本发明专利技术实施例提供了一种显示面板母板及其测试方法、显示面板及显示装置，涉及显示技术领域，用以提高静电测试的可靠性。显示面板母板包括：基板，包括面板区域，基板还包括显示区和检测区，显示区位于面板区域，检测区包括测试晶体管，测试晶体管包括测试有源层和测试栅极层，测试有源层包括第一极和第二极；至少部分位于检测区的静电测试金属层；测试衬垫，包括栅极测试垫、源极测试垫、漏极测试垫和静电测试垫，栅极测试垫与测试栅极层电连接，源极测试垫与第一极电连接，漏极测试垫与第二极电连接，静电测试垫与静电测试金属层电连接。静电测试垫与静电测试金属层电连接。静电测试垫与静电测试金属层电连接。
【技术实现步骤摘要】
显示面板母板及其测试方法、显示面板及显示装置
[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板母板及其测试方法、显示面板及显示装置。
技术介绍
[0002]众所周知，显示面板由显示面板母板切割形成。通常，显示面板母板中设有测试键组(Test Element Group，TEG)，以便在显示面板出厂之前对显示面板的电学特性进行测试。
[0003]在现有技术中，只能通过向测试晶体管的栅极、源极和漏极施加检测电压的方式来检测测试晶体管的基础特性，若想对测试晶体管进行静电测试，需要将显示面板母板中的TEG测试区裂片到产线外，外加电压进行测试。
[0004]然而，TEG测试区裂片之后，在搬运过程中容易造成膜层损伤，导致静电测试误差较大，不利于产品性能评估。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种显示面板母板及其测试方法、显示面板及显示装置，用以提高静电测试的可靠性。
[0006]一方面，本专利技术实施例提供了一种显示面板母板，包括：
[0007]基板，所述基板包括由待切割线划分出的多个面板区域，所述基板还包括显示区和检测区，所述显示区位于所述面板区域，所述检测区包括测试晶体管，所述测试晶体管包括测试有源层和测试栅极层，所述测试有源层包括第一极和第二极；
[0008]静电测试金属层，所述静电测试金属层的至少部分位于所述检测区；
[0009]测试衬垫，所述测试衬垫包括栅极测试垫、源极测试垫、漏极测试垫和静电测试垫，其中，所述栅极测试垫与所述测试栅极层电连接，所述源极测试垫与所述第一极电连接，所述漏极测试垫与所述第二极电连接，所述静电测试垫与所述静电测试金属层电连接。
[0010]另一方面，本专利技术实施例提供了一种显示面板母板的测试方法，应用于上述显示面板母板，所述测试方法包括：
[0011]控制电学测试设备与所述测试衬垫电连接，通过向所述静电测试垫施加检测电压，对所述测试晶体管的电学特性进行测试。
[0012]再一方面，本专利技术实施例提供了一种显示面板，包括：
[0013]显示区和检测区，所述检测区包括测试晶体管，所述测试晶体管包括测试有源层和测试栅极层，所述测试有源层包括第一极和第二极；
[0014]静电测试金属层，所述静电测试金属层的至少部分位于所述检测区；
[0015]测试衬垫，所述测试衬垫包括栅极测试垫、源极测试垫、漏极测试垫和静电测试垫，其中，所述栅极测试垫与所述测试栅极层电连接，所述源极测试垫与所述第一极电连接，所述漏极测试垫与所述第二极电连接，所述静电测试垫与所述静电测试金属层电连接。
[0016]又一方面，本专利技术实施例提供了一种显示装置，包括上述显示面板。
[0017]在本专利技术实施例中，通过在检测区增设静电测试金属层、以及在测试衬垫中增设静电测试垫，在对测试晶体管进行静电测试时，仅需要利用探针向静电测试垫施加静电测试电压，使静电测试金属层上积聚电荷，模拟晶体管周边积聚静电的环境，进而通过栅极测试垫、源极测试垫和漏极测试垫分别向测试晶体管的测试栅极、第一极和第二极施加检测电压，对测试晶体管的电学特性进行检测，例如检测测试晶体管的Id
‑
Vg特性曲线，判断测试晶体管的抗静电能力，进而对显示区内驱动晶体管的电学特性进行评估。
[0018]可见，采用本专利技术实施例所提供的技术方案，直接在显示面板的产线内就可以对晶体管的抗静电的能力进行监控测试，无需再将测试区裂片到产线外，进而避免了搬运过程中由人为因素导致的检测误差的问题，有效提高了静电测试的可靠性。
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0020]图1为本专利技术实施例所提供的显示面板母板的一种结构示意图；
[0021]图2为本专利技术实施例所提供的测试晶体管的俯视图；
[0022]图3为图2沿A1
‑
A2方向的剖视图；
[0023]图4为本专利技术实施例所提供的驱动晶体管和测试晶体管的一种结构示意图；
[0024]图5为本专利技术实施例所提供的显示面板母板的一种局部剖视图；
[0025]图6为本专利技术实施例所提供的静电测试金属层的一种结构示意图；
[0026]图7为本专利技术实施例所提供的检测区的另一种位置示意图；
[0027]图8为本专利技术实施例所提供的显示面板的一种结构示意图；
[0028]图9为本专利技术实施例所提供的显示装置的一种结构示意图。
【具体实施方式】
[0029]为了更好的理解本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术实施例进行详细描述。
[0030]应当明确，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0031]在本专利技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本专利技术。在本专利技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
[0032]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0033]本专利技术实施例提供了一种显示面板母板，如图1所示，图1为本专利技术实施例所提供的显示面板母板的一种结构示意图，该显示面板母板包括基板1，基板1包括由待切割线2划
分出的多个面板区域3，基板1还包括显示区4和检测区5，显示区4位于面板区域3，显示区4包括像素电路和发光元件。可以理解的是，显示面板母板沿待切割线2被切割之后，每个面板区域3对应一个独立的显示面板。
[0034]如图2和图3所示，图2为本专利技术实施例所提供的测试晶体管的俯视图，图3为图2沿A1
‑
A2方向的剖视图，检测区5包括测试晶体管6，测试晶体管6包括测试有源层7和测试栅极层8，其中，测试有源层7包括第一极9和第二极10。
[0035]显示面板母板还包括静电测试金属层11，静电测试金属层11的至少部分位于检测区5，静电测试金属层11可包括金属钼。
[0036]显示面板母板还包括测试衬垫12，测试衬垫12包括栅极测试垫13、源极测试垫14、漏极测试垫15和静电测试垫16，其中，栅极测试垫13与测试栅极层8电连接，源极测试垫14与第一极9电连接，漏极测试垫15与第二极10电连接，静电测试垫16与静电测试金属层11电连接。
[0037]需要说明的是，如图4所示，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板母板，其特征在于，包括：基板，所述基板包括由待切割线划分出的多个面板区域，所述基板还包括显示区和检测区，所述显示区位于所述面板区域，所述检测区包括测试晶体管，所述测试晶体管包括测试有源层和测试栅极层，所述测试有源层包括第一极和第二极；静电测试金属层，所述静电测试金属层的至少部分位于所述检测区；测试衬垫，所述测试衬垫包括栅极测试垫、源极测试垫、漏极测试垫和静电测试垫，其中，所述栅极测试垫与所述测试栅极层电连接，所述源极测试垫与所述第一极电连接，所述漏极测试垫与所述第二极电连接，所述静电测试垫与所述静电测试金属层电连接。2.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述测试有源层还包括位于所述第一极和所述第二极之间的沟道区；所述静电测试金属层位于所述测试有源层朝向所述基板的一侧，并且，在垂直所述基板所在平面的方向上，所述静电测试金属层的正投影至少覆盖所述沟道区的正投影。3.根据权利要求2所述的显示面板母板，其特征在于，所述显示面板母板还包括位于所述基板与所述测试有源层之间的缓冲层，所述静电测试金属层位于所述缓冲层与所述测试有源层之间。4.根据权利要求2所述的显示面板母板，其特征在于，所述显示面板母板还包括：第一绝缘层，位于所述静电测试金属层与所述测试有源层之间；第二绝缘层，位于所述测试有源层与所述测试栅极层之间；第三绝缘层，位于所述测试栅极背向所述基板的一侧；静电测试过孔，贯穿所述第一绝缘层、所述第二绝缘层和所述第三绝缘层，所述静电测试垫通过所述静电测试过孔与所述静电测试金属层电连接。5.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述显示面板母板还包括驱动晶体管，所述驱动晶体管位于所述显示区，所述驱动晶体管包括驱动有源层和驱动栅极层，所述驱动有源层包括源极和漏极，所述源极指向所述漏极的方向为第一方向；在所述测试有源层中，所述第一极指向所述第二极的方向为所述第一方向。6.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，全部所述静电测试金属层位于所述检测区。7.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，在垂直于所述基板所在平面的方向上，所述静电测试金属层覆盖所述显示区和所述检测区。8.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭熙杰，张鼎，赵琰，
申请(专利权)人：武汉天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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