显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术揭示了一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。本发明专利技术提供的显示模组缺陷检测方法，通过先后执行特征匹配和边缘清晰度计算和标记，实现对显示模组表层和内层，以及多个内层之间的缺陷的分别检测和输出，如此降低漏检概率，便于后续检修。便于后续检修。便于后续检修。

【技术实现步骤摘要】
显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机视觉及目标检测
，尤其涉及一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]现有显示模组多采用三层贴合结构，主要包括CG(Cover Glass，玻璃盖板层)、TP(Touch Panel，触控层)以及LCM(Liquid Crystal Display Module，液晶显示层)，生产过程中，诸如灰尘、划痕、擦伤等的缺陷，往往会存在于三层贴合结构中的两两结合处，以及CG的表层处。现有技术中多采用表面光源打光，通过检测凹陷和突起不同的漫反射情况，从而区分不同缺陷并进行对应处理，但此种实施方式往往通过亮度作为评价参数，基于缺陷类型和CG、TP优秀的透过性，内在结构两两结合处的非突起异物难以反射形成区分亮度，如此会导致存在不良状况的显示模组发生漏检，同时也无法对缺陷在三层构造的显示模组中的具体位置进行区分，给后续维修处理造成了障碍。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的之一在于提供一种显示模组缺陷检测方法，以解决现有技术中显示模组的表层缺陷和多种内层缺陷混淆而导致漏检和后续处理困难的技术问题。
[0004]本专利技术的目的之一在于提供一种显示模组缺陷检测系统。
[0005]本专利技术的目的之一在于提供一种计算机可读存储介质。
[0006]为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种显示模组缺陷检测方法，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。
[0007]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：遍历所述内层缺陷图像的像素灰度值，按照预设灰度阈值对所述像素灰度值进行分类，生成至少两类像素灰度集合；计算所述像素灰度集合的灰度子均值，以及所述像素灰度值的灰度总体均值，并以所述灰度子均值为变量计算灰度方差；分析得到并遍历所述内层缺陷图像的灰度级，求取使所述灰度方差最大的标准灰度级；根据所述标准灰度级对所述内层缺陷图像执行二值化分割，生成中间内层图像。
[0008]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：遍历所述中间内层图像中所有像素，计算得到所述所有像素的融合近似值；根据所述融合近似值，分析提取所有边缘像素；根据所述所有边缘像素，对所述中间内层图像进行分割，生成至少一个内层缺陷区。
[0009]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：根据预设的离散差分
算子，对所述中间内层图像中第一像素，在至少两个方向上做平面卷积，得到至少两个差分近似值；根据所述至少两个差分近似值，计算融合近似值；若所述融合近似值大于预设的标准梯度值，则判定所述第一像素为边缘像素。
[0010]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：遍历所述所有边缘像素，根据所述边缘像素，以及与所述边缘像素相邻的相邻像素的灰度值，计算得到所述内层缺陷区的所有边缘灰度评价值；叠加所有所述边缘灰度评价值，计算得到所述内层缺陷区的边缘清晰度值。
[0011]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：获取第一边缘像素的第一边缘灰度值，以及与所述第一边缘像素相邻像素的第一相邻灰度值和第二相邻灰度值；其中，所述第一相邻灰度值和第二相邻灰度值所表征的相邻像素，分别位于所述第一边缘像素的不同方向上；计算所述第一相邻灰度值和所述第一边缘灰度值的差的平方，与所述第二相邻灰度值和所述第一边缘灰度值的差的平方之和，得到第一边缘灰度评价值。
[0012]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法还包括：获取至少一幅表层缺陷特征图和至少一幅内层缺陷特征图，形成缺陷图像训练集合，并对所述缺陷图像训练集合执行预处理；构建深度卷积神经网络，并对预处理后的缺陷图像训练集合执行训练，生成表层模板图像和内层模板图像至少其中之一作为所述预设模板图像。
[0013]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：接收所述检测图像，并调用所述预设模板图像；对所述检测图像执行行列遍历，计算所述检测图像中的所有前景特征与所述预设模板图像的相似度值；若所述相似度值符合预设条件，则标记所述相似度值及所述相似度值对应的前景特征在所述检测图像中的位置，并对应生成所述表层缺陷图像和所述内层缺陷图像至少其中之一；对所述检测图像执行特征过滤，对应生成所述表层缺陷图像和所述内层缺陷图像其中另一。
[0014]为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种显示模组缺陷检测系统，用于执行上述任一种技术方案所述的显示模组缺陷检测方法。
[0015]为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如上述任一种技术方案所述的显示模组缺陷检测方法的步骤。
[0016]与现有技术相比，本专利技术提供的显示模组缺陷检测方法，通过调用模板图像区分表层缺陷和内层缺陷，并进一步通过边缘清晰度值对内层缺陷进行评价，以区分两个内层中的缺陷情况，利用两次迭代过程将三层显示模组中每一层的缺陷分布情况进行提取并输出，从而达到了减小漏检概率，区分缺陷分布层级，以及方便后续检修处理的技术效果。
附图说明
[0017]图1是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测系统的结构示意图；
[0018]图2是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的步骤示意图；
[0019]图3是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的第一实施例的步骤示意图；
[0020]图4是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的第二实施例的步骤示意图；
[0021]图5是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的第二实施例的部分步骤示意图；
[0022]图6是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的第二实施例的另一部分步骤示意图；
[0023]图7是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的第三实施例的步骤示意图；
[0024]图8是本专利技术一实施方式中显示模组缺陷检测方法的第四实施例的步骤示意图。
具体实施方式
[0025]以下将结合附图所示的具体实施方式对本专利技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本专利技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本专利技术的保护范围内。
[0026]需要说明的是，术语“包括”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等仅用于描述目的，而不能理解为指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。2.根据权利要求1所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：遍历所述内层缺陷图像的像素灰度值，按照预设灰度阈值对所述像素灰度值进行分类，生成至少两类像素灰度集合；计算所述像素灰度集合的灰度子均值，以及所述像素灰度值的灰度总体均值，并以所述灰度子均值为变量计算灰度方差；分析得到并遍历所述内层缺陷图像的灰度级，求取使所述灰度方差最大的标准灰度级；根据所述标准灰度级对所述内层缺陷图像执行二值化分割，生成中间内层图像。3.根据权利要求2所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：遍历所述中间内层图像中所有像素，计算得到所述所有像素的融合近似值；根据所述融合近似值，分析提取所有边缘像素；根据所述所有边缘像素，对所述中间内层图像进行分割，生成至少一个内层缺陷区。4.根据权利要求3所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：根据预设的离散差分算子，对所述中间内层图像中第一像素，在至少两个方向上做平面卷积，得到至少两个差分近似值；根据所述至少两个差分近似值，计算融合近似值；若所述融合近似值大于预设的标准梯度值，则判定所述第一像素为边缘像素。5.根据权利要求3所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：遍历所述所有边缘像素，根据所述边缘像素，以及与所述边缘像素相邻的相邻像素的灰度值，计算得到所述内层缺陷区的所有边缘灰度评价值；叠加...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵同印，王涛，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：