显示基板及显示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种显示基板及显示装置，涉及显示技术领域，用于提升基板检测的准确率。所述显示基板中所述多条扫描线引线包括多条第一扫描引线和多条第二扫描引线，所述第一扫描引线与所述第二扫描引线交替设置；所述多条第一扫描引线和多条第二扫描引线均与对应的扫描线的第一端耦接；所述第一测试电路分别与各所述第一扫描引线耦接；所述第一测试电路用于向各所述第一扫描引线提供第一测试信号；所述第二测试电路分别与各所述第二扫描引线耦接；所述第二测试电路用于向各所述第二扫描引线提供第二测试信号。本实用新型专利技术提供的显示基板用于显示。基板用于显示。基板用于显示。

【技术实现步骤摘要】
显示基板及显示装置


[0001]本技术涉及显示
，尤其涉及一种显示基板及显示装置。

技术介绍

[0002]近年来，电泳显示器以其低功耗，护眼等特性在商超价签和阅读器市场被广泛的应用。电泳显示器中的基板在出货时，通常进行检测(array test，简称AT)，并以AT检测结果作为出货的基准。当检测结果不符合要求时，会对基板进行厂内拦截。当检测结果符合要求时，会将基板出货到客户端，进行模组制作形成最终的电泳显示器。因此AT的检测准确性关系着整个成品的成本，一旦AT检测错误流入后端模组，则会造成后端模组资材(如纸膜，驱动芯片和柔性电路板)的浪费，这样不仅影响产能，还会增加制作成本。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种显示基板及显示装置，用于提升基板检测的准确率。
[0004]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0005]本技术的第一方面提供一种显示基板，包括：
[0006]多个子像素，所述多个子像素划分为多行子像素行；
[0007]多条扫描线，所述扫描线包括沿第一方向延伸的至少部分；所述扫描线与对应的子像素行中的各子像素分别耦接；
[0008]多条扫描引线，所述扫描引线与对应的所述扫描线耦接；所述多条扫描线引线包括多条第一扫描引线和多条第二扫描引线，所述第一扫描引线与所述第二扫描引线交替设置；所述多条第一扫描引线和多条第二扫描引线均与对应的扫描线的第一端耦接；
[0009]第一测试电路，所述第一测试电路分别与各所述第一扫描引线耦接；所述第一测试电路用于向各所述第一扫描引线提供第一测试信号；
[0010]第二测试电路，所述第二测试电路分别与各所述第二扫描引线耦接；所述第二测试电路用于向各所述第二扫描引线提供第二测试信号。
[0011]可选的，所述显示基板还包括第一控制信号输入端，第一测试信号输入端和第二测试信号输入端；
[0012]所述第一测试电路还分别与所述第一控制信号输入端和所述第一测试信号输入端耦接；所述第一测试电路用于在所述第一控制信号输入端输入的第一控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号输入端输入的第一测试信号写入至各所述第一扫描引线；
[0013]所述第二测试电路还分别与所述第一控制信号输入端和所述第二测试信号输入端耦接；所述第二测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号输入端输入的第二测试信号写入至各所述第二扫描引线。
[0014]可选的，所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述
第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；
[0015]所述第一测试电路还分别与各所述第三扫描引线耦接；所述第一测试电路还用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号写入至各所述第三扫描引线；
[0016]所述第二测试电路还分别与各所述第四扫描引线耦接；所述第二测试电路还用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号写入至各所述第四扫描引线。
[0017]可选的，所述第一测试电路包括多个第一晶体管，所述多个第一晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接，所述多个第一晶体管的第一极均与所述第一测试信号输入端耦接，所述多个第一晶体管中的第一部分第一晶体管的第二极与各所述第一扫描引线一一对应耦接，所述多个第一晶体管中的第二部分第一晶体管的第二极与各所述第三扫描引线一一对应耦接；
[0018]所述第二测试电路包括多个第二晶体管，所述多个第二晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接，所述多个第二晶体管的第一极均与所述第二测试信号输入端耦接，所述多个第二晶体管中的第一部分第二晶体管的第二极与各所述第二扫描引线一一对应耦接，所述多个第二晶体管中的第二部分第二晶体管的第二极与各所述第四扫描引线一一对应耦接。
[0019]可选的，所述第一晶体管包括第一有源层，所述第二晶体管包括第二有源层；
[0020]所述多个第一晶体管包括的至少部分第一有源层沿所述第一方向排列；
[0021]所述多个第二晶体管包括的至少部分第二有源层沿所述第一方向排列；
[0022]所述多个第一有源层与所述多个第二有源层沿第二方向排列，所述第二方向与所述第一方向相交；所述多个第一晶体管的栅极和所述多个第二晶体管的栅极相耦接。
[0023]可选的，所述显示基板还包括第二控制信号输入端，第三控制信号输入端，第一测试信号输入端和第二测试信号输入端；
[0024]所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；
[0025]所述第一测试电路还分别与所述第二控制信号输入端和所述第一测试信号输入端耦接；所述第一测试电路用于在所述第二控制信号输入端输入的第二控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号输入端输入的第一测试信号写入至各所述第一扫描引线；
[0026]所述第一测试电路还分别与所述第三控制信号输入端和各所述第三扫描引线耦接；所述第一测试电路还用于在所述第三控制信号输入端输入的第三控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号写入至各所述第三扫描引线；
[0027]所述第二测试电路还分别与所述第三控制信号输入端和所述第二测试信号输入端耦接；所述第二测试电路用于在所述第三控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号输入端输入的第二测试信号写入至各所述第二扫描引线；
[0028]所述第二测试电路还分别与所述第二控制信号输入端和各所述第四扫描引线耦
接；所述第二测试电路还用于在所述第二控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号写入至各所述第四扫描引线。
[0029]可选的，所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；
[0030]所述显示基板还包括：第三测试电路和第四测试电路；
[0031]所述显示基板还包括：第三测试信号输入端和第四测试信号输入端；
[0032]所述第三测试电路分别与所述第一控制信号输入端，所述第三测试信号输入端和各所述第三扫描引线耦接；所述第三测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第三测试信号输入端输入的第三测试信号写入至各所述第三扫描引线；
[0033]所述第四测试电路分别与所述第一控制信号输入端，所述第四测试信号输入端和各所述第四扫描引线耦接；所述第四测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第四测试信号输入端输入的第四测试信号写入至各所述第四扫描引线。
[0034]可选的，所述第一测试电路包括多个第一晶体管，所述多个第一晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，其特征在于，包括：多个子像素，所述多个子像素划分为多行子像素行；多条扫描线，所述扫描线包括沿第一方向延伸的至少部分；所述扫描线与对应的子像素行中的各子像素分别耦接；多条扫描引线，所述扫描引线与对应的所述扫描线耦接；所述多条扫描线引线包括多条第一扫描引线和多条第二扫描引线，所述第一扫描引线与所述第二扫描引线交替设置；所述多条第一扫描引线和多条第二扫描引线均与对应的扫描线的第一端耦接；第一测试电路，所述第一测试电路分别与各所述第一扫描引线耦接；所述第一测试电路用于向各所述第一扫描引线提供第一测试信号；第二测试电路，所述第二测试电路分别与各所述第二扫描引线耦接；所述第二测试电路用于向各所述第二扫描引线提供第二测试信号。2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括第一控制信号输入端，第一测试信号输入端和第二测试信号输入端；所述第一测试电路还分别与所述第一控制信号输入端和所述第一测试信号输入端耦接；所述第一测试电路用于在所述第一控制信号输入端输入的第一控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号输入端输入的第一测试信号写入至各所述第一扫描引线；所述第二测试电路还分别与所述第一控制信号输入端和所述第二测试信号输入端耦接；所述第二测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号输入端输入的第二测试信号写入至各所述第二扫描引线。3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；所述第一测试电路还分别与各所述第三扫描引线耦接；所述第一测试电路还用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号写入至各所述第三扫描引线；所述第二测试电路还分别与各所述第四扫描引线耦接；所述第二测试电路还用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号写入至各所述第四扫描引线。4.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，所述第一测试电路包括多个第一晶体管，所述多个第一晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接，所述多个第一晶体管的第一极均与所述第一测试信号输入端耦接，所述多个第一晶体管中的第一部分第一晶体管的第二极与各所述第一扫描引线一一对应耦接，所述多个第一晶体管中的第二部分第一晶体管的第二极与各所述第三扫描引线一一对应耦接；所述第二测试电路包括多个第二晶体管，所述多个第二晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接，所述多个第二晶体管的第一极均与所述第二测试信号输入端耦接，所述多个第二晶体管中的第一部分第二晶体管的第二极与各所述第二扫描引线一一对应耦接，所述多个第二晶体管中的第二部分第二晶体管的第二极与各所述第四扫描引线一一对应耦接。5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于，所述第一晶体管包括第一有源层，所述第二晶体管包括第二有源层；
所述多个第一晶体管包括的至少部分第一有源层沿所述第一方向排列；所述多个第二晶体管包括的至少部分第二有源层沿所述第一方向排列；所述多个第一有源层与所述多个第二有源层沿第二方向排列，所述第二方向与所述第一方向相交；所述多个第一晶体管的栅极和所述多个第二晶体管的栅极相耦接。6.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括第二控制信号输入端，第三控制信号输入端，第一测试信号输入端和第二测试信号输入端；所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；所述第一测试电路还分别与所述第二控制信号输入端和所述第一测试信号输入端耦接；所述第一测试电路用于在所述第二控制信号输入端输入的第二控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号输入端输入的第一测试信号写入至各所述第一扫描引线；所述第一测试电路还分别与所述第三控制信号输入端和各所述第三扫描引线耦接；所述第一测试电路还用于在所述第三控制信号输入端输入的第三控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号写入至各所述第三扫描引线；所述第二测试电路还分别与所述第三控制信号输入端和所述第二测试信号输入端耦接；所述第二测试电路用于在所述第三控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号输入端输入的第二测试信号写入至各所述第二扫描引线；所述第二测试电路还分别与所述第二控制信号输入端和各所述第四扫描引线耦接；所述第二测试电路还用于在所述第二控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号写入至各所述第四扫描引线。7.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；所述显示基板还包括：第三测试电路和第四测试电路；所述显示基板还包括：第三测试信号输入端和第四测试信号输入端；所述第三测试电路分别与所述第一控制信号输入端，所述第三测试信号输入端和各所述第三扫描引线耦接；所述第三测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第三测试信号输入端输入的第三测试信号写入至各所述第三扫描引线；所述第四测试电路分别与所述第一控制信号输入端，所述第四测试信号输入端和各所述第四扫描引线耦接；所述第四测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第四测试信号输入端输入的第四测试信号写入至各所述第四...

【专利技术属性】
技术研发人员：王敏，华刚，王光泉，邓立广，王哲，李少波，王冬，胡锦堂，苏少凯，潘靓靓，刘景昊，王文超，齐梓希，裴晓光，
申请(专利权)人：北京京东方显示技术有限公司，
类型：新型
国别省市：