基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法及系统技术方案

基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法及系统，解决现有如何提高测试效率的问题，属于全液晶仪表检测技术领域。本发明专利技术包括：待测试全液晶仪表的MCU与HMI进行通信：MCU通过虚拟串口将显示目标的ID和数据data发送给HMI；HMI解析出ID和data，并发送给界面仿真系统，且回传给MCU；把MCU发送的与HMI回传的进行对比，判断HMI是否解析正确，若一致，执行：界面仿真系统根据接收到的ID和data利用待测全液晶仪表的界面仿真程序仿真出全液晶仪表界面图像；找出回传ID对应显示目标的位置信息，在仿真出的图像中截取出显示目标，并识别出数据信息，将该数据信息与MCU发送的data进行对比，判断界面显示是否正确。判断界面显示是否正确。判断界面显示是否正确。

【技术实现步骤摘要】
基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及一种基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法，属于全液晶仪表检测


技术介绍

[0002]在全液晶仪表的开发过程中，常采用底板程序(MCU)+核心板程序(HMI)的结构形式。两个程序通过串口进行通信，即MCU程序通过串口把数据发送给HMI端。两个程序需要单独测试，单独测试通过后，需要把两个程序组成一个系统在进行最终测试。
[0003]类似全液晶仪表这种界面的测试常常需要大量人工操作和判别，因此出现了基于机器视觉的仪表检测方法，一般其由摄像机，图像采集卡，仪表设备等基础设备构成，为了消除光照的影响，往往还需要一个封闭或避光的空间，或者是特定得光照环境。
[0004]这种方法的缺点很明显，首先是需要投入上述硬件，价格昂贵且不利于普及，一般公司只有一套这样的设备，因此同一时间只能有一个人使用，不适合多人开发。其次，由于图像需要先经过摄像头等采集设备读入，摄像头和目标距离，所处得光照环境会影响图像得效果，因此需要对图像进行滤波去噪等一些列预处理，这就增加了整个系统的响应时间和复杂度。另外，上述系统需要仪表接收真实的can信号，仪表往往需要根据技术文档来响应该信号，例如，当接收到某信号后5秒才触发某信号灯，这就需要一个等待时间，一般仪表的信号灯都几十个上百个，这会增加总测试时间。
[0005]还有，上述设备只能发现问题，不能定位问题。其原因如下：
[0006]在MCU程序发送的数据正确的情况下，HMI端程序的bug大致产生于以下两部分：
[0007]数据解析过程中出错：HMI从串口接收数据后需要根据通信协议进行解析，解析的过程中可能出错。例如MCU发送的数据是车速100，而HMI程序员在解析的时候出现了错误，得到的是10。
[0008]数据显示过程中出错：HMI端正确解析出了数据100，但是程序员没有把车速界面和转速进行了关联，这就导致显示的车速始终是0，而转速却指示到了100。

技术实现思路

[0009]针对现有如何提高测试效率的问题，本专利技术提供一种基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法及系统。
[0010]本专利技术的一种基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法，所述方法包括：
[0011]步骤一、待测试全液晶仪表的MCU与HMI进行通信：
[0012]MCU与HMI通过虚拟串口相连接，MCU通过虚拟串口将显示目标的ID和数据data发送给HMI；HMI接收串口数据，并进行解析,解析出ID和data，并解析出的ID和data发送给界面仿真系统，且通过进程间通信将ID和data回传给MCU；
[0013]步骤二、把MCU发送的ID和data与HMI回传的ID和data进行对比，判断HMI是否解析正确，如果不一致，则确定HMI解析出错，并作记录，如果一致，则确定HMI解析正确，转入步
骤三；
[0014]步骤三、界面仿真系统根据接收到的ID和data利用待测全液晶仪表的界面仿真程序仿真出全液晶仪表界面图像；找出回传给MCU的ID对应显示目标的位置信息，并根据该位置信息在仿真出的全液晶仪表界面图像中截取出显示目标，并识别显示目标中的数据信息，将识别出的数据信息与MCU发送给HMI的数据data进行对比，判断界面显示是否正确。
[0015]作为优选，所述步骤一中，MCU发送的ID是在消息数据库选取的，并添加数据data；所述消息数据库用于存储满足MCU与HMI间约定好的数据发送协议的各显示目标的消息，每条消息包括显示目标的ID段、数据段、校验段。
[0016]作为优选，步骤三中，在消息与界面位置对应关系库中找到回传给MCU的ID对应的显示目标的位置信息，所述消息与界面位置对应关系库是根据待测试全液晶仪表的界面设计确定的消息数据库中存储的消息与显示目标在仪表上的坐标的对应关系。
[0017]本专利技术还提供一种基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试系统，所述系统包括：
[0018]采集模块，用于采集待测试全液晶仪表MCU通过虚拟串口发送给待测试全液晶仪表HMI的显示目标的ID和数据data，还用于采集HMI解析出并回传给MCU的ID和data；
[0019]HMI解析判定模块，与采集模块连接，用于根据MCU发送的ID和data与HMI回传的ID和data进行对比，判断HMI是否解析正确，如果不一致，则确定HMI解析出错，并作记录，如果一致，则确定HMI解析正确；
[0020]界面仿真系统，与采集模块连接，用于根据HMI回传给MCU的ID和data利用待测全液晶仪表的界面仿真程序仿真出全液晶仪表界面图像；
[0021]界面显示判定模块，同时与采集模块和界面仿真系统连接，用于当确定HMI解析正确，根据回传给MCU的ID找到对应显示目标的位置信息，并根据该位置信息在仿真出的全液晶仪表界面图像中取出显示目标，并识别显示目标中的数据信息，将识别出的数据信息与MCU发送给HMI的数据data进行对比，判断界面显示是否正确。
[0022]作为优选，所述系统还包括消息数据库；
[0023]所述消息数据库用于存储满足MCU与HMI间约定好的数据发送协议的各显示目标的消息，每条消息包括显示目标的ID段、数据段、校验段；
[0024]MCU发送的ID是在消息数据库选取的，并添加数据data。
[0025]作为优选，所述系统还包括消息与界面位置对应关系库；
[0026]所述消息与界面位置对应关系库是根据待测试全液晶仪表的界面设计确定的消息数据库中存储的消息与显示目标在仪表上的坐标的对应关系；
[0027]界面显示判定模块，在消息与界面位置对应关系库中找到回传给MCU的ID对应的显示目标的位置信息。
[0028]本专利技术的有益效果，本专利技术极大的提高了待测试全液晶仪表程序的测试效率，并且能降低程序的bug率。本专利技术成本低，只需要一台电脑，无需摄像头及其他辅助设备，比常见机器视觉系统的需要更少的办公空间，且几乎无任何维护费用。本专利技术抗干扰能力强，无论环境光照和明暗，对本方法无任何影响，且本方法几乎不包含噪声，因此减少了一些预处理环节，更加简洁高效。本专利技术速度快，由于通过串口信号进行通讯，直接响应信号，无等待时间，只需很少时间(约1
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5分钟)就能对整个仪表所有界面检测完一遍，例如想把100个信号灯检测一遍，大约只需要数秒。本专利技术适合多人使用，如果一个团队有多人共同开发，则
每个人只需一台电脑就可使用该系统。本专利技术能对问题进行定位，能判断出问题出现在数据解析环节还是显示环节，大大减少了人工分析问题定位问题的工作量。
附图说明
[0029]图1为本专利技术的原理示意图。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一、待测试全液晶仪表的MCU与HMI进行通信：MCU与HMI通过虚拟串口相连接，MCU通过虚拟串口将显示目标的ID和数据data发送给HMI；HMI接收串口数据，并进行解析,解析出ID和data，并解析出的ID和data发送给界面仿真系统，且通过进程间通信将ID和data回传给MCU；步骤二、把MCU发送的ID和data与HMI回传的ID和data进行对比，判断HMI是否解析正确，如果不一致，则确定HMI解析出错，并作记录，如果一致，则确定HMI解析正确，转入步骤三；步骤三、界面仿真系统根据接收到的ID和data利用待测全液晶仪表的界面仿真程序仿真出全液晶仪表界面图像；找出回传给MCU的ID对应显示目标的位置信息，并根据该位置信息在仿真出的全液晶仪表界面图像中截取出显示目标，并识别显示目标中的数据信息，将识别出的数据信息与MCU发送给HMI的数据data进行对比，判断界面显示是否正确。2.根据权利要求1所述的基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法，其特征在于，所述步骤一中，MCU发送的ID是在消息数据库选取的，并添加数据data；所述消息数据库用于存储满足MCU与HMI间约定好的数据发送协议的各显示目标的消息，每条消息包括显示目标的ID段、数据段、校验段。3.根据权利要求2所述的基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试方法，其特征在于，步骤三中，在消息与界面位置对应关系库中找到回传给MCU的ID对应的显示目标的位置信息，所述消息与界面位置对应关系库是根据待测试全液晶仪表的界面设计确定的消息数据库中存储的消息与显示目标在仪表上的坐标的对应关系。4.基于仿真和机器视觉的全液晶仪表测试系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：车强，王大伟，韩季秋，吴雨，黄明森，杨春，
申请(专利权)人：航天科技控股集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：