一种压触式测试工装制造技术

本实用新型专利技术涉及一种压触式测试工装，包括测试机构：与测试设备电性连接，且测试机构设有至少两个触点，触点的数量与待测电子元件的端口数量适配；第一板体，设有用于定位待测电子元件的载片台，第一板体相对于测试机构活动；弹性件，用于带动第一板体与待测电子元件靠近测试机构，以实现待测电子元件的端口与触点抵接。其只需要测试人员将测试设备的探针与同类型电子元件的端口对齐一次，即可方便地对大量电子元件进行测试；此外只需要改变测试机构触点的数量与位置，与环形器、隔离器、陶瓷滤波器等不同端口数量的电子元件适配，可以适用于对不同电子元件进行测试。于对不同电子元件进行测试。于对不同电子元件进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种压触式测试工装


[0001]本技术涉及电子元件测试的领域，尤其涉及一种压触式测试工装。

技术介绍

[0002]在对环形器、隔离器、陶瓷滤波器等电子元件进行测试时，需要将测试设备的探针与这些电子元件的端口连接，以完成对电子元件的测试工作。
[0003]1、由于不同电子元件的端口数量不同，同一个测试设备难以适用于对不同的电子元件进行测试。
[0004]2、由于电子元件的端口较小，对大量电子元件进行测试时，需要将测试设备的探针与各个电子元件的端口依次对齐连接，操作繁琐，不便于对大量电子元件进行测试。

技术实现思路

[0005]针对上述现有技术的不足，本技术的目的是提供一种压触式测试工装，以解决现有技术中的一个或多个问题。
[0006]为实现上述目的，本技术的技术方案如下：
[0007]一种压触式测试工装，包括测试机构：与测试设备电性连接，且所述测试机构设有至少两个触点，所述触点的数量与待测电子元件的端口数量适配；
[0008]第一板体，设有用于定位待测电子元件的载片台，所述第一板体相对于所述测试机构活动；
[0009]弹性件，用于带动所述第一板体与待测电子元件靠近所述测试机构，以实现所述待测电子元件的端口与所述触点抵接，当所述待测电子元件的端口与所述触点抵接时，所述待测电子元件、所述测试机构与所述测试设备之间形成回路。
[0010]进一步的，还包括第二板体，所述测试机构、所述第一板体以及所述弹性件均设置在所述第二板体上，所述第一板体与所述第二板体滑动配合，所述弹性件用于驱动所述第一板体朝向靠近所述测试机构的方向滑移。
[0011]进一步的，所述第二板体转动连接有把手，所述把手与所述第一板体相抵，以在所述把手摆动时，带动所述第一板体滑移。
[0012]进一步的，所述测试机构包括滑移组件和至少两个测试模块，所述滑移组件设置在所述第二板体上，每个所述测试模块设有至少一个触点，所述测试模块可拆卸连接在所述滑移组件，所述滑移组件用于供所述测试模块在垂直于所述第一板体滑移轴线的平面内滑移。
[0013]进一步的，所述滑移组件包括第一滑轨、第二滑轨和滑块，所述第一滑轨设置在所述第二板体上，所述第二滑轨滑动架设在所述第一滑轨上，所述滑块滑动架设在所述第二滑轨上，所述第二滑轨与所述滑块的滑移轴线互相垂直，且均垂直于所述第一板体的滑移轴线。
[0014]进一步的，所述第二板体上转动设有螺杆，所述螺杆与所述第二滑轨螺纹配合。
[0015]进一步的，所述第二滑轨螺纹连接有第一螺栓，所述第一螺栓的螺纹端与所述第一滑轨相抵；
[0016]所述滑块上螺纹连接有第二螺栓，所述第二螺栓的螺纹端与所述第二滑轨相抵。
[0017]进一步的，所述测试模块均包括至少一射频同轴电缆和SMA连接器，所述触点为射频同轴电缆一端的引针，所述SMA连接器与所述射频同轴电缆另一端的引针连接，所述SMA连接器用于连接测试设备。
[0018]进一步的，所述测试模块包括可拆卸连接的第一部分与第二部分，所述第一部分和第二部分互相朝向的侧面均开设有用于嵌设所述射频同轴电缆的凹槽。
[0019]进一步的，所述凹槽的数量与所述射频同轴电缆的数量适配，所述凹槽配置为：
[0020]当所述射频同轴电缆的数量大于两个时，相邻所述凹槽靠近所述SMA连接器一端的间距大于另一端的间距。
[0021]与现有技术相比，本技术的有益技术效果如下：
[0022](一)将待测电子元件安装在载片台上，弹性件推动第一板体朝向测试机构滑移，直至待测电子元件的端口与触点抵接时，待测电子元件通过测试机构测试设备之间形成回路，测试设备即可对待测电子元件进行测试。此测试工装不需要测试人员将测试设备的探针与电子元件的端口对齐连接，可以方便地对大量电子元件进行测试；此外只需要改变测试机构的触点数量，与环形器、隔离器、陶瓷滤波器等不同端口数量的电子元件适配，从而适用于对不同电子元件进行测试。
[0023](二)增设用于控制第一板体滑移的把手，当测试人员需要将电子元件安装到载片台或从载片台拆下时，可以通过转动把手，方便的克服弹性件阻力，带动第一板体远离测试机构滑移。
[0024](三)测试模块在垂直于第一板体滑移轴线平面上滑移，可以调整触点的位置，当需要对不同电子元件进行测试时，通过调整触点的位置，可以保证此测试工装的触点能够与不同尺寸电子元件的端口抵接，从而适用于对不同的电子元件进行测试。
[0025](四)第一螺栓的螺纹端与第一滑轨相抵时，可以锁定第二滑轨的位置；第二螺栓的螺纹端与第二滑轨相抵时，可以锁定滑块的位置。利用第一螺栓和第二螺栓锁定第二滑轨与滑块的位置，可以在测试电子元件时，保证测试模块不发生偏移。
[0026](五)将测试模块设置为可拆卸连接的第一部分与第二部分，并且将射频同轴电缆抵紧在第一部分与第二部分之间，可以方便地对射频同轴电缆进行拆装更换，以及对测试模块内射频同轴电缆的数量进行调整，从而改变测试模块触点的数量。
[0027](六)相邻凹槽靠近SMA连接器一端的间距大于另一端的间距，可以给相邻SMA连接器留出充足的空间，以免SMA连接器安装后，妨碍安装相邻的SMA 连接器。
附图说明
[0028]图1示出了本技术实施例中压触式测试工装的结构示意图；
[0029]图2示出了图1中支架、第一杆体与手柄的安装结构示意图；
[0030]图3示出了本技术实施例中第一板体与第二板体的安装结构示意图；
[0031]图4示出了图1中压触式测试工装的俯视图；
[0032]图5示出了本技术实施例中测试模块的结构示意图；
[0033]图6示出了图5中第一部分、第二部分与射频同轴电缆的安装结构示意图；
[0034]图7示出了本技术实施例中带有两个射频同轴电缆的测试模块的结构示意图。
[0035]附图中标记：
[0036]1、第二板体；11、支架；111、第一孔；12、第一杆体；121、弹性件；122、螺帽；13、第一板体；131、载片台；132、电子元件；133、第二杆体；14、耳板；141、手柄；2、侧板；21、第一滑轨；22、第二滑轨；221、第一螺栓；23、滑块；231、第二螺栓；24、螺杆；3、测试模块；31、第一部分；32、第二部分；33、凹槽；34、射频同轴电缆；341、触点；342、SMA连接器。
具体实施方式
[0037]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图和具体实施方式对本技术提出的一种压触式测试工装作进一步详细说明。根据下面说明，本技术的优点和特征将更清楚。需要说明的是，附图采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施方式的目的。为了使本技术的目的、特征和优点能够更加明显易懂，请参阅附图。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种压触式测试工装，其特征在于：包括测试机构：与测试设备电性连接，且所述测试机构设有至少两个触点，所述触点的数量与待测电子元件的端口数量适配；第一板体，设有用于定位待测电子元件的载片台，所述第一板体相对于所述测试机构活动；弹性件，用于带动所述第一板体与待测电子元件靠近所述测试机构，以实现所述待测电子元件的端口与所述触点抵接，当所述待测电子元件的端口与所述触点抵接时，所述待测电子元件、所述测试机构与所述测试设备之间形成回路。2.如权利要求1所述的一种压触式测试工装，其特征在于：还包括第二板体，所述测试机构、所述第一板体以及所述弹性件均设置在所述第二板体上，所述第一板体与所述第二板体滑动配合，所述弹性件用于驱动所述第一板体朝向靠近所述测试机构的方向滑移。3.如权利要求2所述的一种压触式测试工装，其特征在于：所述第二板体转动连接有把手，所述把手与所述第一板体相抵，以在所述把手摆动时，带动所述第一板体滑移。4.如权利要求2所述的一种压触式测试工装，其特征在于：所述测试机构包括滑移组件和至少两个测试模块，所述滑移组件设置在所述第二板体上，每个所述测试模块设有至少一个触点，所述测试模块可拆卸连接在所述滑移组件，所述滑移组件用于供所述测试模块在垂直于所述第一板体滑移轴线的平面内滑移。5.如权利要求4所述的一种压触式测试工装，其特征在于：所述滑移组...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐进，
申请(专利权)人：无锡华测电子系统有限公司，
类型：新型
国别省市：