本发明专利技术公开了一种光电鼠标集成电路测试装置，包括装置本体，所述装置本体从上至下依次开设有第一转动槽、升降槽、测试槽、放置槽，所述测试槽的内壁开设有穿过槽，所述第一转动槽与升降槽内设有测试机构，所述放置槽内设有升降机构，所述装置本体的一侧设有转移机构；所述测试机构包括转动连接在第一转动槽内壁的第一转轴。本发明专利技术通过测试机构来测试待检测的集成电路板是否合格，通过升降机构来下沉或抬升得集成电路板以定位或放弃定位，通过转移机构来夹取已检测结束的集成电路板，并根据是否合格来将其转移至不同的输送带上，两个输送带分别用以传送合格品和不合格品，能够轮流测试得集成电路板各键位的灵敏度与使用寿命。试得集成电路板各键位的灵敏度与使用寿命。试得集成电路板各键位的灵敏度与使用寿命。
【技术实现步骤摘要】
一种光电鼠标集成电路测试装置
[0001]本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种光电鼠标集成电路测试装置。
技术介绍
[0002]集成电路是光电鼠标中最为重要的组成部分，集成电路板中一般具有三个按键，分别适配于左键、右键和中键，左键、右键、中键均具有按压效果，中键另外还具有滚动效果，在组装成鼠标之前，需要对上述键位进行寿命测试以及反应灵敏度，以便保持批量生产的质量，而现有的测试装置不能轮流测试各个按键的寿命以及灵敏度。
[0003]为此，我们提出一种光电鼠标集成电路测试装置来解决上述问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术意在提供一种光电鼠标集成电路测试装置以解决
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种光电鼠标集成电路测试装置，包括装置本体，所述装置本体从上至下依次开设有第一转动槽、升降槽、测试槽、放置槽，所述测试槽的内壁开设有穿过槽，所述第一转动槽与升降槽内设有测试机构，所述放置槽内设有升降机构，所述装置本体的一侧设有转移机构；所述测试机构包括转动连接在第一转动槽内壁的第一转轴，所述第一转动槽内壁嵌设有用于驱动第一转轴的第一电机，所述第一转轴上固定套接有第一凸轮，所述升降槽的两侧内壁开设有滑槽，各所述滑槽内滑动连接有滑块，各所述滑块的下端与滑槽的内底壁共同固定连接有第一弹簧，其中一个所述滑块转动连接有螺纹杆，另一个所述滑块内嵌设有用于驱动螺纹杆的第二电机，所述螺纹杆上螺纹连接有底盒，且底盒仅能在水平方向位移，所述底盒的下端设有第二转动槽，所述第二转动槽的内壁通过短轴转动连接有转轮，所述第二转动槽的内壁嵌设有用于驱动短轴的第三电机。
[0007]优选地，所述转移机构的两侧均设有输送带。
[0008]优选地，所述底盒的下端固定连接有接电件，所述接电件包括固定连接在底盒下端的第一固定箱，所述第一固定箱内滑动连接有T型的第一限位杆，所述第一固定箱的内顶壁与第一限位杆的上端共同固定连接有第二弹簧，所述第一限位杆的下端贯穿第一固定箱设置，所述第一限位杆的下端嵌设有接电块，所述接电块电性连接有控制器，所述控制器固定安装在装置本体的一侧。
[0009]优选地，所述升降机构包括转动连接在放置槽内壁的第三转轴，所述放置槽内壁嵌设有用于驱动第三转轴的第四电机，所述第三转轴上固定套接有第二凸轮，所述升降板与放置槽内底壁之间连接有至少一个导向件。
[0010]优选地，所述导向件包括固定连接在放置槽内底壁的第二固定箱，所述第二固定箱内滑动连接有T型的第二限位杆，所述第二限位杆下端与第二固定箱内底壁之间共同固定连接有第三弹簧。
[0011]优选地，所述转移机构包括框盒，所述框盒内壁对称限位滑动连接有两个夹框，所
述框盒的一侧固定安装有伸缩杆，所述伸缩杆的伸缩端对称连接有两个连杆，各所述连杆远离伸缩杆的一端分别与对应位置的夹框转动连接。
[0012]优选地，所述夹框的一侧固定连接有限位块，所述框盒内壁开设有与限位块滑动连接的限位槽。
[0013]优选地，所述框盒的下端固定设置有旋转云台。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0015]本专利技术通过测试机构来测试待检测的集成电路板是否合格，通过升降机构来下沉或抬升得集成电路板以定位或放弃定位，通过转移机构来夹取已检测结束的集成电路板，并根据是否合格来将其转移至不同的输送带上，两个输送带分别用以传送合格品和不合格品，能够轮流测试得集成电路板各键位的灵敏度与使用寿命。
附图说明
[0016]图1为本专利技术提出的一种光电鼠标集成电路测试装置正视的结构剖面图；
[0017]图2为图1中A处放大的结构示意图；
[0018]图3为本专利技术提出的一种光电鼠标集成电路测试装置转移机构与输送带俯视的结构剖面图；
[0019]图4为本专利技术提出的一种光电鼠标集成电路测试装置导向件与接电件正视的结构剖面图；
[0020]图5为本专利技术提出的一种光电鼠标集成电路测试装置装置本体正视的结构示意图。
[0021]图中：1装置本体、11第一转动槽、12升降槽、13测试槽、14放置槽、15穿过槽、2测试机构、21第一转轴、211第一电机、212第一凸轮、22螺纹杆、221底盒、222滑块、223第二电机、224滑槽、225第一弹簧、23第二转动槽、231转轮、232第三电机、24接电件、241第一固定箱、242第一限位杆、243第二弹簧、244接电块、25控制器、3升降机构、31第三转轴、32第二凸轮、33第四电机、34导向件、341第二固定箱、342第二限位杆、343第三弹簧、35升降板、4转移机构、41框盒、42夹框、43连杆、44伸缩杆、45旋转云台、5输送带。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0023]参照图1
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5，一种光电鼠标集成电路测试装置，包括装置本体1，装置本体1从上至下依次开设有第一转动槽11、升降槽12、测试槽13、放置槽14，测试槽13的内壁开设有穿过槽15，第一转动槽11与升降槽12内设有测试机构2，放置槽14内设有升降机构3，装置本体1的一侧设有转移机构4，转移机构4的两侧均设有输送带5。
[0024]本装置的基本构思是：通过测试机构2来测试待检测的集成电路板是否合格，通过升降机构3来下沉或抬升得集成电路板以定位或放弃定位，通过转移机构4来夹取已检测结束的集成电路板，并根据是否合格来将其转移至不同的输送带5上，两个输送带5分别用以传送合格品和不合格品。
[0025]升降机构包括转动连接在放置槽14内壁的第三转轴31，放置槽14内壁嵌设有用于
驱动第三转轴31的第四电机33，第三转轴31上固定套接有第二凸轮32，升降板35与放置槽14内底壁之间连接有至少一个导向件34。
[0026]将待检测的集成电路板放置在升降板35的上端，在进行测试时，第四电机33驱动第三转轴31并带动与之连接的第二凸轮32旋转至第二凸轮32距离第三转轴31轴线的最近点与升降板35相抵接触，使集成电路板下沉，需要说明的是，放置槽14的内部结构特征与集成电路板结构特征相符，以便后续的测试作业。
[0027]为了使升降板35在竖直方向上稳定升降，而另外设置：导向件34包括固定连接在放置槽14内底壁的第二固定箱341，第二固定箱341内滑动连接有T型的第二限位杆342，第二限位杆342下端与第二固定箱341内底壁之间共同固定连接有第三弹簧343，在升降板35在作升降作业时，第二限位杆342限位滑动在第二固定箱341内，第三弹簧343便于第二限位杆342复位。
[0028]测试机构2包括转动连接在第一转动槽11内壁的第一转轴21，第一转动槽11内壁嵌设有用于驱动第一转轴21的第一电机211，第一转轴21上固本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光电鼠标集成电路测试装置，其特征在于：包括装置本体(1)，所述装置本体(1)从上至下依次开设有第一转动槽(11)、升降槽(12)、测试槽(13)、放置槽(14)，所述测试槽(13)的内壁开设有穿过槽(15)，所述第一转动槽(11)与升降槽(12)内设有测试机构(2)，所述放置槽(14)内设有升降机构(3)，所述装置本体(1)的一侧设有转移机构(4)；所述测试机构(2)包括转动连接在第一转动槽(11)内壁的第一转轴(21)，所述第一转动槽(11)内壁嵌设有用于驱动第一转轴(21)的第一电机(211)，所述第一转轴(21)上固定套接有第一凸轮(212)，所述升降槽(12)的两侧内壁开设有滑槽(224)，各所述滑槽(224)内滑动连接有滑块(222)，各所述滑块(222)的下端与滑槽(224)的内底壁共同固定连接有第一弹簧(225)，其中一个所述滑块(222)转动连接有螺纹杆(22)，另一个所述滑块(222)内嵌设有用于驱动螺纹杆(22)的第二电机(223)，所述螺纹杆(22)上螺纹连接有底盒(221)，且底盒(221)仅能在水平方向位移，所述底盒(221)的下端设有第二转动槽(23)，所述第二转动槽(23)的内壁通过短轴转动连接有转轮(231)，所述第二转动槽(23)的内壁嵌设有用于驱动短轴的第三电机(232)。2.根据权利要求1所述的一种光电鼠标集成电路测试装置，其特征在于：所述转移机构(4)的两侧均设有输送带(5)。3.根据权利要求1所述的一种光电鼠标集成电路测试装置，其特征在于：所述底盒(221)的下端固定连接有接电件(24)，所述接电件(24)包括固定连接在底盒(221)下端的第一固定箱(241)，所述第一固定箱(241)内滑动连接有T型的第一限位杆(242)，所述第一固定箱(241)的内顶壁...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜一平，
申请(专利权)人：深圳市正宇兴电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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