缺陷检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，通过获取待检测对象的深度信息，深度信息可以可呈现待检测对象不同位置的距离或表面高度，获取待检测对象的采集图像；待检测对象上缺陷区域和非缺陷区域可能具有不同深度，根据深度信息将采集图像划分为多个图像分区，多个图像分区对应不同的图像深度；根据多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息，从而，可以比较快速地检测待检测对象的缺陷。对象的缺陷。对象的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及检测
，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子设备制造业的发展，对电子设备的要求越来越高，对工业检测的要求也增加。为了提高产品的耐用度，需要对电子设备进行缺陷检测。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。
[0004]第一方面，本申请提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：
[0005]获取待检测对象的深度信息，获取所述待检测对象的采集图像；
[0006]根据所述深度信息将所述采集图像划分为多个图像分区，所述多个图像分区对应不同的图像深度；
[0007]根据所述多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息。
[0008]第二方面，本申请提供一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置包括：
[0009]获取单元，用于获取待检测对象的深度信息，获取所述待检测对象的采集图像；
[0010]划分单元，用于根据所述深度信息将所述采集图像划分为多个图像分区，所述多个图像分区对应不同的图像深度；
[0011]确定单元，根据所述多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息。
[0012]第三方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，其存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行如上述第一方面所提供的方法。
[0013]第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机程序产品，其中，所述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，所述计算机程序可操作来使计算机执行如本专利技术实施例第一方面所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。
[0014]可以看出，在本申请实施例中，通过获取待检测对象的深度信息，深度信息可以可呈现待检测对象不同位置的距离或表面高度，获取待检测对象的采集图像；待检测对象上缺陷区域和非缺陷区域可能具有不同深度，根据深度信息将采集图像划分为多个图像分区，多个图像分区对应不同的图像深度；根据多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息，从而，可以比较快速地检测待检测对象的缺陷。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本专利技术实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图；
[0017]图2是本专利技术实施例提供的另一种缺陷检测方法的流程示意图；
[0018]图3是本专利技术实施例提供的一种缺陷检测装置的结构示意图；
[0019]图4是本专利技术实施例提供的另一种缺陷检测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0021]本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
[0022]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本专利技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0023]下面对本专利技术实施例进行详细介绍。
[0024]请参阅图1，图1是本专利技术实施例公开的一种缺陷检测方法的流程示意图，该缺陷检测方法可包括以下步骤：
[0025]101、获取待检测对象的深度信息，获取所述待检测对象的采集图像；
[0026]其中，可通过红外摄像头检测待检测对象的深度信息，可通过RGB摄像头采集待检测对象的采集图像。
[0027]可选地，上述步骤101之前，还可包括：
[0028]A1、通过光发射器向所述待检测对象发射复合光；
[0029]A2、通过光接收器接收由所述待检测对象接收的反射光；
[0030]A3、根据所述反射光确定所述待检测对象的目标检测区域；
[0031]A4、通过摄像头对所述目标检测区域进行聚焦。
[0032]其中光发射器发射的复合光可包括多种颜色的光，考虑到待检测对象上，缺陷区域和非缺陷区域的颜色可能存在差异，因此，可发射复合光，缺陷区域和非缺陷区域颜色不同时，缺陷区域的反射光和非缺陷区域的反射光也存在差异，因此，可根据反射光确定待检测对象的目标检测区域，该目标检测区域可能是缺陷区域，然后控制摄像头对目标检测区域进行聚焦，可以快速、准确地确定缺陷区域，从而快速地检测缺陷。
[0033]可选地，所述复合光包括多个不同波长的信号光，上述步骤A3中，根据所述反射光确定所述待检测对象的目标检测区域的步骤，包括：
[0034]A31、根据所述反射光中不同波长的反射光确定被所述待检测对象吸收的第一波长范围的光或第二波长范围的光；
[0035]A32、根据所述被所述待检测对象吸收的第一波长范围的光确定所述待检测对象上吸收所述第一波长范围的光的区域，将该吸收所述第一波长范围的光的区域作为目标检测区域。
[0036]具体实施中，不同颜色的光信号对应不同波长范围，因此，缺陷区域的反射光可能为第一波长范围的光，非缺陷区域的反射光可能为第二波长范围的光，因此，可根据被待检测对象吸收的第一波长范围的光确定待检测对象上吸收第一波长范围的光的区域，将该吸收第一波长范围的光的区域作为目标检测区域，从而可快速、准确地确定缺陷区域，从而快速地检测缺陷。
[0037]或者，可选地，所述复合光包括多个不同波长的信号光，上述步骤A3中，根据所述反射光确定所述待检测对象的目标检测区域的步骤，包括：
[0038]A33、根据所述反射光中不同波长的反射光确定被所述待检测对象吸收的第一波长范围的光或第二波长范围的光；
[0039]A34、根据所述被所述待检测对象吸收的第二波长范围的光确定所述待检测对象上吸收所述第二波长范围的光的区域，将该吸收所述第二波长范围的光的区域以外的区域或吸收所述第二波长范围的光的区域包围的区域作为目标检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括以下步骤：获取待检测对象的深度信息，获取所述待检测对象的采集图像；根据所述深度信息将所述采集图像划分为多个图像分区，所述多个图像分区对应不同的图像深度；根据所述多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待检测对象的采集图像之前，还包括以下步骤：通过光发射器向所述待检测对象发射复合光；通过光接收器接收由所述待检测对象接收的反射光；根据所述反射光确定所述待检测对象的目标检测区域；通过摄像头对所述目标检测区域进行聚焦。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述复合光包括多个不同波长的信号光，所述根据所述反射光确定所述待检测对象的目标检测区域的步骤，包括：根据所述反射光中不同波长的反射光确定被所述待检测对象吸收的第一波长范围的光或第二波长范围的光；根据所述被所述待检测对象吸收的第一波长范围的光确定所述待检测对象上吸收所述第一波长范围的光的区域，将该吸收所述第一波长范围的光的区域作为目标检测区域；或者，根据所述被所述待检测对象吸收的第二波长范围的光确定所述待检测对象上吸收所述第二波长范围的光的区域，将该吸收所述第二波长范围的光的区域以外的区域或吸收所述第二波长范围的光的区域包围的区域作为目标检测区域。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述区域参数包括区域轮廓，所述根据所述多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息的步骤包括：将所述多个图像分区中每一图像分区的区域轮廓与预设的轮廓样本进行匹配，得到匹配成功的目标区域轮廓；从所述目标区域轮廓对应的图像分区提取所述待检测对象的缺陷信息。5.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述区域参数包括尺寸大小，所述根据所述多个图像分区的区域参数确定待检测对象的缺陷信息的步骤包括：确定所述多个图像分区中的目标图像分区，所述目标图像分区对应的尺寸大小处于预设尺寸范围；...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙圣，雷军军，梁波，范文斌，田代亮，汪幼林，郭棋武，甘波，廖振华，孙湘华，
申请(专利权)人：中大海南智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：