光检测模组、光检测方法和显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光检测模组、光检测方法和显示装置。光检测模组包含于显示装置，所述显示装置包括显示面板；所述光检测模组包括光感电路和放大电路；所述光感电路用于感应光信号，产生并通过光电流输出端输出相应的光电流；所述放大电路与所述光电流输出端电连接，用于对所述光电流进行放大转换，得到第一输出电流，并通过第一输出端输出所述第一输出电流；所述光感电路和所述放大电路都集成于所述显示面板中。本发明专利技术可以准确的得到相应的光信号的光照强度，并利于提升显示面板的屏占比。并利于提升显示面板的屏占比。并利于提升显示面板的屏占比。

【技术实现步骤摘要】
光检测模组、光检测方法和显示装置


[0001]本专利技术涉及光检测
，尤其涉及一种光检测模组、光检测方法和显示装置。

技术介绍

[0002]随着用户对屏占比的需求越来越高，越来越多的功能器件需要集成于屏幕内。在现有技术中，环境光检测模组不能很好的集成于显示面板中，导致显示面板的屏占比低，并存在光感应量低，噪声大的问题，不能准确的得到光信号的光照强度。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种光检测模组、光检测方法和显示装置，解决现有技术中环境光检测模组不能很好的集成于显示面板中，导致显示面板的屏占比低，并不能准确的得到光信号的光照强度的问题。
[0004]为了达到上述目的，本专利技术实施例提供了一种光检测模组，包含于显示装置，所述显示装置包括显示面板；所述光检测模组包括光感电路和放大电路；
[0005]所述光感电路用于感应光信号，产生并通过光电流输出端输出相应的光电流；
[0006]所述放大电路与所述光电流输出端电连接，用于对所述光电流进行放大转换，得到第一输出电流，并通过第一输出端输出所述第一输出电流；
[0007]所述光感电路和所述放大电路都集成于所述显示面板中。
[0008]可选的，所述放大电路包括放大晶体管和存储电容；
[0009]所述存储电容的第一端与所述光电流输出端电连接，所述存储电容的第二端与电源电压端电连接；
[0010]所述放大晶体管的控制极与所述光电流输出端电连接，所述放大晶体管的第一极与所述电源电压端电连接，所述放大晶体管的第二极与所述第一输出端电连接。
[0011]可选的，本专利技术至少一实施例所述的光检测模组还包括处理电路；
[0012]所述处理电路与所述放大电路电连接，用于根据所述第一输出电流得到所述光信号的光照强度。
[0013]可选的，本专利技术至少一实施例所述的光检测模组还包括输出控制电路和复位控制电路；
[0014]所述输出控制电路分别与输出控制端、所述第一输出端和第二输出端电连接，用于在所述输出控制端提供的输出控制信号的控制下，控制所述第一输出端与所述第二输出端之间连通，以通过所述第二输出端输出所述第一输出电流；
[0015]所述复位控制电路分别与复位控制端、所述存储电容的第一端和所述存储电容的第二端电连接，用于在所述复位控制端提供的复位控制信号的控制下，控制所述存储电容的第一端与所述存储电容的第二端之间连通。
[0016]可选的，所述光感电路包括光电二极管；所述光检测模组还包括电压控制电路；
[0017]所述光电二极管的阳极与第一电压端电连接，所述光电二极管的阴极与所述光电
流输出端电连接；
[0018]所述电压控制电路与所述第一电压端电连接，用于在复位阶段，向所述第一电压端提供高电压信号，并用于在采样阶段，向所述第一电压端提供低电压信号；
[0019]所述输出控制电路用于在复位阶段，控制所述第一输出端与所述第二输出端之间断开，并用于在采样阶段，控制所述第一输出端与所述第二输出端之间连通；
[0020]所述复位控制电路用于在复位阶段，控制所述存储电容的第一端与所述存储电容的第二端之间连通，并用于在采样阶段，控制存储电容的第一端与所述存储电容的第二端之间断开。
[0021]可选的，所述输出控制电路包括输出控制晶体管，所述复位控制电路包括复位控制晶体管；
[0022]所述输出控制晶体管的控制极与输出控制端电连接，所述输出控制晶体管的第一极与所述第一输出端电连接，所述输出控制晶体管的第二极与所述第二输出端电连接；
[0023]所述复位控制晶体管的控制极与复位控制端电连接，所述复位控制晶体管的第一极与所述存储电容的第一端电连接，所述复位控制晶体管的第二极与所述存储电容的第二端电连接。
[0024]可选的，本专利技术至少一实施例所述的光检测模组还包括控制电路和电容积分转换电路；
[0025]所述控制电路用于控制所述电容积分转换电路的转换参数；
[0026]所述电容积分转换电路用于根据所述转换参数和积分时间，对所述第一输出电流进行积分转换，得到模拟输出电压。
[0027]可选的，所述电容积分转换电路包括转换子电路和采样子电路；所述采样子电路包括M个积分电容，M为正整数；
[0028]所述控制电路用于在电容控制信号的控制下，控制各积分电容的第一端分时与所述转换子电路的输入端之间连通；各所述积分电容的第二端与所述转换子电路的输出端电连接；
[0029]所述转换子电路用于对所述第一输出电流进行转换，得到并通过所述转换子电路的输出端输出所述模拟输出电压。
[0030]可选的，所述控制电路还用于在通断控制信号的控制下，控制所述转换子电路的输入端与所述转换子电路的输出端之间连通。
[0031]可选的，所述控制电路包括通断控制晶体管和M个电容控制晶体管；
[0032]第m电容控制晶体管的控制极与第m电容控制端电连接，第m电容控制晶体管的第一极与所述转换子电路的输入端电连接，第m电容控制晶体管的第二极与第m积分电容的第一端电连接，第m积分电容的第二端与所述转换子电路的输出端电连接；所述第m电容控制端用于提供第m电容控制信号；
[0033]所述通断控制晶体管的控制极与通断控制端电连接，所述通断控制晶体管的第一极与所述转换子电路的输入端电连接，所述通断控制晶体管的第二极与所述转换子电路的输出端电连接；
[0034]m为小于或等于M的正整数。
[0035]可选的，所述转换子电路包括运算放大器；所述运算放大器的正相输入端为所述
转换子电路的输入端，所述运算放大器的输出端为所述转换子电路的输出端；
[0036]所述运算放大器的反相输入端与地端电连接。
[0037]可选的，本专利技术至少一实施例所述的光检测模组还包括处理电路；所述处理电路包括模数转换器和处理单元；
[0038]所述模数转换器与所述电容积分转换电路电连接，用于将所述模拟输出电压转换为数字输出电压；
[0039]所述处理单元与所述模数转换器电连接，用于接收所述数字输出电压，并根据所述数字输出电压得到所述光信号的光照强度。
[0040]本专利技术实施例还提供了一种光检测方法，应用于上述的光检测模组，所述光检测方法包括：
[0041]光感电路感应光信号，产生并通过光电流输出端输出相应的光电流；
[0042]放大电路对所述光电流进行放大转换，得到第一输出电流，通过第一输出端输出所述第一输出电流。
[0043]可选的，所述光检测模组还包括处理电路；所述光检测方法还包括：
[0044]所述处理电路根据所述所述第一输出电流得到所述光信号的光照强度。
[0045]可选的，所述光检测模组还包括输出控制电路和复位控制电路；所述放大电路包括放大晶体管和存储电容；采样周期包括间隔设置的复位阶段和采样阶段；所述光检测方法包括：
[0046]在复位阶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检测模组，包含于显示装置，所述显示装置包括显示面板；其特征在于，所述光检测模组包括光感电路和放大电路；所述光感电路用于感应光信号，产生并通过光电流输出端输出相应的光电流；所述放大电路与所述光电流输出端电连接，用于对所述光电流进行放大转换，得到第一输出电流，并通过第一输出端输出所述第一输出电流；所述光感电路和所述放大电路都集成于所述显示面板中。2.如权利要求1所述的光检测模组，其特征在于，所述放大电路包括放大晶体管和存储电容；所述存储电容的第一端与所述光电流输出端电连接，所述存储电容的第二端与电源电压端电连接；所述放大晶体管的控制极与所述光电流输出端电连接，所述放大晶体管的第一极与所述电源电压端电连接，所述放大晶体管的第二极与所述第一输出端电连接。3.如权利要求1所述的光检测模组，其特征在于，还包括处理电路；所述处理电路与所述放大电路电连接，用于根据所述第一输出电流得到所述光信号的光照强度。4.如权利要求2所述的光检测模组，其特征在于，还包括输出控制电路和复位控制电路；所述输出控制电路分别与输出控制端、所述第一输出端和第二输出端电连接，用于在所述输出控制端提供的输出控制信号的控制下，控制所述第一输出端与所述第二输出端之间连通，以通过所述第二输出端输出所述第一输出电流；所述复位控制电路分别与复位控制端、所述存储电容的第一端和所述存储电容的第二端电连接，用于在所述复位控制端提供的复位控制信号的控制下，控制所述存储电容的第一端与所述存储电容的第二端之间连通。5.如权利要求4所述的光检测模组，其特征在于，所述光感电路包括光电二极管；所述光检测模组还包括电压控制电路；所述光电二极管的阳极与第一电压端电连接，所述光电二极管的阴极与所述光电流输出端电连接；所述电压控制电路与所述第一电压端电连接，用于在复位阶段，向所述第一电压端提供高电压信号，并用于在采样阶段，向所述第一电压端提供低电压信号；所述输出控制电路用于在复位阶段，控制所述第一输出端与所述第二输出端之间断开，并用于在采样阶段，控制所述第一输出端与所述第二输出端之间连通；所述复位控制电路用于在复位阶段，控制所述存储电容的第一端与所述存储电容的第二端之间连通，并用于在采样阶段，控制存储电容的第一端与所述存储电容的第二端之间断开。6.如权利要求4所述的光检测模组，其特征在于，所述输出控制电路包括输出控制晶体管，所述复位控制电路包括复位控制晶体管；所述输出控制晶体管的控制极与输出控制端电连接，所述输出控制晶体管的第一极与所述第一输出端电连接，所述输出控制晶体管的第二极与所述第二输出端电连接；所述复位控制晶体管的控制极与复位控制端电连接，所述复位控制晶体管的第一极与
所述存储电容的第一端电连接，所述复位控制晶体管的第二极与所述存储电容的第二端电连接。7.如权利要求1、3、4、5或6所述的光检测模组，其特征在于，还包括控制电路和电容积分转换电路；所述控制电路用于控制所述电容积分转换电路的转换参数；所述电容积分转换电路用于根据所述转换参数和积分时间，对所述第一输出电流进行积分转换，得到模拟输出电压。8.如权利要求7所述的光检测模组，其特征在于，所述电容积分转换电路包括转换子电路和采样子电路；所述采样子电路包括M个积分电容，M为正整数；所述控制电路用于在电容控制信号的控制下，控制各积分电容的第一端分时与所述转换子电路的输入端之间连通；各所述积分电容的第二端与所述转换子电路的输出端电连接；所述转换子电路用于对所述第一输出电流进行转换，得到并通过所述转换子电路的输出端输出所述模拟输出电压。9.如权利要求8所述的光检测模组，其特征在于，所述控制电路还用于在通断控制信号的控制下，控制所述转换子电路的输入端与所述转换子电路的输出端之间连通。10.如权利要求9所述的光检测模组，其特征在于，所述控制电路包括通断控制晶体管和M个电容控制晶体管；第m电容控制晶体管的控制极与第m电容控制端电连接，第m电容控制晶体管的第一极与所述转换子电路的输入端电连接，第m电容控制晶体管的第二极与第m积分电容的第一端电连接，第m积分电容的第二端与所述转换子电路的输出端电连接；所述第m电容控制端用于提供第m电容控制信号；所述通断控制晶体管的控制极与通断控制端电连接，所述通断控制晶体管的第一极与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡耀，
申请(专利权)人：成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：