一种灯具IK测试治具制造技术

技术编号:32713892 阅读:7 留言:0更新日期:2022-03-20 08:12
本实用新型专利技术提供了一种灯具IK测试治具,属于IK测试治具领域,包括灯具、测试固定架、高度调节装置、定位装置以及冲击装置,测试固定架可用于固定灯具,高度调节装置可以调节冲击装置距离灯具的高度,定位装置可以选择需要测试的位置,本实用新型专利技术通过调节高度调节装置及定位装置可调节冲击的位置,通过设备对测试条件进行精确的控制,减少人为因素造成的误差,提高测试的精准度与测试结果一致性。高测试的精准度与测试结果一致性。高测试的精准度与测试结果一致性。

【技术实现步骤摘要】
一种灯具IK测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
,特别涉及一种灯具IK测试治具。

技术介绍

[0002]灯具的IK冲击试验是灯具标准明文规定必须进行的测试,是为了确保灯具在使用过程中能够承受外来物突然冲击而不会产生变形或失效造成安全隐患;现有的灯具标准虽有规定灯具的测试方法,以及测试的判定标准,但对测试治具没有明确的规定,造成每个灯具生产企业都是通过自己对标准的理解,自行设计测试治具,因此造成测试结果存在较大的误差;测试过程中对测试条件缺乏有效的控制,造成测试高度、测试位置偏差,人为操作的测试造成测试一致性缺失。因此,本技术对测试高度、测试位置进行精确的控制,提高测试的精确度与测试结果的准确性。

技术实现思路

[0003]鉴于此,使用该测试治具,可按照灯具实际安装方式进行IK冲击测试;该测试架兼顾了壁装、筒装两种灯具安装方式,能够满足大部分灯具的测试需求。通过设备对测试条件进行精确的控制,减少人为因素造成的误差,提高测试的精准度与测试结果一致性。
[0004]本技术的技术方案是这样实现的:
[0005]一种灯具IK测试治具,其特征在于,包括灯具、测试固定架、高度调节装置、定位装置以及冲击装置,所述测试固定架与所述灯具连接,所述高度调节装置垂直设置在所述测试固定架上,所述定位装置包括滑动旋转杆、固定框以及旋转装置,所述滑动旋转杆设置在所述灯具上方,其一端与所述高度调节装置连接,所述滑动旋转杆在所述高度调节装置上下滑动,所述固定框通过所述旋转装置与所述滑动旋转杆滑动连接,所述固定框内部设置有距离测试仪,所述冲击装置设置在固定框内部,所述冲击装置与所述距离测试仪以所述旋转装置为中心呈对称分布。
[0006]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述冲击装置包括电磁铁以及冲击锤头,所述电磁铁一端与所述固定框连接,另一端与所述冲击锤头相连接。
[0007]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述旋转装置包括滑动旋转块、第一手拧螺钉、第二手拧螺钉,所述滑动旋转块中间设有通槽,所述滑动旋转杆穿过所述通槽,所述第一手拧螺钉与滑动旋转块上端面螺纹连接,所述第一手拧螺钉下端可伸入通槽,所述固定框通过第二手拧螺钉与所述滑动旋转块下端面连接,所述固定框的下表面设置有第一通孔,所述第一通孔设置在所述冲击装置的下方。
[0008]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述固定框上表面设置有第二通孔,所述通孔设置在所述距离测试仪的上方。
[0009]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述高度调节装置包括调节杆以及固定管柱,所述固定管柱下端与所述测试固定架连接,所述调节杆设置在固定管柱内部,其与所述滑动旋转杆螺纹连接。
[0010]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述调节杆外表面设置有外螺纹,所述滑动旋转杆与所述调节杆螺纹连接。
[0011]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述测试固定架包括立板以及底板,所述立板设置在底板上表面,所述高度调节装置设置在所述底板上,所述灯具与所述立板连接。
[0012]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述测试固定架包括加强肋,所述加强肋连接所述立板和所述底板。
[0013]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述立板上设置有多个条形槽,所述灯具通过所述条形槽与所述立板连接。
[0014]根据本技术的另一些实施例的灯具IK测试治具,所述条形槽呈矩阵分布。
[0015]与现有技术相比,本技术的有益效果是:
[0016]本技术提供了一种灯具IK测试治具,使用该测试治具,避免通过人为经验对测试位置进行定位,可通过距离测试仪精准的对测试位置进行定位;通过高度调节装置与定位装置,配合距离测试仪,可精准的满足测试高度要求以及位置的要求,并通过旋转固定框,将距离测试仪和冲击装置的位置调换,准确对冲击装置进行定位,通过使用该测试治具,真实准确模拟灯具在实际使用过程中受到外来物冲击时的现象,降低人为因素对测试结果造成的影响,提升试验的可靠性,为试验测试提供准确的测试数据。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的优选实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术的一种灯具IK测试治具的正面结构示意图;
[0019]图2为本技术的一种灯具IK测试治具的爆炸图;
[0020]图中,1为测试固定架,2为高度调节装置,3为距离测试仪,4为旋转装置,5为滑动旋转杆,6为定位装置,7为冲击装置,8为固定框,9为灯具, 10为立板,11为底板,12为加强肋,13为第一手拧螺钉,14为第二手拧螺钉, 15为滑动旋转块,16为第一通孔,17为调节杆,18为第二通孔,19为固定管柱,20为条形槽,21为电磁铁,22为冲击锤头。
具体实施方式
[0021]为了更好理解本技术
技术实现思路
,下面提供一具体实施例,并结合附图对本技术做进一步的说明。
[0022]参见图1至图2,本技术提供的一种灯具IK测试治具,其特征在于,包括灯具9、测试固定架1、高度调节装置2、定位装置6以及冲击装置7,所述测试固定架1与所述灯具9连接,所述高度调节装置2垂直设置在所述测试固定架1上,所述定位装置6包括滑动旋转杆5、固定框8以及旋转装置4,所述滑动旋转杆5设置在所述灯具9上方,其一端与所述高度调节装置2连接,所述滑动旋转杆5在所述高度调节装置2上下滑动,所述固定框8通过所述旋转装置4与所述滑动旋转杆5滑动连接,所述固定框8内部设置有距离测试仪 3,所述冲击装置
7设置在固定框8内部,所述冲击装置7与所述距离测试仪3 以所述旋转装置4为中心呈对称分布。
[0023]本实施例的一种灯具IK测试治具,可通过距离测试仪3精准的对测试位置进行定位;通过调节高度装置,可以对冲击装置7的高度进行精确的调节,通过调节定位装置6,可以对被测灯具9的位置进行精确的定位,保障结果的准确性。
[0024]在试验时,将灯具9正确的固定在测试固定架1上,并在灯具9上标上需要冲击的位置,将固定框8滑动至被测位置,使距离测试仪3的激光测试点与灯具9需要冲击的位置重合,接着调整高度调节装置2,调整滑动旋转杆5,使距离测试仪3与灯具9冲击位置重合,再将固定框8进行180度旋转,冲击装置7调整到灯具9的正上方,此时启动冲击装置7,冲击装置7做自由落地运动,冲击到指定位置,完成测试,该装置可以对灯具9进行IK测试,通过高度调节装置2的高度调节和定位装置6的准确定位,能够降低人为因素带来的误差。
[0025]在一些实施例中,所述冲击装置7包括电磁铁21以及冲击锤头22,所述电磁铁2本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种灯具IK测试治具,其特征在于,包括灯具、测试固定架、高度调节装置、定位装置以及冲击装置,所述测试固定架与所述灯具连接,所述高度调节装置垂直设置在所述测试固定架上,所述定位装置包括滑动旋转杆、固定框以及旋转装置,所述滑动旋转杆设置在所述灯具上方,其一端与所述高度调节装置连接,所述滑动旋转杆在所述高度调节装置上下滑动,所述固定框通过所述旋转装置与所述滑动旋转杆滑动连接,所述固定框内部设置有距离测试仪,所述冲击装置设置在固定框内部,所述冲击装置与所述距离测试仪以所述旋转装置为中心呈对称分布。2.根据权利要求1所述的一种灯具IK测试治具,其特征在于,所述冲击装置包括电磁铁以及冲击锤头,所述电磁铁一端与所述固定框连接,另一端与所述冲击锤头相连接。3.根据权利要求2所述的一种灯具IK测试治具,其特征在于,所述旋转装置包括滑动旋转块、第一手拧螺钉、第二手拧螺钉,所述滑动旋转块中间设有通槽,所述滑动旋转杆穿过所述通槽,所述第一手拧螺钉与滑动旋转块上端面螺纹连接,所述第一手拧螺钉下端可伸入通槽,所述固定框通过第二手拧螺钉与所述滑动旋转块下端面连接,所述固定框的下表面设置有第一通孔,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:李隆郑镇城徐连城夏璐
申请(专利权)人:宏泰智能科技东莞有限公司
类型:新型
国别省市:

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