一种红外测温方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种红外测温方法及系统，涉及红外测温技术领域。本发明专利技术在待测目标的红外测温图像存在水雾时获取环境漫反射光，根据红外测温图像及环境漫反射光计算大气中传输红外测温图像的光的透射率，根据红外测温图像、环境漫反射光及透射率得到去水雾图像，根据去水雾图像得到待测目标的温度，去除了红外测温图像的水雾，提高了水雾环境下得到的待测目标温度的准确性。温度的准确性。温度的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种红外测温方法及系统


[0001]本专利技术涉及红外测温
，尤其涉及一种红外测温方法及系统。

技术介绍

[0002]轴承、齿轮等作为机械传动链的重要组成部分，其运行环境非常恶劣，经常受到冲击和交变的载荷，导致其成为故障率最高的部件，而以轴承为代表的零部件的工作状态直接影响到整条生产线的连续正常运行。温度是衡量轴承服役性能的重要指标，局部瞬时温升及热失效是轴承主要失效诱因，轴承失效会给产线的连续正常生产造成严重后果，对轴承温度进行实时在线监测能减小或者避免轴承失效的情况出现。
[0003]目前，红外测温技术在冶金行业得到广泛应用，尤其是在冶金流程工业中炼钢、炼铁和热轧等方面，利用红外测温技术可以实时在线监测轴承温度。由于轴承的运行环境非常恶劣，现场会有大量水雾产生，得到的红外测温图像会存在水雾，根据红外测温图像得到的轴承温度不准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术通过提供一种红外测温方法及系统，解决了传统红外测温方法在水雾环境下得到的待测目标温度不准确的技术问题。
[0005]一方面，本专利技术提供如下技术方案：
[0006]一种红外测温方法，包括：
[0007]获取待测目标的红外测温图像；
[0008]若所述红外测温图像存在水雾，则获取环境漫反射光；
[0009]根据所述红外测温图像及所述环境漫反射光计算大气中传输所述红外测温图像的光的透射率；
[0010]根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光及所述透射率得到去水雾图像；
[0011]根据所述去水雾图像得到所述待测目标的温度。
[0012]优选的，所述根据所述红外测温图像及所述环境漫反射光计算大气中传输所述红外测温图像的光的透射率，包括：
[0013]获取水雾调节因子和反射调节因子；
[0014]根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光、所述水雾调节因子及所述反射调节因子计算所述透射率。
[0015]优选的，所述根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光、所述水雾调节因子及所述反射调节因子计算所述透射率，包括：
[0016]r、g、b为三个颜色通道；
[0017]x、y为所述红外测温图像的坐标值，为透射率矩阵，w为所述水雾调节因子，w∈(0,1]，λ为所述水雾调节因子，I
c
(x,y)为所述红外测温图像的单个颜色通道的值，A
c
为所述环境漫反射光在单个颜色通道的值。
[0018]优选的，所述根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光及所述透射率得到去水雾图像，包括：
[0019]c∈(r，g，b)，r、g、b为三个颜色通道；
[0020]x、y为所述红外测温图像的坐标值，J
c
(x,y)为所述去水雾图像的单个颜色通道的值，I
c
(x,y)为所述红外测温图像的单个颜色通道的值，A
c
为所述环境漫反射光在单个颜色通道的值，为透射率矩阵，J(x,y)为所述去水雾图像。
[0021]优选的，所述根据所述去水雾图像得到所述待测目标的温度，包括：
[0022]获取所述去水雾图像的每个颜色通道的灰度图像矩阵；
[0023]获取非凸惩罚函数；
[0024]根据所述灰度图像矩阵及所述非凸惩罚函数计算低秩近似矩阵；
[0025]根据所述低秩近似矩阵得到所述待测目标的温度。
[0026]优选的，所述获取非凸惩罚函数，包括：
[0027]基于Moreau包络得到特定凸函数；
[0028]从标准惩罚函数中减去所述特定凸函数得到所述非凸惩罚函数。
[0029]优选的，所述根据所述去水雾图像得到所述待测目标的温度，之后还包括：
[0030]获取所述待测目标的发射率、大气温度及外部光学温度，根据所述发射率、所述透射率、所述大气温度及所述外部光学温度对所述待测目标的温度进行补偿。
[0031]另一方面，本专利技术还提供如下技术方案：
[0032]一种红外测温系统，包括：
[0033]红外测温图像获取模块，用于获取待测目标的红外测温图像；
[0034]环境漫反射光获取模块，用于若所述红外测温图像存在水雾，则获取环境漫反射光；
[0035]透射率计算模块，用于根据所述红外测温图像及所述环境漫反射光计算大气中传输所述红外测温图像的光的透射率；
[0036]去水雾图像获取模块，用于根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光及所述透射率得到去水雾图像；
[0037]待测目标温度获取模块，用于根据所述去水雾图像得到所述待测目标的温度。
[0038]另一方面，本专利技术还提供如下技术方案：
[0039]一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述任一红外测温方法。
[0040]另一方面，本专利技术还提供如下技术方案：
[0041]一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质被执行时实现上述任一红外测温方法。
[0042]本专利技术提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0043]在待测目标的红外测温图像存在水雾时获取环境漫反射光，根据红外测温图像及环境漫反射光计算大气中传输红外测温图像的光的透射率，根据红外测温图像、环境漫反
射光及透射率得到去水雾图像，根据去水雾图像得到待测目标的温度，去除了红外测温图像的水雾，提高了水雾环境下得到的待测目标温度的准确性。
附图说明
[0044]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0045]图1为本专利技术实施例中红外测温方法的流程图；
[0046]图2为本专利技术实施例中轴承座区域温度监测示意图；
[0047]图3为本专利技术实施例中另一轴承座区域温度监测示意图；
[0048]图4为本专利技术实施例中轧机工作时轴承座区域温度变化曲线图；
[0049]图5为本专利技术实施例中轧机停机检修时轴承座区域温度变化曲线图；
[0050]图6为本专利技术实施例中轧辊正常工作时的温度变化曲线图；
[0051]图7为本专利技术实施例中红外测温系统的结构示意图。
具体实施方式
[0052]本专利技术实施例通过提供一种红外测温方法及系统，解决了传统红外测温方法在水雾环境下得到的待测目标温度不准确的技术问题。
[0053]为了更好的理解本专利技术的技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对本专利技术的技术方案进行详细的说明。
[0054]首先说明，本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外测温方法，其特征在于，包括：获取待测目标的红外测温图像；若所述红外测温图像存在水雾，则获取环境漫反射光；根据所述红外测温图像及所述环境漫反射光计算大气中传输所述红外测温图像的光的透射率；根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光及所述透射率得到去水雾图像；根据所述去水雾图像得到所述待测目标的温度。2.如权利要求1所述的红外测温方法，其特征在于，所述根据所述红外测温图像及所述环境漫反射光计算大气中传输所述红外测温图像的光的透射率，包括：获取水雾调节因子和反射调节因子；根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光、所述水雾调节因子及所述反射调节因子计算所述透射率。3.如权利要求2所述的红外测温方法，其特征在于，所述根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光、所述水雾调节因子及所述反射调节因子计算所述透射率，包括：r、g、b为三个颜色通道；x、y为所述红外测温图像的坐标值，为透射率矩阵，w为所述水雾调节因子，w∈(0,1]，λ为所述水雾调节因子，I
c
(x,y)为所述红外测温图像的单个颜色通道的值，A
c
为所述环境漫反射光在单个颜色通道的值。4.如权利要求1～3任一所述的红外测温方法，其特征在于，所述根据所述红外测温图像、所述环境漫反射光及所述透射率得到去水雾图像，包括：J(x,y)＝J
r
(x,y)+J
g
(x,y)+J
b
(x,y)；c∈(r，g，b)，r、g、b为三个颜色通道；x、y为所述红外测温图像的坐标值，J
c
(x,y)为所述去水雾图像的单个颜色通道的值，I
c
(x,y)为所述红外测温图像的单个颜色通道的值，A
c
为所述环境漫...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹七华，易灿灿，宫贵良，刘双辉，李慧敏，黄涛，李名钢，张磊，程灿军，黎友华，何可，丁磊，黄亚军，张文奇，
申请(专利权)人：武汉科技大学，
类型：发明
国别省市：