一种晶振测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了属于晶振测试技术领域的一种晶振测试装置，包括晶振测试模块，晶振测试模块包括晶振测试载具P1、第一反相器U1和第二反相器U2，其中，第一反相器U1的输入端分别与直流电源1和晶振测试载具P1的一端连接，第一反相器U1的输出端与第二反相器U2的输入端和晶振测试载具P1的另一端连接，第二反相器U2的输出端与检测仪连接。本实用新型专利技术通过简单的装置实现了对晶振在高低温环境下工作频率以及稳定性的测试，从而可以有效的检测晶振的合格性；本实用新型专利技术的待测晶振可以在高低温恒温箱内快速测试振荡频率、波形质量及高低温环境下的精度，便于对晶振的主要性能进行测试及分析。分析。分析。

【技术实现步骤摘要】
一种晶振测试装置


[0001]本技术属于晶振测试
，具体涉及一种晶振测试装置。

技术介绍

[0002]晶振是石英晶体振荡器的简称,它能够产生中央处理器执行指令所必须的时钟频率信号，是时钟电路中最重要的部件,它的主要作用是处理器提供基准频率。他就像一个标尺，工作频率不稳定就会造成设备工作频率不稳定，容易出现问题。
[0003]在现有技术环境下，晶振检测需要配置昂贵的专用测试仪才能对晶振精度、温度系数进行测试。再加上晶振的应用范围广、使用条件复杂等众多因素，如果缺少对晶振的有效测试及验证，对整个系统工作可靠性、稳定性有很大影响。

技术实现思路

[0004]为解决上述
技术介绍
中提出的问题。本技术提供了一种晶振测试装置，具有通过简单的装置实现对晶振在高低温环境下工作频率、稳定性的测试的特点。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种晶振测试装置，包括晶振测试模块，晶振测试模块包括晶振测试载具P1、第一反相器U1和第二反相器U2，其中，第一反相器U1的输入端分别与直流电源1和晶振测试载具P1的一端连接，第一反相器U1的输出端与第二反相器U2的输入端和晶振测试载具P1的另一端连接，第二反相器U2的输出端与检测仪连接。
[0006]为了检测待测晶振的输出频率，进一步地，检测仪为示波器或等精度频率计。
[0007]为了与第一反相器U1和安装在晶振测试载具P1上的待测晶振组成“三点式电容振荡电路”，进一步地，晶振测试载具P1的两端并联有反馈电阻R2。
[0008]为了调整晶振的频偏，进一步地，晶振测试载具P1的一端与负载电容C1连接，晶振测试载具P1的另一端与负载电容C2连接，负载电容C1和负载电容C2的另一端均与GND端连接。负载电容C1和负载电容C2均为瓷片可调电容。
[0009]为了实现驱动电位的调整，进一步地，第一反相器U1的输出端与晶振测试载具P1之间连接有功率调整电阻R1。功率调整电阻R1为多圈电位器。
[0010]为了减少线损，进一步地，第二反相器U2的输出端连接有线损补偿电容C3，线损补偿电容C3的另一端与GND端连接。
[0011]为了便于对晶振的主要性能进行测试及分析，进一步地，还包括高低温恒温箱，晶振测试模块设置在高低温恒温箱的内部。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]1、本技术通过简单的装置实现了对晶振在高低温环境下工作频率以及稳定性的测试，从而可以有效的检测晶振的合格性；
[0014]2、本技术的待测晶振可以在高低温恒温箱内快速测试振荡频率、波形质量及高低温环境下的精度，便于对晶振的主要性能进行测试及分析。
附图说明
[0015]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0016]图1为本技术的系统框图；
[0017]图2为本技术晶振测试模块的电路图；
[0018]图中：1、直流电源；2、高低温恒温箱；3、检测仪；4、晶振测试模块。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]实施例1
[0021]请参阅图1
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2，本技术提供以下技术方案：一种晶振测试装置，包括晶振测试模块4，晶振测试模块4包括晶振测试载具P1、第一反相器U1和第二反相器U2，其中，第一反相器U1的输入端分别与直流电源1和晶振测试载具P1的一端连接，第一反相器U1的输出端与第二反相器U2的输入端和晶振测试载具P1的另一端连接，第二反相器U2的输出端与检测仪3连接。
[0022]具体的，检测仪3为示波器或等精度频率计，本实施例优选为南京盛普的SP3386A型等精度频率计。
[0023]通过采用上述技术方案，通过检测仪3检测待测晶振的输出频率。
[0024]具体的，晶振测试载具P1的两端并联有反馈电阻R2。
[0025]通过采用上述技术方案，反馈电阻R2与第一反相器U1和安装在晶振测试载具P1上的待测晶振组成“三点式电容振荡电路”，电路接通后,电路被振荡,振荡信号经过第一反相器U1的作用进行放大,并由第二反相器U2输出时钟信号给到检测仪3，从而得到待测晶振的输出频率。
[0026]实施例2
[0027]本实施例与实施例1不同之处在于：具体的，晶振测试载具P1的一端与负载电容C1连接，晶振测试载具P1的另一端与负载电容C2连接，负载电容C1和负载电容C2的另一端均与GND端连接。负载电容C1和负载电容C2均为瓷片可调电容。
[0028]通过采用上述技术方案，通过负载电容C1和负载电容C2调整晶振的频偏。
[0029]实施例3
[0030]本实施例与实施例1不同之处在于：具体的，第一反相器U1的输出端与晶振测试载具P1之间连接有功率调整电阻R1。功率调整电阻R1为多圈电位器。
[0031]通过采用上述技术方案，通过功率调整电阻R1实现驱动电位的调整。
[0032]实施例4
[0033]本实施例与实施例1不同之处在于：具体的，第二反相器U2的输出端连接有线损补偿电容C3，线损补偿电容C3的另一端与GND端连接。
[0034]通过采用上述技术方案，用于减少线损。
[0035]实施例5
[0036]本实施例与实施例1不同之处在于：还包括高低温恒温箱2，晶振测试模块4设置在高低温恒温箱2的内部。
[0037]通过采用上述技术方案，可以在高低温恒温箱2内快速测试振荡频率、波形质量及高低温环境下的精度，便于对晶振的主要性能进行测试及分析。
[0038]综上所述，本技术通过第一反相器U1、反馈电阻R2和安装在晶振测试载具P1上的待测晶振组成“三点式电容振荡电路”，当晶振测试装置电路接通后,电路被振荡,振荡信号经过第一反相器U1的作用进行放大,并由第二反相器U2输出时钟信号给到检测仪,输出频率等于待测晶振的并联谐振频率，若显示输出频率与待测晶振工作频率相同,则待测晶振合格,反之待测晶振不合格。采用此方式,可以有效检测晶振的合格性。
[0039]最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶振测试装置，包括晶振测试模块，其特征在于：晶振测试模块包括晶振测试载具P1、第一反相器U1和第二反相器U2，其中，第一反相器U1的输入端分别与直流电源1和晶振测试载具P1的一端连接，第一反相器U1的输出端与第二反相器U2的输入端和晶振测试载具P1的另一端连接，第二反相器U2的输出端与检测仪连接。2.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述检测仪为示波器或等精度频率计。3.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述晶振测试载具P1的两端并联有反馈电阻R2。4.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述晶振测试载具P1的一端与负载电容C1连接，晶振测试载具P1的另一端与负载电容C2连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈蕾，杨爕，叶飞，翁步升，吴彬强，
申请(专利权)人：横店集团得邦照明股份有限公司，
类型：新型
国别省市：