一种显示装置及其测试方法制造方法及图纸

技术编号:32126202 阅读:22 留言:0更新日期:2022-01-29 19:15
本发明专利技术提供了一种显示装置及其测试方法,其中,显示装置包括:显示面板,柔性线路板以及检测电路板;柔性线路板上设置有公头连接器,公头连接器包括多个第一导电端子,多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子;检测电路板包括与公头连接器对应设置的母头连接器,母头连接器包括与多个第一导电端子对应设置的多个第二导电端子;检测电路板包括与第一测试端子对应的第二导电端子耦接的第一测试信号线,以及与第二测试端子对应的第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线,第一测试信号线和第二测试信号线通过第一测试端子和第二测试端子构成测试回路。端子构成测试回路。端子构成测试回路。

【技术实现步骤摘要】
一种显示装置及其测试方法


[0001]本专利技术涉及显示
,特别涉及一种显示装置及其测试方法。

技术介绍

[0002]现有显示装置中,因柔性线路板(Flexible Printed Circuit,FPC)设计需求,模组结构在电路转接的时候经常需要使用到连接器(Connecter),比如,常采用板对板(Board to Board

Connector,BTB)连接器进行扣接通讯,常见BTB连接器一般包括公头和母头两部分,使用时可以通过将公头的导电端子与母头的导电端子扣接,来实现模组显示以及触控功能的启用。
[0003]然而在扣接过程中,往往会产生一些扣接不良,比如,扣接不到位,扣接不充分等,这些扣接不良容易使电源信号在公头和母头对接处产生大电流导致局部高温,从而产生热聚集效应,过高的热量聚集会导致显示不良。如何实现对BTB连接器扣接不良的检测成为急需解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种显示装置及其测试方法,用于实现对BTB连接器的扣接状态的检测。
[0005]第一方面,本专利技术实施例提供了一种显示装置,包括:
[0006]显示面板,与所述显示面板耦接的柔性线路板以及与所述柔性线路板耦接的检测电路板;
[0007]所述柔性线路板上设置有公头连接器,所述公头连接器包括多个第一导电端子,其中,所述多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子;
[0008]所述检测电路板包括与所述公头连接器对应设置的母头连接器,所述母头连接器包括与所述多个第一导电端子对应设置的多个第二导电端子;
[0009]所述检测电路板还包括与所述第一测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第一测试信号线,以及与所述第二测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线,所述第一测试信号线和所述第二测试信号线通过所述第一测试端子和所述第二测试端子构成测试回路,所述测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。
[0010]在一种可能的实现方式中,所述多个第一导电端子沿第一方向延伸并沿与所述第一方向相交的第二方向依次排列,所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于所述公头连接器的中心线的两侧。
[0011]在一种可能的实现方式中,沿所述第一方向,所述多个第一导电端子沿所述第二方向依次排列为第一排和第二排,所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于相应排的边缘。
[0012]在一种可能的实现方式中,所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第
一排。
[0013]在一种可能的实现方式中,所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第二排。
[0014]在一种可能的实现方式中,所述第一测试端子位于所述第一排,所述第二测试端子位于所述第二排。
[0015]在一种可能的实现方式中,所述第一测试端子位于所述第二排,所述第二测试端子位于所述第一排。
[0016]在一种可能的实现方式中,所述多个第一导电端子还包括彼此耦接且不相邻的第三测试端子和第四测试端子,所述第三测试端子和所述第一测试端子位于所述第一排,所述第四测试端子和所述第二测试端子位于所述第二排,所述检测电路板还包括与所述第三测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第三测试信号线,以及与所述第四测试端子耦接的第四测试信号线,所述第三测试信号线和所述第四测试信号线通过所述第三测试端子和所述第四测试端子构成另一测试回路,所述另一测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。
[0017]第二方面,本专利技术实施例还提供了一种如上面任一项所述的显示装置的测试方法,包括:
[0018]在将所述公头连接器插入所述母头连接器之后,通过所述至少两条测试信号线中的所述第一测试信号线和所述第二测试信号线与所述第一测试端子和所述第二测试端子构成所述测试回路;
[0019]通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
[0020]在一种可能的实现方式中,所述通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态,包括:
[0021]向所述第一测试信号线输入感应信号;
[0022]获得经所述第二测试信号线输出的接收信号;
[0023]将所述感应信号和所述接收信号进行信号强弱对比,获得对比结果;
[0024]根据所述对比结果,确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
[0025]在一种可能的实现方式中,所述根据所述对比结果,确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态,包括:
[0026]若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第一阈值,则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接完好;
[0027]若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第二阈值且小于所述第一阈值,则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分;
[0028]若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值小于所述第二阈值,则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误。
[0029]在一种可能的实现方式中,在所述通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态之后,所述方法还包括:
[0030]若所述扣接状态表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分或者所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误,则中断向所述显示面板的电压信号的输出。
[0031]本专利技术的有益效果如下:
[0032]本专利技术实施例提供了一种显示装置及其测试方法,其中,该显示装置包括显示面板,与该显示面板耦接的柔性线路板以及与该柔性线路板耦接的检测电路板,该柔性线路板上设置有公头连接器,该公头连接器包括多个第一导电端子,该多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子,检测电路板包括与公头连接器对应设置的包括多个第二导电端子的母头连接器,该检测电路板还包括与第一测试端子对应的第二导电端子耦接的第一测试信号线,以及与第二测试端子对应的第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线,该第一测试信号线和第二测试信号线通过第一测试端子和第二测试端子构成测试回路,该检测电路板通过该测试回路可以对公头连接器和母头连接器进行扣接检测。也就是说,在公头连接器的多个第一导电端子中的不相邻的第一测试端子和第二测试端子耦接在一起的前提下,通过母头连接器上与第一测试端子和第二测试端子对应的第二导电端子所耦接的测试信号线所构成的测试回路,可以实现对公头连接器和母头连接器扣接状态的检测,如此一来,根据所检测的扣接状态,可以及时将公头连接器和母头连接器之间的扣接不良检测出来,保证了显示装置的使用性能。
附图说明
[0033]图1为相关技术中BTB连接器中公头和母头扣接不到位的其中一种示意图;
[0034]图2为相关技术中BTB连接器本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示装置,其特征在于,包括:显示面板,与所述显示面板耦接的柔性线路板以及与所述柔性线路板耦接的检测电路板;所述柔性线路板上设置有公头连接器,所述公头连接器包括多个第一导电端子,其中,所述多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子;所述检测电路板包括与所述公头连接器对应设置的母头连接器,所述母头连接器包括与所述多个第一导电端子对应设置的多个第二导电端子;所述检测电路板还包括与所述第一测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第一测试信号线,以及与所述第二测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线,所述第一测试信号线和所述第二测试信号线通过所述第一测试端子和所述第二测试端子构成测试回路,所述测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。2.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述多个第一导电端子沿第一方向延伸并沿与所述第一方向相交的第二方向依次排列,所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于所述公头连接器的中心线的两侧。3.如权利要求2所述的显示装置,其特征在于,沿所述第一方向,所述多个第一导电端子沿所述第二方向依次排列为第一排和第二排,所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于相应排的边缘。4.如权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第一排。5.如权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第二排。6.如权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述第一测试端子位于所述第一排,所述第二测试端子位于所述第二排。7.如权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述第一测试端子位于所述第二排,所述第二测试端子位于所述第一排。8.如权利要求3所述的显示装置,其特征在于,所述多个第一导电端子还包括彼此耦接且不相邻的第三测试端子和第四测试端子,所述第三测试端子和所述第一测试端子位于所述第一排,所述第四测试端子和所述第二测试端子位于所述第二排,所述检测电路板还包括与所述第三测试端子...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡宏锦左堃张斌
申请(专利权)人:成都京东方光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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