适用于弹性链系统的张力测量工具技术方案

本实用新型专利技术公开了一种适用于弹性链系统的张力测量工具，涉及测量工具技术领域。本实用新型专利技术包括测量基准座和浮动测量座，所述测量基准座为空心柱体结构，所述浮动测量座滑动安装于所述测量基准座上；所述测量基准座的侧壁上开设有贯穿的开窗，所述开窗的长度方向上设置有主测量尺，所述浮动测量座侧壁上设置有与所述主测量尺对应的游标尺。本实用新型专利技术提供了一种新型结构的游标卡尺结构，以便于对弹性链系统的张力进行测量，提高测量效率和测量精度，特别是降低了操作者在狭小的空间执行测量任务的风险。任务的风险。任务的风险。

【技术实现步骤摘要】
适用于弹性链系统的张力测量工具


[0001]本技术涉及测量工具
，更具体地说涉及一种适用于弹性链系统的张力测量工具。

技术介绍

[0002]在半导体制造领域，弹簧是机械制造过程中的常见结构之一。弹性链系统中，弹簧张力是保持链条运动稳定性的关键。产品可能经常需要在不同的张力之间进行调整，然而，对于弹性链系统中链条的张力测试一直没有合适的解决方案，而且很难精确地确定张力大小。
[0003]对于弹性链系统的张力测量，现有技术中是将弹性链系统中的张力转换为弹簧长度来进行测量，通过测量弹簧长度变化以计算当前张力；而对于弹簧长度的测量则一般采用游标卡尺。但是，由于机械空间的限制，游标卡尺可能无法对弹簧的某个位置进行测量。除此之外，测量时在工作区域内操作人员不易握住卡尺，卡尺难以实现垂直测量，因此测量误差较大，准确性无法保障。
[0004]现有的测量方式需要反复调整才能保障测量精度，而这也导致设备停机时间过长，影响生产效率。

技术实现思路

[0005]为了克服上述现有技术中存在的缺陷和不足，本申请提供了一种适用于弹性链系统的张力测试工具，本技术的专利技术目的在于解决上述现有技术中，对弹性链系统的弹簧张力测量困难、测量时间长、测量精度低的问题。本技术的适用于弹性链系统的张力测试工具，是一种新型测量工具，提供了一种新型结构的游标卡尺结构，以便于对弹性链系统的张力进行测量，提高测量效率和测量精度，特别是降低了操作者在狭小的空间执行测量任务的风险。
[0006]依照本技术的一种适用于弹性链系统的张力测量工具，包括测量基准座和浮动测量座，所述测量基准座为空心柱体结构，所述浮动测量座滑动安装于所述测量基准座上；所述测量基准座的侧壁上开设有贯穿的开窗，所述开窗的长度方向上设置有主测量尺，所述浮动测量座侧壁上设置有与所述主测量尺对应的游标尺。与现有技术相比，本技术设计的新型游标卡尺结构，将测量基准座套在被测物上，被测物顶面与测量基准座内的浮动测量座底面接触，将浮动测量座顶起，使得浮动测量座与基准测量座之间发生相对位移，通过浮动测量座上的游标尺和基准测量座上的主测量尺，确定浮动测量座被顶起的距离，从而测量得到当前被测物的长度，然后可以换算出弹簧张力。本技术的张力测量工具，结构简单，占地空间小，适用于狭小空间内的被测物的尺寸测量，测量精度高。
[0007]根据本技术的一种实施方式，所述浮动测量座为中空柱体结构，浮动测量座的外部形状与测量基准座的内腔形状相适配，且浮动测量座外壁与测量基准座内壁紧密接触。本技术的上述结构设计，可以避免浮动测量座和测量基准座之间存在余量，防止浮
动测量座在测量基准座中发生倾斜或晃动，影响测量精度。
[0008]根据本技术的一种实施方式，所述测量基准座为中空圆柱体结构，包括有底座和中空测量柱，中空测量柱与底座连接。操作简单，方便，快捷。
[0009]根据本技术的一种实施方式，所述浮动测量座为中空圆柱体结构，包括顶盖和浮动测量柱，浮动测量柱与顶盖相互垂直，浮动测量柱上端与顶盖连接。浮动测量柱的底面是圆环形面，测量基准座的上下底面也是圆环形面。这样测的是面与面之间的距离，比测点到点的距离精度更高。
[0010]根据本技术的一种实施方式，所述浮动测量座上游标尺的精度为0.02mm。本技术的测量精度可达到0.02mm，提高测量精度，减小误差。
[0011]所述开窗上设置有放大镜。在开窗位置设置放大镜是为了将游标尺与主测量尺上的刻度进行光学放大，以便于操作人员读取刻度值，降低读取误差。
[0012]所述主测量尺是由刻在所述测量基准座上两侧的主尺刻度形成的。便于加工，不需要额外的主测量尺，只需要在浮动测量座上刻上主尺刻度即可，结构简单。
[0013]所述主尺刻度刻在所述开窗侧壁上。使得主尺刻度与游标卡尺的卡尺刻度相对设置，便于读取，进一步减小读取误差。
[0014]所述游标尺是由刻在所述浮动测量座侧壁上的刻度形成的。便于加工，不需要额外的游标尺，只需要在浮动测量座上刻上游标尺刻度即可。
[0015]所述游标尺垂直于所述浮动测量座侧壁且平行于开窗内壁设置。这种结构设计，使得游标尺刻度与主尺刻度相对设置，方便观察，可进一步减小读取误差。
[0016]与现有技术相比，本技术所带来的有益的技术效果表现在：
[0017]本技术提供了一种新型的游标卡尺结构，适用于弹性链系统的张力测量。本技术结构简单、测量方式便捷，测量精度高，便于操作人员操作。本技术利用光学放大原理，以减小读数误差，可提高测量效率，特别是降低了操作者在狭小的空间内执行测量任务的风险。本技术的测量精度可以达到0.02mm。
附图说明
[0018]图1为本技术张力测量工具的使用状态结构示意图；
[0019]图2为本技术张力测量工具中测量基准座的主视结构示意图；
[0020]图3为本技术张力测量工具中测量基准座的俯视结构示意图；
[0021]图4为本技术张力测量工具中测量基准座的立体结构示意图；
[0022]图5为本技术张力测量工具中浮动测量座的仰视结构示意图；
[0023]图6为本技术张力测量工具中浮动测量座的主视结构示意图；
[0024]图7为本技术张力测量工具中浮动测量座的立体结构示意图；
[0025]附图标记：1、测量基准座，2、浮动测量座，3、主测量尺，4、游标尺，5、开窗，6、底座，7、中空测量柱，8、顶盖，9、浮动测量柱，10、放大镜。
具体实施方式
[0026]下面结合说明书附图，对本技术的技术方案作出进一步详细地阐述。
[0027]实施例1
[0028]作为本技术一较佳实施例，参照说明书附图1，本实施例公开了：
[0029]一种适用于弹性链系统的张力测量工具，包括测量基准座1和浮动测量座2，所述测量基准座1为空心柱体结构，所述浮动测量座2滑动安装于所述测量基准座1上；所述测量基准座1的侧壁上开设有贯穿的开窗5，所述开窗5的长度方向上设置有主测量尺3，所述浮动测量座2侧壁上设置有与所述主测量尺3对应的游标尺4。
[0030]如图1所示，其使用方法为：将测量基准座1套在被测物上，被测物顶面与测量基准座1内的浮动测量座2底面接触，将浮动测量座2顶起，使得浮动测量座2与基准测量座之间发生相对位移，通过浮动测量座2上的游标尺4和基准测量座上的主测量尺3，确定浮动测量座2被顶起的距离，从而测量得到当前被测物的长度，然后可以换算出弹簧张力。
[0031]实施例2
[0032]作为本技术又一较佳实施例，参照说明书附图1，本实施例公开了：
[0033]一种适用于弹性链系统的张力测量工具，包括测量基准座1和浮动测量座2，所述测量基准座1为空心柱体结构，所述浮动测量座2滑动安装于所述测量基准座1上；所述测量基准座1的侧壁上开设有贯穿的开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.适用于弹性链系统的张力测量工具，包括测量基准座(1)和浮动测量座(2)，所述测量基准座(1)为空心柱体结构，所述浮动测量座(2)滑动安装于所述测量基准座(1)上；所述测量基准座(1)的侧壁上开设有贯穿的开窗(5)，所述开窗(5)的长度方向上设置有主测量尺(3)，所述浮动测量座(2)侧壁上设置有与所述主测量尺(3)对应的游标尺(4)。2.如权利要求1所述的适用于弹性链系统的张力测量工具，其特征在于：所述浮动测量座(2)为中空柱体结构，浮动测量座(2)的外部形状与测量基准座(1)的内腔形状相适配，且浮动测量座(2)外壁与测量基准座(1)内壁紧密接触。3.如权利要求1或2所述的适用于弹性链系统的张力测量工具，其特征在于：所述测量基准座(1)为中空圆柱体结构，包括有底座(6)和中空测量柱(7)，中空测量柱(7)与底座(6)连接。4.如权利要求1或2所述的适用于弹性链系统的张力测量工具，其特征在于：所述浮动测量座(2)为中空圆柱体结构，包括顶盖(8)和...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玉才，隋毅，
申请(专利权)人：英特尔产品成都有限公司，
类型：新型
国别省市：