一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法技术

本发明专利技术涉及一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法，适用于轴向双分裂变压器，将轴向双分裂变压器试品与直流电阻测量仪器连接组成试验回路，直流电阻测量仪器用来同时测量两个低压绕组的直流电阻；直流电阻测量仪的电压端子U

【技术实现步骤摘要】
一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法


[0001]本专利技术属于轴向双分裂变压器
，具体涉及一种对轴向双分裂变压器的两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法。

技术介绍

[0002]在已有的变压器直流电阻测试方法中，尤其是进行温升试验时，如何快速测量低压绕组的直流电阻的试验数据，一直是困扰试验人员的难题。
[0003]以往的试验方法只能通过直接励磁法或者助磁方法，而且受磁路的影响，低压绕组的直流电阻测量时间往往很长，需要用4
‑
5分钟的时间才能准确的测量出试验数据。但是，按照温升试验要求，试验过程中必须在3分钟内测量出试验数据，因此以往的试验方法往往不能满足试验标准要求，而且以往的方法试验之后会对变压器有剩磁，影响以后的试验项目。特别是对于轴向双分裂变压器而言，对于两个低压绕组进行直流电阻试验的方法非常麻烦。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法，本专利技术所采用的技术方案如下：
[0005]一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法，适用于轴向双分裂变压器，将轴向双分裂变压器试品与直流电阻测量仪器连接组成试验回路，直流电阻测量仪器用来同时测量两个低压绕组的直流电阻；直流电阻测量仪的电压端子U
1+
和电流输出端子I+分别连接第一低压绕组的a1端子，直流电阻测量仪的电压端子U1‑
连接第一低压绕组的b1端子；直流电阻测量仪的电压端子U2‑
和电流输出端子I
‑
分别连接第二低压绕组的a2端子，直流电阻测量仪的电压端子U
2+
连接第二低压绕组的b2端子；通过外部接线连接b1端子和b2端子，通过直流电阻测试仪的电流输出端子I+给轴向双分裂变压器试品的低压a1端子施加恒定电流I，此电流从低压b1端子流出，再通过外部接线从低压b2端子进入，最后从a2端子流出，进入直流电阻测试仪的电流输入端子I
‑
形成电流回路；流量电阻测试仪的电压端子U
1+
和U1‑
分别测量轴向双分裂变压器试品的低压端子a1和b1的电压，U
2+
和U2‑
分别测量轴向双分裂变压器试品的低压端子a2和b2的电压，通过欧姆定律R＝U/I得到两个低压绕组a1
‑
b1和a2
‑
b2的直流电阻值，即R
a1b1
＝
△
U/I＝(U
1+
‑
U1‑
)/I，R
a2b2
＝
△
U/I＝(U
2+
‑
U2‑
)/I。
[0006]本专利技术的有益效果：
[0007]本试验方法，利用轴向双分裂变压器的两个低压绕组的排列特点，给两个低压绕组采用头尾反向励磁的试验方法，能够快速的同时测量出两个低压绕组的直流电阻。
附图说明
[0008]为了更清楚地说明本专利技术的具体实施方式、或者现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术的描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面
描述中的附图是本专利技术的一些具体实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的属于本申请保护范围之内的附图。
[0009]图1是本专利技术实用例的进行低压绕组直流电阻试验的设备连接示意图；
[0010]图2是本专利技术实用例的进行低压绕组直流电阻测试的原理示意图。
[0011]图中，1为轴向双分裂变压器试品，2为直流电阻测量仪器。
具体实施方式
[0012]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0013]如图1所示，是本专利技术实用例的进行低压绕组直流电阻试验的设备连接示意图。一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法，适用于轴向双分裂变压器，将轴向双分裂变压器试品1与直流电阻测量仪器2连接组成试验回路，直流电阻测量仪器2用来同时测量两个低压绕组的直流电阻。直流电阻测量仪2的电压端子U
1+
和电流输出端子I+分别连接第一低压绕组的a1端子，直流电阻测量仪2的电压端子U1‑
连接第一低压绕组的b1端子；直流电阻测量仪2的电压端子U2‑
和电流输出端子I
‑
分别连接第二低压绕组的a2端子，直流电阻测量仪2的电压端子U
2+
连接第二低压绕组的b2端子；通过外部接线连接b1端子和b2端子。通过直流电阻测试仪2的电流输出端子I+给轴向双分裂变压器试品1的低压a1端子施加恒定电流I，此电流从低压b1端子流出，再通过外部接线从低压b2端子进入，最后从a2端子流出，进入直流电阻测试仪2的电流输入端子I
‑
形成电流回路。流量电阻测试仪2的电压端子U
1+
和U1‑
分别测量轴向双分裂变压器试品1的低压端子a1和b1的电压，U
2+
和U2‑
分别测量轴向双分裂变压器试品1的低压端子a2和b2的电压，通过欧姆定律R＝U/I，从而得到两个低压绕组a1
‑
b1和a2
‑
b2的直流电阻值，即R
a1b1
＝
△
U/I＝(U
1+
‑
U1‑
)/I，R
a2b2
＝
△
U/I＝(U
2+
‑
U2‑
)/I。
[0014]常规的直流电阻测量方法，因为变压器具备铁心，当施加恒定电流时，有激磁安匝会在铁心内部产生磁通Ψ，绕组链合的磁通对应绕组的电感L(i)，此电感是动态电感，是电流i的函数，L(i)＝d
Ψ
/d
i
，在电流稳定前，通过绕组的电流i小于稳定时的电流I，有一个过渡过程，过渡过程的时间长短决定于电路的时间常数，在线路合闸后，试品的直流电阻测量回路是一个具有电阻R和电感L的电路，直流电源的电压E＝i*R+d
Ψ
/d
t
，也可以写为R为低压绕组的直流电阻，L(i)对应铁心的增量电感。当电感L为常数时，因此，测量时间的长短由时间系数(L*di/dt)决定。变压器的绕组在直流激磁时电感大，特别是测量三相五柱铁心的大型变压器的低压三角形连接的绕组，受电感影响，普通测量方法需要很长的时间才能使电流达到稳定值。
[0015]如图2所示，是本专利技术实用例的进行低压绕组直流电阻测试的原理示意图。此低压直流电阻测量原理图，第一低压绕组的a1
‑
b1和第二低压绕组的a2
‑
b2端子在同一铁心柱上，因此整个直流电阻测量回路的时间系数为L1(i)/R1+L2(i)/R2，由上图可知，因为两个低压绕组中流过的电流的大小i1＝i2，但是方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法，适用于轴向双分裂变压器，其特征在于，将轴向双分裂变压器试品与直流电阻测量仪器连接组成试验回路，直流电阻测量仪器用来同时测量两个低压绕组的直流电阻；直流电阻测量仪的电压端子U
1+
和电流输出端子I+分别连接第一低压绕组的a1端子，直流电阻测量仪的电压端子U1‑
连接第一低压绕组的b1端子；直流电阻测量仪的电压端子U2‑
和电流输出端子I
‑
分别连接第二低压绕组的a2端子，直流电阻测量仪的电压端子U
2+
连接第二低压绕组的b2端子；通过外部接线连接b1端子和b2端子，通过直流电阻测试仪的电流输出端子I+给轴向双分裂变压器试品的低压a1端子施加恒定电流I，此电流从低压b1端子流出，再通过外部接线从低压b2端子进入，最后从a2端子流出，进入直流电阻测试仪的电流输入端子I
‑
形成电流回路；流量电阻测试仪的电压端子U
1+
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘中凯，韩凯，席永鹏，杨在葆，马华辉，谢明德，
申请(专利权)人：山东电力设备有限公司，
类型：发明
国别省市：