发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质技术方案

本申请提供了一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质，该方法包括：对待测试发光器件进行寿命测试；若亮度衰减值满足预设衰减条件，将亮度衰减值对应的亮度值设置为结束亮度，对待测试发光器件进行亮度检测得到真实亮度；根据起始亮度、亮度衰减值和结束亮度确定器件寿命曲线，根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准；根据校准后的器件寿命曲线对待测试发光器件的额定发光亮度进行寿命计算，得到待测试发光器件的寿命。本申请通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高对待测试发光器件寿命计算的准确性。准确性。准确性。

【技术实现步骤摘要】
发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质


[0001]本申请属于发光器件检测领域，尤其涉及一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质。

技术介绍

[0002]通常将物体向外发射出可见光的现象称为发光，而发光器件是具有发光功能的器件，发光器件通过内部的空穴与外部输入的电子进行复合，以释放能量进行发光，使得发光器件可高效地将电能转化为光能，在现代社会具有广泛的用途，例如，照明、平板显示和医疗器件等领域中的使用。
[0003]由于发光器件是一种电子器件，存在着老化及使用寿命等问题，因此，现有的发光器件制造过程中，均需要在产品出厂前进行寿命测试，以保障发光器件的出厂质量，但现有的发光器件寿命测试过程中，均是仅基于发光器件上发光面的亮度衰减值进行寿命的计算，但当发光器件的发光面不均匀时，使得发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，进而导致发光器件寿命测试准确性低下。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质，旨在解决现有的发光器件寿命测试过程中，当发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，所导致的发光器件寿命测试准确性低下的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种发光器件寿命测试方法，所述方法包括：
[0006]对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；
[0007]若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；
[0008]根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；
[0009]获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。
[0010]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：若亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高器件寿命曲线的准确性，进而提高了对待测试发光器件寿命计算的准确性。
[0011]进一步地，所述根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，包括：
[0012]获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；
[0013]以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线。
[0014]进一步地，所述根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准，包括：
[0015]计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；
[0016]根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换。
[0017]进一步地，所述根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命，包括：
[0018]获取校准后的所述器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并获取所述结束亮度在校准前的所述器件寿命曲线中对应的所述测试时间，得到结束时间；
[0019]根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述器件工作寿命。
[0020]进一步地，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算所采用的技术公式为：
[0021]L
0A
*T0＝L
xA
*T
x
[0022]其中，L0为所述最大亮度显示值，T0为所述结束时间，L
x
为所述额定发光亮度，T
x
为所述器件工作寿命，A为所述待测试发光器件对应的寿命加速因子。
[0023]进一步地，所述对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度，包括：
[0024]根据亮度计对所述待测试发光器件中的指定区域进行亮度检测，得到区域亮度值；
[0025]计算所述区域亮度值的平均值，并将所述平均值设置为所述真实亮度。
[0026]进一步地，所述获取所述待测试发光器件的起始亮度和所述起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值之后，还包括：
[0027]若所述亮度衰减值小于或等于衰减阈值，则判定所述亮度衰减值满足预设衰减条件。
[0028]第二方面，本申请实施例提供了一种发光器件寿命测试系统，包括：
[0029]寿命测试模块，用于对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；
[0030]真实亮度获取模块，用于若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；
[0031]寿命曲线确定模块，用于根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；
[0032]寿命计算模块，用于获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。
[0033]第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所
述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的方法。
[0034]第四方面，本申请实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的方法。
[0035]第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一项所述的发光器件寿命测试方法。
[0036]可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0038]图1是本申请第一实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图；
[0039]图2是本申请第二实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图；
[0040]图3是本申请第三实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图；
[0041]图4是本申请本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光器件寿命测试方法，其特征在于，包括：对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。2.如权利要求1所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，包括：获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线。3.如权利要求2所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准，包括：计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换。4.如权利要求2所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命，包括：获取校准后的所述器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并获取所述结束亮度在校准前的所述器件寿命曲线中对应的所述测试时间，得到结束时间；根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述器件工作寿命。5.如权利要求4所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算所采用的技术公式为：...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪佳婷，敖资通，柳春美，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：