连接。如图2所示,在一个具体的例子中,第一电解电容包括电解电容C1和电解电容C2。电解电容C1和C2的正极分别与整流模块10的正电压输出端连接,电解电容C1和C2的负极分别与整流模块10的负电压输出端连接。可选的,电解电容C1和C2为400V/150uF参数的电解电容。
[0036]容性负载电路31为具有容性负载的电路,其中,容性负载指的是指带电容参数的负载,即符合电流超前电压特性的负载,用于对待测的试样继电器本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,其特征在于,包括:整流模块、滤波电容模块和测试放电子电路,所述滤波电容模块和所述测试放电子电路分别并联于所述整流模块的正电压输出端和负电压输出端之间;所述测试放电子电路包括相互串联的第一电阻和容性负载电路,所述容性负载电路包括多个相互并联的容性负载和阻性负载,其中,至少一个所述容性负载和/或至少一个所述阻性负载与一开关串联,该开关用于控制所述容性负载和/或所述阻性负载是否接入所述容性负载电路;所述测试放电子电路上还串接有待测的试样继电器的一对开关触点。2.根据权利要求1所述的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,其特征在于:还包括调压器,所述整流模块还包括整流桥,所述调压器与所述整流桥的交流电压输入端连接。3.根据权利要求2所述的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,其特征在于:所述滤波电容模块包括第一电解电容,所述第一电解电容的正极与所述整流模块的正电压输出端连接,所述第一电解电容的负极与所述整流模块的负电压输出端连接。4.根据权利要求3所述的一种直流继电器开关耐久性寿命测试电路,其特征在于:所述容性负载包括第二电解电容,所述第二电解电容的正极与所述整流模块的正电压输出端连接,所述第二电...

【专利技术属性】
技术研发人员:丘文兴
申请(专利权)人:广州河东科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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