可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法技术

技术编号:3227010 阅读:223 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法,属半导体封装技术领域。其特征在于:在半导体塑料封装体内,在与环氧树脂塑封料(2)结合的金属引线框(1)的表面局部镀上金属层(3),同时在与环氧树脂塑封料(2)结合的金属引线框(1)的表面制作粗糙面(4)。所述的局部镀金属层(3)的制作是采用电镀或沉积或蒸金或溅镀方式来实现。粗糙面(4)的制作是采用机械或蚀刻加工或刮除等方式来实现。本实用新型专利技术半导体塑料封装元器件分层问题的改善,有利于提高元器件的散热能力和抗热应力变化能力,产品的密封性、功能参数以及可靠性都得到了很好的保证。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种半导体塑料封装体元器件,尤其是涉及一种可以 防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法。属半导体封装
技术背景-半导体塑料封装元器件基本采用多种物质相结合的封装体,其中的材 料主要有金属引线框、环氧树脂、金属丝、高分子粘合剂、金属镀层等。 但是,不同的物质会因温度、湿度、振动等因素的变化而容易造成在不同物质之间产生分层;尤其是在高温环境中,由于不同物质的热膨胀系数是 不一样的,所以会在水平方向或垂直方向产生不同程度的拉、推应力,进 而在不同物质间产生分层(如图6(a)、 7(a)、 8(a)、 9(a)所示),最终导致半 导体塑料封装元器件的功能缺陷或早期失效等问题。本技术的目的在于克服上述不足,提供一种可以可以防止半导体 塑料封装体内元器件分层的封装方法。本技术的目的可以通过以下方案加以实现 一种可以防止半导体 塑料封装体内元器件分层的封装方法,其特征在于在半导体塑料封装体 内,在与环氧树脂塑封料结合的金属引线框的表面局部镀上金属层,同时在与环氧树脂塑封料结合的金属引线框的表面制作粗糙面。局部镀金属可采用电镀、沉积、蒸金、溅镀等方式来实现;粗糙面可采用机械或蚀刻加 工或刮除等方式来实现。在金属引线框的表面通过局部镀金属层的方式来 相对增加引线框金属底材的表面积 一方面可以减少金属引线框与环氧树 脂间的介质;另一方面,金属底材一般釆用铜材,而金属镀层往往采用金、 银等,因为铜与环氧树脂的粘合力要大大优于金和银,所以局部镀金属层 的方法也间接增加了金属引线框与环氧树脂间的粘合力(如图3)。同时通 过在金属引线框的表层制作粗糙面来增加与环氧树脂间的结合面积,减少 因拉力等因素造成的金属引线框与环氧树脂之间的滑动力(如图4)。因此, 以上两种方案的结合使用可以使金属引线框与环氧树脂之间相互咬得更 紧,从而起到防止或减少分层的作用。本技术半导体塑料封装元器件分层问题的改善,有利于提高元器 件的散热能力和抗热应力变化能力,产品的密封性、功能参数以及可靠性 都得到了很好的保证。附图说明图1为本技术的实施例示意图。 图2为本技术的典型完整塑封体结构示意图。 图3(a)、 (b)为制作局部金属层前后金属引线框与环氧树脂塑封料接合 面的受力对比图。图4(a)、 (b)为制作粗糙面前后金属引线框与环氧树脂塑封料接合面的 受力对比图。图中金属引线框l,环氧树脂塑封料2,金属层3,粗糙面4,金属 丝5,硅材芯片6。具体实施方式参见图1,本技术可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封 装方法,它是在半导体塑料封装体内,在与环氧树脂塑封料2结合的金属 引线框1的表面局部镀上金属层3,同时在与环氧树脂塑封料2结合的金 属引线框1的表面制作粗糙面4。参见图2,图2为典型完整塑封体结构示意图。参见图3、 4,图3、 4为本技术改善前后金属引线框与环氧树脂 塑封料接合面的受力对比图。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法,其特征在于:在半导体塑料封装体内,在与环氧树脂塑封料(2)结合的金属引线框(1)的表面局部镀上金属层(3),同时在与环氧树脂塑封料(2)结合的金属引线框(1)的表面制作粗糙面(4)。

【技术特征摘要】
1、一种可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法,其特征在于在半导体塑料封装体内,在与环氧树脂塑封料(2)结合的金属引线框(1)的表面局部镀上金属层(3),同时在与环氧树脂塑封料(2)结合的金属引线框(1)的表面制作粗糙面(4)。2、 根据权利要求1所述的一种可以防止...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁志忠王新潮于燮康茅礼卿潘明东陶玉娟闻荣福周正伟李福寿
申请(专利权)人:江苏长电科技股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1