一种芯片放置结构制造技术

技术编号:32249006 阅读:9 留言:0更新日期:2022-02-09 17:52
本实用新型专利技术公开了一种芯片放置结构。所述芯片放置结构包括具有容纳区域的芯片卡槽,所述芯片卡槽的槽底具有斜坡面,所述斜坡面向芯片定位检测的方向倾斜,在芯片放置在芯片卡槽时该斜坡面与芯片底端面抵接。本实用新型专利技术可以保证生物芯片每次都能在重力作用下落到位,且具有较高的检测精度。具有较高的检测精度。具有较高的检测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片放置结构


[0001]本技术涉及一种芯片放置结构,属于生物芯片领域。

技术介绍

[0002]生物芯片在固定位置设有激光微阀,而生物芯片在使用时需要先用激光照射激光微阀。如图1

2所示,为了让激光发射器3与生物芯片卡槽1处于垂直方向固定的位置,芯片卡槽可以左右运动,方便激光照射同一高度的不同激光微阀。而为了有较好的用户体验,生物芯片卡槽1与生物芯片2在厚度方向(垂直方向)和长度方向(左右方向)都有一定的间隙,这样芯片能在自重下顺利放到位,但是因为宽度间隙问题,芯片在卡槽中的状态有很大随机性,向两边倾斜的几率各占一半,申请人经过研究发现芯片向两侧倾斜对精度的影响是不一样的,存在间隙的时候,自由落体放入的芯片会呈现出各种状态,最差的状态为向任何一边倾斜最大角度的状态。但如果不留有间隙,则芯片放入芯片槽将很费劲,给原本枯燥的工作带来不顺心。
[0003]因为生物芯片本来就很小,激光微阀的尺寸只有1mm,最小的精度要求需达到
±
0.2mm,再考虑到仪器的装配误差,标准件的尺寸误差,最终对芯片的放置误差需控制在
±
0.1mm以内。因此,如何能轻松放入又对精度影响最小,成为了一个需要解决技术难题。

技术实现思路

[0004]本技术旨在提供一种芯片放置结构,该放置结构可以保证芯片卡槽与生物芯片的宽度间隙在0.2mm的时候,生物芯片每次都能在重力作用下落到位,且具有较高的检测精度,用户体验最佳。
[0005]为了实现上述目的,本技术所采用的技术方案是:
[0006]一种芯片放置结构,包括具有容纳区域的芯片卡槽,其结构特点是,所述芯片卡槽的槽底具有斜坡面,所述斜坡面向芯片定位检测的方向倾斜,在芯片放置在芯片卡槽时该斜坡面与芯片底端面抵接。
[0007]由此,当芯片放置在芯片卡槽时,芯片自动朝向芯片定位检测的方向倾斜,从而可以显著提高检测精度。
[0008]根据本技术的实施例,还可以对本技术作进一步的优化,以下为优化后形成的技术方案:
[0009]为了进一步提高检测精度,在本技术一个优选的实施例中,所述斜坡面的倾斜角度为0.6
°‑
0.7
°

[0010]在本技术一个优选的实施例中,所述芯片卡槽的槽宽与芯片厚度之差不超过0.2mm。
[0011]与现有技术相比,本技术的有益效果是:本技术可以保证生物芯片向远离激光发射器方向倾斜放置,很大程度上提高了检测精度。同时,按本技术的结构设计放置后,精度从原来的0.11mm提升到0.03mm。
[0012]同样的,此方法不仅运用到本技术的实施例,实际还可以用到有精度要求的定点发光检测,运动控制等场景。
附图说明
[0013]图1是现有激光微阀的正视图;
[0014]图2是图1的俯视图;
[0015]图3和图4是现有芯片放置结构放入生物芯片的示意图;
[0016]图5是本技术一个实施例的芯片放置结构示意图;
[0017]图6是图5放入生物芯片的示意图。
[0018]在图中
[0019]1、芯片卡槽;2、芯片;3、激光发射器;4、激光微阀;
[0020]a、第一倾斜角度;b、第二倾斜角度;W、位置宽度;L、激光微阀设计中心(检测中心);D、高度差;H、档边高度。
具体实施方式
[0021]以下将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。需要说明的是,在不冲突的情况下,本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。为叙述方便,下文中如出现“上”、“下”、“左”、“右”字样,仅表示与附图本身的上、下、左、右方向一致,并不对结构起限定作用。
[0022]针对芯片放置结构而言:
[0023][0024]其中第一倾斜角度a由芯片卡槽1的档边高度H以及芯片卡槽1与芯片2之间的最大间隙决定的,一般而言,芯片卡槽的槽宽与芯片厚度之差不超过0.2mm,即间隙在0.2以内,这样第一倾斜角度a接近90度,即Lsina接近于激光微阀设计中心(检测中心)L,第二倾斜角度b为0.6
°‑
0.7
°
,位置宽度W一般为0~10mm。
[0025]作为一种具体的实施例,档边高度H为18.5mm,间隙为0.2mm,激光微阀设计中心(检测中心)L为22.2mm,则芯片2向检测点面倾斜的时候,高度差D值最大值仅为0.03mm。芯片2向非检测点面倾斜的时候,D值最大为0.11mm。
[0026]因此,根据上述算法可以得出,在芯片2放置的时候,只要让芯片2放平或是向需定位检测面方向倾斜,可以保证芯片2的检测点精度大大增加。如图5和6所示,通过在芯片卡槽1的槽底设计成让芯片2向设计方向倾斜的结构,即在芯片卡槽1的槽底具有斜坡面11,这样芯片2放入芯片卡槽1的容纳区域12内时,芯片2的底端面刚好抵接在斜坡面11上,就能保证芯片2的检测点精度,简单稳定可靠。
[0027]上述实施例阐明的内容应当理解为这些实施例仅用于更清楚地说明本技术,而不用于限制本技术的范围,在阅读了本技术之后,本领域技术人员对本实施例的各种等价形式的修改均落入本技术所附权利要求所限定的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片放置结构,包括具有容纳区域(12)的芯片卡槽(1),其特征在于,所述芯片卡槽(1)的槽底具有斜坡面(11),所述斜坡面(11)向芯片定位检测的方向倾斜,在芯片(2)放置在芯片卡槽(1)时该斜坡面(11)与芯片(2)底端面抵接。2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:邬鹏程周孝祥
申请(专利权)人:湖南乐准智芯生物科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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