磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，涉及磷酸二氢钾晶体性能检测技术领域，包括分光光度计本体和晶体胚片，所述分光光度计本体的右端槽内安装有用于控制分光光度计本体的旋钮和控制面板，所述分光光度计本体的左侧壁开设有用于检查的检测孔，所述检测孔的内壁连接有移动结构，所述移动结构连接有传动结构，所述传动结构连接有挡板，所述挡板连接有转轴，所述转轴与检测孔侧壁开设的横孔贴合转动连接，所述移动结构的顶部从前到后依次固定连接有弧形支撑板和凸块，所述弧形支撑板开设有滑槽；通过上述方式，本实用新型专利技术方便在更换晶片时进行校零，保证了下组晶体胚片检测时处于标准检测状态。检测时处于标准检测状态。检测时处于标准检测状态。

【技术实现步骤摘要】
磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置


[0001]本技术涉及磷酸二氢钾晶体性能检测
，具体为磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置。

技术介绍

[0002]磷酸二氢钾(KDP)晶体是一种最早受到人们重视的功能晶体，人工生长 KDP晶体已有半个多世纪的历史，是经久不衰的水溶性晶体之一。KDP晶体的透光波段为178nm～1.45um，是负光性单轴晶，其非线性光学系数d36 (1.064um)＝0.39pm/V，常常作为标准来比较其他晶体非线性效应的大小，可以实现Ⅰ类和Ⅱ类位相匹配，并且可以通过温度调谐来实现非临界位相匹配；
[0003]磷酸二氢钾(KDP)晶体加工成晶体坯片，晶体坯片需要分光光度计进行性能检测，分光光度计检测：光学性能、损伤阈值、面形的检测，但是现有的分光光度计的盖板在更换晶体胚片需要人工操作，增加了工作人员强度，不利于连续检测，同时，校零需要单独操作，不方便在更换晶片时进行校零。
[0004]因此，提出磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，包括分光光度计本体和晶体胚片，所述分光光度计本体的右端槽内安装有用于控制分光光度计本体的旋钮和控制面板，所述分光光度计本体的左侧壁开设有用于检查的检测孔，所述检测孔的内壁连接有移动结构，所述移动结构连接有传动结构，所述传动结构连接有挡板，所述挡板连接有转轴，所述转轴与检测孔侧壁开设的横孔贴合转动连接，所述移动结构的顶部从前到后依次固定连接有弧形支撑板和凸块，所述弧形支撑板开设有滑槽，所述晶体胚片插在滑槽内，所述弧形支撑板的顶部开设有插槽，所述插槽内插接有用校零的校零晶片。
[0007]更进一步的，所述移动结构包括导向滑轨、侧板、电动推杆、横板和限位滑槽，所述检测孔的前内壁固定连接有电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有侧板，所述侧板固定连接有横板，所述横板的底部开设有限位滑槽，所述横板通过限位滑槽贴合滑动连接有导向滑轨。
[0008]更进一步的，所述导向滑轨固定安装在检测孔的内底部。
[0009]更进一步的，所述凸块和弧形支撑板固定安装在横板。
[0010]更进一步的，所述横板带动晶体胚片移动至下料工位时横板带动校零晶片移动至检测工位处。
[0011]更进一步的，所述传动结构包括第一定滑轮、钢绳和第二定滑轮，所述检测孔的侧
壁上对称固定连接有第一定滑轮和第二定滑轮，所述第一定滑轮和第二定滑轮的外壁活动连接有钢绳。
[0012]更进一步的，所述钢绳的顶部与挡板的底部固定连接，所述钢绳的底部与横板的侧壁固定连接。
[0013]更进一步的，所述弧形支撑板连接有用于卡位的卡位结构。
[0014]更进一步的，所述卡位结构包括滑槽、锁杆和弹簧，所述弹簧对称固定连接在弧形支撑板的侧壁处，所述弹簧的外端固定连接有锁杆，所述弧形支撑板开设有与锁杆配合使用的滑槽。
[0015]本技术的有益效果是：
[0016]本技术单组晶体胚片检测结束后移动结构的电动推杆带动侧板移动，侧板带动横板在导向滑轨上移动，导向滑轨通过弧形支撑板带动检测后的晶体胚片移动至下料位，同时，横板通过凸块带动校零晶片移动至检测工位，再弧形支撑板上更换晶体胚片时晶体胚片进行校零处理，方便在更换晶片时进行校零，保证了下组晶体胚片检测时处于标准检测状态，同时，横板移动时横板带动传动结构的钢绳沿着第一定滑轮和第二定滑轮外沿移动，钢绳带动挡板沿着转轴转动打开，在更换晶体胚片无需人工操作操作挡板，降低了工作人员强度，利于连续检测，将新的晶体胚片插在弧形支撑板的弧形插槽内，卡位结构的弹簧带动锁杆在滑槽内移动，锁杆的里端与晶体胚片接触实现对晶体胚片的卡位，避免晶体胚片移动时发生晃动。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术的结构示意图；
[0019]图2为本技术的结构左视图；
[0020]图3为本技术的结构剖视图；
[0021]图4为本技术的晶体胚片及其连接结构剖视图；
[0022]图5为本技术的图3的A处结构放大示意图；
[0023]图6为本技术的图4的B处结构放大示意图；
[0024]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0025]1.分光光度计本体2.旋钮3.控制面板4.检测孔5.晶体胚片6.校零晶片7.第一定滑轮8.挡板9.钢绳10.第二定滑轮11.导向滑轨12.侧板13.电动推杆14.弧形支撑板15.弧形插槽16.转轴17.插槽18.凸块19.横板20.滑槽21.限位滑槽22.锁杆23.弹簧。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的
实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]下面结合实施例对本技术作进一步的描述。
[0028]实施例
[0029]如图1、2、3、4、5所示，磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，包括分光光度计本体1和晶体胚片5，分光光度计本体1的右端槽内安装有用于控制分光光度计本体1的旋钮2和控制面板3，分光光度计本体1的左侧壁开设有用于检查的检测孔4，检测孔4的内壁连接有移动结构，移动结构包括导向滑轨11、侧板12、电动推杆13、横板19和限位滑槽21，检测孔4的前内壁固定连接有电动推杆13，电动推杆13的输出端固定连接有侧板12，侧板12固定连接有横板19，横板19的底部开设有限位滑槽21，横板19通过限位滑槽 21贴合滑动连接有导向滑轨11，导向滑轨11固定安装在检测孔4的内底部，凸块18和弧形支撑板固定安装在横板19，横板19带动晶体胚片5移动至下料工位时横板19带动校零晶片6移动至检测工位处，单组晶体胚片5检测结束后移动结构的电动推杆13带动侧板12移动，侧板12带动横板19在导向滑轨11上移动，导向滑轨11通过弧形支撑板带动检测后的晶体胚片5移动至下料位，同时，横板19通过凸块18带动校零晶片6移动至检测工位，再弧形支撑板上更换晶体胚片5时晶体胚片5进行校零处理，方便在更换晶片时进行校零，保证了下组晶体胚片5检测时处于标准检测状态；
[0030]如图1、2、3所示，移动结构连接有传动结构，传动结构包括第一定滑轮7、钢绳9和第二定滑轮10，检测孔4的侧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，包括分光光度计本体(1)和晶体胚片(5)，其特征在于：所述分光光度计本体(1)的右端槽内安装有用于控制分光光度计本体(1)的旋钮(2)和控制面板(3)，所述分光光度计本体(1)的左侧壁开设有用于检查的检测孔(4)，所述检测孔(4)的内壁连接有移动结构，所述移动结构连接有传动结构，所述传动结构连接有挡板(8)，所述挡板(8)连接有转轴(16)，所述转轴(16)与检测孔(4)侧壁开设的横孔贴合转动连接，所述移动结构的顶部从前到后依次固定连接有弧形支撑板(14)和凸块(18)，所述弧形支撑板(14)开设有滑槽(20)，所述晶体胚片(5)插在滑槽(20)内，所述弧形支撑板(14)的顶部开设有插槽(17)，所述插槽(17)内插接有用校零的校零晶片(6)。2.根据权利要求1所述的磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，其特征在于：所述移动结构包括导向滑轨(11)、侧板(12)、电动推杆(13)、横板(19)和限位滑槽(21)，所述检测孔(4)的前内壁固定连接有电动推杆(13)，所述电动推杆(13)的输出端固定连接有侧板(12)，所述侧板(12)固定连接有横板(19)，所述横板(19)的底部开设有限位滑槽(21)，所述横板(19)通过限位滑槽(21)贴合滑动连接有导向滑轨(11)。3.根据权利要求2所述的磷酸二氢钾晶体坯片性能检测装置，其特征在于：所述导向滑轨(11...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈小平，
申请(专利权)人：常熟市圆启晶体材料有限公司，
类型：新型
国别省市：