一种电磁辐射测试的方法、系统、设备和存储介质技术方案

本发明专利技术提供一种电磁辐射测试的方法、系统、设备和存储介质，方法包括：将控制室内的控制电脑的网口通过网线与测试屏蔽暗室中的受测试设备的基板管理控制器网口进行连接；将测试超出限值的对应频率调整到接收机的屏幕上，根据屏幕上的波形判断对应的时钟是否已经打开了展频功能；响应于对应的时钟已经打开了展频功能，选择最优展频模式；以及在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度。本发明专利技术可以在进行电磁辐射测试时，直接在控制室内对于处在屏蔽暗室内的服务器进行远程控制展频的相关参数的设置，并且可以直接在控制室内实时查看展频参数不同设置情况下的测试结果，节约了大量的时间和经济成本。节约了大量的时间和经济成本。节约了大量的时间和经济成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电磁辐射测试的方法、系统、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及电磁测试领域，更具体地，特别是指一种电磁辐射测试的方法、系统、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]信息技术类设备(含服务器产品及电脑类产品)向高速、高灵敏度、高集成化、高稳定性的方向发展，对电磁兼容方面的要求也越来越苛刻。数字信号的时钟频率越来越高，信号的建立、保持时间越来越短，时钟抖动的要求也逐渐严苛。因此，对于高速数字系统的互连设备，电磁辐射问题日益突出，不仅影响连接端数字系统的工作，还干扰周围的其他设备。因此，信息技术类设备设计前期必须考虑电磁兼容问题。
[0003]在信息技术类设备的电磁辐射问题中，又尤其以时钟信号的电磁辐射问题突出严重。主要原因在于时钟信号常常是电路系统中频率最高和边沿最陡的信号，也就是时钟信号的上升沿与下降沿陡，上升沿时间和下降沿时间短。根据傅里叶变换的知识，可以了解到，时钟信号越陡峭，所对应的频域分量的频率就会越来越高，频率越高所对应的波长越短，那么可以利用的天线或等效天线的尺寸就会越短。因此，电磁辐射就会越容易，随之带来的电磁辐射问题就会引起比较严重的后果。最基本的问题就是：无法取得国家EMC(electromagnetic compatibility，电磁兼容)相关的认证，导致产品无法上市。
[0004]时钟展频技术(SSC，Spread Spectrum clocking)是目前解决高速时钟电磁辐射问题比较有效且解决成本最低的一种解决方法。SSC之所以可以解决EMI(Electromagnetic interferce)电磁干扰问题，是因为SSC功能打开以后，高速时钟的频率随时间做周期性变化，对应频域上就是将电磁辐射的能量均匀分布在一定带宽频率的范围内，电磁辐射的能量就会随之降低。在SSC功能不打开的情况下，也就是在固定时钟频率的情况下，根据傅里叶变换，对应在频域就会将电磁辐射的能力集中在一个频率当中，电磁辐射的能量就会超出相关EMC认证法规的限值，导致测试结果无法满足法规要求，也就无法拿到认证的证书，产品无法上市。
[0005]在现有展频技术的前提下，将时钟信号的展频功能打开，需要在服务器BIOS设置界面之中进行设置。如果在服务器开机界面中，没有BIOS设置项的话，则需要通过刷新BIOS固件的方式来更新BIOS,以此达到设置展频的目的。现有技术的时钟信号展频设置费时费力，每次更新都需要重新启动服务器，然而服务器是一种大型的信息处理设备，每次重新启动都会耗时十几或几十分钟。并且每一个参数的设置都需要重新启动一次。如果是在电磁辐射测试屏蔽暗室内进行设置的话，会话费大量的时间和测试费用。现有展频技术的设置中，无法实时看到展频以后的结果，必须每次通过在电磁屏蔽暗室中进行测试以后才可以看到展频以后的结果。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提出一种电磁辐射测试的方法、系统、计算机
设备及计算机可读存储介质，本专利技术可以在进行电磁辐射测试时，直接在控制室内对于处在屏蔽暗室内的服务器进行远程控制展频的相关参数的设置，并且可以直接在控制室内实时查看展频参数不同设置情况下的测试结果，从而避免每次设置一个参数都要跑进屏蔽暗室进行设置的繁琐步骤，节约了大量的测试时间，由于测试场地均按测试时长进行收费，从而可以节省出大量的测试费用，最大限度的节约了分析解决问题过程当中的研发费用。
[0007]基于上述目的，本专利技术实施例的一方面提供了一种电磁辐射测试的方法，包括如下步骤：将控制室内的控制电脑的网口通过网线与测试屏蔽暗室中的受测试设备的基板管理控制器网口进行连接；将测试超出限值的对应频率调整到接收机的屏幕上，根据屏幕上的波形判断对应的时钟是否已经打开了展频功能；响应于对应的时钟已经打开了展频功能，选择最优展频模式；以及在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度。
[0008]在一些实施方式中，方法还包括：通过所述控制电脑对所述受测试设备进行展频时钟的寄存器进行配置，所述寄存器的高四位确定展频深度，所述寄存器的低四位确定展频功能的开关、展频模式和调制速度。
[0009]在一些实施方式中，所述在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度包括：在所述最优展频模式下将调制深度从低到高依次进行设置，并从满足限值的调制深度中选择测试结果改善最好的调制深度作为最优调制深度。
[0010]在一些实施方式中，所述在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度包括：在所述最优展频模式和最优调制深度下将调制速度从低到高依次进行设置，并从满足限值的调制速度中选择测试结果改善最好的调制速度作为最优调制速度。
[0011]本专利技术实施例的另一方面，提供了一种电磁辐射测试的系统，包括：设置模块，配置用于将控制室内的控制电脑的网口通过网线与测试屏蔽暗室中的受测试设备的基板管理控制器网口进行连接；测试模块，配置用于将测试超出限值的对应频率调整到接收机的屏幕上，根据屏幕上的波形判断对应的时钟是否已经打开了展频功能；模式模块，配置用于响应于对应的时钟已经打开了展频功能，选择最优展频模式；以及执行模块，配置用于在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度。
[0012]在一些实施方式中，系统还包括配置模块，配置用于：通过所述控制电脑对所述受测试设备进行展频时钟的寄存器进行配置，所述寄存器的高四位确定展频深度，所述寄存器的低四位确定展频功能的开关、展频模式和调制速度。
[0013]在一些实施方式中，所述执行模块配置用于：在所述最优展频模式下将调制深度从低到高依次进行设置，并从满足限值的调制深度中选择测试结果改善最好的调制深度作为最优调制深度。
[0014]在一些实施方式中，所述执行模块进一步配置用于：在所述最优展频模式和最优调制深度下将调制速度从低到高依次进行设置，并从满足限值的调制速度中选择测试结果改善最好的调制速度作为最优调制速度。
[0015]本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种计算机设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现如上方法的步骤。
[0016]本专利技术实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有被处理器执行时实现如上方法步骤的计算机程序。
[0017]本专利技术具有以下有益技术效果：可以在进行电磁辐射测试时，直接在控制室内对于处在屏蔽暗室内的服务器进行远程控制展频的相关参数的设置，并且可以直接在控制室内实时查看展频参数不同设置情况下的测试结果，从而避免每次设置一个参数都要跑进屏蔽暗室进行设置的繁琐步骤，节约了大量的测试时间，由于测试场地均按测试时长进行收费，从而可以节省出大量的测试费用，最大限度的节约了分析解决问题过程当中的研发费用。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁辐射测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：将控制室内的控制电脑的网口通过网线与测试屏蔽暗室中的受测试设备的基板管理控制器网口进行连接；将测试超出限值的对应频率调整到接收机的屏幕上，根据屏幕上的波形判断对应的时钟是否已经打开了展频功能；响应于对应的时钟已经打开了展频功能，选择最优展频模式；以及在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，方法还包括：通过所述控制电脑对所述受测试设备进行展频时钟的寄存器进行配置，所述寄存器的高四位确定展频深度，所述寄存器的低四位确定展频功能的开关、展频模式和调制速度。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度包括：在所述最优展频模式下将调制深度从低到高依次进行设置，并从满足限值的调制深度中选择测试结果改善最好的调制深度作为最优调制深度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述最优展频模式下选择最优调制深度和最优调制速度包括：在所述最优展频模式和最优调制深度下将调制速度从低到高依次进行设置，并从满足限值的调制速度中选择测试结果改善最好的调制速度作为最优调制速度。5.一种电磁辐射测试的系统，其特征在于，包括：设置模块，配置用于将控制室内的控制电脑的网口通过网线与测试屏蔽暗室中的受测试设备的基板管理控制器网口进行连接；测试模块，配置用于将测试超出限值的对应频率调整到接收机的屏幕...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔杰，鲍乐梅，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：