一种铂金通道寿命的估算方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种铂金通道寿命的估算方法及系统，可以掌握铂金通道的实时运行状态，预判铂金通道的运行寿命，延缓风险点的发展进程，降低安全隐患。包括获取澄清对接的电极根部区域处铂金通道的设计壁厚、解剖线体流速和对应的内部衰减速率；测量该区域铂金通道的管道直径、流量、玻璃密度，实时运行电流和实时外部温度；根据预设的T

【技术实现步骤摘要】
一种铂金通道寿命的估算方法及系统


[0001]本专利技术属于基板玻璃制造
，具体涉及一种铂金通道寿命的估算方法及系统。

技术介绍

[0002]基板玻璃的制造需要众多高成本率的大型装备提供支持，铂金通道是其中最为昂贵且损坏后亦无法恢复的关键设备之一，其采用纯度达到99.99％以上的贵金属材料制成，具有优良的抗高温抗氧化性能，主要功能包括对池炉熔化后玻璃液进行包括升温澄清、搅拌均化、降温、流量精密控制等；其中澄清工艺是运行温度最高，且装备风险最大的核心区域，位于澄清工艺区的铂金由于长时间处于1600℃以上的高温环境，且内部承受着高温玻璃熔液的冲刷侵蚀，特别是位于澄清对接区的电极根部为首先损坏的区域，所表现出的特征是此段通道的电流无法加载，且温度急剧下降，气泡不良率大幅上升，澄清排泡能力薄弱。此外，澄清对接区的电极根部相较主段的大部分区域，其氧化挥发程度差异较大，填充致密性相较主段区域更为薄弱，外表面的铂金承受着更强的氧化挥发作用，铂金壁厚显著降低，且此区域在最后的运行阶段，还附加有机械应力和电流的双重作用，进一步加快了本体的开裂。
[0003]除了工艺能力的下降，本体的损坏将会导致玻璃熔液的渗出，基板的玻璃料方对于耐火材料具有较强的侵蚀性，泄漏出的玻璃熔液将会在短期内与通道周边的耐火材料发生侵蚀反应，侵蚀的机理是先与其内部松散且杂质偏多的熟料颗粒形成低熔点的结合物，首先熔融，进一步造成熟料颗粒的分散，熟料自身也会在与玻璃液的接触中发生崩解，造成耐火材料的破裂，最终出现通道周边区域的空洞，通道耐材外部出现明显的变形和鼓包，从而导致玻璃制造工艺质量下降，更成为现场装备及人员的安全隐患，存在较大风险。
[0004]目前现有技术中，对于铂金通道寿命终结的关键因素点没有明确的分析，尤其针对澄清对接区的电极根部区域的衰减影响因素并未作出进一步的分析与评估，没有一套完整和准确的评估运行线体通道寿命的计算方法，无法掌握铂金通道的实时运行状态，也无法准确的估算运行线体寿命。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种铂金通道寿命的估算方法及系统，可以掌握铂金通道的实时运行状态，预判铂金通道的运行寿命，延缓风险点的发展进程，降低安全隐患。
[0006]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0007]一种铂金通道寿命的估算方法，包括，
[0008]获取澄清对接的电极根部区域处铂金通道的设计壁厚、解剖线体流速和对应的内部衰减速率；
[0009]测量澄清对接的电极根部区域处铂金通道的管道直径、流量、玻璃密度，实时运行
电流和实时外部温度T；
[0010]根据预设的T
‑
V1曲线关系图，得到实时外部温度T对应的外部衰减速率V1；
[0011]根据解剖线体流速和对应的内部衰减速率，以及管道直径、流量和玻璃密度，由预设的内部衰减速率运算公式计算获得内部衰减速率；
[0012]根据设计壁厚、管道直径和实时运行电流，由预设的失效壁厚损耗量运算公式计算获得失效壁厚损耗量；
[0013]根据外部衰减速率、内部衰减速率和失效壁厚损耗量，由预设的估算寿命模型获得铂金通道的估算寿命。
[0014]优选地，获得所述预设的T
‑
V1曲线关系图的步骤包括：
[0015]获取澄清对接的电极根部区域处不同外部工艺温度下的外部衰减速率；
[0016]根据不同的外部工艺温度和对应的外部衰减速率绘制温度与外部衰减速率V1的T
‑
V1曲线关系图。
[0017]优选地，所述预设的内部衰减速率运算公式为：
[0018][0019]其中，V2为内部衰减速率，v为流体速度，其运算公式为D为流量，d为管道直径，ρ为玻璃密度，V0为澄清对接的电极根部区域处的解剖线体流速，V0‑1为解剖线体流速对应的内部衰减速率。
[0020]优选地，所述预设的失效壁厚损耗量运算公式为：
[0021]Δt＝t
‑
t
min
；
[0022]其中，Δt为失效壁厚损耗量，t为设计壁厚，t
min
为失效壁厚。
[0023]优选地，所述失效壁厚运算公式为：
[0024]和
[0025]S＝πt
min
(d+t
min
)；
[0026]其中，S为失效截面积，I为澄清对接的电极根部区域处的实时运行电流。
[0027]优选地，所述预设的估算寿命模型为：
[0028][0029]其中，N为估算寿命；
[0030]V为总衰减速率，包括外部衰减速率V1和内部衰减速率V2，其运算公式为：V＝V1+V2。
[0031]一种铂金通道寿命的估算系统，包括，
[0032]标准数据库模块，用于存储铂金通道的标准数据；
[0033]数据采集模块，用于获取澄清对接的电极根部区域处铂金通道的设计壁厚、解剖线体流速和对应的内部衰减速率；
[0034]数据测量模块，用于测量澄清对接的电极根部区域处铂金通道的管道直径、流量、
玻璃密度，实时运行电流和实时外部温度T；
[0035]图像读取模块，用于根据预设的T
‑
V1曲线关系图，得到实时外部温度T对应的外部衰减速率V1；
[0036]内部衰减速率运算模块，用于根据解剖线体流速和对应的内部衰减速率，以及管道直径、流量和玻璃密度，由预设的内部衰减速率运算公式计算获得内部衰减速率；
[0037]失效壁厚损耗量运算模块，用于根据设计壁厚、管道直径和实时运行电流，由预设的失效壁厚损耗量运算公式计算获得失效壁厚损耗量；
[0038]寿命估算模块，用于根据外部衰减速率、内部衰减速率和失效壁厚损耗量，由预设的估算寿命模型获得铂金通道的估算寿命。
[0039]优选地，所述图像读取模块还包括，
[0040]图像拟合单元，用于获得所述预设的T
‑
V1曲线关系图。
[0041]优选地，所述内部衰减速率运算模块还包括，
[0042]流体速度运算单元，用于根据管道直径、流量和玻璃密度，由流体速度运算公式计算获得铂金通道内部的流体速度。
[0043]优选地，所述失效壁厚损耗量运算模块还包括，
[0044]失效壁厚运算单元，用于根据实时运行电流和管道直径由失效壁厚运算公式计算得到铂金通道的失效壁厚。
[0045]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的技术效果：
[0046]本专利技术提供一种铂金通道寿命的估算方法，主要针对铂金通道最先发生损坏、装备风险最大的区域，即为澄清对接区域的电极根部区域进行寿命估算，通过预估铂金通道最早损坏区域的运行寿命，能够提前进行预判，实时监控铂金通道目前的运行状况和剩余的运行寿命，从而能够结合估算过程中涉及的相关运算参数和核心关联因素对铂金通道进行有针对性的工艺调控，避免由于铂金通道质量受损导致本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种铂金通道寿命的估算方法，其特征在于，包括获取澄清对接的电极根部区域处铂金通道的设计壁厚、解剖线体流速和对应的内部衰减速率；测量澄清对接的电极根部区域处铂金通道的管道直径、流量、玻璃密度，实时运行电流和实时外部温度T；根据预设的T
‑
V1曲线关系图，得到实时外部温度T对应的外部衰减速率V1；根据解剖线体流速和对应的内部衰减速率，以及管道直径、流量和玻璃密度，由预设的内部衰减速率运算公式计算获得内部衰减速率；根据设计壁厚、管道直径和实时运行电流，由预设的失效壁厚损耗量运算公式计算获得失效壁厚损耗量；根据外部衰减速率、内部衰减速率和失效壁厚损耗量，由预设的估算寿命模型获得铂金通道的估算寿命。2.根据权利要求1所述的一种铂金通道寿命的估算方法，其特征在于，获得所述预设的T
‑
V1曲线关系图的步骤包括：获取澄清对接的电极根部区域处不同外部工艺温度下的外部衰减速率；根据不同的外部工艺温度和对应的外部衰减速率绘制温度与外部衰减速率V1的T
‑
V1曲线关系图。3.根据权利要求1所述的一种铂金通道寿命的估算方法，其特征在于，所述预设的内部衰减速率运算公式为：其中，V2为内部衰减速率，v为流体速度，其运算公式为D为流量，d为管道直径，ρ为玻璃密度，V0为澄清对接的电极根部区域处的解剖线体流速，V0‑1为解剖线体流速对应的内部衰减速率。4.根据权利要求1所述的一种铂金通道寿命的估算方法，其特征在于，所述预设的失效壁厚损耗量运算公式为：Δt＝t
‑
t
min
；其中，Δt为失效壁厚损耗量，t为设计壁厚，t
min
为失效壁厚。5.根据权利要求4所述的一种铂金通道寿命的估算方法，其特征在于，所述失效壁厚运算公式为：和S＝πt
min
(d+t
min
)；其中，S为失效截面积，I为澄清对接的电极根部区域...

【专利技术属性】
技术研发人员：王答成，王梦龙，杨威，
申请(专利权)人：彩虹显示器件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：