一种高精度磁通门探头及其制作方法技术

技术编号:32857101 阅读:30 留言:0更新日期:2022-03-30 19:29
本发明专利技术提供了一种高精度磁通门探头,包括探头盒、横向探头、纵向探头和垂直探头;探头盒内开设有矩形槽,矩形槽的底部设置有挡块;矩形槽的底部、矩形槽的第一侧壁、矩形槽的第二侧壁、矩形槽的第三侧壁和挡块围成第一探头槽;矩形槽的底部设置有凸台,矩形槽的第二侧壁和矩形槽的第四侧壁均设置有凹槽;凸台的顶面、凹槽的底部、矩形槽的第三侧壁和挡块围成第二探头槽;矩形槽的底部、矩形槽的第一侧壁、矩形槽的第四侧壁和挡块围成第三探头槽;三个探头分别位于三个探头槽中。三个探头在置入后相互正交固定,减小了安装误差和后续的形变误差,极大地提高了微弱磁场的测量精度。在此基础上,本发明专利技术还提供了高精度磁通门探头的制作方法。方法。方法。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度磁通门探头及其制作方法


[0001]本专利技术涉及磁场测量
,具体而言,涉及一种高精度磁通门探头及其制作方法。

技术介绍

[0002]磁通门技术是现在综合性能最优的测量微弱磁场的技术手段,广泛应用于资源勘探、生物医学、磁异常探测、航空航天等方面。由于磁通门探头可以测试某一方向上的磁场分量,因此可以用三个同样的一维探头相互正交排在一起,测试三个方向上的磁场分量,进而得到环境磁场矢量的大小和方向。
[0003]传统技术中,通常把三个一维探头放进一个可用螺钉调节一维探头方向的无磁金属框架内,通过调节螺钉位置获得较好的三轴正交度,然后用灌胶方式固定三个一维探头的相对角度。
[0004]由于在胶水固化的过程中,一维探头受力不均,导致三个一维探头的相对角度发生变化,导致探头的三轴正交度变差;另外,由于无磁金属框架和微调螺钉的存在,导致三维探头体积巨大,并且由于三个一维探头之间的距离较大,导致在有环境梯度的磁场环境中,测量误差增大。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种高精度磁通门探头及其制作方法,有助于解决上述技术问题。
[0006]本专利技术是这样实现的:
[0007]一种高精度磁通门探头,包括探头盒、横向探头、纵向探头和垂直探头;所述探头盒内开设有矩形槽,所述矩形槽的底部设置有挡块;所述矩形槽的底部、所述矩形槽的第一侧壁、所述矩形槽的第二侧壁、所述矩形槽的第三侧壁和所述挡块围成第一探头槽;所述矩形槽的底部设置有凸台,所述矩形槽的第二侧壁和所述矩形槽的第四侧壁均设置有凹槽;所述凸台的顶面、所述凹槽的底部、所述矩形槽的第三侧壁和所述挡块围成第二探头槽;所述矩形槽的底部、所述矩形槽的第一侧壁、所述矩形槽的第四侧壁和所述挡块围成第三探头槽;将所述横向探头、所述纵向探头和所述垂直探头分别置入所述第一探头槽、所述第二探头槽和所述第三探头槽中,能够使所述横向探头的长度方向、所述纵向探头的长度方向和所述垂直探头的长度方向相互正交;其中,其中,所述矩形槽的第一侧壁平面、第二侧壁平面、第三侧壁平面和第四侧壁平面依次垂直连接。
[0008]上述高精度磁通门探头,通过矩形槽的底部、矩形槽的第一侧壁、矩形槽的第二侧壁、矩形槽的第三侧壁和挡块围成第一探头槽;通过凸台的顶面、凹槽的底部、矩形槽的第三侧壁和挡块围成第二探头槽;通过矩形槽的底部、矩形槽的第一侧壁、矩形槽的第四侧壁和挡块围成第三探头槽。利用矩形槽的各个内壁均与底面相互垂直的特征,使得三个探头槽的长度方向两两相互正交,则在将横向探头、纵向探头和垂直探头分别固定置入到上述
三个探头槽时,横向探头、纵向探头和垂直探头均两两相互正交。由于利用了矩形槽相邻之间侧壁(及底面)相互垂直的特征,并增加了凸台和凹槽的设置,可大幅提高三个探头的定位精准度,降低安装和测量误差,且能够有效避免后续的形变误差。
[0009]进一步地,所述横向探头的表面、所述纵向探头的表面和所述垂直探头的表面均设置有粘接层;所述横向探头、所述纵向探头和所述垂直探头通过所述粘接层与所述探头盒贴合连接。
[0010]进一步地,所述探头盒、所述横向探头、所述纵向探头和所述垂直探头由同一种无磁材料制作而成。
[0011]进一步地,所述探头盒的侧壁设置有穿线孔和卡箍;所述穿线孔用于从所述探头盒的外部向内部引入导线,所述卡箍用于卡紧所述导线。
[0012]进一步地,所述探头盒上还设置有盒盖;所述盒盖用于封堵所述探头盒的开口。
[0013]进一步地,所述探头盒的外沿底部还设置有安装耳;所述安装耳上设置有安装孔。
[0014]一种高精度磁通门探头的制作方法,包括以下步骤:
[0015]步骤一,在所述横向探头的表面、所述纵向探头的表面和所述垂直探头的表面涂上粘接层;
[0016]步骤二,将所述横向探头、所述纵向探头和所述垂直探头分别粘接固定在所述第一探头槽、所述第二探头槽和所述第三探头槽中;
[0017]步骤三,将所述导线穿过所述穿线孔后与所述横向探头、所述纵向探头和所述垂直探头分别电连接。
[0018]进一步地,在所述步骤三之后,还包括向所述矩形槽中灌注固封胶。
[0019]进一步地,在所述步骤三之后,还包括在所述穿线孔的外端口固定所述卡箍。
[0020]进一步地,在所述步骤三之后,还包括在所述矩形槽的开口上安装所述盒盖。
[0021]本专利技术的有益效果是:
[0022]本专利技术的高精度磁通门探头及其制作方法,利用了矩形槽相邻之间侧壁(及底面)相互垂直的特征,并增加了凸台和凹槽的设置,使得三个探头在置入三个探头槽后相互正交固定,减小了安装误差和后续的形变误差,极大地提高了微弱磁场的测量精度。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0024]图1为本专利技术第一实施例提供的高精度磁通门探头的立体结构示意图;
[0025]图2为本专利技术第一实施例提供的高精度磁通门探头的爆炸图;
[0026]图3为本专利技术第一实施例提供的高精度磁通门探头的内部结构示意图;
[0027]图4为本专利技术第一实施例提供的高精度磁通门探头(卸下探头后)的俯视图;
[0028]图5为图4中的A

A向剖视图。
[0029]图标:100

探头盒;101

第一侧壁;102

第二侧壁;103

第三侧壁;104

第四侧壁;110

矩形槽;111

第一探头槽;112

第二探头槽;113

第三探头槽;114

挡块;121

穿线孔;
122

卡箍;130

导线;140

盒盖;150

安装耳;151

安装孔;210

横向探头;220

纵向探头;230

垂直探头。
具体实施方式
[0030]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在附图中描述和标注的本专利技术实施例的组件能够以各种不同的配置来布置和设计。
[0031]因此,以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围,而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度磁通门探头,其特征在于,包括探头盒(100)、横向探头(210)、纵向探头(220)和垂直探头(230);所述探头盒(100)内开设有矩形槽(110),所述矩形槽(110)的底部设置有挡块(114);所述矩形槽(110)的底部、所述矩形槽(110)的第一侧壁(101)、所述矩形槽(110)的第二侧壁(102)、所述矩形槽(110)的第三侧壁(103)和所述挡块(114)围成第一探头槽(111);所述矩形槽(110)的底部设置有凸台,所述矩形槽(110)的第二侧壁(102)和所述矩形槽(110)的第四侧壁(104)均设置有凹槽;所述凸台的顶面、所述凹槽的底部、所述矩形槽(110)的第三侧壁(103)和所述挡块(114)围成第二探头槽(112);所述矩形槽(110)的底部、所述矩形槽(110)的第一侧壁(101)、所述矩形槽(110)的第四侧壁(104)和所述挡块(114)围成第三探头槽(113);将所述横向探头(210)、所述纵向探头(220)和所述垂直探头(230)分别置入所述第一探头槽(111)、所述第二探头槽(112)和所述第三探头槽(113)中,能够使所述横向探头(210)的长度方向、所述纵向探头(220)的长度方向和所述垂直探头(230)的长度方向相互正交;其中,所述矩形槽(110)的第一侧壁(101)平面、第二侧壁(102)平面、第三侧壁(103)平面和第四侧壁(104)平面依次垂直连接。2.根据权利要求1所述的高精度磁通门探头,其特征在于,所述横向探头(210)的表面、所述纵向探头(220)的表面和所述垂直探头(230)的表面均设置有粘接层;所述横向探头(210)、所述纵向探头(220)和所述垂直探头(230)通过所述粘接层与所述探头盒(100)贴合连接。3.根据权利要求2所述的高精度磁通门探头,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:郇一恒高恩宇苏帆成献礼
申请(专利权)人:北京微纳星空科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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