一种半圆筒壳体加工方法、装置及计算机存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种半圆筒壳体加工方法、装置及计算机存储介质。其中，该方法包括：将圆筒壳体的外圆进行多次车工，以使圆筒壳体的外圆直径变小；将多次车工后的圆筒壳体的外表面两侧划中分线；根据中分线，切割机找正圆筒壳体，并在中分线上设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔进行切割，得到割缝；将圆筒壳体的外圆再次车工以使圆筒壳体的外圆直径为目标直径，并通过手锯沿割缝锯开再次车工后的圆筒壳体，得到两个半圆筒壳体。该方法解决了现有技术中直接铸造半圆筒壳体使用通用夹具出现压紧力大小不均匀，对半圆筒壳体产生压紧变形以及在加工过程中需多次换刀影响半圆筒壳体加工质量、极易造成废品的问题。保证了半圆筒壳体的质量。保证了半圆筒壳体的质量。保证了半圆筒壳体的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种半圆筒壳体加工方法、装置及计算机存储介质


[0001]本专利技术涉及加工
，具体而言，涉及一种半圆筒壳体加工方法、装置及计算机存储介质。

技术介绍

[0002]铸造半圆筒壳体在铸造的过程中，需先行铸造成圆筒壳体，然后由中间隔开形成半圆筒壳体。这样在铸造的过程中就需要做圆筒壳体的内外芯模，合装后进行浇铸形成圆筒壳体。
[0003]现有技术中，铸造半圆筒壳体由普通卧镗加工完成，加工过程中使用通用夹具出现压紧力大小不均匀，对半圆筒壳体产生压紧变形，操作人员手动加工出现的一致性不好同时不能进行编程控制，批量生产时效率低下。由于不是整个的圆筒壳体，半圆筒壳体上面的一些孔或台阶面等加工过程中需要多次换刀，影响半圆筒壳体加工质量，极易造成废品。
[0004]针对现有技术中直接铸造半圆筒壳体使用通用夹具出现压紧力大小不均匀，对半圆筒壳体产生压紧变形以及在加工过程中需多次换刀影响半圆筒壳体加工质量、极易造成废品的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例中提供一种半圆筒壳体加工方法、装置及计算机存储介质，以解决现有技术中直接铸造半圆筒壳体使用通用夹具出现压紧力大小不均匀，对半圆筒壳体产生压紧变形以及在加工过程中需多次换刀影响半圆筒壳体加工质量、极易造成废品的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
[0006]为达到上述目的，一方面，本专利技术提供了一种半圆筒壳体加工方法，该方法包括：铸造圆筒壳体，将所述圆筒壳体的外圆进行粗加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第一直径，并将所述外圆直径方向留6mm的余量；将粗加工后的所述圆筒壳体的圆面划分n条第一母线，并于每条第一母线上等间隔选取m个第一点计算每个第一点处的圆筒壳体的第一壁厚值；其中，全部的所述第一母线绕所述圆筒壳体的中心等间隔设置；根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第一次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第二直径；所述第二直径比所述第一直径小2mm；将第一次精加工后的所述圆筒壳体的圆面划分n条第二母线，并于每条第二母线上等间隔选取m个第二点计算每个第二点处的圆筒壳体的第二壁厚值；其中，全部的所述第二母线绕所述圆筒壳体的中心等间隔设置；根据所述第二壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第二次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第三直径；所述第三直径比所述第二直径小1mm；将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面划中分线；根据所述中分线，切割机找正所述圆筒壳体，并在所述中分线上设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔进行切割，得到割缝；将所述圆筒壳体的外圆进行第三次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第四直径，并通过手锯沿所述割缝锯开第三次精加工后的所述圆筒壳体，得到两个半圆筒壳体；所述第四直径
比所述第三直径小3mm。
[0007]可选的，在所述根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第一次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第二直径之前包括：判断所述圆筒壳体是否具有裂纹和砂眼，若是，则判断所述圆筒壳体不合格，不再对所述圆筒壳体进行精加工。
[0008]可选的，在所述判断所述圆筒壳体是否具有裂纹和砂眼，若是，则判断所述圆筒壳体不合格，不再对所述圆筒壳体进行精加工之后包括：将所述圆筒壳体进行第一次加热并在第一预设时间后冷却至室温；将冷却后的所述圆筒壳体进行第二次加热并在第二预设时间后冷却至室温。
[0009]可选的，所述根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体包括：判断任意相对两条第一母线上，全部相对两个第一点处的第一壁厚值的差值，若全部差值均大于1.5mm，则在较小的第一壁厚值所对应的圆筒壳体的内壁垫铜皮。
[0010]可选的，所述根据所述第二壁厚值调整所述圆筒壳体包括：判断任意相对两条第二母线上，全部相对两个第二点处的第二壁厚值的差值，若全部差值均大于1mm，则在较小的第二壁厚值所对应的圆筒壳体的内壁垫铜皮。
[0011]可选的，所述将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面划中分线；根据所述中分线，切割机找正所述圆筒壳体，并在所述中分线上设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔进行切割，得到割缝包括：将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面两侧划第一中分线；沿着所述第一中分线将所述圆筒壳体的两个圆面划第二中分线；根据所述第一中分线，切割机找正所述圆筒壳体；并在所述第二中分线上设置有端面孔，在所述第一中分线的两端设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔沿着所述第一中分线向圆筒壳体的中心进行切割，得到所述割缝。
[0012]另一方面，本专利技术提供了一种半圆筒壳体加工装置，该装置包括：粗加工单元，用于铸造圆筒壳体，将所述圆筒壳体的外圆进行粗加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第一直径，并将所述外圆直径方向留6mm的余量；第一划线单元，用于将粗加工后的所述圆筒壳体的圆面划分n条第一母线，并于每条第一母线上等间隔选取m个第一点计算每个第一点处的圆筒壳体的第一壁厚值；其中，全部的所述第一母线绕所述圆筒壳体的中心等间隔设置；第一精加工单元，用于根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第一次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第二直径；所述第二直径比所述第一直径小2mm；第二划线单元，用于将第一次精加工后的所述圆筒壳体的圆面划分n条第二母线，并于每条第二母线上等间隔选取m个第二点计算每个第二点处的圆筒壳体的第二壁厚值；其中，全部的所述第二母线绕所述圆筒壳体的中心等间隔设置；第二精加工单元，用于根据所述第二壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第二次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第三直径；所述第三直径比所述第二直径小1mm；切割单元，用于将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面划中分线；根据所述中分线，切割机找正所述圆筒壳体，并在所述中分线上设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔进行切割，得到割缝；割据单元，用于将所述圆筒壳体的外圆进行第三次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第四直径，并通过手锯沿所述割缝锯开第三次精加工后的所述圆筒壳体，得到两个半圆筒壳体；所述第四直径比所述第三直径小3mm。
[0013]可选的，所述切割单元包括：第一划线子单元，用于将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面两侧划第一中分线；第二划线子单元，用于沿着所述第一中分线将所述圆筒壳体的两个圆面划第二中分线；切割子单元，用于根据所述第一中分线，切割机找正所述圆筒壳体；并在所述第二中分线上设置有端面孔，在所述第一中分线的两端设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔沿着所述第一中分线向圆筒壳体的中心进行切割，得到所述割缝。
[0014]另一方面，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如上所述的半圆壳体加工方法。
[0015]本专利技术的有益效果：
[0016]本专利技术提供了一种半圆筒壳体加工方法、装置及计算机存储介质，即先加工圆筒壳体，之后再对圆筒壳体划中分线，在所述中分线上设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半圆筒壳体加工方法，其特征在于，包括：铸造圆筒壳体，将所述圆筒壳体的外圆进行粗加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第一直径，并将所述外圆直径方向留6mm的余量；将粗加工后的所述圆筒壳体的圆面划分n条第一母线，并于每条第一母线上等间隔选取m个第一点计算每个第一点处的圆筒壳体的第一壁厚值；其中，全部的所述第一母线绕所述圆筒壳体的中心等间隔设置；根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第一次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第二直径；所述第二直径比所述第一直径小2mm；将第一次精加工后的所述圆筒壳体的圆面划分n条第二母线，并于每条第二母线上等间隔选取m个第二点计算每个第二点处的圆筒壳体的第二壁厚值；其中，全部的所述第二母线绕所述圆筒壳体的中心等间隔设置；根据所述第二壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第二次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第三直径；所述第三直径比所述第二直径小1mm；将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面划中分线；根据所述中分线，切割机找正所述圆筒壳体，并在所述中分线上设置有穿丝孔，将钼丝穿入所述穿丝孔进行切割，得到割缝；将所述圆筒壳体的外圆进行第三次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第四直径，并通过手锯沿所述割缝锯开第三次精加工后的所述圆筒壳体，得到两个半圆筒壳体；所述第四直径比所述第三直径小3mm。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体，并将调整后的圆筒壳体的外圆进行第一次精加工以使所述圆筒壳体的外圆直径为第二直径之前包括：判断所述圆筒壳体是否具有裂纹和砂眼，若是，则判断所述圆筒壳体不合格，不再对所述圆筒壳体进行精加工。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述判断所述圆筒壳体是否具有裂纹和砂眼，若是，则判断所述圆筒壳体不合格，不再对所述圆筒壳体进行精加工之后包括：将所述圆筒壳体进行第一次加热并在第一预设时间后冷却至室温；将冷却后的所述圆筒壳体进行第二次加热并在第二预设时间后冷却至室温。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一壁厚值调整所述圆筒壳体包括：判断任意相对两条第一母线上，全部相对两个第一点处的第一壁厚值的差值，若全部差值均大于1.5mm，则在较小的第一壁厚值所对应的圆筒壳体的内壁垫铜皮。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二壁厚值调整所述圆筒壳体包括：判断任意相对两条第二母线上，全部相对两个第二点处的第二壁厚值的差值，若全部差值均大于1mm，则在较小的第二壁厚值所对应的圆筒壳体的内壁垫铜皮。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将第二次精加工后的所述圆筒壳体的外表面划中分线；根据所述中分...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凤，张王，吴榜洲，李伟，
申请(专利权)人：山西汾西重工有限责任公司，
类型：发明
国别省市：