一种高精度轴类零件检测用定位设备及其使用方法技术

本发明专利技术是提供一种重复检测定位精度高的高精度轴类零件检测用定位设备及其使用方法，涉及轴类零件检测用辅助设备技术领域。一种高精度轴类零件检测用定位设备，包括底座、固定顶尖和活动顶尖，所述固定顶尖与底座固接，还包括第一直线驱动器、举升机构、压紧机构和第一V型定位块；所述活动顶尖通过支架安装于底座，所述活动顶尖与支架沿固定顶尖的轴线方向滑动连接；所述第一V型定位块设置于活动顶尖下方，并与底座固接，所述第一V型定位块的V型槽与活动顶尖配合；所述支架与底座竖向滑动连接；所述举升机构与支架连接，所述第一直线驱动器与活动顶尖连接。本发明专利技术使用寿命长，适合于流水线上的轴类产品的全数检测。于流水线上的轴类产品的全数检测。于流水线上的轴类产品的全数检测。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度轴类零件检测用定位设备及其使用方法


[0001]本专利技术涉及轴类零件检测用辅助设备
，具体涉及一种高精度轴类零件检测用定位设备及其使用方法。

技术介绍

[0002]轴类零件加工过程中需要对轴径、轴台间距进行检测，以保证产品符合要求。高精度轴类产品的检测精度要求在um或亚um级，其检测精度主要受检测设备的检测精度和零件检测用定位设备的重复定位精度两个因素影响。现轴类零件检测设备多用类似栅尺或光幕测头，其检测精度足够高，已能满足使用要求。
[0003]对于轴类零件检测用定位设备，现轴类零件检测用定位设备多采用双圆柱顶尖定位的形式。如：申请号为201510815636.6公开的一种用于检测轴类零件外圆锥度的检测工装；申请号为201820984689.X公开的一种轴类零件外径检测仪；申请号为201721153626.1公开的一种轴类零件圆跳动的检测夹具。现有的轴类零件检测用定位设备，除了自身的加工精度外，尤其是关键的定位零件需要运动，关键定位零部件势必会有磨损，会导致顶尖位置变化，造成检测失真，这就对重复定位精度带来很大的挑战，对于0.005mm以上的精度来说，现有的定位设备几乎是不可能实现正常检测的。不仅如此，在使用背景建立在流水线上的轴类产品的全数检测，这又对设备提出了高效率的要求，又因检测量极大，设备在运行中，如经常更换磨损的关键定位零部件，以保证检测精度，显然也不够现实。
[0004]申请号为202120761814.2公开的一种轴类零件检测设备，该设备在底座上设有贯穿该底座的槽体，活动支撑机构的另一端设有与槽体配合的第一配合面，设备夹持定位工件时卸载机构与活动支撑机构配合并施以拉力，使活动支撑机构的一端与槽体的第一配合面配合，避免移动过程中摩擦。该检测设备由于采用活动支撑机构一端与槽体的第一配合面(V型面)配合另一端安装夹持机构的结构形式，活动支撑机构与第一配合面(V型面)配合定位时会存在一定的加工误差，会导致另一端的夹持机构不可避免地存在一定的摆动，并会因活动支撑机构而被放大，另一端的夹持机构的位置会变化较大，进而造成检测精度降低或检测失真。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种重复检测定位精度高的高精度轴类零件检测用定位设备及其使用方法。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种高精度轴类零件检测用定位设备，包括底座以及安装于底座用于夹持轴类零件两端的固定顶尖和活动顶尖，所述固定顶尖与底座固接，还包括第一直线驱动器、举升机构、压紧机构和第一V型定位块；
[0007]所述活动顶尖通过支架安装于底座，所述活动顶尖与支架沿固定顶尖的轴线方向滑动连接；
[0008]所述第一V型定位块设置于活动顶尖下方，并与底座固接，所述第一V型定位块的V
型槽与活动顶尖配合；
[0009]所述支架与底座竖向滑动连接，以能靠近或远离所述第一V型定位块的V型槽；
[0010]所述举升机构与支架连接，以驱动支架相对于底座滑动；
[0011]所述第一直线驱动器与活动顶尖连接，以驱动活动顶尖相对于支架滑动；
[0012]所述压紧机构与活动顶尖配合，以将活动顶尖压入第一V型定位块的V型槽内，实现与第一V型定位块的V型槽配合。
[0013]进一步地，所述压紧机构包括压块、摆杆和铰接在底座上的压紧缸；所述压块设置在第一V型定位块的正上方，并安装在摆杆上；
[0014]所述摆杆的一端与第一V型定位块铰接，另一端与压紧缸的活塞杆铰接。
[0015]进一步地，所述举升机构为单作用气缸。
[0016]进一步地，所述第一直线驱动器为气缸，所述活动顶尖的端部设有竖向延伸的T型槽，所述第一直线驱动器的活塞杆与所述T型槽配合。
[0017]进一步地，还包括与底座固接的第二V型定位块，所述固定顶尖压紧固定在第二V型定位块的V型槽内。
[0018]进一步地，所述固定顶尖的端部套设有沿固定顶尖的轴线方向浮动设置的挡尘板。
[0019]进一步地，第一V型定位块和第二V型定位块均与底座为一体结构。
[0020]进一步地，还包括支撑轴类零件的托座组件，所述托座组件包括第二直线驱动器、滑座、托举架和第三直线驱动器；
[0021]所述滑座与底座沿固定顶尖的轴线方向滑动连接，所述托举架与滑座竖向滑动连接；
[0022]所述第二直线驱动器与滑座连接，以驱动滑座相对于底座滑动；
[0023]所述第三直线驱动器与托举架连接，以驱动托举架相对于滑座滑动。
[0024]上述的一种高精度轴类零件检测用定位设备的使用方法，所述使用方法包括：
[0025]步骤一、将轴类零件放置在固定顶尖与活动顶尖之间；
[0026]步骤二、举升机构驱动支架相对于底座竖向滑动，使活动顶尖脱离第一V型定位块的V型槽；
[0027]步骤三、第一直线驱动器驱动活动顶尖沿固定顶尖的轴线方向滑动，将所述轴类零件固定在固定顶尖与活动顶尖之间；
[0028]步骤四、所述压紧机构与活动顶尖配合，将活动顶尖压入第一V型定位块的V型槽内，实现与第一V型定位块的V型槽配合。
[0029]本专利技术的有益效果是：本专利技术的一种高精度轴类零件检测用定位设备及其使用方法，采用固定顶尖加活动顶尖的双顶尖定位结构，并将固定顶尖通过支架可相对于底座竖向滑动，在定位过程中，活动顶尖不会与第一V型定位块的V型槽接触，不存在定位关键部件滑动磨损的情况，另外，设备采用活动顶尖直接与V型槽配合定位，消除了夹持机构(活动顶尖)的摆动，保证了夹持机构(活动顶尖)定位时的位置不变动，因此，本专利技术的定位设备的重复检测定位精度高，使用寿命长，适合于流水线上的轴类产品的全数检测。
附图说明
[0030]图1是本专利技术的定位设备的立体示意图；
[0031]图2是本专利技术的定位设备的结构示意图；
[0032]图3是活动顶尖的安装结构简图；
[0033]图4是图1的A处放大图；
[0034]图5是图2的B处放大图；
[0035]图6是固定顶尖的安装结构图；
[0036]图7是托座组件的结构示意简图；
[0037]图中所示：底座1，活动顶尖2，固定顶尖3，第一直线驱动器4，举升机构5，支架6，压紧机构7，第一V型定位块8，第二V型定位块9，挡尘板10，弹簧11，托座组件12，轴类零件13，T型槽21，压块71，摆杆72，压紧缸73，导柱101，第二直线驱动器121，滑座122，托举架123，第三直线驱动器124。
具体实施方式
[0038]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0039]如图1至图5所示，本专利技术的一种高精度轴类零件检测用定位设备，包括底座1以及安装于底座1用于夹持轴类零件两端的固定顶尖3和活动顶尖2，所述固定顶尖3与底座1固接。定位设备还包括第一直线驱动器4、举升机构5、压紧机构7和第一V型定位块8。所述活动顶尖2通过支架6本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度轴类零件检测用定位设备，包括底座(1)以及安装于底座(1)用于夹持轴类零件两端的固定顶尖(3)和活动顶尖(2)，所述固定顶尖(3)与底座(1)固接，其特征在于，还包括第一直线驱动器(4)、举升机构(5)、压紧机构(7)和第一V型定位块(8)；所述活动顶尖(2)通过支架(6)安装于底座(1)，所述活动顶尖(2)与支架(6)沿固定顶尖(3)的轴线方向滑动连接；所述第一V型定位块(8)设置于活动顶尖(2)下方，并与底座(1)固接，所述第一V型定位块(8)的V型槽与活动顶尖(2)配合；所述支架(6)与底座(1)竖向滑动连接，以能靠近或远离所述第一V型定位块(8)的V型槽；所述举升机构(5)与支架(6)连接，以驱动支架(6)相对于底座(1)滑动；所述第一直线驱动器(4)与活动顶尖(2)连接，以驱动活动顶尖(2)相对于支架(6)滑动；所述压紧机构(7)与活动顶尖(2)配合，以将活动顶尖(2)压入第一V型定位块(8)的V型槽内，实现与第一V型定位块(8)的V型槽配合。2.如权利要求1所述的一种高精度轴类零件检测用定位设备，其特征在于，所述压紧机构(7)包括压块(71)、摆杆(72)和铰接在底座(1)上的压紧缸(73)；所述压块(71)设置在第一V型定位块(8)的正上方，并安装在摆杆(72)上；所述摆杆(72)的一端与第一V型定位块(8)铰接，另一端与压紧缸(73)的活塞杆铰接。3.如权利要求1所述的一种高精度轴类零件检测用定位设备，其特征在于，所述举升机构(5)为单作用气缸。4.如权利要求1所述的一种高精度轴类零件检测用定位设备，其特征在于，所述第一直线驱动器(4)为气缸，所述活动顶尖(2)的端部设有竖向延伸的T型槽(21)，所述第一直线驱动器(4)的活塞杆与所述T型槽(21)配合。5.如权利要求1所述的一种高精度轴类零件检...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈海军，廖珠君，陈鹏宇，赵耀，
申请(专利权)人：成都华川电装有限责任公司，
类型：发明
国别省市：