用于材料样品的感测测量的方法和装置制造方法及图纸

根据本发明专利技术形成一种用于材料样品的感测测量的方法和装置，使得基于测量曲线，检测与常规测量特性的偏差，并提供相应的文档，供维修技术人员分析评价。修技术人员分析评价。修技术人员分析评价。

【技术实现步骤摘要】
用于材料样品的感测测量的方法和装置


[0001]本专利技术涉及一种材料样品的感测测量的方法，尤其通过热分析进行。

技术介绍

[0002]此类方法是众所周知的并且包括例如动态差示量热法 (DSC
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Differential Scanning Analysis)、热重分析(TGA)，也组合为同时热分析(TGA/DSC)，但也包括热机械分析(TMA)或动态力学分析(DMA)。
[0003]在这种类型的方法中，在该方法的用户处，操作者通常将用户想要的材料样品放入测量设备中，应用测量程序或从预定测量程序中选择一个测量程序，然后在测量设备上进行测量。
[0004]尤其是因为其间实现的非常高的测量精度，即使是很小的干扰也会导致超出公差范围的测量偏差。在一些情况下，测量设备中存在已被内部监控识别为故障的故障，于是根据预定的故障协议发出相应的警告消息。如果以这种方式识别出故障，则可能已经由现场操作者或为此目的请来的维修技术人员进行补救。
[0005]在测量设备本身未报告故障、但可能仍存在起先未检测到的差异的其它情况下，找到故障的根本原因更耗时，并且对测量设备的操作者、通常实验室人员而言不容易做到。相反，熟悉测量设备的维修技术人员将负责确定现场故障的原因。无论维修技术人员是根据他或她的经验对测量设备进行检查还是遵循测试方案进行检查，反复确定故障原因都显得非常耗时。用户通常不允许通过让维修技术人员使用远程控制系统(例如Team Viewer) 登录现场控制来解决此问题。这也不方便，因为会导致远程观看的维修技术人员不利的工作时间和长的无效时间，必须持续观察测量值，其中一些测量值运行整夜和/或几个小时、例如夜间运行八小时。

技术实现思路

[0006]因此，本专利技术的目的是开发一种所述类型的系统，使得在出现故障时，测量设备以较少的净时间消耗恢复到全部功能。
[0007]该目的在系统技术方面借助于一种材料样品的感测测量的方法来实现、尤其通过热分析，其中，材料样品是预定的，并且用于执行测量的准备作业借助于在第一位置处的自动引导的操作者
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机器交互来执行，并且然后在执行预定测量程序时，借助于测量设备在第一位置处自动进行测量，其中，通过将测量曲线区段和与这些测量曲线区段相关的参考值和/或进程尤其至少部分地自动比较，确定一个或多个偏差——其中测量曲线区段分配有测量设备的子单元的影响范围，并且根据所确定的偏差，尤其地，至少部分地自动地选择可能的干扰源，对于所确定的偏差，所述可能的干扰源以一个或多个子单元的功能状态与它们相应的目标状态的偏差的形式呈现。
[0008]在这种情况下，本专利技术基于以下知识：为了更快速地确定引起干扰的原因，首先自动执行一过程，即根据预定测量程序执行测量，该过程花费大量时间，尤其可以持续超过1
小时。测量程序优选甚至持续超过2小时、尤其超过3小时。在该方法的优选配置中，测量程序运行整夜并且至少部分地在第一位置的当地时间18时和第二天的8时之间的时间段内延续。
[0009]对于用户处的操作者来说，没有工作时间的损失，例如，他或她可以在离开实验室之前调用电子诊断工具，例如在报告偏离目标功能后主动地或应维修技术人员的要求而调用，在电子诊断工具的引导下执行必要的准备作业，并启动测量程序，测量程序然后自动运行。诊断测量程序可以通过测量空白或使用限定的样品来执行。诊断测量程序可由用户的操作者选择，但不能更改。
[0010]为了通知用户的操作者诊断测量程序正在运行，优选地生成关于正在运行的程序的警告并且优选地在测量设备的控制器的屏幕上输出该警告。
[0011]由于测量设备的子单元具有不同的影响范围，因此它们功能状态的任何偏差也可以在测量曲线的尤其几个、但可分配的区段中体现，另一方面，可至少以粗略估计或更精确地确定子单元在功能状态中哪种类型的变化至少定性地导致指定的测量曲线区段中的一个中哪种类型的变化，对可能的干扰源的选择已经提供了关于测量设备的先进知识，这是有根据的，因为它基于实际执行的系统/预定测量，并且基于这些知识，维修技术人员可以在现场更有针对性地实施维修工作，或操作者可在现场进行简单的调整和/ 或更换(可更换的)传感器。例如，在选择过程中排除了各种潜在的干扰源，这些干扰源仅根据操作者关于先前实验室测量的报告则须加以考虑。这些尤其包括操作者自己造成的错误、不正确的设备设置/测量参数和/或测量设备本身产生的特定错误消息。
[0012]无论对可能的干扰源的选择被自动支持的程度如何，都可能使不在现场的远程维修技术人员接收相关数据，相关数据可能已经带了预分析评价，或者也可能以中间处理形式，并且可选地可相对于测量位置远程地执行进一步分析，但这些分析仍然基于实际测量。此外，与Team Viewer不同的是，不再需要现场和远距离协调，这意味着不再需要在现场和远距离消耗时间。换言之，根据预定测量程序进行的测量和基于此的对测量结果的分析可以在时间和/或空间方面解耦，尤其是解耦。可以根据用于测量的仪器 /模块来配置测量曲线区段的划分。
[0013]本专利技术还提供控制执行根据本专利技术的方法的控制程序，以及相应配备和设计的测量设备和控制器。
附图说明
[0014]图1示出了根据本专利技术的一个实施例的测量曲线；
[0015]图2示出了根据本专利技术的一个实施例的测量曲线的示例性区段；
[0016]图3示出了根据本专利技术的一个实施例的测量曲线的示例性区段。
具体实施方式
[0017]在从属权利要求中阐述了进一步的优选实施例。
[0018]根据操作者在现场执行的预定(诊断)测量程序执行测量后，测量结果/测量曲线以及到执行的测量程序的分配或识别和/或由此得出的信息、例如以文档形式(例如.zip文档)确定的偏差和/或做出的选择，可以被编译、尤其手动或自动被编译，并且例如被操作者
传输到远程第二位置，在第二位置，例如，可以由维修技术人员分析评价测量曲线，然后可以继续对曲线进行分析评价。尤其地，该文档包含所涉及的模块(子单元)和测量设备/仪器的特性。
[0019]可以为不同的测量设备、如DSC、TGA、TGA/DSC或还有TMA、DMA 预定特定的测量程序。准备作业和测量程序因此与测量设备相协调或适配，并且在一个优选实施例中，电子诊断工具可以包含多个预定测量程序并且将操作者启动的自诊断分配给测量设备。
[0020]对于本专利技术意义上的测量设备，除了实际的测量传感器之外，还可以考虑影响子单元，子单元参与测量或有助于确定测量的环境，例如冷却系统、熔炉、气体供应及其组合(如果提供的话)。
[0021]在分析评价期间，维修技术人员例如可以确定测量值是否在可接受的容差范围内。如果在某个区段检测到错误，维修技术人员可以更容易地确定可能的原因(干扰源)。在只有有限数量的可能性看起来是可能的干扰源的情况下，尤其在补救这些干扰的措施在操作者的能力范围内的情况下，可以将反馈信息连同该信息内容一起返回给现场操作者。替代地或附加地，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种材料样品的感测测量的方法，所述感测测量尤其通过热分析进行，其中，材料样品是预定的，用于执行测量的准备作业借助于在第一位置处自动引导的操作者
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机器交互来执行，然后在执行预定测量程序时，借助于测量设备在第一位置处自动进行测量，其中，通过将分配有测量设备的子单元的影响范围的测量曲线区段和与这些测量曲线区段相关的参考值和/或进程尤其至少部分地自动比较，来确定一个或多个偏差；根据所确定的偏差，尤其地，至少部分地自动地选择可能的干扰源，对于所确定的偏差，所述可能的干扰源以一个或多个子单元的功能状态与它们相应的目标状态的偏差的形式呈现。2.根据权利要求1所述的方法，其中，自动编译文档，所述文档至少包含测量曲线和/或可能的干扰源，所述文档被传输到相对于第一位置而言远程的第二位置并且能够用于进一步的分析评价。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述文档附加地包含关于测量设备和/或其子单元的身份和/或特性的信息，可选地包括其在测量期间的时间变化、第一位置的识别、在第一位置处执行的测量的测量曲线和/或测量日志。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，在自动引导的操作者
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机器交互、所执行的测量和/或所述文档的编译期间，不发生影响这些过程的且源自第二位置的作业。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，不存在源自第二位置的、到电子平台的访问选项，所述电子平台控制第一位置处的自动引导的交互、所执行的测量和/或所述文档的编译。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，在为第二位置处的收到所述文档的人提供到第一位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：U，
申请(专利权)人：梅特勒托莱多有限公司，
类型：发明
国别省市：