用于筛查电气连续性的无损测试设备制造技术

一种用于测试神经调节装置的至少一个电极中的连续性的测试设备（20）。该测试设备可包括：基底（22）；至少一个导电垫（24a），其设置在该基底上，用于当该导电垫与该电极的暴露表面接触时减小施加到该至少一个电极的压力；以及从该至少一个导电垫延伸的导线（26a）。该垫可由非磨蚀性材料形成，例如导电泡沫或光滑金属。该基底可以是探头，该探头形成有多个用于保持垫和布线的槽、具有用于保持垫和布线的开口的心轴、以及具有暴露的光滑金属表面的柔性电路。该测试设备可以适用于测试袖口状和桨状装置。装置。装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于筛查电气连续性的无损测试设备
[0001]相关申请本申请要求2019年5月3日提交的美国临时申请No. 62/843,217的权益，该美国临时申请在此全文引入作为参考。


[0002]本公开一般地涉及电极领域，并且更具体地涉及在神经调节领域中采用的电极。更加具体地，但不排他地，本公开涉及一种测试设备，其包括非磨蚀性导电材料以测试神经接口的电极。

技术介绍

[0003]电极经常容易受到常规连续性测量方法的损坏，例如使用万用表和探头来测量电极之间的DC电阻。在生物电子医学领域中，为了在制造后和植入患者之前测试引线功能和电极的连续性，需要在不损坏电极表面的情况下充分测试引线的DC电阻。目前使用具有探头的万用表测量电极到电极的电阻的方法是不合适的，因为它可能损害引线的功能，而测量电极到电极的电阻可能潜在地导致电极表面的损坏。

技术实现思路

[0004]本公开通过提供一种创造性的方法和设备来解决上述问题，该方法和设备允许检查电极连续性，同时保护电极表面不受损坏。根据一个说明性实施例，电极被放置成与非磨蚀性导电材料（例如，导电泡沫或光滑的导电垫）接触，该非磨蚀性导电材料向经由传统手段（例如，使用数字万用表和探头）可测量的测试点提供电气连续性。在附图中描绘了示例性实施方式。
[0005]根据一个实施例，提供了一种用于测试神经调节装置（10）的电极（17）中的电气连续性的测试设备（20），包括：基底（22）；导电垫（24），其设置在基底上并且相对于电极确定尺寸，以用于当导电垫与电极的暴露表面接触时减小施加到电极的压力；以及从导电垫延伸的导线（26）。
[0006]导电垫可以相对于至少一个电极确定尺寸，以在导电垫与电极的暴露表面接触时减小施加到至少一个电极的压力。
[0007]当与电极的表面进行单点接触时相比，当导电垫与电极的表面进行接触时，压力减小。例如，当使用传统探头时，可以进行这种单点接触。
[0008]在一个说明性实施例中，测试设备包括多个非磨蚀性导电垫，多个非磨蚀性导电垫分别连接到第一导线和第二导线，并且每个非磨蚀性导电垫定位成与神经调节装置的单独的对应电极接触，神经调节装置例如为袖口件（cuff），袖口件包括支撑电极的指状部分。第一和第二导线被构造成电联接到万用表的探头，以用于执行电极的电气连续性测试。
[0009]在一个实施例中，非磨蚀性导电垫由导电泡沫形成，当被轻微压缩时，该导电泡沫提供了作用于电极的法向力，以在非磨蚀性导电垫和电极之间建立和保持电接触。在一个
实施例中，非磨蚀性导电垫围绕过大尺寸的心轴（52）的圆周形成，以确保非磨蚀性导电垫与电极之间的更好电接触。在一个实施例中，非磨蚀性导电垫由柔性电路上的暴露金属形成并且利用压敏粘合剂缠绕在过大尺寸的芯轴周围。在一个实施例中，夹持工具（70）可用于在神经调节装置的外部周围施加压力，以确保非磨蚀性导电垫和电极之间的充分电接触。在一个实施例中，神经调节装置是基本上平坦的桨状装置（80），并且夹持工具可用于向非磨蚀性导电垫和平坦桨状装置中的任一者或两者施加压力，以确保非磨蚀性导电垫和电极之间的接触。
[0010]根据一个实施例，提供了一种用于测试神经调节装置的电极中的电气连续性的测试设备，包括：基底；设置在基底上的导电部分，其中，基底包括探头，探头被构造用于神经调节装置在周围缠绕，使得导电部分与电极接触；以及从导电部分延伸的导线。换句话说，基底包括探头，神经调节装置至少部分地缠绕在探头周围。探头可以是大致圆柱形的，以使神经调节装置至少部分地缠绕在探头周围。
[0011]例如，在神经调节装置包括袖口状构造的情况下，探头使得能够在神经调节装置（或神经接口装置）的较少操作下执行电气连续性测试。此外，由于神经调节装置也不需要过度地打开，因此减少了对于神经调节装置本身的操纵（并因此减少了对神经调节装置的任何潜在损坏）。
[0012]所公开的解决方案使用材料和方法的组合来产生从软的、功能上对刮擦敏感的表面到可以经受反复电探测的较硬的、对于性能不关键的测试点的电气连续性。所公开的实施例适用于通过激光图案化或另一表面形态修改方法来涂覆或纹理化的电极，所述表面形态修改方法例如是纳米压印，导致表面完整性需要得到保护以确保涂层或纹理的功能性能。使用非磨蚀性导电材料将电信号从电极表面传递到较不脆弱的测试点保护了电极和引线的功能，从而允许在植入之前对引线的筛查。可能的替代实施例可以采用不同的材料来接触电极，并且采用不同的方法来产生非磨蚀性材料和测试点之间的连续性。
附图说明
[0013]图1是围绕神经束设置的可植入神经调节装置的示例的横截面图。
[0014]图2A和2B是在没有和具有神经调节袖口件的情况下本专利技术的测试设备的一个实施例的透视图。
[0015]图3A和3B是本专利技术的测试设备的实施例的透视图，该测试设备位于心轴周围，其中，在该心轴中建立了导线布线路径。
[0016]图4是夹持工具的透视图，该夹持工具被构造成与图3A和3B的测试设备一起使用。
[0017]图5是平坦神经调节装置的透视图。
[0018]图6是用于例如图5所示的平坦神经调节装置的测试设备的侧视图。
具体实施方式
[0019]本公开涉及用于测试神经调节装置中的电极的连续性的系统和装置，神经调节装置被构造成当被植入体内时在静脉内或静脉外刺激神经。神经调节装置可包括一个或多个电极，该一个或多个电极位于可植入体内的袖口状或桨状装置内的不同位置，使得电极与包括神经的表面组织接触。神经的刺激可以定义为：向神经元、神经细胞、神经束或神经系
统的其他目标位置递送电（例如，电脉冲），以激励神经元、神经细胞、神经束或其他目标位置。这种电脉冲可以由例如可植入脉冲发生器（IPG）或外部脉冲发生器产生。本文所指的神经调节装置不是必须包括这样的脉冲发生器，并且也可以称为神经接口装置。
[0020]图1描绘了示例性神经调节装置10，其仅用于提供本公开的背景的目的，而不旨在限制本文的公开内容的范围。图1所示的神经调节装置10是由柔性的生物相容材料11形成的袖口状装置，所述柔性的生物相容材料11例如是适于植入体内的软聚合物基底。可植入装置10可以用于使用由源12（图1中未另外示出）在可植入装置中感应的电压产生的能量来刺激神经。如图所示，可植入装置10是缠绕在神经或血管40周围并在点13处连接在一起的血管外装置。可植入装置10仅仅是示例性的，并且可以呈现许多不同的形状、构造、尺寸等。
[0021]可植入装置10可以包括一个或多个电极17或电极阵列。电极中的一些可以是传感器15，其接收电场而不是发送电场。在一些实施例中，每个电极17可以被构造成发射电场以刺激靠近可植入装置10的神经40。电极17可以被单独地连线和控制或者作为阵列被连线和控制。在一些实施例中，每个电极可以反映被设计用于刺激神经的最大电荷注入的微电极。
[0022]电极17（或这种电极的阵列等）内的每个电极可以经由基本上由导电材料制成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于测试神经调节装置的电极中的电气连续性的测试设备（20），包括：基底（22）；导电垫（24a），其设置在所述基底上，用于接触所述电极；以及从所述导电垫延伸的导线（26a）。2.一种用于测试神经调节装置的电极中的电气连续性的测试设备，包括：基底；导电部份，其设置在所述基底上，其中，所述基底包括探头，所述探头被构造用于所述神经调节装置在周围缠绕，使得所述导电部分与所述电极接触；以及从所述导电部分延伸的导线。3.根据权利要求2所述的测试设备，其中，所述导电部分包括导电垫。4.根据权利要求1或权利要求3所述的测试设备，其中，所述导电垫被构造成当所述导电垫与所述电极的暴露表面接触时减小施加到所述电极的压力。5.根据任一前述权利要求所述的测试设备，其中，所述导电垫或所述导电部分对所述电极的所述暴露表面是非磨蚀性的。6.根据权利要求5所述的测试设备，其中，所述导电垫或所述导电部分至少由与所述电极的所述暴露表面接触的表面上的导电泡沫形成。7.根据权利要求1、3
‑
5中任一项所述的测试设备，其中，所述导电垫至少由与所述电极的所述暴露表面接触的表面上的平滑金属形成。8.根据任一前述权利要求所述的测试设备，其中，所述基底包括具有壁的探头，所述壁形成槽，所述导电垫或所述导电部分被固定在所述槽中，并且其中，所述导线被定位在所述导电垫或所述导电部分下方的所述槽中。9.根据权利要求8所述的测试设备，其中，所述神经调节装置是袖口状装置，所述袖口状装置被构造成缠绕在所述探头周围使得所述导电垫或所述导电部分与所述电极接触。10.根据权利要求2
‑
9中任一项所述的测试设备，其中，所述探头被安装在基部上，所述基部被构造成将所述导电垫或所述导电部分与所述电极对准。11.根据任一前述权利要求所述的测试设备，还包括夹具，所述夹具被构造成向所述神经调节装置施加足以确保所述导电垫或所述导电部分和所述电极之间的接触的压力。12.根据任一前述权利要求所述的测试设备，其中，所述基底包括心轴。13.根据权利要求12所述的测试设备，其中，所述心轴形成开口，所述导电垫或所述导电部分被固定在所述开口中，并且其中，所述导线被定位在所述导电垫或所述导电部分下方的所述开口中。14.根据权利要求13所述的测试设备，其中，所述心轴包括中心开口，所述中心开口被构造成提供用于所述导线的布线空间。15.根据权利要求12、13或14所述的测试设备，其中，所述神经调节装置是袖口状装置，所述袖口状装置被构造成缠绕在所述心轴周围使得所述导电垫或所述导电部分与所述电极接触，并且其中，所述心轴的外直径相对于所述袖口状装置的内直径在径向上尺寸过大。16.根据权利要求15所述的测试设备，其中，所述心轴在径向上尺寸过大大约35
‑
40%。17.根据权利要求12
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16中任一项所述的测试设备，其中，所述心轴被安装在基部上，所
述基部被构造成将所述导电垫或所述导电部分与所述电极对准。18.根据任一前述权利要求所述的测试设备，其中，所述基底是柔性塑料，并且其中，所述导电垫或所述导电部分是所述柔性塑料上的或所述柔性塑料内的暴露的光滑金属区域。19.根据权利要求1、4
‑
7中任一项所述的测试设备，其中，所述基底和所述神经调节装置是基本平坦的，还包括保持装置，所述保持装置被构造成向所述神经调节装置施加足以确保所述导电垫和所述电极之间的接触的压力。20.根据任一前述权利要求所述的测试设备，其中，所述导线被构造成电联接到万用表以用于所述电极的连续性测量。21.根据权利要求2
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18、20中任一项所述的测试设备，其中，所述探头包括基本圆柱形状。22.一种用于执行包括电极的神经调节装置（10）的电气连续性测试的方法，包括：提供测试设备（20），所述测试设备包括：基底（22）；导电垫（24a），其设置在所述基底...

【专利技术属性】
技术研发人员：C，
申请(专利权)人：加尔瓦尼生物电子有限公司，
类型：发明
国别省市：