一种测试系统和测试方法技术方案

本公开提供一种测试系统和测试方法，用于对被测件进行无线测试以获得电磁辐射性能。测试系统包括承载台，多个测试天线和运动机构，其中，承载台用于承载被测件；运动机构包括至少两个运动单元，每个运动单元安装有测试天线，测试天线被布置为相对于承载台具有预设角度间隔；运动机构还包括驱动单元，驱动单元用于驱动运动单元以使测试天线到达多个采样点，采样点位于承载台的不同角度位置，采样点相对于承载台的角度间隔小于预设角度间隔。于承载台的角度间隔小于预设角度间隔。于承载台的角度间隔小于预设角度间隔。

【技术实现步骤摘要】
一种测试系统和测试方法


[0001]本专利技术涉及通信测试领域，尤其涉及一种对被测件进行无线测试以获得电磁辐射性能的测试系统和测试方法。

技术介绍

[0002]相关技术中，天线以及无线设备的测试系统根据测试天线的数量不同，可以分为单探头测试系统和多探头测试系统。单探头测试系统只有一个测试天线，为了实现在被测件的不同方位角和俯仰角采样，一种实现方式是测试天线固定不动，控制被测件进行二维转动，另一种实现方式是控制测试天线在被测件的俯仰方向运动，配合被测件在水平方向进行一维转动。多探头测试系统通常在被测件周围固定设置多个测试天线，测试时仅需被测件进行一维转动以实现各个角度的电磁性能采样。
[0003]单探头测试系统结构简单，但是需要多次移动/转动测试天线或被测件来实现不同空间位置的采样，导致测试用时长。多探头测试系统可以通过电子开关快速切换不同的测试天线，测试效率高。然而临近的测试天线之间存在耦合干扰，尤其当采样密度较大时，测试天线距离较小，耦合干扰更强，对测试精度造成不利的影响。

技术实现思路

[0004]本公开描述了一种测试系统和测试方法，用于对被测件进行无线测试以获得电磁辐射性能，被测件是天线或具有天线的无线设备。
[0005]根据本公开的实施例的第一方面，提供一种测试系统，该系统包括承载台，多个测试天线和运动机构，其中：承载台用于承载被测件；运动机构包括至少两个运动单元，每个运动单元安装有测试天线，测试天线被布置为相对于承载台具有预设角度间隔；运动机构还包括驱动单元，驱动单元用于驱动运动单元以使测试天线到达多个采样点，采样点位于承载台的不同角度位置，采样点相对于承载台的角度间隔小于前述预设角度间隔。
[0006]根据测试系统的一个实施例，运动单元的数量与测试天线的数量相等，每个运动单元安装有一个测试天线。
[0007]根据测试系统的一个实施例，还包括测试仪表，用于当测试天线到达采样点时执行采样。
[0008]根据测试系统的一个实施例，相邻的测试天线之间的距离大于测试频率对应的波长的二分之一。
[0009]根据测试系统的一个实施例，运动机构包括导轨，运动单元为可以沿着导轨运动的滑块。
[0010]根据测试系统的一个实施例，承载台为一维转动平台。
[0011]根据测试系统的一个实施例，其中一个运动单元上安装有射频开关，该射频开关与所有的测试天线相连。
[0012]根据测试系统的一个实施例，每个运动单元上安装有射频开关，每个射频开关与
相应的运动单元内的测试天线相连。
[0013]根据本公开的实施例的第二方面，提供一种测试方法，该方法包括如下步骤：将被测件布置在承载台上；将多个测试天线分为至少两组并将每组安装于一个运动单元上，测试天线被布置为相对于承载台具有预设角度间隔；驱动运动单元以使测试天线到达多个采样点并执行采样，采样点位于承载台的不同角度位置，采样点相对于承载台的角度间隔小于测试天线的预设角度间隔。
[0014]根据测试方法的一个实施例，相邻的测试天线之间的距离大于测试频率对应的波长的二分之一。
附图说明
[0015]图1
‑
3是相关技术中的一种单探头测试系统的示意图。
[0016]图4是相关技术中的一种多探头测试系统的示意图。
[0017]图5是本公开根据一个实施例示出的测试系统的示意图。
[0018]图6是本公开根据一个实施例示出的测试系统的示意图。
[0019]图7是本公开根据一个实施例示出的测试方法的流程图。
具体实施方式
[0020]以下参照附图描述本公开的实施例。应当理解，附图不是必须为等比例的。描述的实施例是示例性的，而非旨在限制本公开，可以以相同方式或类似方式与实施例的特征组合或替代这些特征。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
[0021]相关技术中，天线以及无线设备的测试系统根据测试天线的数量不同，可以分为单探头测试系统和多探头测试系统。单探头测试系统只有一个测试天线，为了实现在被测件的不同方位角和俯仰角采样，一种实现方式是测试天线保持不动，控制被测件进行二维转动，另一种实现方式是控制测试天线在被测件的俯仰方向运动，配合被测件在水平方向进行一维转动。多探头测试系统通常在被测件周围固定设置多个测试天线，测试时仅需被测件进行一维转动以实现各个角度的电磁性能采样。单探头测试系统与多探头测试系统各有其优劣。
[0022]对于大型被测件而言，例如大型天线，乃至车辆、飞机等被测件，难以实现自身的二维转动，在无线测试的相关技术中，通常使被测件保持不动或在水平方向进行一维转动。作为一种示例，相关技术中的一种单探头测试系统如图1
‑
3所示，在单探头测试系统中，使用一个测试天线200对被测件500进行测试，测试天线200在被测件500的俯仰方向作圆弧形运动，虚线L所示为测试天线200的运动轨迹。如果以被测件500的中心为原点建立球坐标系，那么，测试天线200在被测件500的仰角方向的运动范围为180
°
，测试天线200的运动配合被测件500自身在水平方向进行180
°
的一维转动，可以实现被测件500的上半球面的采样测试。图2
‑
3分别示意了测试天线200位于其运动轨迹L的两个端点的情形，可以看出，测试天线200的运动范围非常大，这导致连接测试天线200与测试仪表600的射频线缆201在较大的范围反复移动和弯折。射频线缆在弯折时，其相位和幅度的稳定性可能变差，进而影响测
试精度，此外，在使用一段时间后，射频线缆可能由于机械疲劳而出现性能故障。另一方面，作为另一种示例，相关技术中的多探头测试系统如图4所示，在多探头测试系统中，使用多个测试天线200对被测件500进行测试，本示例中，多个测试天线200固定设置在以被测件500为中心的圆弧形天线架上，测试天线200分布于被测件500的仰角方向0
°
～90
°
范围内，测试天线200的分布密度即被测件500的仰角方向的采样密度，配合被测件500自身在水平方向进行360
°
的一维转动，可以实现被测件500的上半球面的采样测试。在这种测试系统中，测试天线固定不动，避免了射频线缆的反复弯折，但是临近的测试天线之间存在耦合干扰，尤其当采样密度较大时，测试天线距离较小，耦合干扰较强，对测试的精度造成不利的影响。
[0023]基于以上发现，为了在一定程度上克服前述技术问题，本公开提供了一种测试系统和测试方法。
[0024]本公开第一方面实施例提供了一种测试系统，参照图5
‑
6，测试系统包括承载台100，九个测试天线200，运动机构。下面对各部分分别阐述。
[0025]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，用于对被测件进行无线测试以获得电磁辐射性能，其特征在于，所述测试系统包括承载台，多个测试天线和运动机构，其中：所述承载台用于承载所述被测件；所述运动机构包括至少两个运动单元，每个所述运动单元安装有所述测试天线，所述测试天线被布置为相对于所述承载台具有预设角度间隔；所述运动机构还包括驱动单元，所述驱动单元用于驱动所述运动单元以使所述测试天线到达多个采样点，所述采样点位于所述承载台的不同角度位置，所述采样点相对于所述承载台的角度间隔小于所述预设角度间隔。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述运动单元的数量与所述测试天线的数量相等，每个所述运动单元安装有一个所述测试天线。3.根据权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，还包括测试仪表，用于当所述测试天线到达所述采样点时执行采样。4.根据权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，相邻的所述测试天线之间的距离大于测试频率对应的波长的二分之一。5.根据权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，所述运动机...

【专利技术属性】
技术研发人员：于伟，漆一宏，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：