一种图像输出方法、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

根据本申请方案所提供的图像输出方法、装置及计算机可读存储介质，控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测像素阵列的像素累积电荷量；根据入射光强度变化参数，生成事件信号；根据事件信号输出事件图像；根据事件图像从像素阵列中获取感兴趣区域；根据感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像。通过本申请方案的实施，在输出事件图像之后，根据事件图像从像素阵列中获取感兴趣区域，根据感兴趣区域上像素累积电荷量输出静态图像，一方面，相比于动态视觉传感器，本发明专利技术输出的图像细节更丰富，图像更完整，分辨率更高；另一方面，相比于传统视觉传感器，本发明专利技术输出的图像数据量小，从而可以降低功耗。从而可以降低功耗。从而可以降低功耗。

【技术实现步骤摘要】
一种图像输出方法、装置及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及电子
，尤其涉及一种图像输出方法、装置及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]当前主流的图像传感器包括互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器和动态视觉传感器。CMOS图像传感器的优点在于捕获的真实原图，但处理的数据量高、功耗大。因为动态视觉传感器仅检测光强改变的事件并且只输出检测到的事件，所以动态视觉传感器非常适合处理动态数据低的场景。其缺点在于动态视觉传感器的噪声相对前者大。
[0003]由于移动环境下的CMOS图像传感器要求最小功耗，因为在功耗和性能之间存在折衷关系，所以期望存在一种图像传感器在仍保持CMOS图像传感器的性能的同时使功耗最小化。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种图像输出方法、装置及计算机可读存储介质，至少能够解决相关技术中使用CMOS图像传感器输出图像的数据量大、功耗高，而使用动态视觉传感器输出图像的性能低的问题。
[0005]本申请实施例第一方面提供了一种图像输出方法，包括：
[0006]控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测所述像素阵列的像素累积电荷量；
[0007]根据入射光强度变化参数，生成事件信号；
[0008]根据所述事件信号输出事件图像；
[0009]根据所述事件图像从所述像素阵列中获取感兴趣区域；
[0010]根据所述感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像。
[0011]本申请实施例第二方面提供了一种图像输出装置，包括：
[0012]检测模块，用于控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测所述像素阵列的像素累积电荷量；
[0013]生成模块，用于根据入射光强度变化参数，生成事件信号；
[0014]第一输出模块，用于根据所述事件信号输出事件图像；
[0015]获取模块，用于根据所述事件图像从所述像素阵列中获取感兴趣区域；
[0016]第二输出模块，用于根据所述感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像。
[0017]本申请实施例第三方面提供了一种电子装置，包括：存储器、处理器及总线，所述总线用于实现所述存储器、处理器之间的连接通讯；所述处理器用于执行存储在所述存储器上的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时上述本申请实施例第一方面提供的图像输出方法中的各步骤。
[0018]本申请实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程
序，计算机程序被处理器执行时，实现上述本申请实施例第一方面提供的图像输出方法中的各步骤。
[0019]由上可见，根据本申请方案所提供的图像输出方法、装置及计算机可读存储介质，控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测所述像素阵列的像素累积电荷量；根据入射光强度变化参数，生成事件信号；根据所述事件信号输出事件图像；根据所述事件图像从所述像素阵列中获取感兴趣区域；根据所述感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像。通过本申请方案的实施，在输出事件图像之后，根据事件图像从像素阵列中获取感兴趣区域，根据感兴趣区域上像素累积电荷量输出静态图像，一方面，相比于动态视觉传感器，本专利技术输出的图像细节更丰富，图像更完整，分辨率更高；另一方面，相比于传统视觉传感器，本专利技术输出的图像数据量小，从而可以降低功耗。
附图说明
[0020]图1为本申请第一实施例提供的图像输出方法的基本流程示意图；
[0021]图2为本申请第一实施例提供的图像传感器和控制与处理器示意图；
[0022]图3为本申请第一实施例提供的像素阵列和输出电路示意图；
[0023]图4为本申请第二实施例提供的图像输出方法的细化流程示意图；
[0024]图5为本申请第三实施例提供的图像输出装置的程序模块示意图；
[0025]图6为本申请第四实施例提供的电子装置的结构示意图。
[0026]具体实施内容
[0027]为使得本申请的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0028]为了解决相关技术中在使用CMOS图像传感器输出图像的数据量大、功耗高，而使用动态视觉传感器输出图像的性能低的问题，本申请第一实施例提供了图像输出方法。如图1为本实施例提供的图像输出方法的基本流程图，该图像输出方法包括以下的步骤：
[0029]步骤101、控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测像素阵列的像素累积电荷量。
[0030]具体的，参考图2和图3，基于图像传感器的感兴趣区域检测系统包括图像传感器201和控制与处理器202，图像传感器201包含多个像素302组成的像素阵列301，该整体像素阵列可以划分为多个子像素阵列，该子像素阵列可以是规则划分的，也可以是不规则划分的，优选的采用规则划分方式，以方便控制图像输出，例如图3中的子像素阵列303、子像素阵列304、子像素阵列305。在实际应用中，当前主流的图像传感器的像素阵列只能单独检测入射光变化强度参数或者是检测像素阵列的像素累积的电荷量，难以满足不同应用场景对输出图像的不同需求。在本实施例中，像素阵列301既可以检测入射光变化强度参数，也可以检测像素累积电荷量，并且根据应用场景的不同需求对像素阵列上的每个像素进行灵活配置。
[0031]在本实施例一种可选的实施方式中，控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测像素阵列的像素累积电荷量的步骤，包括：将像素阵列划分为至少一个
子像素阵列；控制子像素阵列检测入射光强度变化参数，和/或检测像素阵列的像素累积电荷量。
[0032]具体的，在本实施例中，将像素阵列301划分为不同的子像素阵列，其中包括但不限于子像素阵列303、子像素阵列304、子像素阵列305等，在不同的应用场景中，对子像素阵列进行灵活配置，例如，在配置子像素阵列303为检测入射光强度变化参数时，可以配置子像素阵列304或子像素阵列305对子像素阵列中的像素累积电荷量进行检测，也可以配置子像素阵列同时检测像素累积电荷量，根据对子像素阵列进行灵活配置来满足不同应用场景的不同需求。应当理解的是，像素阵列301中的每个像素都是单独控制，可以根据不同的需求对子像素阵列的像素进行单独配置，即每个像素都可以检测入射光强度变化参数，和/或像素累积的电荷量。
[0033]在本实施例一种可选的实施方式中，控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数的步骤，包括：控制像素阵列检测入射光所对应的电荷量；根据电荷量生成光电流以输出对数电压；将对数电压与预设的比较电压进行比较；根据比较结果确定入射光强度变化参数。
[0034]具体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像输出方法，其特征在于，包括：控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测所述像素阵列的像素累积电荷量；根据入射光强度变化参数，生成事件信号；根据所述事件信号输出事件图像；根据所述事件图像从所述像素阵列中获取感兴趣区域；根据所述感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像。2.根据权利要求1所述的图像输出方法，其特征在于，所述控制图像传感器的像素阵列检测入射光强度变化参数，以及检测所述像素阵列的像素累积电荷量的步骤，包括：将所述像素阵列划分为至少一个子像素阵列；控制所述子像素阵列检测入射光强度变化参数，和/或检测所述像素阵列的像素累积电荷量。3.根据权利要求1所述的图像输出方法，其特征在于，所述根据所述事件信号输出事件图像的步骤，包括：控制图像输出电路的第一子输出电路，根据所述事件信号输出事件图像；其中，所述图像输出电路包括至少一个子输出电路。4.根据权利要求3所述的图像输出方法，其特征在于，所述根据所述感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像的步骤，包括：控制所述图像输出电路的第二子输出电路，根据所述感兴趣区域的像素累积电荷量输出静态图像。5.根据权利要求4所述的图像输出方法，其特征在于，在所述事件信号为有效事件信号时，执行所述根据所述事件信号输出事件图像的步骤；在所述事件信号为无效事件信号时，所述根据入射光强度变化参数，生成事件信号的步骤之后，还包括：控制所述第一子输出电路输出空白事件图像，并关闭所述第二子输出电路。6.根据权利要求5所述的图像输出方法，其特征在于，所述关闭所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：查颖云，
申请(专利权)人：深圳锐视智芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：