本实用新型专利技术提供了一种模块化IC测试座及IC测试装置，模块化IC测试座包括底座以及与所述底座转动连接的上盖；所述底座与所述上盖之间连接有牵引绳；所述牵引绳的两端均固定连接有套环，所述底座以及所述上盖的同一侧壁均可拆设置有固定柱，所述固定柱端部固定连接有用于锁紧所述套环的固定盘，所述固定盘端面圆直径尺寸大于所述套环端面圆直径尺寸。本实用新型专利技术通过上述技术方案，实现对上盖与底座之间展开角度的控制效果。开角度的控制效果。开角度的控制效果。
【技术实现步骤摘要】
一种模块化IC测试座及IC测试装置
[0001]本技术涉及芯片测试的
，特别涉及一种模块化IC测试座及IC测试装置。
技术介绍
[0002]目前芯片生产后需要进行功能、性能测试，器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。
[0003]现有的技术中，提出了一种模块化IC测试座及IC测试装置，涉及芯片测试
该模块化IC测试座包括底座和用于连接被测IC和测试电路的模块组件，模块组件包括固定于底座且相互贴靠的多个限位片和用于连接被测IC和测试电路的多个弹片，每个限位片上均设置有多个与弹片相配合的第一限位通孔，多个限位片的第一限位通孔形成的通孔矩阵与被测IC的点位相适应，底座的底壁上设置有用于弹片伸出与测试电路接触的第一通道缺口。其通过调整限位片的个数和限位片中弹片数量，实现第一限位通孔形成的通孔矩阵与被测IC的电位相适应，从而实现对不同尺寸的IC进行测定。该IC测试装置包括上述模块化IC测试座，能够适应不同尺寸的IC，通用性强。
[0004]上述中的现有技术方案存在以下缺陷：当上盖从底座上弹出时，由于上盖与底座回弹角度过大，存在弹出过程中容易伤人的隐患。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是提供一种模块化IC测试座及IC测试装置，以解决上盖与底座展开角度过大的问题。
[0006]本技术提供了一种模块化IC测试座，包括底座以及与所述底座转动连接的上盖；所述底座与所述上盖之间连接有牵引绳；所述牵引绳的两端均固定连接有套环，所述底座以及所述上盖的同一侧壁均可拆设置有固定柱，所述固定柱端部固定连接有用于锁紧所述套环的固定盘，所述固定盘端面圆直径尺寸大于所述套环端面圆直径尺寸。
[0007]进一步地，所述底座以及所述上盖侧壁均设置有固定孔，所述固定柱插接于所述固定孔内，所述固定孔内壁设置有滑槽，所述固定柱周向外壁固定连接有凸块，所述凸块滑动连接于所述滑槽内，所述固定孔内壁设置有用于卡接所述凸块的卡接件。
[0008]进一步地，所述卡接件设置为卡接槽，所述卡接槽设置为弧形槽，所述卡接槽轴线方向与所述滑槽长度方向平行，所述滑槽底端与所述卡接槽连通，所述卡接槽的另一端为闭合设置，所述凸块滑动至所述滑槽底端后转动至所述卡接槽内。
[0009]进一步地，所述凸块沿着所述滑槽长度方向的尺寸等于所述卡接槽的深度尺寸，所述凸块外壁与所述卡接槽内壁贴合。
[0010]进一步地，所述底座以及所述上盖均设置有与所述卡接槽连通的通孔，所述通孔内滑动连接有插销，所述凸块设置有用于所述插销插接的插接孔。
[0011]进一步地，所述插销远离于所述插接孔的一端固定连接有手柄，所述手柄与所述
插销为正交垂直设置。
[0012]进一步地，所述插销外套设有弹簧，所述弹簧的一端与所述手柄固定连接，另一端与所述底座或所述上盖固定连接。
[0013]本技术还提供了一种模块化IC测试装置，包括上述模块化IC测试座。
[0014]本技术具有以下有益效果：当凸块朝向卡接槽内转动时，驱动插销远离插接孔方向运动，插销插接于插接孔内，当插接孔运动至与通孔连通时，撤掉对手柄施加的作用力，在弹簧弹力作用下，插销插接于插接孔内，完成对凸块的锁定效果；在固定盘的作用下，实现对套环的锁定效果，当上盖与底座分开时，在牵引绳的作用下，上盖与底座之间弹开角度被控制。
附图说明
[0015]图1是本技术一的整体结构示意图；
[0016]图2是本技术一中固定柱、固定盘以及弹簧的爆炸示意图；
[0017]图3是图2中A部分的局部放大示意图。
[0018]主要元件符号说明：
[0019]底座1上盖2牵引绳3套环4固定柱5固定盘6固定孔7凸块8滑槽9卡接槽10通孔11插接孔12插销13手柄14弹簧15
[0020]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。
具体实施方式
[0021]实施例一
[0022]为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的若干个实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容更加透彻全面。
[0023]需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0024]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0025]如图1
‑
图2所示，本申请提出了一种模块化IC测试座及IC测试装置，包括底座1以及与底座1转动连接的上盖2，底座1转动连接有转轴，转轴与上盖2固定连接，转轴外套设有扭簧，扭簧的两端分别与上盖2以及底座1固定连接，在扭簧的作用下，实现底座1与上盖2之
间自动回弹的效果。
[0026]如图2
‑
图3所示，底座1与上盖2之间连接有牵引绳3，牵引绳3的两端均固定连接有套环4，底座1以及上盖2的同一侧壁均可拆设置有固定柱5，固定柱5端部固定连接有固定盘6，固定盘6端面圆直径尺寸大于套环4端面圆直径尺寸，在固定盘6的限位作用下，实现对套环4的限制效果，进而完成对牵引绳3的固定效果，当上盖2与底座1闭合时，牵引绳3处于自由状态，当上盖2与底座1弹开时，在牵引绳3的拉扯作用下，牵引绳3被拉直，牵引绳3可采用现有技术中的麻绳，在牵引绳3的拉扯作用下，实现对上盖2弹出角度的限制效果。
[0027]如图2
‑
图3所示，底座1以及上盖2侧壁均设置有固定孔7，固定柱5插接于固定孔7内，固定孔7内壁设置有滑槽9，固定柱5周向外壁固定连接有凸块8，凸块8滑动连接于滑槽9内，滑槽9靠近于固定孔7的开口处为开口设置，固定孔7内壁设置有用于卡接凸块8的卡接件，卡接件设置为卡接槽10，卡接槽10设置为弧形槽，卡接槽10轴线方向与滑槽9长度方向平行设置，滑槽9底端与卡接槽10连通，卡接槽10的另一端为闭合设置，凸块8沿着滑槽9运动后转动至卡接槽10内，凸块8沿着滑槽9长度方向的运动被限制，凸块8沿着滑槽9长度方向的尺寸等于卡接槽10的深度尺寸，凸块8外壁与卡接槽10内壁抵接，确保凸块8沿着滑槽9长度方向的运动被限制。
[0028]如图2
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图3所示，底座1以及上盖2均设置有与卡接槽10连通的通孔11，通孔11的轴线方向与滑槽9长度方向平本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种模块化IC测试座，其特征在于，包括底座以及与所述底座转动连接的上盖；所述底座与所述上盖之间连接有牵引绳；所述牵引绳的两端均固定连接有套环，所述底座以及所述上盖的同一侧壁均可拆设置有固定柱，所述固定柱端部固定连接有用于锁紧所述套环的固定盘，所述固定盘端面圆直径尺寸大于所述套环端面圆直径尺寸。2.根据权利要求1所述的一种模块化IC测试座，其特征在于,所述底座以及所述上盖侧壁均设置有固定孔，所述固定柱插接于所述固定孔内，所述固定孔内壁设置有滑槽，所述固定柱周向外壁固定连接有凸块，所述凸块滑动连接于所述滑槽内，所述固定孔内壁设置有用于卡接所述凸块的卡接件。3.根据权利要求2所述的一种模块化IC测试座，其特征在于,所述卡接件设置为卡接槽，所述卡接槽设置为弧形槽，所述卡接槽轴线方向与所述滑槽长度方向平行，所述滑槽底端与所述卡接槽连通，所述卡接槽的另一端为闭合设置，所述凸块滑...
【专利技术属性】
技术研发人员：李金峰，李建祥，
申请(专利权)人：赣州中芯一峰电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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