信号隔离盲配连接器制造技术

本发明专利技术提供一种自对准信号隔离盲配连接器。该盲配连接器可包括：一适于接纳一承插式连接器的插入式盲配连接器；一承插式连接器；及一覆盖一插入式盲配连接器与一承插式连接器之间接合点的套筒。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术提供一种自对准信号隔离盲配连接器(blindmate)。该盲配连接器可包括一适于接纳一承插式连接器的插入式盲配连接器；一承插式连接器；及一覆盖一插入式盲配连接器与一承插式连接器之间接合点的套筒。
技术介绍
在电子器件及集成电路的生产中，通常使用可编程电子电路测试仪，例如Agilent Technologies公司的93000对所生产的器件或集成电路进行性能测试。进行测试的目的在于确保器件或集成电路符合相应的设计性能规范。为对器件或集成电路进行测试，将测试仪编程为向受试器件(DUT)发送一个电信号或一组电信号，并对自DUT返回的响应进行测量。测试仪可对封装的成品器件或处于不同阶段(从最初的晶片处理直至最终封装)的集成电路进行测试。图1所示为一常规测试仪10。测试仪10包含一测试头12，其通过经由一导管14铺设的电缆电连接至电子测试和测量仪器(例如AC和DC信号发生器)的机架16，用于向测试头12所连接的器件或集成电路施加电信号；及信号分析仪，例如网络分析仪、频谱分析仪、示波器或其他波形数字化或信号处理设备，用于测量对所施加信号的响应。测试头12可包含进行电信号分配、信号分离、频率转换、放大、衰减、转换或在信号发送至机架16或受试器件/集成电路之前对其进行其他调节或调制的电路。测试头12通过一加载板18和一安装至测试头12的夹具板(fixture board)20与一器件或集成电路相连。或者，可在安装夹具板20之前，将一具有与夹具板类似配置的校准板(未示出)连接至测试头12，以对测试头12进行校准。加载板18的配置取决于受试器件或集成电路的型式或类别，例如模拟或数字电子电路；而夹具板20的配置通常因类别或特定的受试器件或集成电路(DUT)而异。夹具板20连接至受试器件(DUT)板22，板22可包含安装或制作在DUT板上的电感器、电容器及其它电子组件或电路，以用于去耦、滤波、衰减或以其他方式修正接收自/发送至受试器件或集成电路的电信号。最后，DUT板22连接至插座24，以实现测试仪10与实际受试电子电路或器件(DUT)(例如一封装器件或集成电路26)的电连接。另一选择是，将插座24直接安装在夹具板20上。测试头12安装至一抵座28。测试头12可通过枢轴连接30安装在抵座28上。枢轴连接30使得测试头12定位于一大致向上面向水平的位置，以使操作人员可将相应的加载板18、校准或夹具板20以及带有插座24的DUT板22安装于测试仪10的测试头12上。可将测试头12旋转至一倾斜位置，以使插座24可与一自动材料处理器(material handler)32相连，该处理器，例如，可迅速将各个DUT 26馈送至测试仪10供进行测试。或者，可使用一晶片探针(未示出)替代安装在DUT板22上的插座24。枢轴连接30使得测试头12可旋转至一倒置位置，以测试一晶片探测台处一晶片(未示出)上的受试器件或集成电路。为将插座24连接至自动材料处理器32或位于晶片探测台(未示出)处的晶片探针(未示出)，在测试头12上安装一框架34。自动材料处理器32或晶片探测台(未示出)上安装有一与框架34相配合的夹具36，用于将测试头12对准所述自动材料处理器32或探测台，以能够对封装器件或集成电路以及位于晶片上的器件或集成电路进行测试。在使用测试仪10进行校准和实际测试的过程中，测试头12藉以电连接至校准或夹具板20的连接器(未示出)会经受多次接通或断开。然而，迄今为止，测试仪10的使用寿命远远超过测试头12连接器及校准或夹具板20的使用寿命。同时，由于连接器因磨损而退化，连接的可重复性会随着时间的推移而降低。另外，高频同轴连接器比较容易损坏，如果操作人员在耦合、去耦和使用时不够仔细，则此种连接器的中心导体可能会发生损坏。而且，高频同轴连接器对泄露出/入连接器的RF能量非常敏感，此可导致信号质量的降低。因此，人们期望能够提供一连接器结构，以使测试头12能够在一更长的测试仪10使用寿命周期内反复地与校准或夹具板20连接和断开。另外，人们期望能够提供一更加结实的连接器结构，其在耦合、去耦及使用过程中不易受到磨损和损坏。人们进一步期望能够提供一种具有更好的连接器间信号隔离的连接器。这样的结构将有助于使用测试仪10进行设置、校准及测量过程。
技术实现思路
本专利技术提供了一种其配合对准功能和信号完整性得到改善的盲配连接器。具体而言，盲配连接器是一导电、大致呈圆柱形的插入式盲配连接器，其适合接纳一承插式连接器；或一导电、大致呈圆筒形的承插式盲配连接器；或一导电套筒，该套筒具有一环绕承插式连接器一部分的第一段及在插入式盲配连接器与承插式连接器配合时适合接纳插入式盲配连接器的第二段；在插入式盲配连接器与承插式连接器配合使用时，该套筒的第二段环绕并沿插入式盲配连接器的一外表面延伸。附图说明通过参照下文的详细说明并结合附图进行思考，可更完全地理解本专利技术，并容易地获知本专利技术的诸多伴随优点。在附图中，相同的参考符号代表相同或类似的组件，其中图1所示为一常规电子电路测试仪的等轴图；图2所示为图1所示电子电路测试仪中的测试头、加载板及夹具板的解析图，其中包含一根据本专利技术一实施例的改进型盲配连接器；图3所示为一根据本专利技术一实施例的插入式盲配连接器的剖面图； 图4所示为一柔顺承插式连接器的剖面图，其包含于一电子电路测试仪的测试头中，用于连接根据本专利技术一实施例的插入式盲配连接器；及图5所示为一插入式盲配与一柔顺承插式连接器配合的透视图；及一根据本专利技术一实施例的插入式盲配与柔顺承插式连接器的透视、解析图。具体实施例方式图2所示为一电子电路测试仪的一部分，即一测试头100、一加载板112及一夹具板114。根据本专利技术的一实施例，一插入式盲配连接器116可包含于夹具板114中，以使测试头100与夹具板114互连，如图3-5所示。同样，插入式盲配连接器116亦可包含于校准板(未示出)中，在电子电路测试仪的设置及校准过程中，校准板可代替夹具头114。在运行中，校准或夹具板114可安装于测试头100上，以便一个或多个插入式盲配连接器116可与安装在测试头100中的相应数量的承插式连接器126相配合。例如，可具有20个插入式盲配连接器116以及20个相应的承插式连接器126，如图2中局部所示。测试头可包含一下拉/弹出环150，用于将校准或夹具板114安装在测试头100上。下拉/弹出环150可带有多个插槽150A。校准或夹具板114可带有多个插针152，其嵌入插槽150A中，以使板114的旋转可致使插入式盲配连接器116朝向承插式连接器126做轴向运动，从而实现板114与测试头100的连接。如在图3中更详细所示，插入式盲配连接器116可包含一导电、大致呈圆柱形的本体部分118，其具有一中心轴120。本体部分118可具有一第一内径D1。举例而言，本体部分118可具有一适于在内部接纳一插入式连接器(未示出)的一外部导体的内表面118A，其位于本体部分118的第一端118B处。另外，本体部分可具有一释放区域118C，其位于本体部分118的第二端118D处。在释放区域118C处，本体部分还可具有一第二内径D2。位于本体部分第二端118D处的内表面118A可向外呈锥形，以在承插式连接器(在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种盲配连接器，其包括：一导电、大体呈圆柱形的插入式盲配连接器，其适于接纳一承插式连接器；一导电、大体呈圆筒形的承插式连接器；及一导电套筒，其具有一环绕所述承插式连接器一部分的第一段，及一适于在所述插入式盲配连接器与 所述承插式连接器配合时接纳所述插入式盲配连接器的第二段；在所述插入式盲配连接器与所述承插式连接器配合时，所述套筒的所述第二段环绕并沿所述插入式盲配连接器的一外表面延伸，形成一波导型频率限制结构。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：维克托M格罗特恩，弗朗克E哈姆林，迪克斯顿普，
申请(专利权)人：安捷伦科技公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]