一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，涉及内存条生产测试量产领域，所述方法包括：对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型；根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，预估所述消耗品的寿命阈值。通过根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，得出消耗品的寿命阈值，能在消耗品达到寿命阈值前对消耗品进行提前更换，避免了在消耗品损坏的情况下再去更换而使得内存条测试效率降低的问题的发生。低的问题的发生。低的问题的发生。

【技术实现步骤摘要】
一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及内存条生产测试量产领域，尤其涉及一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]内存条生产测试过程中，用于测试的主板和转接板等其它消耗品会有寿命的限制，当测试报警仪器进行报警时不能判断导致报警的原因是由于插内存条的主板和转接板等其它消耗品有问题还是内存条本身质量问题，由于无法知道主板和转接板等其它消耗品的寿命，只能在测试报警仪器进行报警时对主板和转接板等其它消耗品进行检测，从而查看是否是主板和转接板等其它消耗品损坏的原因，导致出现了在主板和转接板等其它消耗品损坏的情况下再去更换主板和转接板等其它消耗品，会使得内存条测试效率降低的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，以解决现有技术中在主板和转接板等其它消耗品损坏的情况下再去更换主板和转接板等其它消耗品，会使得内存条测试效率降低的问题。
[0004]为了解决上述问题，本专利技术采用以下技术方案：包括：
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种测试中消耗品的寿命预估方法，包括：
[0006]对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；
[0007]若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；
[0008]获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型；
[0009]根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，预估所述消耗品的寿命阈值。
[0010]其进一步的技术方案为，所述获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型之后，还包括：
[0011]若所述异常消耗品的使用时间值小于预设的时间阈值，则将所述异常消耗品的使用时间值在所述多个所述异常消耗品的使用时间值中删除。
[0012]其进一步的技术方案为，所述对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果之前，还包括：
[0013]获取内存条的测试结果；
[0014]若所述内存条的测试结果为异常结果，判定所述内存条为异常内存条；
[0015]获取所述异常内存条对应的消耗品。
[0016]其进一步的技术方案为，所述获取多个异常消耗品之间的相关性模型，包括：
[0017]获取多个异常消耗品的原始属性信息；
[0018]根据所述原始属性信息，建立所述多个异常消耗品之间的相关性权重关联关系；
[0019]根据所述相关性权重关联关系建立所述多个异常消耗品之间的相关性模型。
[0020]其进一步的技术方案为，所述多个异常消耗品之间的相关性权重关联关系包括所述多个异常消耗品之间的相关性数值，所述根据所述相关性权重关联关系建立所述多个异常消耗品之间的相关性模型，包括：
[0021]以所述多个异常消耗品作为神经元，并以所述多个异常消耗品之间的相关性数值作为神经元的连接权重，建立神经网络，将所述神经网络作为所述相关性模型。
[0022]其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
[0023]根据新增的所述异常消耗品对所述相关性模型进行校正。
[0024]其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
[0025]根据所述消耗品的寿命阈值设置报警时间阈值，所述报警时间阈值比所述消耗品的寿命阈值小；
[0026]判断所述消耗品的使用时间值是否大于所述报警时间阈值；
[0027]若是，发送报警提示。
[0028]第二方面，本专利技术还提供了一种测试中消耗品的寿命预估装置，包括用于执行如第一方面所述方法的单元。
[0029]第三方面，本专利技术还提供了一种处理器，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
[0030]存储器，用于存放计算机程序；
[0031]处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第一方面所述的方法的步骤。
[0032]第四方面，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的方法的步骤。
[0033]本专利技术实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0034]本专利技术实施例提供的一种测试中消耗品的寿命预估方法、装置、设备及介质，所述方法通过确定所述消耗品为异常消耗品后，根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，得出所述消耗品的寿命阈值，从而能在所述消耗品达到寿命阈值前对所述消耗品进行提前更换，避免了在消耗品损坏的情况下再去更换消耗品而使得内存条测试效率降低的问题的发生。
附图说明
[0035]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本专利技术实施例1提供的一种测试中消耗品的寿命预估方法的流程示意图；
[0038]图2为本专利技术实施例1提供的一种测试中消耗品的寿命预估方法中获取多个异常消耗品之间的相关性模型的流程示意图；
[0039]图3为本专利技术实施例2提供的一种测试中消耗品的寿命预估方法的流程示意图；
[0040]图4为本专利技术实施例3提供的一种测试中消耗品的寿命预估装置的结构框图；
[0041]图5为本专利技术实施例4提供的一种测试中消耗品的寿命预估装置的结构框图；
[0042]图6为本专利技术实施例5提出的一种处理器的结构示意图。
具体实施方式
[0043]为了更充分理解本专利技术的
技术实现思路
，下面结合具体实施例对本专利技术的技术方案进一步介绍和说明，但不局限于此。
[0044]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0045]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0046]还应当理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0047]实施例1
[0048]参见图1，结合图2所示，图1为本专利技术实施例1提供的一种测试中消耗品的寿命预估本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试中消耗品的寿命预估方法，其特征在于，包括：对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果；若所述消耗品的测试结果为异常结果，判定所述消耗品为异常消耗品；获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型；根据所述多个异常消耗品之间的相关性模型和多个所述异常消耗品的使用时间值，预估所述消耗品的寿命阈值。2.根据权利要求1所述的测试中消耗品的寿命预估方法，其特征在于，所述获取多个所述异常消耗品的使用时间值以及获取多个异常消耗品之间的相关性模型之后，还包括：若所述异常消耗品的使用时间值小于预设的时间阈值，则将所述异常消耗品的使用时间值在所述多个所述异常消耗品的使用时间值中删除。3.根据权利要求1所述的测试中消耗品的寿命预估方法，其特征在于，所述对消耗品进行测试，得到所述消耗品的测试结果之前，还包括：获取内存条的测试结果；若所述内存条的测试结果为异常结果，判定所述内存条为异常内存条；获取所述异常内存条对应的消耗品。4.根据权利要求1所述的测试中消耗品的寿命预估方法，其特征在于，所述获取多个异常消耗品之间的相关性模型，包括：获取多个异常消耗品的原始属性信息；根据所述原始属性信息，建立所述多个异常消耗品之间的相关性权重关联关系；根据所述相关性权重关联关系建立所述多个异常消耗品之间的相关性模型。5.根据权利要求4所述的测试中消耗品的寿命预估方法，其特征在于，所述多个异常消耗品之间的相关...

【专利技术属性】
技术研发人员：李创锋，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：