集尘装置制造方法及图纸

技术编号:32558861 阅读:50 留言:0更新日期:2022-03-05 12:01
本发明专利技术提供一种集尘装置,包括:对粒子进行收集的集尘部;产生导入至集尘部的微波,并通过微波来使集尘部所收集到的粒子燃烧的微波发生部;以及对未被粒子吸收的微波的强度进行检测的强度检测部,微波发生部基于强度检测部检测出的微波的强度,对导入集尘部的微波的强度进行控制。强度检测部可以包括将未被粒子吸收的微波中的至少一部分从集尘部中导出的导出部;吸收从集尘部中导出的微波的微波吸收体;以及对微波吸收体的温度进行检测的温度检测部。测部。测部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】集尘装置


[0001]本专利技术涉及集尘装置。

技术介绍

[0002]以往,已知“利用微波使集尘部中所收集的带电粒子燃烧”的电气集尘装置(例如,参照专利文献1)。另外,已知根据吸收微波的电波吸收体的温度来检测微波的能量的装置(例如,参照专利文献2、3)。专利文献1PCT/JP2019/335325专利文献2:日本专利特开平5-172884号公报专利文献3:日本专利特开平5-52889号公报

技术实现思路

本专利技术所要解决的技术问题
[0003]在集尘装置中,优选降低能耗。【一般公开】
[0004]为了解决上述问题,在本专利技术的一个方式中,提供集尘装置。集尘装置可以具备收集粒子的集尘部。集尘装置可以包括产生导入至集尘部的微波、并通过微波来使集尘部所收集到的粒子燃烧的微波发生部。集尘装置可以包括对未被粒子吸收的微波的强度进行检测的强度检测部。微波发生部可以基于强度检测部检测到的微波的强度,对导入至集尘部的微波的强度进行控制。
[0005]强度检测部可以具有将未被粒子吸收的微波中的至少一部分从集尘部中导出的导出部。强度检测部可以具有吸收从集尘部导出的微波的微波吸收体。强度检测部可以具有对微波吸收体的温度进行检测的温度检测部。
[0006]在将第一强度的微波导入至集尘部的状态下当微波吸收体的温度达到第一基准温度以上时,微波发生部可以将导入至集尘部的微波的强度切换成比第一强度要低的第二强度。
[0007]在将第二强度的微波导入至集尘部的状态下当微波吸收体的温度变为第二基准温度以下时,微波发生部可以将导入至集尘部的微波的强度切换成第一强度。
[0008]集尘装置可以包括对集尘部中产生了火焰的情况进行检测的火焰检测部。在火焰产生了的情况下,微波发生部可以使导入至集尘部的微波的强度降低,或停止将微波导入至集尘部。
[0009]集尘装置可以包括计算部,该计算部基于微波发生部将第一强度的微波导入至集尘部的累计时间,来计算粒子的燃烧物堆积在集尘部中的量。
[0010]集尘装置可以包括计算部,该计算部基于温度检测部所检测的温度的时间波形中的上升波形的斜率,来计算导入至集尘部的粒子的量。
[0011]强度检测部可以预先存储在集尘部中粒子不存在的状态下将微波导入至集尘部
时的、微波吸收体的温度与微波的强度之间的关系。强度检测部可以根据在集尘部中粒子存在的状态下将所述微波导入至集尘部时的微波吸收体的温度对未被粒子吸收的微波的强度进行检测。
[0012]集尘装置可以包括计算部,该计算部根据强度检测部检测到的微波的强度、与微波发生部导入至集尘部的微波的强度的差分,来计算被粒子吸收的微波的强度。
[0013]计算部可以基于被粒子吸收的微波的强度的时间积分值,来计算集尘部中残留的粒子的燃烧物的量。
[0014]可以在集尘部的多个导出位置设置导出部。微波吸收体可以吸收将多个导出部导出的微波汇集后而得的微波。
[0015]微波发生部可以将微波从集尘部的多个导入位置导入至集尘部。微波吸收体可以按每个导出位置来设置。微波发生部可以基于各个导出位置的微波吸收体的温度,来对从所对应的导入位置导入的微波的强度进行控制。
[0016]集尘部中可以导入有废气源排出的废气。在火焰产生了的情况下,微波发生部可以基于废气源的动作状态,对导入至集尘部的微波的强度进行控制。
[0017]另外,上述专利技术概要并不是对本专利技术的所有必要特征进行列举。此外,这些特征群的子组合也可以构成专利技术。
附图说明
[0018]图1是表示本专利技术一个实施方式所涉及的集尘装置100的结构例的框图。图2是表示集尘部120的一个示例的示意图。图3是表示隔壁32的结构的一个示例的图。图4是表示图3中的X轴方向的位置X1处的集尘部120的YZ截面的一个示例的图。图5是表示微波吸收体144的温度的时间波形和微波发生部130导入到集尘部120的微波的强度的时间波形的一个示例的图。图6是表示集尘装置100的其它结构例的图。图7是表示集尘装置100的其它结构例的图。图8是表示微波发生部130和强度检测部140的配置例的图。
具体实施方式
[0019]以下通过专利技术的实施方式对本专利技术进行说明,但以下的实施方式并不用于对权利要求所涉及的专利技术进行限定。另外,实施方式中说明的特征的组合并不全是解决本专利技术的技术问题的技术手段所必需的。
[0020]图1是示出本专利技术一个实施方式所涉及的集尘装置100的结构例的框图。集尘装置100对废气等对象气体中包含的粒子进行收集。本说明书中将对象气体设为废气来进行说明。可以将废气从废气源200导入到集尘装置100中。废气源200是例如船舶等的引擎。该情况下,集尘装置100可以设置于船舶。
[0021]导入至集尘装置100的废气包括氮氧化物(NOx)、硫氧化物(SOx)和颗粒物(PM:Particle Matter)等粒子。颗粒物(PM)也被称为黑碳,是由于化石燃料的不完全燃烧而产生的。颗粒物(PM)是以碳为主要成分的微粒子。
[0022]集尘装置100可以收集使对象粒子带电的带电粒子。即集尘装置100可以是电气集尘装置。集尘装置100通过微波使收集到的带电粒子燃烧。由此,能够抑制收集到的带电粒子过度堆积,从而持续处理废气。
[0023]本示例的集尘装置100包括带电部110、集尘部120、微波发生部130、强度检测部140以及控制部150。废气被导入至带电部110。带电部110例如在废气通过的空间中通过电晕放电而产生离子,并使对象粒子带电。将包含带电粒子的废气送到集尘部120。
[0024]集尘部120收集带电粒子。集尘部120例如通过在废气通过的路径上配置施加了接地电位等的构件,从而利用库仑力来收集带电粒子。集尘部120排出收集了带电粒子后的废气。
[0025]微波发生部130产生微波,并将其导入至集尘部120的内部。微波是指具有例如300MHz到300GHz频率的电磁波。
[0026]本示例的集尘装置100利用微波发生部130所产生的微波来使集尘部120所收集的带电粒子燃烧。导入至集尘部120的微波被带电粒子吸收,从而带电粒子进行加热。通过以带电粒子的温度达到燃点以上的程度导入微波,从而能使带电粒子燃烧。一般来说,基于微波的被加热物的加热率Q由下式表示。Q=(1/2)σ|E|2+(1/2)ωε”|E|2+(1/2)ωμ”|B|2[0027]作为第1项的(1/2)σ|E|2表示通过电场的焦耳加热而产生的加热率。这里,σ是被加热物中所包含的微粒子的导电率。另外,E是微波所引起的电场。向被加热物施加电场将导致在被加热物中发生电荷移动。该电荷移动、即电流将带来焦耳损耗。第1项表示该焦耳损耗所产生的发热。
[0028]作为第2项的(1/2)ωε”|E|2表示通过电场的介电加热而产生的加热率。这里,ω是微波的角频率,ε”是被加热物的介电常数的虚部。当向被加热物施加电场时,被加热物体中所包含的电偶极子随着时间延迟跟随本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种集尘装置,其特征在于,包括:集尘部,该集尘部对粒子进行收集;微波发生部,该微波发生部产生导入至所述集尘部的微波,并通过所述微波来使所述集尘部所收集到的所述粒子燃烧;以及强度检测部,该强度检测部对未被所述粒子所吸收的所述微波的强度进行检测,所述微波发生部基于所述强度检测部检测到的所述微波的强度,对导入至所述集尘部的所述微波的强度进行控制。2.如权利要求1所述的集尘装置,其特征在于,所述强度检测部包括:导出部,该导出部将未被所述粒子所吸收的所述微波中的至少一部分从所述集尘部中导出;微波吸收体,该微波吸收体吸收从所述集尘部中导出的所述微波;以及温度检测部,该温度检测部对所述微波吸收体的温度进行检测。3.如权利要求2所述的集尘装置,其特征在于,在将第一强度的所述微波导入至所述集尘部的状态下,当所述微波吸收体的温度为第一基准温度以上时,所述微波发生部将导入至所述集尘部的所述微波的强度切换成比所述第一强度要低的第二强度。4.如权利要求3所述的集尘装置,其特征在于,在将所述第二强度的所述微波导入至所述集尘部的状态下,当所述微波吸收体的温度为第二基准温度以下时,所述微波发生部将导入至所述集尘部的所述微波的强度切换成所述第一强度。5.如权利要求3所述的集尘装置,其特征在于,还包括计算部,该计算部基于所述微波发生部将所述第一强度的所述微波导入至所述集尘部的累计时间,来计算所述粒子的燃烧物堆积在所述集尘部中的量。6.如权利要求2至4的任一项所述的集尘装置,其特征在于,还包括计算部,该计算部基于所述温度检测部检测的温度的时间波形中的上升波形的斜率,来计算导入至所述集尘部的所述粒子的量。7.如权利要求2至6的任一项所述的集尘装置,其特征在于,在所述集尘部的多个导出位置设有所述导出部,所述微波吸收体吸收将多个所述导出部...

【专利技术属性】
技术研发人员:村上幸平
申请(专利权)人:富士电机株式会社
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1