电子膨胀阀控制方法、装置、计算机设备及存取介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子膨胀阀控制方法、装置、计算机设备及存取介质，属于空调技术领域；通过制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及制冷系统的运行参数，计算蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，然后根据不饱和度偏差控制电子膨胀阀的开度。由于本申请方案中制冷剂状态参数的不饱和度偏差能够表征蒸发器出口处制冷剂的含液量，因此即使蒸发器出口制冷剂为两相状态，也可以根据该状态参数的不饱和度偏差快速控制电子膨胀阀的开度，解决了蒸发器出口制冷剂处于两相状态时，根据过热度控制电子膨胀阀的开度，会增加压缩机液击风险的问题，具有调节速度快、可靠性高的优点。的优点。的优点。

【技术实现步骤摘要】
电子膨胀阀控制方法、装置、计算机设备及存取介质


[0001]本专利技术涉及空调
，特别地，涉及一种电子膨胀阀控制方法、装置、计算机设备及存取介质。

技术介绍

[0002]电子膨胀阀通常用于控制制冷系统中蒸发器出口的制冷剂状态，使得液相制冷剂恰好在蒸发器出口蒸发完毕，从而获得较好的制冷性能，并防止压缩机因为吸气带液引起液击而导致损坏。
[0003]现有电子膨胀阀通常根据蒸发器出口过热度信号进行控制，在蒸发器出口布置有制冷剂压力和温度传感器，根据制冷剂压力可求得饱和(气体)温度；蒸发器出口温度减去饱和温度，得到蒸发器出口过热度实际值。过热度实际值减去人为设定的目标值，得到过热度偏差值。根据过热度偏差值，采用PID等反馈控制策略，即可对电子膨胀阀的开度进行控制。
[0004]但是当蒸发器出口制冷剂为两相状态时，仍按照过热度调节电子膨胀阀，调节时间长，蒸发器出口长时间带液，增加压缩机遭受液击的风险。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术的不足，本专利技术提供一种电子膨胀阀控制方法、装置、计算机设备及存取介质，以解决当蒸发器出口制冷剂为两相状态时，仍按照过热度调节电子膨胀阀，调节时间长，蒸发器出口长时间带液，会增加压缩机遭受液击的风险的问题。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0007]第一方面，
[0008]一种电子膨胀阀控制方法，应用于制冷系统中，包括以下步骤：
[0009]根据所述制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算所述制冷系统中蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，所述状态参数的不饱和度偏差用于表征所述蒸发器出口制冷剂的含液量；
[0010]根据所述不饱和度偏差控制所述电子膨胀阀的开度。
[0011]进一步地，所述状态参数采用以下任意一种：比焓、比熵、比体积或密度。
[0012]进一步地，所述根据所述制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算所述制冷系统中蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，包括：
[0013]根据所述蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算得到所述状态参数的实际不饱和度值；
[0014]将实际不饱和度值与目标不饱和度值作差得到所述状态参数的不饱和度偏差。
[0015]进一步地，所述根据所述蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算得到所述状态参数的实际不饱和度值，包括：
[0016]根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的第一不饱
和度值；并且根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力以及所述运行参数计算所述状态参数的第二不饱和度值；
[0017]判断所述蒸发器出口处是否为单相气体状态；
[0018]若是，则将第一不饱和度值作为所述状态参数的实际不饱和度值；若不是，则将第二不饱和度值作为所述状态参数的实际不饱和度值。
[0019]进一步地，所述根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的第一不饱和度值，包括：
[0020]根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的实际值；并根据所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的饱和值；
[0021]将所述实际值与所述饱和值作差得到所述第一不饱和度值。
[0022]进一步地，所述根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力以及所述运行参数计算所述状态参数的第二不饱和度值，包括：
[0023]获取所述蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及运行参数；
[0024]将所述运行参数输入到预构建的蒸发器出口状态参数计算模型中得到所述实际预测值；
[0025]将所述实际预测值与所述饱和值作差得到第二不饱和度值。
[0026]进一步地，所述获取所述运行参数包括：获取所述制冷系统的蒸发器入口制冷剂流量、蒸发器出口制冷剂流量、蒸发器入口制冷剂比焓、蒸发器进风温度、蒸发器进风湿度以及蒸发器风机控制信号值。
[0027]进一步地，所述判断所述蒸发器出口处是否为单相气体状态，包括：
[0028]若所述第一不饱和度值大于第一预设值，判断所述蒸发器出口为单相气体状态；
[0029]若所述第一不饱和度值不大于第二预设值，且所述第二不饱和度值不大于第三预设值，则判断所述蒸发器出口不是单相气体状态；
[0030]其中，第二预设值小于等于第一预设值，第三预设值小于等于第一预设值。
[0031]第二方面，
[0032]一种电子膨胀阀控制装置，应用于制冷系统中，包括：
[0033]不饱和度计算模块，用于根据所述制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及运行参数，计算所述制冷系统中蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，所述状态参数的不饱和度偏差用于表征所述蒸发器出口制冷剂的含液量；
[0034]开度控制模块，用于根据所述不饱和度偏差控制所述电子膨胀阀的开度。
[0035]第三方面，
[0036]一种计算机设备，包括：
[0037]处理器；
[0038]用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
[0039]所述处理器被配置为用于执行上述第一方面的技术方案中任一项所述的方法。
[0040]第四方面，
[0041]一种计算机可读存取介质，存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时，使得所述处理器执行第一方面技术方案提供的任一项的电子膨胀阀控制方法的步骤。
[0042]有益效果：
[0043]本申请实施例提供一种电子膨胀阀控制方法、装置、计算机设备及存取介质，通过制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及制冷系统的运行参数，计算蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，然后根据不饱和度偏差控制电子膨胀阀的开度。由于本申请方案中制冷剂状态参数的不饱和度偏差能够表征蒸发器出口处制冷剂的含液量，因此即使蒸发器出口制冷剂为两相状态，也可以根据状态参数的不饱和度偏差快速控制电子膨胀阀的开度，解决了蒸发器出口制冷剂处于两相状态时，根据过热度控制电子膨胀阀的开度，会增加压缩机液击风险的问题，具有调节速度快，可靠性高的优点。
附图说明
[0044]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0045]图1是本专利技术实施例提供的一种电子膨胀阀控制方法流程图；
[0046]图2是本专利技术实施例提供的一种电子膨胀阀具体控制方法流程图；
[0047]图3是本专利技术实施例提供的一种电子膨胀阀模型计算流程示意图；
[0048]图4是本专利技术实施例提供的一种压缩机模型计算流程示意图；
[0049]图5是本专利技术实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子膨胀阀控制方法，应用于制冷系统中，其特征在于，包括以下步骤：根据所述制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及运行参数，计算所述制冷系统中蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，所述状态参数的不饱和度偏差用于表征所述蒸发器出口制冷剂的含液量；根据所述不饱和度偏差控制所述电子膨胀阀的开度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述状态参数采用以下任意一种：比焓、比熵、比体积或密度。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述根据所述制冷系统的蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算所述制冷系统中蒸发器出口处制冷剂的状态参数的不饱和度偏差，包括：根据所述蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算得到所述状态参数的实际不饱和度值；将实际不饱和度值与目标不饱和度值作差得到所述状态参数的不饱和度偏差。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：所述根据所述蒸发器出口温度和蒸发器出口压力以及所述运行参数，计算得到所述状态参数的实际不饱和度值，包括：根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的第一不饱和度值；并且根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力以及所述运行参数计算所述状态参数的第二不饱和度值；判断所述蒸发器出口处是否为单相气体状态；若是，则将第一不饱和度值作为所述状态参数的实际不饱和度值；若不是，则将第二不饱和度值作为所述状态参数的实际不饱和度值。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的第一不饱和度值，包括：根据所述蒸发器出口温度和所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的实际值；并根据所述蒸发器出口压力计算所述状态参数的饱和值；将所述实际值与所述饱和值作差得到所述第一不饱和度值。6.根据权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐明仿，
申请(专利权)人：深圳市英维克信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：