探针以及具备该探针的连接器检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及探针以及具备该探针的连接器检查装置。探针(1)能够高精度地进行连接器的特性检查，并具备：壳体(40)，供信号线路(70)插通；柱塞(20)，具有供信号线路连接而用于进行连接器(6)的特性检查的测定端(72)；以及导电性凸缘(10)，固定于导电性检查台(50)，凸缘具有供壳体插通的线路用贯通孔(12)、和相对于线路用贯通孔被对置配置而供导电性固定部件插通的至少一个固定用贯通孔(13)，通过固定部件(30)，凸缘被电连接且固定于检查台电，从凸缘的厚度方向Z观察时，固定用贯通孔被固定部件的头部(31)堵塞，与立设于检查台的至少一个定位销(54)卡合的至少一个切口(14)形成于凸缘的外缘(18)。于凸缘的外缘(18)。于凸缘的外缘(18)。

【技术实现步骤摘要】
探针以及具备该探针的连接器检查装置


[0001]本技术涉及探针以及具备该探针的连接器检查装置。

技术介绍

[0002]例如，专利文献1公开了微波解析设备用或微波测定设备用的校准装置。在专利文献1的校准装置中，标准波导管凸缘及校准器连接器元件(以下，称为凸缘)通过螺钉、螺栓的固定单元被接合。在上述凸缘形成有固定单元用孔及定位销用孔。
[0003]专利文献1：日本特开2018
‑
511058号公报
[0004]在已接合的凸缘中，从厚度方向观察时，固定单元用孔被导电性的固定部件堵塞。与此相对，虽然定位销用孔与插通的定位销卡合，但定位销用孔成为从厚度方向观察，没有被某些部件堵塞的结构。
[0005]能够将现有的定位销用孔视为具有其开口部的整周被封闭的形状并且没被堵塞的槽。因此，在高频信号流过缆线时，现有的定位销用孔用作与从信号线路放射的高频的电磁波共振的共振构造(例如，半波长共振的缝隙天线)。在定位销用孔共振的高频的电磁波向信号线路放射，且作为噪声重叠于高频信号。因此，现有的定位销用孔成为噪声的产生源。凸缘中的定位销用孔的开口部尺寸通常为毫米级，因此该尺寸的定位销用孔容易与微波频带的高频共振，妨碍高精度地进行特性检查。

技术实现思路

[0006]因此，本技术要解决的技术课题在于提供一种高精度地进行连接器的特性检查的探针以及具备该探针的连接器检查装置。
[0007]为了解决上述技术课题，根据本技术，提供以下的探针。
[0008]即，本技术所涉及的探针的特征在于，具备：
[0009]壳体，供信号线路插通；
[0010]柱塞，具有供上述信号线路连接而用于进行连接器的特性检查的测定端；以及
[0011]导电性的凸缘，固定于导电性的检查台，
[0012]上述凸缘具有供上述壳体插通的线路用贯通孔、和相对于上述线路用贯通孔被对置配置而供导电性的固定部件插通的至少一个固定用贯通孔，
[0013]通过上述固定部件，上述凸缘被电连接且固定于上述检查台，
[0014]从厚度方向观察时，上述固定用贯通孔被上述固定部件的头部堵塞，
[0015]与立设于上述检查台的至少一个定位销卡合的至少一个切口形成于上述凸缘的外缘。
[0016]根据本技术，能够抑制凸缘的定位构造中的不必要的共振，因此能够高精度地进行连接器的特性检查。
附图说明
[0017]图1是本技术的一个实施方式所涉及的探针的分解立体图。
[0018]图2是对将图1所示的探针安装于检查台的状况进行说明的立体图。
[0019]图3是具备图1所示的探针的连接器检查装置的立体图。
[0020]图4是从上方观察第一实施例所涉及的凸缘的立体图。
[0021]图5是图4所示的凸缘的俯视图。
[0022]图6是图4所示的凸缘的仰视图。
[0023]图7是第二实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0024]图8是第三实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0025]图9是第四实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0026]图10是第五实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0027]图11是第六实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0028]图12是第七实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0029]图13是第八实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0030]图14是第九实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0031]图15是第十实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0032]图16是第十一实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0033]图17是第十二实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0034]图18是第十三实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0035]图19是第十四实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0036]图20是第十五实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0037]图21是对第十六实施例所涉及的将多个探针安装于检查台的状况进行说明的俯视图。
[0038]图22是第十七实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0039]图23是第十八实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0040]图24是第十九实施例所涉及的凸缘的仰视图。
[0041]附图标记说明
[0042]1…
探针；6
…
连接器(检查对象物)；10
…
凸缘；12
…
线路用贯通孔；13
…
固定用贯通孔；13a
…
一个的固定用贯通孔；13b
…
另一个的固定用贯通孔；13c
…
开口部；14
…
切口；14a
…
一个的切口；14b
…
另一个的切口；16
…
长边(第一边)；16a
…
一个的长边(第一边)；16b
…
另一个的长边(第一边)；17
…
短边(第二边)；17a
…
一个的短边(第二边)；17b
…
另一个的短边(第二边)；18
…
外缘；19
…
角部；20
…
柱塞；22
…
筒状部；24
…
突出部；26
…
嵌合部；27
…
嵌合凹部；28
…
承接凹部；30
…
螺钉(固定部件)；31
…
头部；32
…
外螺纹部；36
…
螺旋弹簧(弹性部件)；40
…
壳体；42
…
一端部；44
…
另一端部；46
…
筒支承板；50
…
检查台；52
…
螺纹孔；54
…
定位销；70
…
同轴缆线(信号线路)；72
…
探针销(测定端)；74
…
筒；80
…
测定器；82
…
连接端子；90
…
连接器；100
…
连接器检查装置；X
…
第一方向；Y
…
第二方向；Z
…
厚度方向。
具体实施方式
[0043]以下，参照附图对本技术所涉及的、用于进行连接器6的特性检查的探针1的实施方式进行说明。
[0044]〔第一个实施方式〕
[0045]参照图1～图6对一个实施方式所涉及的探针1进行说明。图1是本技术的一个实施方式所涉及的探针1的分解立体图。图2是对将图1所示的探针1安装于检查台50的状况进行说明的立体图。图3是具备图1所示的探针1的连接器检查装置100的立体图。图4从上方观察第一实施例所涉及的凸缘10的立体图。图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种连接器测定用的探针，其特征在于，具备：壳体，供信号线路插通；柱塞，具有供所述信号线路连接而用于进行连接器的特性检查的测定端；以及导电性的凸缘，固定于导电性的检查台，所述凸缘具有供所述壳体插通的线路用贯通孔、和相对于所述线路用贯通孔被对置配置而供导电性的固定部件插通的至少一个固定用贯通孔，通过所述固定部件，所述凸缘被电连接且固定于所述检查台，从所述凸缘的厚度方向观察时，所述固定用贯通孔被所述固定部件的头部堵塞，与立设于所述检查台的至少一个销卡合的至少一个切口形成于所述凸缘的外缘。2.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述切口为两个以上。3.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述固定用贯通孔为两个。4.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述切口配置于与所述固定用贯通孔分离的位置。5.根据权利要求2～4中任一项所述的探针，其特征在于，从所述厚度方向观察时，所述切口相对于所述线路用贯通孔的中心配置为点对称。6.根据权利要求2～4中任一项所述的探针，其特征在于，从所述厚度方向观察时，所述切口相对于经过所述线路用贯通孔的中心的线段配置为线对称。7.根据权利要求2～4中任一项所述的探针，其特征在于，从所述厚度方向观察时，所述切口相对于所述线路用贯通孔的中心配置为非对称。8.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，所述切口具有与圆弧部相连而对置的两个直线部延伸而成的半长圆形状，并且具有对所述凸缘相对于所述线路用贯通孔的中心的旋转进行限制的切口长度。9.根据权利要求2所述的探针，其特征在于，所述切口中的一个具有圆弧形状，所述切口中的另一个具有与圆弧部相连而对置...

【专利技术属性】
技术研发人员：村中光代，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：新型
国别省市：