本发明专利技术公开了一种挖填方量计算方法和装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：在预先建立的三维模型中确定目标区域的多个顶点，判断顶点形成的平面图形是否为简单多边形；在判断平面图形为简单多边形时，构建多条穿过平面图形的等间隔平行扫描线并获取扫描线与平面图形的交点，依据交点与平面图形的顶点的位置关系确定扫描线位于平面图形内部的目标线段；在每一目标线段上选取多个等间隔离散点，基于离散点生成多个栅格像元，使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定栅格像元的挖填方量，结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量。该实施方式能够针对任意简单多边形的目标区域执行挖填方量的准确计算。方量的准确计算。方量的准确计算。
【技术实现步骤摘要】
挖填方量计算方法和装置
[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种挖填方量计算方法和装置。
技术介绍
[0002]物流仓库选址时会考虑多方面因素，例如仓库选取区域的土地是否平整。可以理解，土地整平的耗资会影响仓库的建设成本。因此，有必要针对仓库选址区域的挖填方量进行精确计算，从而为仓库选址提供支持。现有的挖填方量分析技术中，多限制计算区域为规则矩形，选取规则矩形作为挖填分析区域，便于快速锁定边界，判断离散点是否在区域内，但限制了应用场景，不符合实际生产环境要求。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种挖填方量计算方法和装置，能够针对任意简单多边形的目标区域执行挖填方量的准确计算。
[0004]为实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种挖填方量计算方法。
[0005]本专利技术实施例的挖填方量计算方法用于对作为仓库选址区域的目标区域执行挖填方量计算，包括：在预先建立的三维模型中确定目标区域的多个顶点，判断所述顶点形成的平面图形是否为简单多边形；在判断所述平面图形为简单多边形时，构建多条穿过所述平面图形的等间隔平行扫描线并获取每一扫描线与所述平面图形的交点，依据所述交点与所述平面图形的顶点的位置关系确定每一扫描线位于所述平面图形内部的目标线段；在每一目标线段上选取多个等间隔离散点，基于所述离散点生成多个栅格像元，使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定该栅格像元的挖填方量，结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量。
[0006]可选地，所述依据所述交点与所述平面图形的顶点的位置关系确定每一扫描线位于所述平面图形内部的目标线段，包括：对于任一扫描线：判断该扫描线与所述平面图形的任一交点是否为所述平面图形的顶点：若是，将该交点作为目标交点，比较该目标交点在所述平面图形的两个相邻顶点与该目标交点在特定方向的坐标大小，将特定方向坐标大于该目标交点的相邻顶点数量确定为第一数量，并将该扫描线的各目标交点和非目标交点按照该扫描线的延伸方向排列为一个队列；其中，所述特定方向与该扫描线的延伸方向垂直，所述队列中目标交点的数量等于第一数量；将所述队列中的交点按照排列顺序两两分为一组，每组的两个交点确定一条目标线段。
[0007]可选地，同一目标线段中相邻离散点的间隔等于相邻扫描线的间隔。
[0008]可选地，每一栅格像元的实际高程通过以下步骤确定：将该栅格像元处在预设方位的顶点作为该栅格像元的特征顶点；将所述特征顶点的经度数据和纬度数据输入所述三维模型，得到所述特征顶点的高度数据；将该高度数据确定为该栅格像元的实际高程。
[0009]可选地，所述使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定该栅格像元的挖填方量，结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量，包括：将该栅格像元的
面积乘以该栅格像元的实际高程与期望高程的差值，得到该栅格像元的挖填方量；将每一栅格像元的挖填方量相加，得到目标区域的挖填方量。
[0010]可选地，所述平面图形为所述目标区域在水平面的投影图形，所述三维模型基于三维扫描仪的采集数据而建立，所述方法执行在浏览器端。
[0011]为实现上述目的，根据本专利技术的另一方面，提供了一种挖填方量计算装置。
[0012]本专利技术实施例的挖填方量计算装置用于对作为仓库选址区域的目标区域执行挖填方量计算，可以包括：目标区域确定单元，用于：在预先建立的三维模型中确定目标区域的多个顶点，判断所述顶点形成的平面图形是否为简单多边形；目标线段确定单元，用于：在判断所述平面图形为简单多边形时，构建多条穿过所述平面图形的等间隔平行扫描线并获取每一扫描线与所述平面图形的交点，依据所述交点与所述平面图形的顶点的位置关系确定每一扫描线位于所述平面图形内部的目标线段；计算单元，用于：在每一目标线段上选取多个等间隔离散点，基于所述离散点生成多个栅格像元，使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定该栅格像元的挖填方量，结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量。
[0013]可选地，所述目标线段确定单元可进一步用于：对于任一扫描线：判断该扫描线与所述平面图形的任一交点是否为所述平面图形的顶点：若是，将该交点作为目标交点，比较该目标交点在所述平面图形的两个相邻顶点与该目标交点在特定方向的坐标大小，将特定方向坐标大于该目标交点的相邻顶点数量确定为第一数量，并将该扫描线的各目标交点和非目标交点按照该扫描线的延伸方向排列为一个队列；其中，所述特定方向与该扫描线的延伸方向垂直，所述队列中目标交点的数量等于第一数量；将所述队列中的交点按照排列顺序两两分为一组，每组的两个交点确定一条目标线段。
[0014]为实现上述目的，根据本专利技术的又一方面，提供了一种电子设备。
[0015]本专利技术的一种电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本专利技术所提供的挖填方量计算方法。
[0016]为实现上述目的，根据本专利技术的再一方面，提供了一种计算机可读存储介质。
[0017]本专利技术的一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现本专利技术所提供的挖填方量计算方法。
[0018]根据本专利技术的技术方案，上述专利技术中的实施例具有如下优点或有益效果：
[0019]在用户通过选点操作选取顶点形成目标区域之后，首先根据已知算法判断目标区域投影到水平面形成的平面图形是否为简单多边形，若是，则构建多条穿过平面图形的等间隔平行扫描线并获取每一扫描线与平面图形的交点，依据交点与平面图形的顶点的位置关系确定每一扫描线位于平面图形内部的目标线段，此后在每一目标线段上选取多个等间隔离散点，基于离散点生成多个栅格像元，使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定该栅格像元的挖填方量，最后结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量。通过以上步骤，实现了针对任意简单多边形的内部离散点获取，进而生成用于划分平面图形的栅格像元并根据栅格像元完成目标区域挖填方量的准确计算，从而拓展了挖填方量计算的目标区域形状，满足了实际生产环境要求。
[0020]上述的非惯用的可选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加
以说明。
附图说明
[0021]附图用于更好地理解本专利技术，不构成对本专利技术的不当限定。其中：
[0022]图1是本专利技术实施例中挖填方量计算方法的主要步骤示意图；
[0023]图2是本专利技术实施例的简单多边形和非简单多边形示意图；
[0024]图3是本专利技术实施例的简单多边形插值算法示意图；
[0025]图4是本专利技术实施例中挖填方量计算方法的效果示意图；
[0026]图5是本专利技术实施例中挖填方量计算装置的组成部分示意图；
[0027]图6是根据本专利技术实施例可以应用于其中的示例性系统架构图；
[0028]图7是用来实现本专利技术实施例中挖填方量计算方本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种挖填方量计算方法，用于对作为仓库选址区域的目标区域执行挖填方量计算；其特征在于，所述方法包括：在预先建立的三维模型中确定目标区域的多个顶点，判断所述顶点形成的平面图形是否为简单多边形；在判断所述平面图形为简单多边形时，构建多条穿过所述平面图形的等间隔平行扫描线并获取每一扫描线与所述平面图形的交点，依据所述交点与所述平面图形的顶点的位置关系确定每一扫描线位于所述平面图形内部的目标线段；在每一目标线段上选取多个等间隔离散点，基于所述离散点生成多个栅格像元，使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定该栅格像元的挖填方量，结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述交点与所述平面图形的顶点的位置关系确定每一扫描线位于所述平面图形内部的目标线段，包括：对于任一扫描线：判断该扫描线与所述平面图形的任一交点是否为所述平面图形的顶点：若是，将该交点作为目标交点，比较该目标交点在所述平面图形的两个相邻顶点与该目标交点在特定方向的坐标大小，将特定方向坐标大于该目标交点的相邻顶点数量确定为第一数量，并将该扫描线的各目标交点和非目标交点按照该扫描线的延伸方向排列为一个队列；其中，所述特定方向与该扫描线的延伸方向垂直，所述队列中目标交点的数量等于第一数量；将所述队列中的交点按照排列顺序两两分为一组，每组的两个交点确定一条目标线段。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，同一目标线段中相邻离散点的间隔等于相邻扫描线的间隔。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，每一栅格像元的实际高程通过以下步骤确定：将该栅格像元处在预设方位的顶点作为该栅格像元的特征顶点；将所述特征顶点的经度数据和纬度数据输入所述三维模型，得到所述特征顶点的高度数据；将该高度数据确定为该栅格像元的实际高程。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述使用每一栅格像元的面积、实际高程和期望高程确定该栅格像元的挖填方量，结合每一栅格像元的挖填方量获取目标区域的挖填方量，包括：将该栅格像元的面积乘以该栅格像元的实际高程与期望高程的差值，得到该栅格像元的挖填方量；将每一栅格像元的挖填...
【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳志恒，
申请(专利权)人：北京京东振世信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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