本发明专利技术公开了一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法、装置及存储介质，属于图像调整领域；首先对待调整图像进行预处理得到轮廓图像，然后对轮廓图像进行椭圆拟合，之后将拟合后的图像旋转使椭圆长轴与竖直方向平行；对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合得到拟合直线的斜率；根据斜率得到刻度线间的距离；最后根据刻度线间的距离调整待调整图像的分辨率。本申请方案根据刻度线中心点拟合直线的斜率得到刻度线间的距离，无论刻度线是否有漏检问题，刻度线中心点所组成的拟合直线的斜率是不变的，因此根据斜率得到刻度线间的距离不会因刻度线缺漏而变化，最终计算得到的距离与实际距离相差小，根据得到的距离对图像分辨率进行调整效果好。率进行调整效果好。率进行调整效果好。
【技术实现步骤摘要】
根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法、装置及存储介质
[0001]本专利技术涉及图像调整领域，特别地，涉及一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法、装置及存储介质。
技术介绍
[0002]随着计算机技术的飞速发展，对于图像的要求越来越高。例如在指纹识别时，对指纹图像及提取的特征都有较高的要求。一般在采集时，需要用标尺来度量指纹的尺寸，用于判断指纹尺寸是否符合标准，并为校正指纹图像中指纹的尺寸做了规范。因此可通过检测图像中标尺刻度线之间的距离来改变图像的分辨率，即图像的尺寸大小。
[0003]现有的计算刻度线之间距离的算法，有的是根据传统图像算法，利用投影信息对图像像素分布进行分析，进而检测出标尺的边缘；有的在检测完刻度线边缘后，直接计算刻度线之间的平均宽度作为刻度线之间的距离；还有的是通过深度学习算法来检测标尺测量图像及标尺测量图像中的标度图像。
[0004]但是刻度线检测会出现漏检、错检现象，采用现有计算刻度线之间距离的算法在出现漏检、错检现象时，得到的刻度线之间的距离与实际距离往往相差较大，根据得到的距离对图像分辨率进行调整时效果差。
技术实现思路
[0005]为了克服现有技术的不足，本专利技术提供一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法、装置及存储介质，以解决采用现有计算刻度线之间距离的算法在出现漏检、错检现象时，得到的刻度线之间的距离与实际距离往往相差较大，根据得到的距离对图像分辨率进行调整时效果差的问题。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0007]第一方面，
[0008]一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法，包括以下步骤：
[0009]对待调整图像进行预处理得到包含所述刻度线轮廓信息的轮廓图像；
[0010]对所述轮廓图像中每个刻度线的轮廓进行椭圆拟合，将每个刻度线拟合为一个椭圆，并将每个椭圆的中心点作为所述刻度线的中心点；
[0011]旋转拟合后所述刻度线以使所述椭圆的长轴与竖直方向平行；
[0012]对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合得到拟合直线的斜率；
[0013]根据所述斜率得到所述刻度线间的距离；
[0014]根据所述刻度线间的距离调整所述待调整图像的分辨率。
[0015]进一步地，所述对待调整图像进行预处理，得到包含所述刻度线轮廓的轮廓图像，包括：
[0016]通过预训练的图像分割模型分割所述待调整图像，以便得到仅包括背景和刻度线的标尺掩膜图像；
[0017]将所述标尺掩膜图像二值化得到二值化图像；
[0018]对所述二值化图像提取轮廓得到包含所述刻度线轮廓的轮廓图像。
[0019]进一步地，所述对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合，包括：
[0020]将所述每个刻度线的中心点映射得到映射后的中心点，其中映射后的中心点纵坐标为映射前中心点的横坐标，所有映射后的中心点横坐标为任意值且相同；
[0021]根据映射后中心点的纵坐标调整所述映射后中心点的横坐标，调整后所有映射后的中心点的横坐标为互不相同的整数；
[0022]对调整后的中心点进行直线拟合。
[0023]进一步地，所述根据映射后中心点的纵坐标调整所述映射后中心点的横坐标，包括：
[0024]对任一映射后的中心点，计算当前点与后一点之间的第一步长距离，所述第一步长距离为后一点的纵坐标与当前点纵坐标的差值；
[0025]若所述第一步长距离在预设范围内，则计算所述当前点与剩余所有中心点的第一相对距离；
[0026]将所述当前点横坐标赋值为0，计算所述第一相对距离与所述第一步长距离的第一比值，将所述第一比值取整后作为所述第一相对距离对应的中心点的横坐标。
[0027]进一步地，所述对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合，包括：
[0028]将所述每个刻度线的中心点映射得到映射后的中心点，其中映射后的中心点横坐标为映射前中心点的横坐标，所有映射后的中心点纵坐标为任意值且相同；
[0029]根据映射后中心点的横坐标调整所述映射后中心点的纵坐标，调整后所有映射后的中心点的横坐标为互不相同的整数；
[0030]对调整后的中心点进行直线拟合。
[0031]进一步地，所述根据映射后中心点的横坐标调整所述映射前中心点的纵坐标，包括：
[0032]对任一映射后的中心点，计算当前点与后一点之间的第二步长距离，所述第二步长距离为后一点的横坐标与当前点横坐标的差值；
[0033]若所述第二步长距离在预设范围内，则计算所述当前点与剩余所有中心点的第二相对距离；
[0034]将所述当前点纵坐标赋值为0，计算所述第二相对距离与所述第二步长距离的第二比值，将所述第二比值取整后作为所述第二相对距离对应的中心点的纵坐标。
[0035]进一步地，所述根据所述斜率得到所述刻度线间的距离，包括：
[0036]对于以任一中心点为当前点拟合得到的直线，计算所有点在拟合直线上对应的纵坐标与实际纵坐标的差值的和，或者，计算所有点在拟合直线上对应的横坐标与实际横坐标的差值的和；
[0037]计算得到的和的平均差值作为当前点的平均误差；
[0038]选择平均误差最小的拟合直线的斜率作为所述刻度线间的距离，或者，选择平均误差最小的拟合直线的斜率的倒数作为所述刻度线间的距离。
[0039]进一步地，在得到所述拟合直线的斜率的过程中，还包括：
[0040]检测刻度线的数量是否大于预设数量；
[0041]若不大于，则对所述待调整图像进行膨胀操作，以使所述刻度线数量大于预设数量。
[0042]第二方面，
[0043]一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的装置，包括：
[0044]图像预处理模块，用于对待调整图像进行预处理得到包含所述刻度线轮廓信息的轮廓图像；
[0045]图像拟合模块，用于对所述轮廓图像中每个刻度线的轮廓进行椭圆拟合，将每个刻度线拟合为一个椭圆，并将每个椭圆的中心点作为所述刻度线的中心点；
[0046]刻度线旋转模块，用于旋转拟合后所述刻度线以使所述椭圆的长轴与竖直方向平行；
[0047]斜率获取模块，用于对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合得到拟合直线的斜率；
[0048]距离计算模块，用于根据所述斜率得到所述刻度线间的距离；
[0049]分辨率调整模块，用于根据所述刻度线间的距离调整所述待调整图像的分辨率。
[0050]第三方面，
[0051]一种存储介质，包括：
[0052]处理器；
[0053]用于执行所述处理器可执行指令的存储器；
[0054]所述处理器被配置为用于第一方面技术方案中任一项所述的方法。
[0055]有益效果：
[0056]本申请技术方案提供一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法、装置及存储介质，首先对待调整图像进行预处理得到标尺刻度线的轮廓图像，然后对本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种根据标尺刻度线调整图像分辨率的方法，其特征在于，包括以下步骤：对待调整图像进行预处理得到包含所述刻度线轮廓信息的轮廓图像；对所述轮廓图像中每个刻度线的轮廓进行椭圆拟合，将每个刻度线拟合为一个椭圆，并将每个椭圆的中心点作为所述刻度线的中心点；旋转拟合后所述刻度线以使所述椭圆的长轴与竖直方向平行；对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合得到拟合直线的斜率；根据所述斜率得到所述刻度线间的距离；根据所述刻度线间的距离调整所述待调整图像的分辨率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述对待调整图像进行预处理得到包含所述刻度线轮廓的轮廓图像，包括：通过预训练的图像分割模型分割所述待调整图像，以便得到仅包括背景和刻度线的标尺掩膜图像；将所述标尺掩膜图像二值化得到二值化图像；对所述二值化图像提取轮廓得到包含所述刻度线轮廓的轮廓图像。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合，包括：将所述每个刻度线的中心点映射得到映射后的中心点，其中映射后的中心点纵坐标为映射前中心点的横坐标，所有映射后的中心点横坐标为任意值且相同；根据映射后中心点的纵坐标调整所述映射后中心点的横坐标，调整后所有映射后的中心点的横坐标为互不相同的整数；对调整后的中心点进行直线拟合。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：所述根据映射后中心点的纵坐标调整所述映射后中心点的横坐标，包括：对任一映射后的中心点，计算当前点与后一点之间的第一步长距离，所述第一步长距离为后一点的纵坐标与当前点纵坐标的差值；若所述第一步长距离在预设范围内，则计算所述当前点与剩余所有中心点的第一相对距离；将所述当前点横坐标调整为0，计算所述第一相对距离与所述第一步长距离的第一比值，将所述第一比值取整后作为所述第一相对距离对应的中心点的横坐标。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述对旋转后每条刻度线的中心点进行直线拟合，包括：将所述每个刻度线的中心点映射得到映射后的中心点，其中映射后的中心点横坐标为映射前中心点的横坐标，所有映射后的中心点纵坐标为任意值且相同；根据映射后中心点的横坐标调整所述映射后中心点的纵坐标，调整后所有映射后的中心点的纵坐标为互不相同的整数；对...
【专利技术属性】
技术研发人员：李黄薇，曲宇翔，李军，李平立，
申请(专利权)人：方正国际软件北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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